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1、2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,1,Cpk,制程能力分析,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,2,常態分配,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,3,Percentages Of The Normal Distribution,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,4,管制圖與常態分配,+k,圖2,X值在+k與-k之間之或然率(Probabi
2、lity)或稱機率如右圖.以圖中斜線部分表示,其公式為:,群 體 平均值= 標準差= ,抽取一個,x,圖1, -k,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,5,群體(制程)與樣本間之關系,分配之期望值,分配之標準差,設 為樣本平均,為群體平均,S=S為樣本標準差,為群體標準差,在統計學上,注:如 可視為無限群體用上式,為有限群體之修正系數,設系有限數群體而 則 分配之標準差,2,1,4,3,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,6,群體(制程)與樣本間之關系,樣本平均值之分
3、配,群體平均值之分配,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,7,Cpk Vs Defective Yield,我們常用產品品質特性的常態分配與規格相比較,以決定產品的不良率.如右圖所示產品品質特性的常態分配.,規格上限:USL (Upper Specification Limit) 規格下限:LSL (Lower Specification Limit) 落在規格上,下限外的斜線面積即為產品的不良率.,Standard Deviation from mean,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQ
4、M Department,8,目前在品管里常注重制程的分散寬度,故有定義制程能力為下式者:,群體標準差每不易直接求得一般以樣本資料推定之,其推定方法有下列三式,:,(1)直接由樣本特性值計算時,(2)由次數分配表計算時,(2) 管制圖計算時,一般均采用公式(3),制程能力的數量表示法,1分散寬度以 表示之.,制程能力= (或 ),d2,Cpk 計算時用此公式(1),2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,9,兩種錯誤之經濟平衡點,Break even point, BEP,通常,在管制圖使中會有兩種錯(ERROR). 第一種即是當制程
5、仍屬管制狀態,但卻因隨機性原因點落於管制界限外時,為了尋找不存在之問題而導致成本增加. 第二種即是當制程已失去管制,但數據點由於隨機問題仍落於管制界限內,因而誤判制程處於管制狀態,因而造成更大之損失.,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,10,The Accuracy of an instrument can be improved by recalibrating to reduce its error, but recalibrating generally does not improve the instruments P
6、recision.(Repeatability also sometimes known as “Precision”),Accuracy&Precision,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,11,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,12,Ca之處置原則,A級:維持原則 B級:改進為A級 C級:立即檢討改善 D級:采取緊急措施,全面檢討,必要時停止生產.,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,13,20
7、19/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,14,工程能力指數(Cp)之處理,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,15,工程能力指數(Cp)之處理,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,16,Ca,Cp的綜合評價,1.計算方法: Z1=3Cp(1+Ca)由Z1查常態分配表得p1% Z2=3Cp(1-Ca )由Z2查常態分配表得p2% p%=p1%+p2%即為推定群體超出規格上下之不良率.,2.依不良率P%分級做評定標準
8、: 等級 總評P% A P0.44% B 0.44%P1.22% C 1.22%P6.68% D 6.68%P,投影片 30,或,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,17,e.g: (例題),今庫存有某圓軸6000支,其品質特性為圓軸之長度,已知 其長度母平均=15.7cm,母標準差=0.3cm,試問此6000支, 中長度超過16.1cm的約有幾支?,Key,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,18,解題步驟:,由已知得: =15.7cm; =0.3cm,方法一:,查
9、標準常態分配表(拉普拉斯表)得Z=-1.33時,對應值為0.0918,長度超過16.1cm的支數: 6000*0.0918=550.8四舍五入得551支,方法二:,下述步驟與上同,故略,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,19,Ca,Cp不良時的一般處理方法,1.Ca不良時的一般處理方法,製造單位為主, 技術單位為副, 品管單位為輔.,2.Cp不良時的一般處理方法,技術單位為主, 製造單位為副, 品管單位為輔.,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,20,制程能力指數C
10、pK 綜合Ca與Cp兩值之指數,(1)CpK值之計算式有兩種,B. 單邊規格時:,(2)等級判定 CpK值愈大,品質愈佳.依CpK值 大小分為五級,等級,A,1.33 CpK1.67,B,C,D,CpK值,1.00 CpK1.33,0.67 CpK1.00,CpK0.67,A+,1.67 CpK,A. 雙邊規格時:,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,21,CpK之處置原則,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,22,制程能力與規格之關系,或6代表制程在正常狀態下變化之
11、範圍,稱為自然公差(Natural tolerance)規格上下限之差為Su-SL,則 或6與Su-SL有下列三種關系(情況)如圖示:,1. 6 Su-SL,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,23,2. 6 Su-SL,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,24,3. 6 Su-SL,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,25,Evaluation form,2019/4/19,Silitek Electr
12、onics (GZ) VQM Department,26,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,27,Cpk為什麼要大於或等於1.33 ?,1.Cp=0.67時,穩態控制下不合格品率為4.6%;,2.Cp=1.00時,穩態控制下不合格品率為0.27%;,3.Cp=1.33時, 穩態控制下不合格品率為0.0063%=63PPM,在圖例上表示為中心沒有偏移 (實際中心值與規格中心重合),DPPM,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,28,DR=DRL+DRR DR(Defe
13、ct Rate):總不良 DRL (Defect Rate Left) :左不良 DRR (Defect Rate Right) :右不良,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,29,Table 1 Quality levels and Corresponding Number of Defects,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,30,Table2.The Number of Defective(Parts per Million)for Specified Of
14、f-Centering of the Process and Quality Levels,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,31,中心偏离時dppm的計算,off-center(),2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,32,面積,z,常態曲線下之面積,e=2.718.,0,Z=(x- )/,投影片 16,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,33,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Department,34,2019/4/19,Silitek Electronics (GZ) VQM Departme
