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1、射线检测复习题（2011 年）第 1 页 共 58 页射线检测专业知识一、是非题 ( 在题后括号内，正确的画，错误的画) 1.1 X射线和 射线都是高能光子流，不带有任何电荷。 ( ) 1.2 X射线与 射线只要波长相同， 就具有相同的性质。 ( ) 1.3 X 、 射线均不受电场和磁场的影响。 ( ) 1.4 X 、 射线是电磁辐射； 中子射线是粒子辐射。 ( ) 1.5 X射线和 射线的主要区别是： X 射线是韧致辐射的产物，而 射线是放射性同位素原子核衰变的产物； X射线是连续谱， 射线是线状谱。 ( ) 1.6 X 、 射线与无线电波、红外线、可见光、紫外线等属于同一范畴，都是电磁波，
2、其区别只是在于波长不同以及产生方法不同。 ( ) 1.7 射线和 射线一般不用于工业无损检测， 主要是因为这两种射线对人体的辐射伤害太大。 ( ) 1.8 射线能量用“平均能量” 来度量； X 射线能量用“管电压峰值” 来度量。 ( ) 1.9 高速运动的电子同阳极靶的原子核库仑场作用，电子失去其能量以光子形式辐射出来，这种辐射称为韧致辐射。 ( ) 1.10 具有连续光谱 ( 波长) 的 X射线， 称为连续 X射线， 又叫白色 X射线。 ( ) 1.11 连续 X射线的能量与管电压有关， 与管电流无关。 ( ) 1.12 连续 X射线的强度与管电流有关， 与管电压无关。 ( ) 1.13 如
3、果 X 射线管的管电压超过激发电压，则高速运动的电子同阳极靶碰撞时，可以把阳极靶原子的内层电子逐出壳层之外，使该原子处于激发态，外层电子将向内层跃迁，发射标识 X射线。 ( ) 1.14 标识 X射线的能量与管电压、 管电流均无关，仅取决于阳极靶的材料。 ( ) 1.15 在 X射线探伤中， 标识谱起主要作用。 ( ) 1.16 X射线的强度可通过改变管电流、管电压来调节。 ( ) 1.17 X射线的强度不仅取决于X 射线机的管电流，而且还取决于X 射线机的管电压。( ) 1.18 X 射线管的转换效率与管电压和靶的原子序数成正比。 ( ) 1.19 由于 X射线管的转换效率很低，输入的能量绝
4、大部分转换成了热能，因此X射线管必须有良好的冷却装置。 ( ) 1.20 最主要的放射性衰变有： 衰变、衰变和衰变。 ( ) 1.21 原子核发生 衰变前后，质量数和核电荷数均不发生改变。 ( ) 射线检测复习题（2011 年）第 2 页 共 58 页1.22 描述放射性物质不稳定程度的量称为“活度” 。 ( ) 1.23 活度是描述放射性同位素不稳定程度的量，它用来表征单位时间内原子核发生的衰变数。 ( ) 1.24 放射性同位素的强度衰减至其原值一半所需的时间，称为半衰期。 ( ) 1.25 放射性同位素的能量衰变至其原有能量一半时，所需的时间称为半衰期。 ( ) 1.26 半衰期是指 X
5、射线强度减弱到初始值一半所需要的时间。 ( ) 1.27 放射性同位素的半衰期与放射性同位素的种类有关。 ( ) 1.28 衰变常数 反映了放射性物质的固有属性， 值越大说明该物质越稳定。 ( ) 1.29 与 Ir192 相比，Se75放射性同位素的半衰期更短， 因此其衰变常数 也更小一些。( ) 1.30 当 射线经过 3 个半衰期后，其能量仅剩下初始值的1/8 。 ( ) 1.31 射线能量取决于放射性同位素的活度，而它的强度取决于源的种类。 ( ) 1.32 射线能量取决于源的种类， 而强度取决于放射性同位素的活度或居里数。( ) 1.33 工业检测用的放射性同位素，有的是在核反应堆中
6、通过中子照射激活的，也有的是核裂变的产物。 ( )1.34 目前射线检测所用的同位素均为人工放射性同位素。 ( ) 1.35 所谓“吸收” ， 就是物质阻止射线通过的能力。 ( ) 1.36 穿透力较强的射线其线质较软， 穿透力较弱的射线其线质较硬。 ( ) 1.37 射线的线质越软，其衰减系数越大。 ( ) 1.38 射线的线质越硬， 其光子能量越大， 波长越短，穿透力越强。 ( ) 1.39 射线的线质越软， 其光子能量越小， 波长越长，半价层越小。 ( ) 1.40 射线的线质越软， 穿透力越强。 ( ) 1.41 射线通过物质时，会与物质发生相互作用而强度减弱，导致强度减弱的原因可分为
7、吸收与散射两类。 ( ) 1.42 射线在与物质相互作用时主要会发生光电效应、康普顿效应、电子对效应和瑞利散射。 ( ) 1.43 一定能量的连续X 射线穿透物质时，随穿透厚度的增加，射线总强度减小，平均波长变短，但最短波长不变。 ( ) 1.44 连续 X射线穿透物质后，强度减弱，线质不变。 ( ) 1.45 连续 X射线穿透物质后， 强度减弱，平均波长变短。 ( ) 1.46 光电效应中光子被部分吸收， 而康普顿效应中光子被完全吸收。 ( ) 射线检测复习题（2011 年）第 3 页 共 58 页1.47 发生康普顿效应时，电子获得光子的部分能量后以反冲电子的形式射出。同时，光子的能量减小
8、， 方向改变，成为低能散射线。 ( ) 1.48 对射线照相产生不利影响的散射线主要来自康普顿效应。 ( ) 1.49 当入射光子能量大于1.02MeV时， 与物质相互作用才能产生电子对效应。 ( ) 1.50 不包含散射线成分的射线称为“窄束射线” ；而包含散射线成分的射线称为“宽束射线” 。 ( ) 1.51 管电压提高，衰减系数会增大。 ( ) 1.52 线衰减系数的物理意义是单色射线穿过lcm 厚的工件时，穿过前后射线强度比值的自然对数。 ( ) 1.53 射线的能量减弱到初始值一半时所穿过物质的厚度，称为半价层，也叫半值层。( ) 1.54 半价层是指入射线的强度减少一半时，穿过的吸
9、收物质的厚度。 ( ) 1.55 当 X射线通过 3 个半价层后，其强度变为初始值的1/3 。 ( ) 1.56 当射线穿过 3 个半价层后，其强度仅剩下最初的1/8 。 ( ) 1.57 线衰减系数 与射线能量、物质的原子序数和密度有关。 ( ) 1.58 射线强度差异是底片产生对比度的根本原因。 ( ) 1.59 底片上相邻区域的黑度差定义为 “对比度”。 ( ) 1.60 X 、 射线通过工件相邻两个不同厚度区域后的射线强度差与通过较大厚度区射线强度的比， 称为主因对比度。 ( ) 1.61 影响主因对比度的因素有透照厚度差、线衰减系数和散射比。 ( ) 1.62 在相同的管电压下， 透
10、照厚度增加，散射比减小。 ( ) 1.63 在 X射线工业探伤中，使胶片感光的主要是连续谱X射线，标识谱 X射线不起什么作用。 ( ) 1.64 光电效应和电子对效应引起的吸收有利于提高照相对比度。 ( ) 1.65 康普顿效应产生的散射线会降低照相对比度。 ( ) 1.66 康普顿效应的发生几率大致与光子能量成正比，与物质的原子序数成反比。 ( ) 1.67 Ir192射线与物质相互作用时， 一定不会发生电子对效应。 ( ) 1.68 射线照相法用底片作为记录介质，可以直接得到缺陷的图像，且可以长期保存。通过观察底片能够比较准确地判断出缺陷的性质、数量、尺寸和位置。 ( ) 1.69 当射线源移去后，被照射工件本身仍残留一定的辐射。 ( ) 1.70
