整机可靠性测试手册范本

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1、深圳市世融通电子公司产品测试手册编制部门:品质部日期:拟定:日期:审核:日期:批准:日期:版本时间修改容修改人1 简介 42. 整机测试项目 52.1. 电性能测试 52.2 ESD 测试 52.3 环境测试 52.4 寿命测试 42.5 机械强度测试 43. 整机测试标准 63. 1 电性能测试标准 63. 2 ESD 静电测试标准 53. 3 环境测试标准 73. 4 寿命测试标准 83. 5 机械强度测试标准 91 简介1.1 目的为了规世融通公司产品测试的各项工作, 使公司产品研发、 品质管理按照共同的测试项目和测试标准进行测试, 以使项目各阶段品质保证能达到手机的测试要求,特制定本测

2、试手册。1.2 适用围本手册适用于本公司所有项目的整机测试。1.3 责任公司产品研发、品质保证都需按本测试手册进行相关测试,对问题进行分析,确定责任部门,由责任部门提出 改善对策。2 整机测试项目2.1 电性能测试按照产品检验规和行业相关标准,测试手机的各项重要电性能指标;2.2 ESD 测试测试手机在静电环境中的性能;2.3 环境测试模拟公司各产品使用的各种恶劣环境,测试其性能是否达到要求;主要包括高 / 低温试验、湿热试验、防尘试 验等。2.4 寿命测试测试产品各易损部件的工作寿命是否达到规格要求;主要包括读卡器,打印机,制票机等产品试验。2.5 机械强度测试测试括读卡器,打印机,制票机等

3、机械结构的强度;主要包含振动测试、跌落测试等。3. 整机 测试标准3.1 电性能测试标准依照公司规、行业相关标准,测试公司产品的电性能。参考标准 :1. 公司的产品行业环境要求和试验方法。2. 公司产品根据公司可靠测试设备测试。3. 根据公司可靠性设备进行安全要求和产品验证进行试验3.2 ESD 静电测试标准产品在接充电器和不接充电器的情况下, 分别测试产品在常用使用状态下的 ESD 性能,待机和运行状态是必须 要测试的状态。接触放电为 6KV, 对裸露的金属件续放电各 10 次后对地放电 , 应无数据丢失和功能损坏等; 接触放电每点每个 测试电压连续放电 10 次(加严测试 20 次) ;空

4、气放电土 10KV,主机底壳等处进行放电,被选点每点每个测试电压放电10次(加严测试土 20次),每放电一次需对地放电,状况应良好,应无数据丢失和功能损坏。注:测试后功能恢复正常,及外观检查应良好(电镀层不应有掉镀层等不良现象)。 完成后作好记录。所需手机数为 2 部。参考标准 :行业可靠性技术要求和测试方法ESD 实验室环境要求 :环境温度:+15+35 C相对湿度:ESD实验室湿度应严格控制到30 %60 % RH大气压力: 86 106kPa3.3 环境测试标准测试项目及条件:测试项目测试条件/参考标准主要测试阶段数量注意事项低温储存试验T=-30 土 3 C,试验时间12小时,回温2h

5、后 检测功能、外观、机械和电性能有无异常。项目PR1阶段,首次量产,重要元器件或元器件的供应商,结构材料变更;4试验中手机带电池关机状态。低温工作试验T=-20 土 3 C,试验时间8小时,测试过程中需进行中间检测,观察信号扌曰示并进行拨打测试(或用仪器测试电性能),测试持续时 间到后立即在该温度下进行电性能和功能 测试,最终检测:将试验样品回温2h后检测呼叫连接、外观、机械等应正常。中间检测及最终检测均正常测试才为合格。项目PR1阶段,首次量产,更改 重要元器件或 元器件的供应商,结构材料变更;4试验中手机处于待机状态(如果T=-20 土 3 C条件下 电性能有异常情况,品质可 按照T=-1

6、0 土 3 C的实验条件作为最低出货标准。 右选择观测信号扌曰示与被 叫的方式,需将手机工作 在带SIM卡的标准用户模 式)高温储存试验T=65 土 2C,试验时间12小时,储存时间到后立即检测功能、外观、机械和电性能应正常。(可立即调低温度至55 土 2C进行高温工作试验)项目PR1阶 段,首次量产,更改重要元器件或元器件的供应4试验中手机带电池关机状态。商,结构材料变更;高温工作试验T=55 土 2C,试验时间8小时,测试过程中需 进行中间检测,进行主叫拨打测试(或用仪器 测试电性能),测试持续时间到后在该温度下 进行电性能和功能测试,最终检测:将试验样品回温2h后进行功能、外观、机械和电

7、性能等检测。中间检测及最终检测均 正常测试才为合格。项目PR1阶段,首次量产,更改 重要元器件或 元器件的供应商,结构材料变更;4试验中手机处于待机状态。主叫可米用直接拔打112的方式。恒定湿热试验T=40 土 2C,RH=93 土 3%,试验时间 48 小时, 测试过程中需进行中间检测,进行主叫拨打测试(或用仪器测试电性能),测试时间到 后在该温度下进行电性能和功能测试,回温2h后检测呼叫连接、外观、机械等应正常。项目PR1阶段,首次量产必须 要测,更改重要元器件或元器件的供应商,结 构材料变更4试验中手机处于待机状态。(翻盖手机翻盖处于打开状 态,使用大LCD也处于工作 状态,主叫采用拨打

8、112的 方式)。湿热循环试验从室温以不大于1 C /MIN速度变到40 C,RH:93 土 3%,保持1H;再以不大于 1C /min 速度变到-10 C,保持1h ;循环13次。循 环期满,回温2H后检测功能、外观、机械 和电性能应正常。项目PR1阶段,首次量产,更改 重要元器件或 元器件的供应商,结构材料变更;4试验中手机处于待机状态盐雾测试三个喷雾周期,每个2h,每个喷雾周期后 有一个为期22h的湿热储存周期。喷雾条 件为温度为(1535) C,浓度为(5.0士 1) %的氯化钠溶液;储存条件为(40士 2)C,相对湿度为90 %95 %项目PR1卩介段2手机带电池关机状态防尘试验将手

9、机放置在粉尘试验箱,样品体积综合不得 超过试验箱有效空间的1/3,底面积不得超过 有效水平在积的1/2 ;与实验箱壁距离 应不小于100mm。启动粉尘试验箱,使气流 能够将灰尘均匀缓慢地沉降在试验样品上, 最大值不得超过2m/s o测试时间到后,将手机在粉尘箱静置2H,进行功能、外观及装配检测。(在仪器未到位前,也可采用袋 子装上少许灰尘,把手机装进袋子且用人手抖动袋子1分钟方式)。项目PR1阶段,首次量产;2试验中手机带电池关机。 测试后的手机显示区域、摄相头区域不得有粉尘出 现。备注:对于本环境测试标准中未涉及的新工艺,新标准,可以根据具体情况采用行业标准来进行测试。*防尘测试在没有专用测

10、试仪器的情况下,可以采用手动测试的方式代替。3.4寿命测试标准测试项目测试方法/标准主要测试阶段数量注意事项翻/滑盖寿命试验以4060次/分钟的速度翻动翻盖,来回为1次,要求翻盖达到最大转动位置。每3000次检查1次。要求翻盖最少测试8万次。测试结束后首先对样品进行功能、结构检测;然后拆机检查铰链周围壳体以及FPC有无外观异常,并对FPC阻值进行测量。第一次装机,首 次量产,转轴供应商变更;4测试中手机处于待机状态; 测试中手机应无异常(关 机,显示乱等);测试后手机应无结构松动, 响声等,外观无掉漆、裂痕; 壳体无破裂,FPC无破裂;以4060次/分钟的速度滑动滑盖,来回为1次,要求滑动达到

11、最大行程位置。每3000次检查1次。要求滑盖最少测试10万次。测试结束后首先对样品进行功能、结构检测;然后拆机检查滑轨、FPC外观,并对FPC 阻值进行测量。第一次装机, 首次量产,转轴供应商变更;4Speaker 寿命测试采用电池加旅充充电的供电方式或者直接 用4.2V直流电源供电方式,将试验样机设置成长时间播放状态(采用播放MP3,循环连续播放),连续播放时间不少于120H,功能应正常。项目PR1阶段, speaker 首频 参数调整,供 应商变更;6选用音频较高的歌曲;测试 中突然掉电不超过 1分钟 可以累积测试时间, 超过1 分钟必须重新计算。马达振动 寿命试验将手机设置为马达长时间振

12、动状态,试验时间不少于72H ;对于单体马达可采用:2秒开1秒关为一个周期,循环5万次以上,马达功能应正常。项目PR1阶段,更换马达供应商;3单体振动周期选取参考手机实际使用定出,选取最接近的振动周期进行测试机械按键寿命测试以4060次/分钟的速度,不小于5N的力度 均匀按键,Dome : 10万次;Switch : 5万 次;导航键:6万次,每2万次检查1次, 试验后功能应正常。项目PR1阶段,DOME供应商、按键设计变更;2手机处于关机状态电池插拔测试装上电池再取下电池。累计 2000次以上。 每插拔100次开机检查一次,手机功能应正 常。项目PR1阶段,电池连接器变更;2测试速度不超过3

13、0次/分(插入拔出算一次)SIM卡插拔测试插入SIM卡再取出,累计 1000次。每插拔 100次开机检查一次, 手机不能有不识卡现 象,测试完毕手机功能应正常。( 2合一, 3合卡座特殊处理)项目PR1阶段,更换SIM卡座2彳商;共应测试速度不超过30次/分(插入拔出算一次)外置存卡插拔试验插入存卡再取出,累计1000次。不支持热插拔的机型,每插拔100次开机检查一次,支持热插拔的机型必须在开机状态下测试, 每插拔100次检查一次,要求测试后存储卡 结构正常(不能破裂),手机无不识卡问题, 存卡中的容不可丢失。项目PR1阶段,更换T卡座供应商;2插拔频率不超过30次/分钟。(插入拔出算一次)耳

14、机插孔插 拔试验将耳机垂直插入耳机孔后,再垂直拔出,如此反复,累计 3000次。功能应正常。项目PR1阶段,更换耳机2扌供应商;插孔插拔频率不超过 3040次/分钟。(插入拔出算一次) 若手机采用数据线、耳机、充 电器三合一接口,需要采用 三种配件对应同一个母 座各测试3000次。I/O插拔测试插入数据线再拔下,累计3000次。每插拔100次开机检查一次,手机功能应正常。项目PR1阶段,更换I/O 口供应商;2插拔频率不超过30次/分钟。(插入拔出算一次)若手机采 用数据线、耳机、充电器三合 一接口,需要采用三种配件 对应同一个母座各测试3000次。电池盖插拔测试插上电池后盖再拔下,累计1000次,外观、功能应正常。项目PR1阶段,更换电池盖材 料/供应商;2插拔频率不超过30 次/分钟(插入拔出算一次)手写笔插拔测试手写笔垂直插入手机再拔出为一次,插拔10000次,实验中检查手机与手写笔的配合

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