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1、 第18屆NWING-FPC技術交流研習會表資料發表單位:自動化前言前言 電測是檢驗產品電氣特性之唯一方法,也是保證產品最終品質最有效的手段.故對電測原理的探討與實施,有助於更多的人了解電測,了解保障產品品質的重要途徑. 目錄 空板電測(Bare Board Tester) 成品電測(Cable Tester) ICT電測(In Circuit Tester) 空板空板& &成品電測成品電測 Bare Board TesterBare Board Tester and and Cable Tester Cable Tester空板電測成品電測測試規格測試規格絕緣性絕緣性20M20M測試測試導通
2、性導通性10 10 測試測試是客戶的要求是客戶的要求 更是更是大勢所趨大勢所趨 測試機以定電壓測試測試機以定電壓測試 先測先測導通性導通性 再測絕緣性再測絕緣性導通性測試：導通性測試：測試電壓測試電壓10V10V、電流電流20mA20mA 測試條件：測試條件：10 10 100K 100K 絕緣性測試：測試電壓絕緣性測試：測試電壓50V 50V 250V250V、電流電流20mA20mA 測試條件：測試條件：100K100K20M 20M 測試機測試規格測試機測試規格測試規格與測試品質之關係00PASS1010FAILFAIL導通性測試規格越趨近導通性測試規格越趨近0 0 ，測試品質越嚴測試品
3、質越嚴格格絕緣性測試規格越趨近絕緣性測試規格越趨近，測試品質越嚴測試品質越嚴格格PASSFAILFAIL導通性測試絕緣性測試2020線路為什麼有低阻值線路為什麼有低阻值?電阻R截面積A長度L 線路有低阻值，不等於線路有缺口線路有低阻值，不等於線路有缺口 線寬線寬3mil3mil線路，導通性不良時，阻值會超過線路，導通性不良時，阻值會超過1010 線路愈細愈長，線路愈細愈長， 產生阻值愈高產生阻值愈高 壓合層次愈高，壓合層次愈高， 產生阻值愈高產生阻值愈高 孔徑（盲埋孔）愈小孔徑（盲埋孔）愈小， 產生阻值愈高產生阻值愈高電電 測測 原原 理理測試機有誤測就會有漏測測試機有誤測就會有漏測只是誤測的
4、板子可以自己找只是誤測的板子可以自己找漏測的板子客戶幫你找漏測的板子客戶幫你找測試點開關（測試點開關（IOIO）基本組成）基本組成A治具探針治具探針電表電表IOIOIOIOINOUT治具探針治具探針ONONOFFOFFPASS導通性測試流程圖導通性測試流程圖（continuitycontinuity）AONONONON1 12 23 34 4OPENOPEN導通性測試流程圖導通性測試流程圖（continuitycontinuity）AONONONON1 12 23 34 4PASSPASSIOIO點損壞就會發生誤測點損壞就會發生誤測AONONOFFOFF1 12 23 34 4OPENOPEN
5、IO損壞(常關)誤測誤測IOIO點損壞點損壞更會更會發生漏測發生漏測AONONONON1 12 23 34 4PASSPASSIO損壞(常開)ONON嚴重漏測嚴重漏測絕緣性測試流程圖絕緣性測試流程圖（insulationinsulation）AONONONON1 12 23 34 4PASSPASSONONONON絕緣性測試流程圖絕緣性測試流程圖（insulationinsulation）AONONONON1 12 23 34 4SHORTSHORTONONONONIOIO點損壞就會發生誤測點損壞就會發生誤測AONONONON1 12 23 34 4SHORTSHORTONONONONONON
6、IO損壞(常開)誤誤 測測IOIO點損壞點損壞更會更會發生漏測發生漏測AOFFOFFONON1 12 23 34 4PASSPASSONONONONIO損壞(常關)嚴重漏測嚴重漏測超智慧軟體超智慧軟體, ,支援多片排片測試及支援多片排片測試及導電膠測試導電膠測試(ACRT)(ACRT) 排片測試又稱為排版測試,其主要的用途是讓作業人員在測試完畢后能以最快的速度判定多片版中某片為不良品.空板電測機優點空板電測機優點( (一一) )監測系統監測系統, ,提高測試可靠度提高測試可靠度. .所謂監測系統就是防呆裝置:當防呆為ON時,測試完畢為良品者,必須從設定的方向安放否則機臺不再繼續測試的動作.此項
7、設計是為了防止長時間的工作所造成的疲勞,而導致誤動作的發生.將良品與不良品混在一起.空板電測機優點空板電測機優點( (二二) )ICTICT電測電測(In Circuit Tester)(In Circuit Tester)ICTICT概論概論: : ICT ICT即在線測試儀即在線測試儀(IN CIRCUIT TEST)(IN CIRCUIT TEST)是是一大堆高級電表的組合一大堆高級電表的組合. .電表能測到電表能測到,ICT,ICT就能測到就能測到, ,電表測不到電表測不到,ICT,ICT也可能測不到也可能測不到. .如如:R/Jumper, R:R/Jumper, R無法用電表測無法
8、用電表測,ICT,ICT也無法也無法測測. .測試原理的探討測試原理的探討 一般而言一般而言, ,基本上測試方法有兩大方向基本上測試方法有兩大方向, ,一則利用電流源當信號源一則利用電流源當信號源, ,量測電壓值量測電壓值, ,以應用在電阻量測最普遍以應用在電阻量測最普遍; ;二則以電壓源二則以電壓源當信號源當信號源, ,量測電流值量測電流值, ,以應用在電容、以應用在電容、電感量測最普遍電感量測最普遍隔離效果原理的探討隔離效果原理的探討 ICT與電表的差異就是:ICT可對旁路元件進行隔離(Guarding),而電表不可以. 在TR-518FR的內部電路中,是利用一顆OP當做一個隔離點(最多可
9、有五個隔離點),若是:以電流源當信號源輸入時,則在相接元件一之另一腳加上一等高電位能(Guarding Point),以防止電流流放與被測元件相接之旁路元件,確保量測的精確性.開路開路& &短路量測原理探討短路量測原理探討( (一一) ) 在開路&短路自我學習(open&shortlearning)時,系統會自動將量測點之間阻抗小于25的點聚集成不同的短路群(shortgroups)開路開路& &短路量測原理探討短路量測原理探討( (二二) )於開路測試(open test)時,在任一短路群(short groups)中任何兩點之阻抗不得大於55 ,反之即是開路測試不良(open fail)短
10、路測試(short test)時分成三種情況,若有其中以下的情況發生,則判定短路測試不良(short test)在短路群(short groups)中任何一點與非短路群中任一點之阻抗一點阻抗小於5.不同短路群中任兩點之阻抗小於5.非短路群中任兩點之阻抗小於5.開路開路& &短路量測原理探討短路量測原理探討( (三三) )vv 實例說明實例說明Short group 1 : Short group 2 : 以上為078料號短路群資料,在某次生產中,2與7 兩個不同短路群點其外部(conn、排線)阻抗超出系統默認值(5),導致30%短路產品誤判為良品.電容之電容之Debugging(Debuggi
11、ng(一一) ) 在編輯電容測試資料時其高低點通常選定一較少元件相接的腳為低點,以減少幹擾程度. 300pF以下之電容,一般使用較高的信號做量 測. 大於3.3UF之電容一般採用Mode 0(電流源測試) 方式量測. 當測量測值與標準值偏差太大時,可適當選用 不同模式測試(保證產品OK)直到穩定為止.電容之電容之Debugging(Debugging(二二) )實例說明: 175客戶反應電容測試出現不穩定現象,據分析為 隨著新產品(P59系列)的不斷開發,相應線路越細、點數越來越多、電氣原件越來越多.現有的電測機已存在著誤判的隱患,出現點數 不夠的尷尬,IC無法測試的難堪.電測系統的完善已是迫在眉捷.多功能的電測機準系統導入勢在必行.
