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1、实验一 典型环节的时域响应一、 实验目的1掌握各典型环节模拟电路的构成方法，掌握TDACC设备的使用方法。2熟悉各种典型环节的理想阶跃响应曲线和实际阶跃响应曲线。3了解参数变化对典型环节动态特性的影响。二、 实验设备PC机一台，TD-ACC系列教学实验系统一套。三、 实验原理及内容下面列出了各典型环节的方框图、传递函数、模拟电路图、阶跃响应，实验前应熟悉了解。1比例环节 （P）(1) 方框图： 图11(2) 传递函数：(3) 阶跃响应：Uo(t) = K ( t0 ) 其中K = R1 / R0 (4) 模拟电路图：图12(5) 理想与实际阶跃响应对照曲线 取R0 = 200K；R1 = 10
2、0K。 取R0 = 200K；R1 = 200K。2积分环节（I）(1) 方框图：图13(2) 传递函数：(3) 阶跃响应： ( t0 ) 其中T = R0C(4) 模拟电路图：图14(5) 理想与实际阶跃响应曲线对照 取R0 = 200K；C = 1uF。 取R0 = 200K；C = 2uF。3比例积分环节（PI）(1) 方框图：图15(2) 传递函数：(3) 阶跃响应： ( t0 ) 其中K = R1/R0 ；T = R0C (4) 模拟电路图：见图1.16图16(5) 理想与实际阶跃响应曲线对照 取R0 = R1 = 200K；C = 1uF。 取R0=R1=200K；C=2uF。 4
3、惯性环节（T）(1) 方框图：图17(2) 传递函数：。(3) 模拟电路图：见图1.18图18(4) 阶跃响应：，其中；。(5) 理想与实际阶跃响应曲线对照 取R0=R1=200K；C=1uF。 取R0=R1=200K；C=2uF。5比例微分环节（PD）(1) 方框图：见图1.19图19(2) 传递函数：(3) 阶跃响应：。其中，为单位脉冲函数，这是一个面积为的脉冲函数，脉冲宽度为零，幅值为无穷大，在实际中是得不到的。(4) 模拟电路图：图110(5) 理想与实际阶跃响应曲线对照 取R0 = R2 = 100K，R3 = 10K，C = 1uF；R1 = 100K。 取R0=R2=100K，R
4、3=10K，C=1uF；R1=200K。 6比例积分微分环节（PID）(1) 方框图图111(2) 传递函数：(3) 阶跃响应：。其中为单位脉冲函数，；(4) 模拟电路图：图112(5) 理想与实际阶跃响应曲线对照 取R2 = R3 = 10K，R0 = 100K，C1 = C2 = 1uF；R1 = 100K。 取R2 = R3 = 10K，R0 = 100K，C1 = C2 = 1uF；R1 = 200K。 四、 实验步骤1观察比例、积分、比例微分和惯性环节的阶跃响应曲线(1) 实验接线 准备：将信号源单元的“ST”端（插针）与“5V”端（插针）用“短路块”短接，使模拟电路中的场效应管夹断
5、（每个运放单元均设置了锁零场效应管），这时运放处于无锁零控制的工作状态。 阶跃信号的产生电路可采用图113，具体接法：将“H1”与“5V”插针用“短路块”短接，“H2”插针用排线接至“X”插针，“X”端原有的“短路块”应拔掉，再将“Z”插针和“GND”插针用“短路块”短接，最后信号由大插孔“Y”端输出。实验中按动按钮即可产生阶跃信号，调节电位器可以改变阶跃信号的幅值。以后实验再用到阶跃信号时，方法同上，不再赘述。 图113(2) 实验操作 按模拟电路图将线接好。将阶跃信号加至输入端，调节单次阶跃单元中的电位器，按动按钮，用示波器观察阶跃信号，使其幅值为1V左右。 用示波器的“CH1”和“CH2
6、”表笔分别监测模拟电路的输入Ui端和输出U0端，然后，按下按钮（或松开按钮），观测输出端的实际响应曲线U0(t)，并将结果记下。 改变几组参数，重新观测结果。 用同样的方法分别搭接积分、比例积分、比例微分和惯性环节的模拟电路图，用示波器观测这些环节对阶跃信号的实际响应曲线，并将结果记下。2观察PID环节的响应曲线(1) 此时Ui采用信号源单元的周期性方波信号，具体实现如下：将信号源单元的“ST”的插针改为与“S”插针短接，信号类型选择开关置于“方波”档，“OUT”端的输出电压即为阶跃信号电压。信号的周期由信号频段选择开关和调频电位器来调节，幅值由调幅电位器来调节。以信号幅值小、信号周期较长比较
7、适宜。(2) 参照1.1.3节的PID模拟电路图，将PID环节搭接好。(3) 将 (1) 中产生的周期性方波信号加到PID环节的输入端Ui ，用示波器的CH1路和CH2表笔监测PID模拟电路的输入Ui端和输出U0端，可以观测到PID环节的阶跃响应曲线。(4) 改变电路参数，重新观察并记录。实验二 典型系统的时域响应和稳定性分析 一、 实验目的1研究二阶系统的特征参量（、n）对过渡过程的影响。2研究二阶对象的三种阻尼比下的响应曲线及系统的稳定性。3熟悉Routh判据，用Routh判据对三阶系统进行稳定性分析。二、 实验设备PC机一台，TDACC系列教学实验系统一套。三、 实验原理及内容 1典型的
8、二阶系统稳定性分析(1) 结构框图：见图21图21(2) 对应的模拟电路图图22(3) 理论分析系统开环传递函数为：；开环增益。(4) 实验内容先算出临界阻尼、欠阻尼、过阻尼时电阻R的理论值，再将理论值应用于模拟电路中，观察二阶系统的动态性能及稳定性，应与理论分析基本吻合。在此实验中(图22)， ， 系统闭环传递函数为：其中自然振荡角频率：；阻尼比：。2典型的三阶系统稳定性分析(1) 结构框图图23(2) 模拟电路图图24(3) 理论分析系统的开环传函为:(其中)， 系统的特征方程为:。(4) 实验内容实验前由Routh判断得Routh行列式为：S3 1 20S2 12 20KS1 (-5K/
9、3)+20 0S0 20K 0为了保证系统稳定，第一列各值应为正数，所以有 得： 0 K 41.7K 系统稳定 K = 12 R = 41.7K 系统临界稳定 K 12 R 41.7K 系统不稳定四、 实验步骤1准备：将信号源单元的“ST”插针和“5V”插针用“短路块”短接，使运算放大器反馈网络上的场效应管夹断，无锁零控制作用。2. 阶跃信号的产生：见实验1中的阶跃信号的产生。将阶跃信号加至输入端，调节单次阶跃单元中的电位器，按动按钮，用示波器观察阶跃信号，使其幅值为1V左右。3. 典型二阶系统瞬态性能指标的测试(1) 按模拟电路图22接线，将阶跃信号接至输入端，取R = 10K。(2) 用示
10、波器观察系统阶跃响应C(t)，测量并记录超调MP、峰值时间tp和调节时间tS。(3) 分别按R = 50K；160K；200K；改变系统开环增益，观察相应的阶跃响应C(t)，测量并记录性能指标MP、tp和tS，及系统的稳定性。并将测量值和计算值进行比较（实验前必须按公式计算出）。并将实验结果填入表21中。表22中已填入了一组参考测量值，可供对比用。4典型三阶系统的性能(1) 按图24接线，将阶跃信号接至输入端，取R = 30K。(2) 观察系统的阶跃响应，并记录波形。(3) 减小开环增益（R = 41.7K；100K），观察阶跃响应，并将实验结果填入表23中。表24中已填入了一组参考测量值，可
11、供对比用。五、 实验现象分析1典型二阶系统瞬态性能指标实验参考测试值见表22表21参数项目R(K)KnC(tp)C()Mp (%)Tp (s)ts (s)阶跃响应情况理论值测量值理论值测量值理论值测量值0 1过阻尼 表22参数项目R(K)KnC(tp)C()Mp (%)tp (s)ts (s)阶跃响应情况理论值测量值理论值测量值理论值测量值0 1过阻尼2001无1无无2.93.5单调指数其中， ，2典型三阶系统在不同开环增益下的响应情况实验参考测试值见表24表23R(K)开环增益K稳定性表24R(K)开环增益K稳定性30167不稳定发散41 .712 临界稳定等幅振荡1005稳定衰减收敛注意：在做实验前一定要进行对象整定（详见附录一），否则将会导致理论值和实际测量值相差较大。实验三 线性系统的根轨迹分析一、 实验目的1根据对象的开环传函，做出根轨迹图。2掌握用根轨迹法分析系统的稳定性。3通过实际实验，来验证根轨迹方法。二、 实验设备PC机一台，TDACC系列教学实验系统一套。三、实验原理及内容1实验对象的结构框图图312模拟电路构成 图32系统的开环增益为K500K/R，开环传递函数为：3绘制根轨迹(1) 由开环传递函数分母多项式S(S+1)(0.5S+1)中最高阶次n3，故根轨迹分支数为3。开环有三个极点：p10
