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2012头影测量学

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2012头影测量学_第1页
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头影测量学,上海交通大学医学院附属第九人民医院 正颌正畸联合治疗中心 吴 勇,定 义,X线头影测量是对标准化定位的X线片所得的软硬组织影像进行定量的测量分析,从而了解牙合颅面软硬组织的结构,使对牙合颅面的检查诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去常用标志点及测量平面,一.颅部标志点,鼻根点(N):鼻额缝的最前点 蝶鞍点(S):蝶鞍影像的中心点,,,,耳点(Po): 机械耳点---定位仪耳塞影像的最上点 解剖耳点---骨性外耳道影像的最上点,颅底点(Ba):枕骨大孔前缘中点,,,二.上颌标志点,眶点(Or): 眶下缘最下点 翼上颌裂点(Ptm): 翼上颌裂影像的最下点,,,,,前鼻棘点(ANS): 前鼻棘的尖端 后鼻棘点(PNS): 硬腭后部骨棘之尖,,,,,,上齿槽坐点(A): 前鼻棘与上齿槽缘间的最凹点 上中切牙点(U1): 上中切牙切缘之最前点,,,,,三.下颌标志点,髁顶点(Co): 髁突影像最上点 下颌角点(Go): 下颌角后下点 颏下点(Me): 颏部之最下点,,,,颏前点(Pog): 颏部之最前点 颏顶点(Gn): 颏下点与颏前点之中点 下齿槽座点(B): 颏前点与下齿槽缘之间的凹点 下中切牙点(L1):下中切牙切缘之最前点,,,,,下颌标志点,四.基准平面:相对稳定,前颅底平面(SN):由蝶鞍点与鼻根点的连线组成 眶耳平面(FH):由耳点与眶点的连线组成,,线段距离 垂足距离 角度,,S,N,FH,Ptm,A,,,Ptm’,A’,,FH,,,MP,MP’,测量平面: 腭平面(PP):由前鼻棘点与后鼻棘点的连线组成 面平面(N-Pog):由鼻根点与颏前点的连线组成 Y轴(S-Gn):蝶鞍点与颏顶点的连线组成,合平面(OP): 解剖合平面 功能合平面,下颌平面(MP): 颏下点与下颌角下缘的切线 下颌角点与颏顶点的连线(Go-Gn) 通过下颌骨下缘最低点的切线,上海九院头影测量分析法,常用测量项目,上颌骨相对于颅底 下颌骨相对于颅底 上下颌骨相对位置 面部生长方向 面高比 颏分析 牙及牙槽 软组织面型 唇型,②,①,④,③,上颌骨相对于颅底,⑤,⑥,⑦,√,√,√,下颌骨相对于颅底,⑩,⑨,√,√,下颌骨相对于颅底,(8),(12),(11),(13),√,√,√,√,(15),a,c,d,x,b,,√,√,√,(22),(21),(23),√,√,(21),(20),,√,√,√,√,(28),(25),(31),(24),,√,√,√,(30),(27),(29),,√,(36),(39),(38),√,√,√,常用测量项目,上颌骨相对于颅底 下颌骨相对于颅底 上下颌骨相对位置 面部生长方向 面高比 颏分析 牙及牙槽 软组织面型 唇型,,,Tweed 分析法,,Tweed三角,FMA FMIA IMPA FMA.250, IMPA900, FMIA650,(国人55°) FMIA650, 是建立良好颜貌的条件,也是矫治追求的目标。

i 作图测量法 ii 计算估计法,Tweed 分析方法,( 55- 65)/2.5 ×2=-8mm,ODI、APDI,多曲方丝弓矫治技术 MEAW (Multiloop Edgewise Archwire),覆合深度指数—ODI (Overbite Depth Indicator),1974年,Kim医师 ODI = AB-MP + PP-FH,,前后向不调指数——APDI,1978年,Kim医师 APDI = NPg-FH + NPg-AB + PP-FH,,。

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