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1、 测量设备检定指引 名称: 测量设备检定指引 编号: OI-QA-001 编制人: 覃金住 版本: A 页码: 1of 21 生效日期 201510-31 批准页 测量设备检定指引测量设备检定指引 （依据 ISO 9001：2008 标准编制） 批 准 翁仲平 签 名 制订日期 2015 年 10 月 25 日 修订日期 审 核 翁仲平 签 名 编 制 覃金住 签 名 手册状态 测量设备检定指引 1 测量设备检定指引 名称: 测量设备检定指引 编号: OI-QA-001 编制人: 覃金住 版本: A 页码: 2of 21 生效日期 201510-31 1 1、目的目的 使检定工作标准化，确保公
2、司所使用的量测设备的精度及稳定性，从而保证 产品品质。 2 2、适用范围适用范围 凡本公司所使用的常规量测的量规，量具及仪器. 3 3、权责权责 经培训考核合格,由国家承认仪校资格的工程人员负责仪校. 4 4、定义定义 无 5 5、作业内容作业内容 5.1 仪器校验分为内校、免校、外校，校验周期分别为三个月，半年，一年。 5.1.1 内校:依据量规,量具的计量性能及最小分度值公司内部可直接检定 的.(如卡尺,内外径千分尺,等) 5.1.2 免校:检测项目精度不高、公差范围较大，或起辅助功能作用，经品 保部经理同意免校之仪器. 5.1.3 外校:依据量规,量具的计量性能及最小分度值公司内部不能直
3、接检 定的.(三次元,投影仪,百分表,测厚规等) 5.2 卡尺 5.2.1 范围：适用于分度值（游标类、带表类）或分辩力（数显类）为 0.01 mm、0.02 mm、0.05 mm 和 0.10mm，测量范围上限至 2000mm 的通用卡尺. 5.2.2 引用文件： 本检定规范引用下列文件： JJG30-2002 通用卡尺检定规范 5.2.3 检定条件：温度：20 0C50C 湿度： 80%以下，将卡尺及量块、 数显千分尺同时置于平板上 1-2 小时. 5.2.4 检定周期：三个月 5.2.5 检定类型:内校 测量设备检定指引 2 测量设备检定指引 名称: 测量设备检定指引 编号: OI-QA
4、-001 编制人: 覃金住 版本: A 页码: 3of 21 生效日期 201510-31 5.2.6 作业细节： A 外观 要求：卡尺的表面应镀层均匀、标尺标记应清晰、表蒙透明清洁、 无锈蚀、碰伤、毛刺、镀层脱落及明显划痕，无目力可见的断线或 粗细不均等以及影响外观质量的其它缺陷。使用中和修理后的卡尺 不应有影响使用准确度的外观缺陷。外量爪两测量面的合并间隙应 为不透光。检定方法：目力观察 B 各部分相互作用 a 要求：尺框沿尺身移动平稳，不应有阻滞或松动现象，紧固螺钉的 作用应可靠，数字显示应清晰、完整、无黑斑和闪跳现象。各按 钮功能稳定、工作可靠。 b 检定方法：用目力观察和手动试验。
5、C 各部分相对位置 a 游标尺标记表面棱边至主标尺标记表面的距离应不大于 0.30mm。 b 圆标尺的指针尖端应盖住短标记长度的 30%-80%， 指针末端与标尺 标记表面之间的间隙应不超过下表之规定。 分 度 值 指针末端与标尺标记表面之间的间隙 0.01 0.02 0.7 0.05 1.0 c 用目力观察或二级塞尺比较检定。 D 测量面的平面度 a 要求：应不超过下表之规定。 （mm) 测量范围 外量爪测量面的平面度 深度卡尺的基准面和测量面 在同一平时的平面度 0-1000 0.003 0.005 测量设备检定指引 3 测量设备检定指引 名称: 测量设备检定指引 编号: OI-QA-00
6、1 编制人: 覃金住 版本: A 页码: 4of 21 生效日期 201510-31 1000-20000 0.005 0.006 注：测量面边缘 0.2mm 范围内允许塌边 E 检定方法：用 0 级刀口形直尺，深度卡尺应先将基准面和测量面置于同一 平面的平板上；检定时，分别在外量爪测量面、基准面与测量面的长边、 短边和对角线位置上进行检定。 F 刀口内量爪的基本尺寸和平行度 a 要求：应符合下表之规定 （mm） 分度值 刀口内量爪尺寸偏差 平行度 新制造和修理后 使用中 0.10 +0.020 +0.005 +0.020 -0.010 0.05 +0.035 +0.010 +0.035 -0
7、.015 b 检定方法： 将 1 块尺寸为 10mm 的 3 级或 6 等量块的长边夹持于测量面之 间，紧固螺钉后该量块应能在量爪测量面间滑动而不脱落。用测力为 （6-7） N 的外径千分尺沿刀口内量爪在平行于尺身方向检定。 尺寸偏差 以测得值与量块尺寸之差确定。 平行度以刀口内量爪全长范围内最大与 最小尺寸之差确定。 G 零值误差 a 游标卡尺量爪两测量面相接触(深度游标卡尺的主标尺基准面和测量 面在同一平面上)时，游标上的“零”标记和“尾”标记与主标尺相应 标记应相互重合，其重合度见下表规定： （mm） 分度值 “零”标记重合度 “尾”标记重合度 0.02 0.005 0.010 测量设备
8、检定指引 4 测量设备检定指引 名称: 测量设备检定指引 编号: OI-QA-001 编制人: 覃金住 版本: A 页码: 5of 21 生效日期 201510-31 0.05 0.020 0.10 0.010 0.030 b 带表卡尺量爪两测面相接触时， 圆标尺的指针应位于正上方， 此时毫米 读数部位至主标尺“零”标记的距离不超过标记宽度，压线不超过标 记宽度的 1/2. c 检定方法：移动尺框，使卡尺量爪两外测量面接触，分别在尺框紧固或 松开的情况下，用目力观察，必要时，用工具显微镜检定。 H 示值变动性 a要求： 带表卡尺不超过分数值的1/2， 数字显示器的卡尺不超过0.01mm； b
9、检定方法：在相同条件，移动尺框，使带表卡尺或数显卡尺量爪两外 测量面接触，对于数显深度卡尺：将基准面与平板接触，移动尺身，使 测量面与平板接触。重复测量 10 次并读数，示值变动性以最大与最小 读数的差值来确定。 I 数字显示器的示值稳定性 a 要求：1 小时内不超过 0.01mm； b 检定方法：在测量范围内的任意位置紧固尺框，观察 1 小时内显示 值的变化不超过规定值。 J 示值误差 a 要求：均应符合下表的规定： (mm) 测量范围（mm) 分度值（分辩力） 测量设备检定指引 5 测量设备检定指引 名称: 测量设备检定指引 编号: OI-QA-001 编制人: 覃金住 版本: A 页码:
10、 6of 21 生效日期 201510-31 b 检定方法：A、用 3 级或 6 等量块检定，受检点分布：对于测量范围在 300mm 内的卡尺，不少于均匀分布 3 点，如（0-300）mm 的卡尺，其受 检点为 101.30、201.60、291.90mm 或 101.30、201.50、291.80mm，对 于测量范围大于 300 mm 的卡尺，不少于均匀分布 6 点，如（0-500） mm 的卡尺。其受检点为 80、161.30、240、321.60、400、491.90mm 或 80、161.20、240、321.50、400、491.80mm。根据实际使用情况可 以适当增加受检点位。
11、c 对于结构形式为圆弧内量爪和外量爪的卡尺，检定时每一受检点应在量 爪的里端和外端两位置检定， 量块工作面的长边和卡尺测量面长边应垂 直。 d 对于测量范围大于 1000mm 卡尺， 检定时卡尺支放状态分为量爪平检和立 检两种。平检：第一支点在主标尺零标记外侧 50 mm 以内，第二支点在 尺框内侧 100 mm 以内，第三支点在测量上限标记外侧 50 mm 以内。立 检：用上述第一、第二支点，当尾部发生偏重时可在第三支点处加辅助 支撑，所用三个支点应等高。 e 对于深度卡尺， 检定时按受检尺寸依次将两组同一尺寸的量块平行放置 0.02 0.05 0.10 允许误差 0-150 0.02 0.
12、05 0.10 150-200 0.03 200-300 0.04 0.08 300-500 0.05 500-1000 0.07 0.10 0.15 1000-1500 0.10 0.15 0.20 1500-2000 0.14 0.20 0.25 测量设备检定指引 6 测量设备检定指引 名称: 测量设备检定指引 编号: OI-QA-001 编制人: 覃金住 版本: A 页码: 7of 21 生效日期 201510-31 在 1 级平板上，使基准面的长边和量块工作面的长边方向垂直接触， 再移动尺身，使其测量面和平板接触。检定时，量块应分别置于基准 面的里端和外端两位置检定。 f 示值误差的检
13、定应在螺钉紧固和松开两种状态下进行， 无论尺框紧固与 否，卡尺的测量面和基准面与量块表面接触应能正常滑动。接触时， 有微动装置的应使用微动装置。各点示值误差以该点读数值与量块尺 寸之差确定。 j 刀口外量爪示值误差的检定方法同上。 检定时， 量块处于刀口外量爪的 中间位置。 K 带深度测量杆的卡尺，深度测量杆在 20 mm 处的示值误差 a 要求：不超过 1 个分度值； b 检定方法：用两块尺寸为 20 mm 的量块置于 1 级平板上，使尺身测量面 与量块接触，伸出测量杆测量面与平板接触，然后在尺身上读数，该点 示值误差应不超过规定值。 5.2.7 检定结果处理：检定结果记录于量具仪器检定报告
14、中，符合要求的贴 上合格标签，注明下次检定日期。不符合要求的，贴上限制使用、暂停使 用标签或者外修。 5.3 内、外径千分尺 5.3.1 范围：适用于分度值为 0.0 1mm 测量范围至 300 mm 的外径千分尺，以及 测量范围至 25 mm 的板厚和壁厚千分尺。 5.2.2 引用文件 本检定规范引用下列文件 JJG21-1995千分尺检定规程 5.3.3 检定环境： 温度： 20 0C50C 湿度：80%以下 将千分尺与量块同 时置于平板上 1-2 小时. 5.3.4 检定周期：三个月 5.3.5 检定类型：内校 5.3.6 作业细节： 测量设备检定指引 7 测量设备检定指引 名称: 测量
15、设备检定指引 编号: OI-QA-001 编制人: 覃金住 版本: A 页码: 8of 21 生效日期 201510-31 A 外观 a 要求：千分尺的测砧与及校对用量杆不应有碰伤、锈蚀、带磁或其 他缺陷。刻线应清晰均匀，使用中或修理后的千分尺及其校对用的 量杆不应有影响使用准确度的外观缺陷。 b 检定方法：目力观察 B 各部分的相互作用： a 微分筒转动和测微螺杆的移动应平稳无卡住现象。可调或可换测 砧的调整或装卸要顺畅，作用要可靠，锁紧装置的作用应切实有 效。 b 检定方法：目力观察和实验 C 测微螺杆的轴向串动 a 要求：测微螺杆的轴向串动不大于 0.01mm b 检定方法：测微螺杆的轴向串动，用杠杆千分表检定。检定时， 使杠杆千分表与测微螺杆测量面接触，沿测微螺杆轴向方向分 别往返加力 3-5N.杠杆千分表示值的变化即为轴向串动量。 D 测微螺杆的径向摆动 a 要求：测微螺杆的径向摆动不大于 0.01 m
