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1、统计过程控制 S P C,1、,一、质量和统计,2、,),),),企业实施SPC的价值,5）企业应用SPC是推行IS9000、TS16949的基础ISO9000、TS16949的过程控制、检验与试验、APQP、MSA、纠正和预防、过程能力分析、持续改进等都应用到SPC的理论。是TS16949实施过程中五大参考手册的基础。,二、正态分布,平均值(实测值）,标准差=,偏差,真值X（理想值）,实际正态分布图,正态分布的不同位置和形态,一定时，曲线的形状由确定 越大，曲线越“矮胖”，总体分布越分散； 越小曲线越“瘦高”总体分布越集中：,人生产管理过程中的减肥运动,非正态分布,也叫做偏态分布,99.99
2、999966%,-6,+6,标准偏差和6管理：,三、SPC常用术语及概念,1、变差的普通原因和特殊原因普通原因：是指过程在受控的状态下，出现的具有稳定的且可重复的分布过程的变差的原因。普通原因表现为一个稳定系统的偶然原因。只有过程变差的普通原因存在且不改变时，过程的输出才可以预测。特殊原因：（通常也叫可查明原因）是指造成不是始终作用于过程的变差的原因，即当它们出现时将造成（整个）过程的分布改变。只有特殊原因被查出且采取措 施,否则它们将继续不可预测的影响过程的输出。,控制图类型,控制图的选择方法,接上页,注：本图假设测量系统已经过评价并且是适用的。,均值和极差图（X-R）,1、收集数据以样本容
3、量恒定的子组形式报告，子组通常包括2-5件连续的产品，并周性期的抽取子组。注：应制定一个收集数据的计划，将其作为收集、记录及描图的依据。 1-1 选择子组大小，频率和数据 1-1-1 子组大小：一般为5件连续的产品，仅代表单一刀具/冲头/过程流等。（注：数据仅代表单一刀具、冲头、模具等生产出来的零件，即一个单一的生产流。）1-1-2 子组频率：在适当的时间内收集足够的数据，这样子组才能反映潜在的变化，这些变化原因可能是换班/操作人员更换/材料批次不同等原因引起。对正在生产的产品进行监测的子组频率可以是每班2次，或一小时一次等。,接上页,1-1-3 子组数：子组越多，变差越有机会出现。一般为25
4、组，首次使用控制图选用35 组数据，以便调整。 1-2 建立控制图及记录原始数据 （见下图）,1-3、计算每个子组的均值（X）和极差R 对每个子组计算：X=（X1+X2+Xn）/ nR=Xmax-Xmin式中： X1 ， X2 为子组内的每个测量值。n 表示子组的样本容量1-4、选择控制图的刻度 4-1 两个控制图的纵坐标分别用于 X 和 R 的测量值。4-2 刻度选择 。,计算控制限首先计算极差的控制限，再计算均值的控制限 。2-1 计算平均极差（R）及过程均值（X）R=（R1+R2+Rk）/ k（K表示子组数量）X =（X1+X2+Xk）/ k 2-2 计算控制限计算控制限是为了显示仅存在
5、变差的普通原因时子组的均值和极差的变化和范围。控制限是由子组的样本容量以及反映在极差上的子组内的变差的量来决定的。计算公式：UCLx=X+ A2R UCLR=D4R LCLx=X - A2R LCLR=D3R,注：式中A2,D3,D4为常系数，决定于子组样本容量。 其系数值见下表 ：,注： 对于样本容量小于7的情况，LCLR可能技术上为一个负值。在这种情况下没有下控制限，这意味着对于一个样本数为6的子组，6个“同样的”测量结果是可能成立的。,2-3 在控制图上作出均值和极差控制限的控制线,平均极差和过程均值用画成实线。各控制限画成虚线。对各条线标上记号（UCLR ，LCLR ，UCLX ，LC
6、LX）3 过程控制分析分析控制图的目的在于识别过程变化或过程均值不恒定的证据， （即其中之一或两者均不受控）进而采取适当的措施。注1：R 图和 X 图应分别分析，但可进行比较，了解影响过程的特殊原因。注2：因为子组极差或子组均值的能力都取决于零件间的变差，因此，首先应分析R图。,不受控制的过程的极差（有超过控制限的点）,UCL,LCL,UCL,LCL,R,R,受控制的过程的极差,UCL,LCL,R,UCL,R,LCL,不受控制的过程的极差 （存在高于和低于极差均值的两种链）,不受控制的过程的极差（存在长的上升链）,3-4 分析极差图上的数据点,超出控制限的点a 出现一个或多个点超出任何控制限是
7、该点处于失控状态的主要证据，应分析。b 超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种：b.1 控制限计算错误或描点时描错 b.2 零件间的变化性或分布的宽度已增大(即变坏）b.3 测量系统变化（如：不同的检验员或量具）c 有一点位于控制限之下，说明存在下列情况的一种或多种c.1 控制限或描点时描错 c.2 分布的宽度变小（变好）c.3 测量系统已改变（包括数据编辑或变换）,不受控制的过程的均值（长的上升链）,不受控制的过程的均值（出现两条高于和低于均值的长链）,UCL,X,LCL,UCL,X,LCL,UCL,X,LCL,UCL,X,LCL,均值失控的过程（点离过程均值太近）,均值失控
8、的过程（点离控制限太近）,3-1-2 链- 有下列现象之表明过程已改变或出现某种趋势： 连续 7点在平均值一侧； 连续7点连续上升或下降；a 高于平均极差的链或上升链说明存在下列情况之一或全部：a-1 输出值的分布宽度增加，原因可能是无规律的（例如：设备工作不正常或固定松动）或是由于过程中的某要素变化（如使用新 的不一致的原材料），这些问题都是常见的问题，需要纠正。a-2 测量系统的改变（如新的检验人或新的量具)。b 低于平均极差的链或下降链说明存在下列情况之一或全部：b-1 输出值的分布宽度减小，好状态 。b-2 测量系统的改好。,3-1-3 明显的非随机图形,a 非随机图形例子：明显的趋势
9、；周期性；数据点的分布在整个控制限内，或子组内数据间有规律的关系等。 b 一般情况，各点与R 的距离：大约2/3的描点应落在控制限的中间1/3的区域内，大约1/3的点落在其外的2/3的区域。 C 如果显著多余2/3以上的描点落在离 R 很近之处（对于25子组，如果超过90%的点落在控制限的1/3区域），则应对下列情况的一种或更多进行调查：c-1 控制限或描点已计算错描错 。c-2 过程或取样方法被分层，每个子组系统化包含了从两个或多个具有完全不同的过程均值的过程流的测量值（如：从几组轴中，每组抽一根来测取数据）。c-3 数据已经过编辑（极差和均值相差太远的几个子组更改删除）。,d 如果显著少余
10、2/3以上的描点落在离R很近之处（对于 25子组，如果有40%的点落在控制限的1/3区域），则应对下列情况的一种或更多进行调查：d-1 控制限或描点计算错或描错。d-2 过程或取样方法造成连续的分组中包含了从两个或多个具有明显不同的变化性的过程流的测量值（如：输入材料批次混淆）。注：如果存在几个过程流，应分别识别和追踪。3-2 识别并标注所有特殊原因（极差图） a 对于极差数据内每一个特殊原因进行标注，作一个过程操作分析，从而确定该原因并改进，防止再发生。 b 应及时分析问题，例如：出现一个超出控制限的点就立即开始分析过程原因。,3-3 重新计算控制限（极差图）,a 在进行首次过程研究或重新评
11、定过程能力时，失控的原因已被识别和消除或制度化，然后应重新计算控制限，以排除失控时期的影响，排除所有已被识别并解决或固定下来的特殊原因影响的子组，然后重新计算新的平均极差R和控制限，并画下来，使所有点均处于受控状态。 b 由于出现特殊原因而从R 图中去掉的子组，也应从X图中去掉。修改后的 R 和 X 可用于重新计算均值的试验控制限，X A2R 。注：排除代表不稳定条件的子组并不仅是“丢弃坏数据”。而是排除受已知的特殊原因影响的点。并且一定要改变过程，以使特殊原因不会作为过程的一部分重现。,3-4 分析均值图上的数据点,3-4-1 超出控制限的点： a 一点超出任一控制限通常表明存在下列情况之一
12、或更多：a-1 控制限或描点时描错a-2 过程已更改，或是在当时的那一点（可能是一件独立的事件）或是一种趋势的一部分。a-3 测量系统发生变化（例如：不同的量具或QC）,UCL,X,LCL,UCL,X,LCL,均值失控的过程（点离过程均值太近）,均值失控的过程（点离控制限太近）,3-5 识别并标注所有特殊原因（均值图）,a 对于均值数据内每一个显示处于失控状态的条件进行一次过程操作分析，从而确定产生特殊原因的理由，纠正该状态，防止再发生。 b 应及时分析问题，例如：出现一个超出控制限的点就立即开始分析过程原因。3-6 重新计算控制限（均值图）在进行首次过程研究或重新评定过程能力时，要排除已发现
13、并解决了的特殊原因的任何失控点，然后重新计算并描画过程均值 X 和控制限，使所有点均处于受控状态。,3-7 为了继续进行控制延长控制限,a 当首批数据都在试验控制限之内（即控制限确定后），延长控制限，将其作为将来的一段时期的控制限。b 当子组容量变化时，（例如：减少样本容量，增加抽样频率）应调整中心限和控制限 。方法如下：b -1 估计过程的标准偏差（用 表示），用现有的子组容量计算： = R/d2 式中R为子组极差的均值（在极差受控期间）， d2 为随样本容量变化的常数，如下表：,b 2 按照新的子组容量查表得到系数d2 、D3、D4 和 A2，计算新的极差和控制限：R新 = d2 UCLR
14、= D4 R新 LCLR = D3 R新 UCLX = X+ A2 R新 LCLX = X A2 R新 将这些控制限画在控制图上。,4 过程能力分析,如果已经确定一个过程已处于统计控制状态，还存在过程是否有能力满足顾客需求的问题时； 一般讲，控制状态稳定，说明不存在特殊原因引起的变差，而能力反映普通原因引起的变差，并且几乎总要对系统采取措施来提高能力，过程能力通过标准偏差来评价。,带有不同水平的变差的能够符合规范的过程（所有的输出都在规范之内）,规范下限LCL,规范上限UCL,范围,LCL,UCL,范围,不能符合规范的过程（有超过一侧或两側规范的输出）,LCL,LCL,UCL,UCL,范围,范围,标准偏差与极差的关系（对于给定的样本容量,平均极差-R越大,标准偏差- 越大）,X,范围,范围,X,X,范围,R,R,R,4-2 计算过程能力,过程能力是指按标准偏差为单位来描述的过程均值和规格界限的距离，用Z来表示。 4-2-1 对于单边容差，计算：Z=(USL-X) / 或 Z=(X-LSL) / （选择合适的确一个） 注：式中的SL=规范界限， X=测量的过程均值， =估计的过程标准偏差。,
