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1、实验一 门电路逻辑功能的测试(一) 实验目的掌握常用的TTL门电路的逻辑功能的测试方法掌握芯片的管脚识别。(二) 实验仪器设备数字电路实验箱数字万用表芯片：74LS00 (与非门) 74LS86 (异或门) 74LS02 (或非门) (三) 实验内容及步骤 1) TTL“与非”门电路的逻辑功能的测试任选其中一个“与非”门进行功能测试，输入 端A、B分别输入不同的逻辑电平，测试输出端F的 电压和相应的逻辑状态，并将结果记入表1。分别 测试当输入端A、B悬空或接地是输出端F的逻辑状 态。将结果记入表2。表1 74LS00的逻辑功能测试数据输入输出A B电压 /VY0 00 11 01 1 表2 悬
2、空或接地时输出端的逻辑状态输入AB输入端相当于（ 高/低）电平输出悬空接地2) TTL“异或”门电路的逻辑功能的测试任选其中一个“异或”门进行功能测试，输入端A、B分别输入不同的逻辑电平，测试输出端F的电压和相应的逻辑状态，并将结果记入表3。表3 74LS86逻辑功能测试数据输入输出A B电压 /VY 0 0 0 1 1 0 1 1 任选其中一个“异或”门进行功能测试，输入端A、B分别输入不同的逻辑电平，测试输出端F的电压和相应的逻辑状态，并将结果记入表4。3) TTL“或非”门电路的逻辑功能的测试表4 74LS02逻辑功能测试数据输入输出A B电压/VY 0 0 0 1 1 0 1 1 4) 74LS的管脚图l四2输入“与非”门CT74LS00管脚图l四2输入“或非”门CT74LS02管脚图l四2输入“异或”门CT74LS86管脚图四2输入“或非”门CT74LS02管脚图四2输入“与非”门CT74LS00管脚图四2输入“异或”门CT74LS86管脚图
