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1、光干涉瓦检仪的常见故障及处理方法：1）干涉条纹视场过小。主要表现是当第二条黑条纹对零后，在划分极右侧出现暗影，或者第一条黑条纹前的干涉条纹不到两条。主要原因是光路不上，平面镜后倾不足或后倾过量，导致一部分从折光棱镜反射回来的光线投射不到平面镜上，使平面镜干涉区过小。处理办法是调整平面镜和折射棱镜的倾角。 （2）读数偏小。一台瓦检仪对好零位基线后，未检测前就出现基线左移或者几台瓦检仪同时对同一地点进行瓦斯检测时，有的瓦检仅显示的数据偏小。出现这种情况的原因较复杂，主要是：温差大引起读数偏小；仪器对零地点温度比被检测地点温度低得多（15以上） ；仪器空气室污染引起读数偏小；仪器漏、串气引起读数偏小
2、；仪器对零位不当引起读数偏小，仪器在井下使用时不慎碰撞需重新对零时，就在空气不新鲜的巷道中进行，增加了仪器空气室中空气的折射率；仪器毛细管漏气、堵塞引起读数偏小。因此应仔细查清原因，进行处理。（3）干涉条纹弯曲。这是由于通光区表面光圈不良；仪器平面镜、反射棱镜、折光棱镜材质不合格；空气室平行玻璃不合格或有划痕；物镜开胶；银层局部划伤。处理方法是，判断弯曲程度，确定受影响镜片，然后2）“跑正”-仪器对零的黑基线移到零刻度线右边处理：一种方法，重新换气对零；二种方法：转动微动螺旋使对零的黑基线对准分划上左边较小的整数刻度线，读出微读数窗内上的数值加上该整数即为仪器“跑正”数值，取样读数后减去“跑正
3、”数值，取样读数后减去“跑正”数值即为该测点的真实测定结果。2)“ 跑负“-仪器对零的黑基线移到零度刻度线左边处理：1：是重新换气对零；2：以第二条黑基线作为测定和读数的基准线，将第二条黑基线退到分划板上左边较小的整数刻度线上，读出微读数窗内的数值，加上第二条黑基线对准的分划板上的整数，并以此数位“跑负“的基准数。记住此基准数，在取样后。以第二条黑基线位基准线读出结果，减去”泡负“后基准数所得之差，即为该测定点的真实测定结果。6检查光干涉条纹是否清晰准确。不清晰的原因是电弱或目镜调整位置欠佳。检查光干涉条纹是否准确，是用经验定度法检查条纹的宽度，即将第 1 根黑条纹中心和分划板的零位线对准，观察第 5 根采纹是否与 7 的示值线相对。不相对即仪器精度不符合要求，不准使用。
