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1、电子卷2 GB/T 12166-1990 非平衡电压数字接口电路的电气特性 GB/T 12177-1990 数子控制机床的数控处理程序输出 逻辑结构 GB/T 12179-1990 噪声发生器通用技术条件 GB/T 12180-1990 低频信号发生器通用测试方法 GB/T 12181-1990 低频信号发生器通用技术条件 GB/T 12184-1990 信息处理 磁墨水字符识别 印刷规范 GB/T 12190-1990 高性能屏蔽室屏蔽效能的测量方法 GB/T 12200.1-1990 汉语信息处理词汇 01部分: 基本术语 GB/T 12269-1990 射频电缆总规范 GB/T 1227
2、0-1990 射频同轴连接器电气试验和测试程序 屏蔽效率 GB/T 12271-1990 射频同轴连接器射频插入损耗测试方法 GB/T 12272-1990 射频同轴连接器耐射频高电位电压测试方法 GB/T 12274-1990 石英晶体振荡器总规范 (可供认证用) GB/T 12275-1990 石英晶体振荡器型号命名方法 GB/T 12276-1990 电子设备用固定电阻器 第七部分: 分规范 各电阻器不可单独测量的固定电阻网络 (可供认证用) GB/T 12277-1990 电子设备用固定电阻器 第七部分: 空白详细规范: 各电阻器不可单独测量的固定电阻网络 评定水平 E (可供认证用
3、) GB/T 12300-1990 功率晶体管安全工作区测试方法 GB/T 12345-1990 信息交换用汉字编码字符集 辅助集 GB/T 12354-1990 电子计算机外围设备型号命名方法 GB/T 12453-1990 信息处理系统 开放系统互连 运输服务定义 GB/T 12498-1990 铷原子频率标准通用技术条件 GB/T 12499-1990 铷原子频率标准测试方法 GB/T 12500-1990 信息处理系统 开放系统互连 面向连接的运输协议规范 GB/T 12504-1990 计算机软件质量保证计划规范 GB/T 12505-1990 计算机软件配置管理计划规范 GB/T
4、12507-1990 光纤光缆连接器 第1部分: 总规范 GB/T 12508-1990 光学识别用字母数字字符集 第二部分: OCR-B 字符集印刷图象的形状和尺寸 GB/T 12510-1990 信息处理交换用维吾尔文字符集键盘的字母区布局 GB/T 12511-1990 纤维光学开关 第一部分: 总规范( 可供认证用) GB/T 12512-1990 纤维光学衰减器 第一部分: 总规范( 可供认证用) GB/T 12559-1990 印制电路用照相底图图形系列 GB/T 12560-1990 半导体器件 分立器件分规范 (可供认证用) GB/T 12561-1990 发光二极管空白详细规
5、范 (可供认证用) GB/T 12562-1990 PIN 二极管空白详细规范 (可供认证用 ) GB/T 12564-1990 光电倍增管总规范 (可供认证用) GB/T 12565-1990 半导体器件 光电子器件分规范 (可供认证用) GB/T 12567-1990 直观存储管测试方法 GB/T 12568-1990 直观存储管分规范 (可供认证用) GB/T 12569-1990 直观存储管空白详细规范 (可供认证用) GB/T 12570-1990 单色显示管空白详细规范 (可供认证用) GB/T 12571-1990 单色显示管测试方法 GB/T 12627-1990 软磁盘驱动器
6、通用技术条件 GB/T 12628-1990 硬磁盘驱动器通用技术条件 GB/T 12629-1990 限定燃烧性的薄覆铜箔环氧玻璃布层压板 (制造多层印制板用) GB/T 12630-1990 一般用途的薄覆铜箔环氧玻璃布层压板 (制造多层印制板用) GB/T 12631-1990 印制导线电阻测试方法 GB/T 12633-1990 压电晶体性能测试术语 GB/T 12634-1990 压电晶体电弹常数测试方法 GB/T 12635-1990 碳膜电阻器用陶瓷基体 GB/T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法 GB/T 12646-1990 数字控制机床的数控处理程
7、序输入 基本零件源程序参考语言 GB 12050-1989 信息处理 信息交换用维吾尔文编码图形字符集 GB 12052-1989 信息交换用朝鲜文字编码字符集 GB/T 11014-1989 平衡电压数字接口电路的电气特性 GB/T 11015-1989 数据通信用数据终端设备和自动呼叫设备之间的接口 GB/T 11113-1989 人造石英晶体中杂质的分析方法 GB/T 11114-1989 人造石英晶体位错的X 射线形貌检测方法 GB/T 11153-1989 激光小功率计性能检测方法 GB/T 11250.1-1989 复合金属覆层厚度的测定 金相法 GB/T 11250.2-1989
8、 复合金属覆层厚度的测定 X荧光法 GB/T 11250.3-1989 复合金属覆镍层厚度的测定 容量法 GB/T 11250.4-1989 复合金属覆铝层厚度的测定 重量法 GB/T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则 GB/T 11292-1989 数字控制机床的数控处理程序 输出2000型记录辅元素 (后置处理命令) GB/T 11293-1989 固体激光材料名词术语 GB/T 11295-1989 激光晶体棒型号命名方法 GB/T 11296-1989 红外探测材料型号命名方法 GB/T 11297.10-1989 热释电材料居里温度 TC 的测试方法 GB/T 112
9、97.11-1989 热释电材料介电常数的测试方法 GB/T 11297.1-1989 激光棒波前畸变的测量方法 GB/T 11297.12-1989 电光晶体铌酸锂、磷酸二氢钾和磷酸二氘钾消光比的测量方法 GB/T 11297.2-1989 激光棒侧向散射系数的测量方法 GB/T 11297.3-1989 掺钕钇铝石榴石激光棒消光比的测量方法 GB/T 11297.4-1989 掺钕钇铝石榴石激光棒长脉冲激光阈值及斜率效率的测量方法 GB/T 11297.5-1989 掺钕钇铝石榴石激光棒连续激光阈值、斜率效率和输出功率的测量方法 GB/T 11297.6-1989 锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀
10、显示及测量方法 GB/T 11297.7-1989 锑化铟单晶电阻率及霍耳系数的测试方法 GB/T 11297.8-1989 热释电材料热释电系数的测试方法 GB/T 11297.9-1989 热释电材料介质损耗角正切 tan涞牟馐苑椒 GB/T 11300-1989 电子设备用A 类调谐可变电容器空白详细规范 GB/T 11301-1989 电子设备用装有整体C 类预调电容器的A 类调谐可变电容器空白详细规范 GB/T 11302-1989 电子设备用B 类微调可变电容器空白详细规范 GB/T 11303-1989 电子设备用C 类预调可变电容器 空白详细规范 GB/T 11305-1989
11、 电子设备用固定电容器 分规范: 3 类瓷介电容器 (可供认证用) GB/T 11306-1989 电子设备用固定电容器 空白详细规范: 3 类瓷介电容器 评定水平 E (可供认证用) GB/T 11309-1989 压电陶瓷材料性能测试方法 纵向压电应变常数 d33的准静态测试 GB/T 11310-1989 压电陶瓷材料性能测试方法 相对自由介电常数温度特性的测试 GB/T 11311-1989 压电陶瓷材料性能测试方法 泊松比醊E的测试 GB/T 11312-1989 压电陶瓷材料和压电晶体声表面波性能测试方法 GB/T 11320-1989 压电陶瓷材料性能测试方法 低机械品质因数压电
12、陶瓷材料性能的测试 GB/T 11321-1989 波导元件模数尺寸选择指南 GB/T 11323-1989 电缆分配系统用单同轴电缆一般要求和试验 GB/T 11383-1989 信息处理 信息交换用八位代码结构和编码规则 GB/T 11384-1989 信息处理 数据交换用200mm 改进调频制记录的位密度为13262 磁通翻转/ 弧度、道密度为1.9道/毫米的双面软磁盘 第一部分 : 尺寸、物理性能和磁性能 GB/T 11385-1989 信息处理 数据交换用200mm 改进调频制记录的位密度为13262 磁通翻转/ 弧度、道密度为1.9道/毫米的双面软磁盘 第二部分 : 磁道格式 GB
13、/T 11386-1989 信息处理 130mm 未记录的硬扇段单面或双面软磁盘 尺寸、物理性能和磁性能 GB/T 11387-1989 压电陶瓷材料静态弯曲强度试验方法 GB/T 11433-1989 磁性氧化物制成的管、针、柱磁芯的尺寸 GB/T 11435-1989 铁氧体交流消音头磁芯 GB/T 11436-1989 软磁铁氧体材料成品、半成品化学分析方法 GB/T 11437-1989 广播接收机天线用铁氧体磁芯分规范 (可供认证用) GB/T 11438-1989 广播接收机天线用铁氧体磁芯空白详细规范 评定水平 A (可供认证用) GB/T 11441-1989 通信和电子设备用
14、变压器和电感器铁心片 GB/T 11447-1989 光学纤维面板测试方法 GB/T 11449.1-1989 波导法兰盘 第一部分: 一般要求 GB/T 11449.2-1989 波导法兰盘 第二部分: 普通矩形波导法兰盘规范 GB/T 11449.3-1989 波导法兰盘 第三部分: 扁矩形波导法兰盘规范 GB/T 11449.4-1989 波导法兰盘 第四部分: 圆形波导法兰盘规范 GB/T 11449.5-1989 波导法兰盘 第六部分: 中等扁矩形波导法兰盘规范 GB/T 11449.6-1989 波导法兰盘 第七部分: 方形波导法兰盘规范 GB/T 11450.1-1989 空心金
15、属波导 第一部分: 一般要求和测量方法 GB/T 11450.2-1989 空心金属波导 第二部分: 普通矩形波导有关规范 GB/T 11450.3-1989 空心金属波导 第三部分: 扁矩形波导有关规范 GB/T 11450.4-1989 空心金属波导 第四部分: 圆形波导有关规范 GB/T 11450.5-1989 空心金属波导 第六部分: 中等扁矩形波导有关规范 GB/T 11450.6-1989 空心金属波导 第七部分: 方形波导有关规范 GB/T 11451-1989 软波导组件性能 GB/T 11452-1989 助听器标准的指南 GB/T 11453-1989 模拟实际工作条件下
16、的助听器性能测量方法 GB/T 11454-1989 助听器用音频感应回路的磁场强度 GB/T 11455-1989 不完全佩戴在听者身上的助听设备 GB/T 11458.1-1989 信息处理用汉字1516点阵字模集 通信子集 GB/T 11458.2-1989 信息处理用汉字1516点阵字模数据集 通信子集 GB/T 11459.1-1989 信息处理用汉字2424点阵字模集 通信子集 GB/T 11459.2-1989 信息处理用汉字2424点阵字模数据集 通信子集 GB/T 11460-1989 信息处理设备中汉字点阵字模数据的检测方法 GB/T 11461-1989 频谱分析仪通用技术条件 GB/T 11462-198
