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1、<p><p>&lt;p&gt;&amp;lt;p&amp;gt; EDXRFEDXRF原理介绍原理介绍 与华唯与华唯XRFXRF系列产系列产 品品 大 纲 l基本原理 l硬件结构 l核心部件 原子核 e- e- E=EE0 E0 E X光管产生的X ray E1 E2 X ray E= E1E0=K X ray E= E2E0=K K L M N 物理学基础 产 生 X 射 线 的 机 理 X射线激发所产生的分析线 原子核 e- K L M N K K L L M 特性X射线的能量 定性分析
2、的原理 一一次次X X射線射線 一一次次X X射線射線 一一次次X X射線射線 由元素由元素A A所构成的样品所构成的样品 由元素由元素B B所构成的样品所构成的样品 由元素由元素A A和元素和元素B B所构成的样品所构成的样品 元素元素A A的螢光的螢光X X射線射線 元素元素B B的螢光的螢光X X射線射線 元素元素A A和和元素元素B B的螢光的螢光X X射線射線 对由元素对由元素A A和元素和元素B B所构成的样品进所构成的样品进 行行X X射线照射后射线照射后, ,各个元素都会发生荧各个元素都会发生荧 光光X X射线射线, ,但因两者所持能量强度不同但因两者所持能量强度不同, , 所
3、以可以辨别。所以可以辨别。 定量分析的应用 使用荧光使用荧光X X射线的定量方法射线的定量方法: : 1.1.标准曲线法标准曲线法 根据实验事实的方法根据实验事实的方法 元素元素A A含量少的样品含量少的样品 元素元素A A 元素元素A A的的螢螢光光X X射射線線 元素元素A A含量多的样品含量多的样品 含元素含元素A A越多的话，元素越多的话，元素A A的荧光的荧光X X射线也越强射线也越强 元素元素A A的的螢螢光光X X射射線線 用XRF测定元素的方法 事先测定标准物质事先测定标准物质 ( (已知浓度的样品已知浓度的样品) ) 从测定结果中求得浓度和从测定结果中求得浓度和X X射线射线
4、 强度的关系强度的关系( (标准曲线标准曲线) ) 根据标准曲线算出实际样品的根据标准曲线算出实际样品的 浓度浓度 一般用标准曲线法测定（经验系一般用标准曲线法测定（经验系 数法）数法） 样品浓度 样品强度 XRF仪器构造 样样 品品 波形分析器波形分析器 光管光管 探测器探测器 滤光片滤光片 高压电源高压电源 华唯XRF核心部件介绍 l高压电源 美国 Spellman lX光管 国产 丹东科维 l探测器 美国 Amptek X-123 l软件分析方法 经验系数法 高压电源的技术参数与说明 l关键技术参数：稳定性，包括： l输入电压input voltage: DC +24v DC +- 10
5、%， l输入电流：4.0A（最大maximum） l输出电压Output voltage: 0 -50Kv 1mA l电压稳定性： l最大功率Maximum Power： 50W 高压电源的作用 高压电源为X光管提供供电，是保证仪器测试数据精 密度与准确度的基础。我司仪器选用高性能进口高压 电源来确保供电条件的最优化。 X光管结构 准直器 铍窗 高能电子束 X-ray 高压050KV 灯丝 钼 靶 材 X光管的寿命 lX光管在使用过程中的损坏因素主要为 l灯丝烧断 l靶材击穿 l管体内真空遭破坏 l灯丝加热过程中逸出金属雾，附着铍窗，造成铍窗 通过率大幅度降低 中国七、五科技攻关已经掌握了X荧
6、光的多元素 分析技术，X光管生产技术已经成熟，我司技术发 源与七、五科技攻关，目前积极参于光管制造厂家 的生产制造过程，设计并定制了专有型号，对上述 因素进行了设计改良，充分确保X光管的高寿命。 探测器(光信号转换成电信号单元) DC 5V input X-ray 荧光 =45度 铍窗Amptek X-123 分辨率149&amp;amp;#177;5eV 数据传输 探测器与前放 主放与多道脉冲处 理器 探测器的技术指标与说明 l最佳分辨率：149&amp;amp;#177;5eV. l最高计数率：2 X 10 5 CPS l峰背比 5000/1 l（天/信噪比
7、增强器） l能响曲线 1KeV 40KeV 各类型探测器的比较 型号 SDDSi-PIN Si（Li） 是否要 液氮 最佳分辨率 125eV 150eV 150eV 否否需要 脉冲处理系统技术指标与说明 l前置放大器 l主放大器 l数字化多道脉冲处理器（MCA） l任何的电子电路都会造成电子漂移，产生仪器误差 ，以上系统可以有效的补偿漂移效应，确保仪器精 确度。 l成型时间 放大倍数软件根据实际应用情况自动调 整。达到最佳效果 其他重要元器件 l辐射防护系统 l华唯公司的辐射防护系统现有两种结构 l整机全铅版防护迷宫+自动保护装置 l射线区域全封闭结构+自动保护装置 l滤光片系统 l七组滤光片
8、自动选择系统 l针对不同材质的测试对象，其激发的X荧光中带有特定的干扰杂波 ，必须采用特定的滤光片进行初步处理，以提高光效质量，确保良 好的测试效果。华唯公司选用的七组滤光片系统是经过数万次实验 的最终科技成果，具有良好的滤光及控制效果。 l整机电路系统 l优良的整机电路系统是精密仪器稳定性与精确度的基础保证。 l华唯公司XRF内部电路设计严谨，各类屏蔽与干扰控制机件得当，安装与 调试完全符合国际标准。有效的保证了数据的准确性与稳定性 数据分析软件 l在XRF技术中，数据分析与处理技术最为深奥，检测样品中基材 对于测试元素的干扰、相邻元素间的干扰、本底对于测试的干扰 等虽经过光路控制可以得到一
9、定程度抑制，但最终仍需通过数据 分析软件，进行剔除、筛选、分析并最终得出结论。数据分析软 件对于XRF的优异具有决定性影响。 l现阶段国内外XRF仪器的数据分析软件主要分为以下几种理论分 析模型基础：经验系数法/理论系数法/FP法等。相互间互有侧重 ，自成一体。 l华唯产品集合二十多年分析模型研究基础，结合长期的实验结果 ，成功的将三类理论模型进行结合，应用与华唯产品的数据分析 软件中。考虑各类变量最多，剔除各类影响因素最多。充分适合 与多材料的工厂生产实际需求。 开放性工作曲线 l各企业实际使用的物料千差万别，任何测试仪器厂家均无能力穷 尽所有物料，并在仪器上预制相关的工作曲线。各厂家只会在
10、机 器中预制常用的物料类型的工作曲线。 l不具备与物料匹配的工作曲线时大多数仪器厂家会要求企业选择 相近物料的工作曲线进行测试，这种做法往往会导致测试结果偏 差较大、部分浓度区间的物料测试结果偏差较大或根本无法测试 。 l国际电工委员会推荐XRF仪器需设立开放性工作曲线，使用户根 据自己的风险物料特点建立自己符合的物料范围的工作曲线库， 从而确保更加良好的测试效果。然而由于各种原因现阶段在机器 中设立开放性工作曲线的厂商寥寥无几。 l在仪器中设置开放性工作曲线代表着仪器厂家对于产品稳定性与 线性的充分信心。亦表明其技术的领先性。 l现阶段华唯全线产品中均预制开放性工作曲线功能，满足用户进 一步
11、物料检测需求。 XRF好坏的评估方法 l仪器安全性 lXRF为X射线产品，X射线具备累计性及身体不可感知性，故其对于人员的危害性更加隐蔽、更 加危险。优良的XRF必须首先确保零辐射的基本条件实现。 l用户可以详细了解仪器厂家的防护原理、防护措施、索要相关检验证书。有条件的还可使用X 射线探测器进行实际检验。 l仪器稳定性测试 lXRF属于对比型分析仪器，其数据的稳定性及同一样品的再现性对于后期鉴定及测试极为重要 。 l将各种有害元素居中的样品用仪器进行测量，连续测量21次（即95 的置信度），这21次的 结果波动误差范围基本上反映了正常使用时，仪器测量的误差范围；此误差范围应该小于我们 要求的
12、测量误差。 l仪器分辨能力测试 l对不同含量的样品测试数据是否保持相关线形，是决定未来测试不同含量样品是否可以产生相 关的数据变化，从而引起检测人员关注的重要属性。 l使用的仪器工作曲线，逐个对准备好的样品进行测量，测试结果的规律应该与已知的含量结果 的规律有较好的一致性（即较好的线性关系）；则说明仪器具有较好的分辨能力。 l是否拥有开放式工作曲线 l应特别注意XRF仪器的分析软件是否具有开放的制作工作曲线的功能，此性能可以保证用户后 期使用的延展性,并可以充分验证XRF生产商是否具有足够的技术支持能力 l对仪器具体技术参数进行比较时，还应注意基体材料的影响因素 l详见选型文章 XRF应用领域
13、 1. 陶瓷 陶瓷元素分析 玻璃元素分析 水泥元素分析 2. 环境 土壤元素分析 废水元素分析 燃烧灰分元素分析 3. 食品 各种食物中异物分析 饲料中元素分析 食品容器中不纯物分析 4. 化学 橡胶中不纯物分析-RoHS 塑料中金属成分分析-RoHS 涂料元素分析 石油重油中不纯物分析 电镀液中主成分及不纯物分析 5. 金属、非金属 原料分析 合金、非金属主成分及不纯物分析 矿石元素分析 固体主成分及不纯物分析 贵重金属主成分及不纯物分析 矿渣精炼分析 6. 电子、电器产品 电子零件有害物质分析-RoHS 多层镀层镀膜厚度及主成测定 各种电子零件镀膜厚度及主成测定 其它 纤维中元素分析 考古学古物元素分析 宝石元素分析与鉴定 各种样品元素快速鉴定 血液中重金属快速分析 谢谢 谢！谢！ &amp;lt;/p&amp;gt;&lt;/p&gt;</p></p>
