多晶硅片生产工艺介绍

上传人:hs****ma 文档编号:589452561 上传时间:2024-09-10 格式:PPT 页数:27 大小:6.95MB
返回 下载 相关 举报
多晶硅片生产工艺介绍_第1页
第1页 / 共27页
多晶硅片生产工艺介绍_第2页
第2页 / 共27页
多晶硅片生产工艺介绍_第3页
第3页 / 共27页
多晶硅片生产工艺介绍_第4页
第4页 / 共27页
多晶硅片生产工艺介绍_第5页
第5页 / 共27页
点击查看更多>>
资源描述

《多晶硅片生产工艺介绍》由会员分享,可在线阅读,更多相关《多晶硅片生产工艺介绍(27页珍藏版)》请在金锄头文库上搜索。

1、浙江光普能源有限公司浙江光普能源有限公司多晶硅片生产工艺介绍多晶硅片生产工艺介绍多晶硅片生产技术部多晶硅片生产技术部目录目录一、光伏产业链一、光伏产业链二、多晶硅片生产流程二、多晶硅片生产流程三、半导体和硅材料三、半导体和硅材料四、多晶硅片生产技术指标(简介)四、多晶硅片生产技术指标(简介)一、光伏产业链一、光伏产业链 “晶体硅原料生产”+“硅棒/硅锭生产”为光伏产业链上游;“太阳能电池制造”+“组件生产”+“光伏产品生产”为光伏产业链中游;“光伏发电系统”为光伏产业链下游。二、多晶硅片生产流程二、多晶硅片生产流程 多晶硅片的生产流程包括:多晶原料清洗、检测坩埚喷涂多晶铸锭硅锭剖方 硅块检验去

2、头尾磨面、倒角粘胶切片硅片脱胶硅片清洗硅片检验硅片包装硅片入库2.1多晶铸锭生产流程多晶铸锭生产流程热流方向热流方向硅溶液硅溶液热交换台热交换台加热器加热器长晶方向长晶方向 公司铸锭用多晶炉为JJL500型多晶炉,一次装载量在500KG,硅料在高温下加热熔化。长晶过程中,通过伺服控制器控制热交换台的上升、下降以达到长晶的目的。长晶的方向为向上生长,热流方向向下,如右图所示。 硅锭经剖方后进行少子寿命、电阻率、杂质等的检测,如左图所示,为硅块的少子寿命截面图。2.2多晶切片生产流程多晶切片生产流程去头尾:将硅块的头部和尾部去除配置砂浆:砂浆是为开方和切片用的切片:用WIRESAW将硅块切割成硅片

3、(wafer)粘胶:将硅块粘接在晶托上,为切片做准备。切割后多晶硅片切割后多晶硅片多晶硅片生多晶硅片生产设备产设备一一览览主要工序主要工序使用使用设备设备产产品品业业内主流内主流设备设备原料清洗硅料酸洗、碱洗机、硅料烘箱多晶原料(原生硅、循环料)张家港超声清洗设备坩埚喷涂喷涂站、坩埚烘箱喷涂后坩埚多晶铸锭多晶铸锭炉多晶硅锭美国GT、德国ALD、绍兴精工硅锭剖方剖方机多晶硅块 HCT、上海日进硅块检验少子寿命检测仪、杂质探伤仪、碳氧含量检测仪划线后硅块Semilab(施美乐伯)设备系列(WT-2000D、IRB50)去头尾截断机小硅块无锡上机、上海日进切片切片机多晶硅片瑞士HCT、MB,日本NT

4、C,德国KUKA硅片清洗硅片脱胶机、硅片清洗机多晶硅片张家港超声清洗设备公司设备图片公司设备图片硅料清洗机硅料清洗机坩埚烘箱坩埚烘箱喷涂台喷涂台坩埚旋转台坩埚旋转台多晶铸锭炉多晶铸锭炉上海日进截断机上海日进截断机无锡上机截断机无锡上机截断机剖方机剖方机红外杂质探伤仪红外杂质探伤仪IRB50切片机切片机硅片清洗机硅片清洗机少子寿命检测仪少子寿命检测仪WT-2000D三、半导体和硅材料三、半导体和硅材料3.1什么是什么是“半导体材料半导体材料”材料按照导电的能力来划分可以分为:导体 金属等绝缘体橡胶,塑料等半导体硅,锗等等 半导体材料是介于导体与绝缘体之间的,导电能力一般的导体。它的显著特点是对温

5、度、杂质和光照等外界作用十分的敏感。半导体材料的内部结构半导体材料的内部结构 半导体材料之所以具有介于半导体材料之所以具有介于导体与绝缘体之间的性质,一部分导体与绝缘体之间的性质,一部分原因是因为它的特殊的结构。原因是因为它的特殊的结构。 科学分析表明,硅原子是按照科学分析表明,硅原子是按照金刚石结构的形式占据空间位置金刚石结构的形式占据空间位置(晶格)。(晶格)。 金刚石结构的排列特点是:金刚石结构的排列特点是:晶格立方格子的晶格立方格子的8个顶点有一个原子个顶点有一个原子晶格晶格6个面的中心各有一个原子个面的中心各有一个原子晶格的晶格的4个对角线离顶点的个对角线离顶点的1/4处各有一个原子

6、处各有一个原子金刚石结构晶体的能带晶体的能带 导体存在一个电子不能填满的导带,故能导电。金属导体的电阻率约为导体存在一个电子不能填满的导带,故能导电。金属导体的电阻率约为108106欧姆欧姆米米 ; 绝缘体只有满带和空带,没有导带,且禁带很大(绝缘体只有满带和空带,没有导带,且禁带很大(36 eV) ,故不能,故不能导电。绝缘体的电阻率约为导电。绝缘体的电阻率约为1081020欧姆欧姆米米 ; 半导体只有满带和空带,但禁带很小(半导体只有满带和空带,但禁带很小(0.12eV),满带中的电子可以),满带中的电子可以在光、热、电作用下进入空带,形成导带。电阻率约为在光、热、电作用下进入空带,形成导

7、带。电阻率约为108107欧姆欧姆米。米。 本征半导体和杂质半导体本征半导体和杂质半导体 纯净半导体又叫本征半导体,就是指晶体中除了本身原子外,没有其纯净半导体又叫本征半导体,就是指晶体中除了本身原子外,没有其他杂质原子存在。他杂质原子存在。 假如在本征半导体中掺入杂质,使其产生载流子以增加半导体的导电能假如在本征半导体中掺入杂质,使其产生载流子以增加半导体的导电能力,这种半导体称为杂质半导体。力,这种半导体称为杂质半导体。n型和型和p型半导体型半导体 杂质半导体中以电子导电为主的称为杂质半导体中以电子导电为主的称为n (negative)型半导型半导体体(硅掺磷、砷等硅掺磷、砷等族元素族元素

8、),以空穴导电为主的称为,以空穴导电为主的称为p (positive)型半导体型半导体(硅掺硼、镓等硅掺硼、镓等族元素族元素) 。半导体的性质半导体的性质 电阻率随温度的增加而减小(称为负温度系数)电阻率随温度的增加而减小(称为负温度系数) 微量的杂质对半导体的导电性能有很大的影响微量的杂质对半导体的导电性能有很大的影响 光照可以改变半导体的电阻率光照可以改变半导体的电阻率光生伏特效应 当入射光子的能量大于禁带宽度时,光照射在距表面很近的pn结,就会在pn结产生电动势,接通外电路就可形成电流。这称为光生伏特效应。 太阳能电池就是利用光生伏特效应制成的。3.2什么是什么是“硅材料硅材料” 硅:台

9、湾、香港称为矽,化学元素符号Si,相对原子质量为28.09,在地壳中的含量约占27.6%,主要以二氧化硅和硅酸盐的形式存在。 灰色金属光泽,密度2.33g/cm3,熔点1410,沸点2355,溶于氢氟酸和硝酸的混算中,不溶于水、硝酸和盐酸。硬度介于锗和石英之间。硅材料的一些技术参数1.导电类型2.电阻率3.少数载流子寿命4.晶向偏离度与 晶体缺陷5.碳、氧含量6.杂质控制7.其他四、多晶硅片生产技术指标四、多晶硅片生产技术指标1.导电类型:由掺入的施主或受主杂质决定,P型多掺硼,N型多掺磷。多晶硅片导电类型要求为P型。2.电阻率:多晶铸锭时掺入一定杂质(多晶中统称母合金)以控制电阻率,电阻率控

10、制的是均匀度,电阻率均匀度包括纵向均匀度、断面均匀度、微区均匀度,多晶硅片的电阻率控制在1.0-3.0.cm。3.少子寿命:半导体中有电子和空穴两种载流子,在P型半导体中,空穴是多数载流子,电子是少数载流子,那么在P型半导体中电子就是少子。少子在受到外界光、电等刺激情况下所产生的附加电子和空穴瞬间复合到消失的时间即为少子寿命。多晶硅片的少子寿命时间在2s。4.碳、氧含量:在铸造多晶过程中,由于外在的诸多因素,造成多晶铸锭后碳、氧含量不合格,直接影响后续电池片的转换效率,一般多晶硅锭顶部碳含量较高,底部氧含量较高。标准控制范围为O14ppm、C 16ppm。5.杂质控制:在铸造多晶过程中,包括原料状况、多晶炉热场材料等往往会带来大块的杂质,这些杂质的存在会严重影响后续切片的效果,而且夹杂的硅片光电转换效率特别低,一般有杂质的硅块直接去除。多晶硅块检测要求无杂质。6.多晶硅片标准尺寸:156*156mm(8寸)7.多晶硅片标准厚度:20020 m8.硅片缺陷:隐裂、裂纹、线痕、崩边、缺口长度、深度等要求(详见多晶硅片检验标准)谢谢 谢!谢!

展开阅读全文
相关资源
正为您匹配相似的精品文档
相关搜索

最新文档


当前位置:首页 > 建筑/环境 > 施工组织

电脑版 |金锄头文库版权所有
经营许可证:蜀ICP备13022795号 | 川公网安备 51140202000112号