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1、XPert HighScore (Plus) 软件应用软件应用1 1、物相定性和定量分析、物相定性和定量分析2 2、晶粒大小和点阵畸变计算、晶粒大小和点阵畸变计算3 3、结晶度计算、结晶度计算4 4、点阵参数精确计算、点阵参数精确计算5 5、全谱拟合、全谱拟合XPert HighScore (Plus) 界面总览界面总览Main Graphics Pane主图形窗口主图形窗口Additional Graphics Pane辅助图形窗口辅助图形窗口List Pane列表窗口列表窗口菜单栏菜单栏工具栏工具栏状态栏状态栏XPert HighScore (Plus) 软件应用软件应用1 1、物相鉴定篇
2、、物相鉴定篇HighScore (Plus) 之之 物相鉴定篇物相鉴定篇 - 物相鉴定步骤物相鉴定步骤通常进行物相鉴定有以下步骤通常进行物相鉴定有以下步骤:1、确定背景、确定背景2、寻峰、寻峰3、数据涨落校正、数据涨落校正4、物相鉴定、物相鉴定HighScore (Plus) 之之 物相鉴定篇物相鉴定篇1 - 确定背景确定背景1扣除背景保存净谱将扣除背景后的净谱保存到谱图列表.保存背景将背景线保存到谱图列表.接受背景三种确定背景的方式三种确定背景的方式: 自动自动;手动手动;寻峰算法寻峰算法HighScore (Plus) 之之 物相鉴定篇物相鉴定篇 1- 确定背景确定背景2间隔尺寸该参数与背
3、景线数据点取点间隔相关.曲度因子使用平滑数据来确定背景.建议勾选.自动模式所用的算法为Sonneveld&Visser迭代近似法HighScore (Plus) 之之 物相鉴定篇物相鉴定篇1- 确定背景确定背景3勾选则基点间用三次样条函数插值来连接,否则使用直线段连接.添加基点移动基点删除基点手动模式以基点来确定背景,可以添加,删除,移动基点,基点之间以直线段(也可选用三次样条函数插值)连接.HighScore (Plus) 之之 物相鉴定篇物相鉴定篇1 - 确定背景确定背景4最小有效值最小峰顶宽度最大峰顶宽度峰底宽度重新计算背景线寻峰模式使用寻峰的算法来确定背景,其中各参数的意义见后面寻峰部
4、分.HighScore (Plus) 之之 物相鉴定篇物相鉴定篇2 - 寻峰寻峰1寻峰方式可选用最小二阶导数法寻峰或用平滑峰的顶点,一般选用前者,可以很好的分辨出重叠峰的峰位.目的:找到衍射峰的峰位峰位,并预估其峰强峰强及峰宽峰宽,以便之后进行物相分析或指标化.HighScore (Plus) 之之 物相鉴定篇物相鉴定篇 2- 寻峰寻峰2最小二阶导数法独立峰重度重迭轻度重迭HighScore (Plus) 之之 物相鉴定篇物相鉴定篇2 - 寻峰寻峰3寻峰如何区分峰和噪音:有效值(0.6-2)(Significance)一个”峰”是真正的峰而非噪音的可能性的量度;与衍射峰的峰顶面积及其二阶导数的
5、横轴以下面积(即右下图紫色部分)有关;峰顶宽度(TipWidth)衍射峰二阶导数与横轴相交的两点之间的宽度(即右下图中紫色部分宽度).HighScore (Plus) 之之 物相鉴定篇物相鉴定篇 2- 寻峰寻峰4有效值高于所设最小值的有效值高于所设最小值的”峰峰”才被视为真正的峰才被视为真正的峰: 最小有效值设在最小有效值设在 0.602.00 之间适用于多数情况之间适用于多数情况; 0.60: 找得到绝大部分的小峰找得到绝大部分的小峰,但不免会把部分噪音也视作为峰但不免会把部分噪音也视作为峰; 1.00: 找到可靠的峰而不至于漏掉太多小峰找到可靠的峰而不至于漏掉太多小峰,可能有少量噪音被视作
6、为峰可能有少量噪音被视作为峰; 2.00: 找到明显的强峰找到明显的强峰,可能会漏掉不少小峰可能会漏掉不少小峰.峰顶宽度在所设最大最小值间的峰顶宽度在所设最大最小值间的”峰峰”才视作为真正的峰才视作为真正的峰: 对于大多结晶材料对于大多结晶材料,默认的峰顶宽度范围默认的峰顶宽度范围(01)足已适用足已适用; 要寻出较宽的峰要寻出较宽的峰,则可提高最大峰顶宽度的值则可提高最大峰顶宽度的值; 要排除掉很窄的要排除掉很窄的”峰峰”,则可提高最小峰顶宽度的值则可提高最小峰顶宽度的值.HighScore (Plus) 之之 物相鉴定篇物相鉴定篇2 - 寻峰寻峰5峰底宽度(PeakBaseWidth):确
7、定离峰位多远处来计算背景线;必需大于最大峰顶宽度.该参数只用与确定背景线,若寻峰之前已确定背景,则该参数并不被使用,寻峰算法将用已有的背景线计算峰的净强度;若寻峰前并未确定背景,则寻峰算法会自动确定一条背景,峰底宽度不合适可能导致背景线过高或过低,而得到错误的净峰强.寻峰之前若扣除背景,背景的扣除将改变计数统计,导致较差的寻峰结果.HighScore (Plus) 之之 物相鉴定篇物相鉴定篇2 - 寻峰寻峰6Maximum peak tip width too smallCorrect peak tipHighScore (Plus) 之之 物相鉴定篇物相鉴定篇2 - 寻峰寻峰7Minimum
8、 peak tip width too smallCorrect peak tip widthHighScore (Plus) 之之 物相鉴定篇物相鉴定篇2 - 寻峰寻峰8Peak base width too smallCorrect peak base widthHighScore (Plus) 之之 物相鉴定篇物相鉴定篇2 - 寻峰寻峰9删除衍射峰:转到列表窗格的衍射峰列表,选择要删除的峰的行,点右键,在弹出菜单上选择Delete Peak;或者选中该行,直接按下键盘上的Delete键.在基本图形窗格中将鼠标移到黑框外峰位线上,衍射峰列表中会自动选中该峰相对应的行.HighScore (
9、Plus) 之之 物相鉴定篇物相鉴定篇2 - 寻峰寻峰10插入衍射峰在列表窗格的衍射峰列表,点右键,在弹出菜单上选择Add Peak,再手工输入峰位和峰强.或者选中菜单 Treatment - Insert Peak则基本图形窗格里将出现一条亮绿竖线随鼠标移动,将鼠标移到需要插入衍射峰的位置,单击,即在该位置插入一个新的衍射峰.确认一个”峰”是真正的峰的原则:峰高为噪音宽度的两倍以上.插入完所有衍射峰后,在点击菜单Treatment - Insert Peak ,以取消插入衍射峰状态.HighScore (Plus) 之之 物相鉴定篇物相鉴定篇3-校正涨落点校正涨落点选择同时校正单个离群点和离
10、群点组,还是单单校正单个离群点.卷积范围校正时所使用的数据点数量,即使用相邻的多少个数据点来校正离群点.HighScore (Plus) 之之 物相鉴定篇物相鉴定篇4-校正光线外溢校正光线外溢测量数据时使用的发散狭缝大小以及测角仪半径.样品长度即X射线外照时实际参与衍射的照射长度.LR=240mm510152530352001020304050021/321/161/81/41/212R=240mmirradiatedlength(mm)HighScore (Plus) 之之 物相鉴定篇物相鉴定篇5- 物相鉴定物相鉴定1部分匹配仅用可视角度范围内的谱图来鉴定匹配物相.通过将测量谱图与参考卡片数
11、据库(如ICDDPDF2)中的参考卡片进行比较,来确定样品中所存在的物相。HighScore (Plus) 之之 物相鉴定篇物相鉴定篇 - 物相鉴定物相鉴定2运行HighScorePlus软件,打开Mixture3文件。它含有Ca、C、O、Cr、F五个元素XPert HighScore (Plus) 软件应用软件应用2、定量分析、定量分析-参比强度法参比强度法HighScore (Plus) 之之半定量分析半定量分析1nEstimates mass fractions of the identified phasesnReference Intensity Ratio (RIR) values
12、also called I/Ic.nAll phases must be identifiedNo amorphous materialHighScore (Plus) 之之半定量分析半定量分析2HighScore (Plus) 之半定量分析之半定量分析3AllowRIRModificationXPert HighScore (Plus) 软件应用软件应用3、晶粒大小和点阵畸变计算、晶粒大小和点阵畸变计算HighScore (Plus) 之之晶粒大小和点阵畸变计算晶粒大小和点阵畸变计算1有二种方法：1、谢乐公司计算2、Ritevled全谱拟合 Open CEO2-NBS.RD Insert C
13、eO2.cryHighScore (Plus) 之之晶粒大小和点阵畸变计算晶粒大小和点阵畸变计算21、Rietveldassize-strainanalysis2、attheobjectinspector.,Atthenoderefinementchangetheprofilebasewidthto12timestheFWHM,repeat13、atlistpane,refinementcontrol,SelectthecerianitephasenodeandclickonTakeasSize-StrainStandard4、deletethecerianitephasefromtheref
14、inementcontrolandscanlist5、saveasPseudoVoigtStandard.HPF(以后可以直接调用）6、insertCAF2-500.RD，insertCAF2.cry7、clickingthefluoritephaseintherefinementcontroltoopentheobjectinspector.Atthenodephaseprofileswitchthesize-strainanalysistoSizeandStrain.8、rietveldassize-strainanalysisXPert HighScore (Plus) 软件应用软件应用
15、4、计算晶体结晶度、计算晶体结晶度_背景常数法背景常数法HighScore (Plus) 之结晶度计算之结晶度计算_背景常数法背景常数法这是结晶度为50%样品打开Cryst50.RDHighScore (Plus) 之结晶度计算之结晶度计算_背景常数法背景常数法1、确定背底、确定背底2、点击、点击scan list，在，在object inspector窗口中窗口中 选选 scan statistics目录下选背景常数（目录下选背景常数（constant background），）， 输输 入值，比如入值，比如250，直到它的结晶度为，直到它的结晶度为50%，记住这个背景常数。，记住这个背景常
16、数。3、打开一个新的需要计算结晶度的文件如、打开一个新的需要计算结晶度的文件如Cryst10.RD ，确定背底，确定背底， 输入背景常数，就可计算输入背景常数，就可计算 出该样品的结晶度。出该样品的结晶度。HighScore (Plus) 之结晶度计算之结晶度计算_内标内标+Rietveld法法打开Cryst50+.RD，样品里加了，样品里加了20% wt的的Si插入插入Si.cry 和和SiO2.cry1、拟合（、拟合（Default):检查背底和峰形检查背底和峰形2、温度因子精修、温度因子精修3、点击、点击Silicon,在在Object Inspector窗口中窗口中 选选General
17、 Phase Info项，项， 点击点击Standard weight Percentage,输入输入204、点击、点击Quartz,在在Object Inspector窗口中窗口中 点击点击Derived DataXPert HighScore (Plus) 软件应用软件应用5、精确测定点阵参数、精确测定点阵参数HighScore (Plus) 之精确测定点阵参数之精确测定点阵参数_内标法内标法有重要意义，是许多现象的直观表现，可定性说明许多问题主要是衍射位置的准确测定，衍射位置：峰形函数的选择和峰形参数的拟合XPert HighScore (Plus) 软件应用软件应用6、Rietveld
18、全谱拟合全谱拟合HighScore (Plus) 之之Rietveld全谱拟合全谱拟合Rwp=10拟合合优劣判断因子：劣判断因子：式中Yio为实测谱的的强度度 ，Yic为计算算谱的的强度。度。HighScore (Plus) 之之Rietveld全谱拟合全谱拟合1、Scalefactor：比例因子是和强度有关的参数，与定量分析有关2、PreferredOrientation：择优取向参数，默认值是0013、Boverall：温度因子，值在0-10之间4、UVW：与半峰宽有关的参数,U与微应力有关V、W与仪器实验条件有关FWHMUtan2+Vtan+W5、AnisotropicBroadenin
19、g：各向异性宽化修正6、Asymmetry：峰形称性参数，默认值是80度，即修正80度以下的7、PeakShape：峰形函数，与有关的参数，1是常数项，2是项，3是2项XPert HighScore (Plus) 软件应用软件应用7、解晶体结构、解晶体结构HighScore (Plus) 之解晶体结构之解晶体结构1在在C:Program FilesPANalyticalXPert HighScorePlustutorial 打开打开RaniFitted文件文件1、确定背低、确定背低 2、search perk 3、profile fit 4、search unit cellHighScore
20、(Plus) 之解晶体结构之解晶体结构2结构简单判断：结构简单判断：1、如果、如果2theta比较小的话，那么点比较小的话，那么点阵参数就比较大，那么体积也大，阵参数就比较大，那么体积也大，选选MaximumVolume为为30002、根据峰的多和少大概判断结构。、根据峰的多和少大概判断结构。峰多结构就复杂，峰少结构就简单。峰多结构就复杂，峰少结构就简单。3、选好后、选好后Execute Cell Search HighScore (Plus) 之解晶体结构之解晶体结构3选择候选晶胞的原则：选择候选晶胞的原则：1、没有指标化的线最少、没有指标化的线最少2、晶胞体积最小、晶胞体积最小choice
21、 and click on OK HighScore (Plus) 之解晶体结构之解晶体结构4Findno unindexedpeaksandthesmallest numberofmissinglines.XPert HighScore (Plus) 软件应用软件应用数据处理篇数据处理篇HighScore (Plus) 之之 数据处理篇数据处理篇 - Treatment 菜单菜单确定背景见物相鉴定篇.删除背景数据清空列表窗格中AnchorScanData标签页中Iback列的背景强度数据.寻峰见物相鉴定篇.峰形拟合修正计算谱,使之拟合到测量谱上.删除计算谱数据清空列表窗格中AnchorSca
22、nData标签页中Icalc列的计算谱线数据.扣除K-a2 峰从测量谱图上扣除K-a2波长产生的峰.Fourier滤波即可平滑数据又可扣除背景.平滑对测量谱图做平滑处理.数据校正插入衍射峰见物相鉴定篇.裁剪谱图只留下可视角度范围内的谱图.合并谱图对多个谱图做合并处理.调整谱图以当前分析谱图为基准,调整其他谱图的强度和峰位.HighScore (Plus) 之之 数据处理篇数据处理篇 - 峰形拟合峰形拟合相关设置菜单:Customize - Document Settings是否拟合K-a2/K-a1强度比是否拟合峰形参数是否拟合背景线权重阻尼系数HighScore (Plus) 之之 数据处理
23、篇数据处理篇 - 峰形拟合峰形拟合目的:取得更准确的峰位峰位,峰强峰强及峰宽峰宽的值峰形拟合使用的峰形函数为pseudo-Voigt函数(Lorentzian峰和Gaussian峰的线性组合).HighScore (Plus) 之之 数据处理篇数据处理篇 - 扣除扣除 K-a2 峰峰扣除K-a2算法:假定K-a1峰与K-a2峰形状及峰宽相同,两峰之间的强度关系由K-a2/K-a1强度比确定;由已知波长及Bragg公式计算可得K-a1峰和K-a2峰峰位间距;默认使用Rachinger算法,也可选Ladell算法;HighScore (Plus) 之之 数据处理篇数据处理篇 - 扣除扣除 K-a2
24、 峰峰扣除K-a2可略微提高谱图的分辨率,但在原K-a2峰角度位置会造成噪音增大,峰形失真;同时,进行物相鉴定时的检索匹配算法也会自动将K-a2考虑进去,更可靠且保持原始谱图;因此并不建议在鉴定物相前扣除K-a2峰.HighScore (Plus) 之之 数据处理篇数据处理篇 - 平滑平滑平滑算法多项式或快速傅立叶变换.多项式类型三次,五次或低通.卷积范围平滑计算时所使用的数据点数量,该值越大,平滑越厉害,可能会使峰高变低;该值过大将导致谱图振荡.平滑度平滑计算时所使用的数据点数量,该值过大将导致谱图振荡.平滑处理能提高谱图质量,但不可避免地会丢失部分信息,因此并不建议进行平滑.HighSco
25、re (Plus) 之之 数据处理篇数据处理篇 - Fourier 滤波滤波震幅频率低截止频率代表背景.提高低截止频率值将扣除部分背景.初始频率代表背景常数值.高截止频率代表噪音.降低高截止频率将平滑谱图.使用Cooley-TukeyFFT算法,先将XRD谱图转化为频率分布,在对它进行处理之后,再转化回谱图.改变步长转换发散狭缝将图谱由自动发散狭缝转换为固定发散狭缝或相反,见物相鉴定篇.校正系统误差使用内标或之前测好的标样的数据来校正系统误差造成的峰位偏移.校正样品位置偏移校正由于样品并不位于衍射基准面上而造成的峰位偏移.校正温度/压力校正由温度/压力效应造成的角度偏移.校正离群点校正强度与周
26、边数据点相差很大的一个或几个数据点.校正光束外照校正由于低角度时样品表面小于射线照射面积造成的强度误差.HighScore (Plus) 之之 数据处理篇数据处理篇 - 数据校正数据校正HighScore (Plus) 之之 数据处理篇数据处理篇 - 数据校正数据校正当前步长近似步长将当前步长近似到千分位,以此为新的步长.目标步长改变谱图的步长为目标步长,重新计算数据点.输入已知的样品表面与衍射基准面之间的误差.输入正数,则校正后衍射峰位置会往高角度方向移动.HighScore (Plus) 之之 数据处理篇数据处理篇 - 数据校正数据校正系统误差校正用于校正由样品穿透效应,样品位置偏移,X射
27、线光路等引起的较小的角度位置偏移.先由内标或标样的数据来构造一个多项式校正函数,然后由该函数来对需要校正的数据进行角度位置的校正.HighScore (Plus) 之之 数据处理篇数据处理篇 - 数据校正数据校正构造多项式校正函数对标样谱图寻峰,并进行峰形拟合,排除掉重叠严重的峰.标样材料误差范围误差超过该值的点将不被用来计算校正函数.多项式幂次选择多项式校正函数的幂次,则左下图最上方将显示该幂次校正函数的公式.标样衍射峰测量值与理论值对比接受该校正函数校正函数曲线由测量值与理论值间的差值计算得到的各幂的多项式校正函数的曲线.HighScore (Plus) 之之 数据处理篇数据处理篇 - 数
28、据校正数据校正调用多项式校正函数调用多项式校正函数多项式幂次选择使用该组校正函数中哪个幂次的函数.HighScore (Plus) 之之 数据处理篇数据处理篇 - 数据校正数据校正选择同时校正单个离群点和离群点组,还是单单校正单个离群点.卷积范围校正时所使用的数据点数量,即使用相邻的多少个数据点来校正离群点.已知Epsilon已知的晶格常数变化的相对值.输入正值,则校正后晶格常数变大,即峰位向低角度移动.HighScore (Plus) 之之 数据处理篇数据处理篇 - 数据校正数据校正测量数据时使用的发散狭缝大小以及测角仪半径.样品长度即X射线外照时实际参与衍射的照射长度.LR=240mm51
29、0152530352001020304050021/321/161/81/41/212R=240mmirradiatedlength(mm)HighScore (Plus) 之之 数据处理篇数据处理篇 - 调整谱图调整谱图拟合范围用该角度范围内的数据来做计算调整谱图.强度调整调整强度的整体缩放比例或调整强度整体纵向偏移(即整体增加或减去某个强度值)或两者都调整.被调整的谱图选择需要调整的谱图.角度位置偏移通过在拟合范围内同一衍射峰在当前分析谱图和被调整谱图中的峰位差来调整被调整谱图的整体角度.偏差峰位容差HighScore (Plus) 之之 数据处理篇数据处理篇 - 合并合并谱图谱图当分析文
30、档中存在多个谱图时,可对它们进行合并处理.谱图四则运算当前分析谱图与其他谱图以加减运算方式进行合并,各谱图在加减之前还和乘上一个总的系数.谱图嫁接将当前分析谱图与其他谱图在某一角度位置进行嫁接来构造新的谱图,低角度部分为当前分析谱图,高角度部分为其他谱图.简单合并当前分析谱图和其他谱图做简单的叠加合并.HighScore (Plus) 之之 数据处理篇数据处理篇 - 合并合并谱图谱图重叠角度范围用来嫁接的谱图嫁接点设置可选择重叠范围的起始点,中间点或终止点,也可以自定义.勾选该项则简单合并的结果谱图为平均值谱图,否则为叠加谱图.选择要与当前分析谱图进行简单合并的谱图HighScore (Plu
31、s) 之之 数据处理篇数据处理篇 - 合并合并谱图谱图重叠角度范围运算设置选择要与当前分析谱图合并的谱图,设置整体缩放比例,并设置是要加上还是减去该谱图,点击Use按钮使用该运算.运算列表运算时会将谱图都归一化到cps单位进行合并,最后的合并结果也是以cps为单位的谱图.只有重叠角度范围内的部分谱图参与运算,结果谱图也仅有这个范围.HighScore (Plus) 之之 数据处理篇数据处理篇 - 谱图谱图属性属性在列表窗格中的谱图列表中(ScanList),选中要修改的谱图,点击右键,选中Edit Scan Parameters项,打开谱图的属性页:角度偏移给整个谱图数据点的角度值都加上一个值
32、.设置最大值高于所设最大值的强度都会被设置为该最大值.设置最小值低于所设最小值的强度都会被设置为该最小值.纵向偏移给整个谱图数据点的强度值加上一个值.缩放比例给整个谱图数据点的强度值乘上一个值.XPert HighScore (Plus) 软件应用软件应用参考卡片篇参考卡片篇HighScore (Plus) 之之 参考卡片篇参考卡片篇 - 卡片数据库设置卡片数据库设置菜单Customize - Program Settings结构数据库软件会自动识别是否安装结构数据库,若安装,会自动显示结构数据库安装目录.物相卡片数据库用Browse按钮指定到物相卡片数据库的目录,软件即连接并使用该目录中的数
33、据库;若指定的目录为空目录,则在按下右下角的OK按钮后,将新建一个空数据库.显示数据库属性修改数据库若勾选该选项,则可在当前数据库内修改卡片的RIR值,也可以添加或删除用户卡片.HighScore (Plus) 之之 参考卡片篇参考卡片篇 - 卡片数据库设置卡片数据库设置菜单Customize - Program Settings数据库转换对于新安装的ICDDPDF2/PDF4数据库,需要转换成XPertHighScore(Plus)可用的格式;对于旧版PDF2库,需要由Browse按钮指定数据库所在目录,对于PDF4库或新版PDF2库,安装后软件会自动识别;按下Start Conversio
34、n of ICDD Database按钮即开始格式转换.HighScore (Plus) 之之 参考卡片篇参考卡片篇 - 参考卡片菜单参考卡片菜单检索数据库中卡片根据条件从数据库中检索出相应的卡片并加到已匹配卡片列表中.添加用户卡片由测量图谱的衍射峰信息新建一张用户卡片到数据库中.删除用户卡片删除指定卡片号码的用户卡片.保存卡片列表为子集将已匹配卡片列表中卡片保存到.SUB子集文件中.载入子集到卡片列表打开.SUB子集文件并将其中卡片添加到已匹配卡片列表中.载入子集到候选卡片列表打开.SUB子集文件并将其中卡片添加到候选卡片列表中.重置所有显示比例与偏移将所有卡片的显示比例与偏移恢复为默认值.
35、清空卡片列表移除已匹配卡片列表中的所有卡片.HighScore (Plus) 之之 参考卡片篇参考卡片篇 - 检索卡片检索卡片根据卡片号码检索在表格框中输入要检索的卡片号码.根据文本检索可以以化合物名称,矿物名称,化学式,样品颜色,卡片作者,卡片来源杂志名称来检索卡片.多次检索结果的结合方式或并集,或交集,或扣除,或取代.HighScore (Plus) 之之 参考卡片篇参考卡片篇 - 检索卡片检索卡片根据晶体学信息检索选择要检索的信息项,输入该信息项的值及容差范围.可通过晶格常数,晶系,空间群,密度,RIR值,Z值来检索.根据条件规则检索与物相鉴定中的条件规则相同.HighScore (Pl
36、us) 之之 参考卡片篇参考卡片篇 - 用户卡片用户卡片添加用户卡片对测量图谱确定背景,寻峰(最好对每个峰都做峰形拟合)之后,以其衍射峰峰位,相对强度,并输入该样品其它信息来构建一个用户卡片并存入到当前数据库中.删除用户卡片删除指定卡片号码的用户卡片.HighScore (Plus) 之之 参考卡片篇参考卡片篇 - 卡片谱线卡片谱线显示比例与偏移可通过Change Scale和Change Displacement以及滑块来调节所选卡片的谱线在图形中显示的高度及位置.Reset all Manual Scals and Shifts菜单项则将所有卡片的显示比例与偏移恢复为默认值.HighSco
37、re (Plus) 之之 参考卡片篇参考卡片篇 - 右键菜单右键菜单卡片列表右键菜单候选卡片列表右键菜单显示卡片详细信息修改卡片RIR值自定义列表显示内容由卡片谱线模拟XRD图谱HighScore (Plus) 之之 Rietveld篇篇1、Openfilemaxture3atC:ProgramFilesPANalyticalXPertHighScorePlustutorial2、InstertfileCr2O3,CaF2,Ca(CO)3atC:ProgramFilesPANalyticalXPertHighScorePlusstructuresexample3、StartaRietveldr
38、efinementinautomaticmodewiththedefaultparameterset4、Thebackgroundisnotfittedverywell，修背底。5、HighScore (Plus) 之之 Rietveld篇篇-Size - Strain Analysis1、OpenfileCEO2-NBS.RDatC:ProgramFilesPANalyticalXPertHighScorePlustutorial2、InstertfileCeO2atC:ProgramFilesPANalyticalXPertHighScorePlusstructuresStandard3、
39、StartaRietveldrefinementinautomaticmodewithSize-Strain Analysis4、在Refinecontrol目录下点击Global,Atthenoderefinementchangetheprofile base widthto12timestheFWHM.5、重复36、在Refinementcontrol目录下点击cerianite按右键，选Take as Size-Strain Standard7、deletethecerianitephasefromtherefinementcontrolSavePseudoVoigtStandard.HPF.做为标准文件，用来分析晶粒大小8、Instert要分析的文件如CaF2-500XPert HighScore (Plus) 软件应用软件应用其它功能篇其它功能篇HighScore (Plus) 之之 其他功能篇其他功能篇
