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1、电机绕组温升公式t=(R2-R1)/R1*(234.5+t1)-(t2-t1)t-绕组温升 R1-实验开始的电阻 (冷态电阻) R2-实验结束时的电阻(热态电阻) k-对铜绕组，等于 234.5；对于铝绕组：225 t1-实验开始时的室温t2-实验结束时的室温电机温升公式=(R2-R1)/R1*(235+t1)+t1-t2(K)R2-试验结束时的绕组电阻，；R1-试验初始时的绕组电阻，；t1-试验初始时的绕组温度（一般指室温） ，；t2-试验结束时的冷却介质温度（一般指室温） ，。235 是铜线，铝线为 225电阻发温升计算公式：Q=（Rr-Re)/Re x (235+te)+te-tkRr:
2、发热状态下的绕组电阻。Re:冷却状态下的绕组电阻。te:测量 Re 时的环境温度，也就是实验开始时的绕组温度。tk:做温升实验结束时的环境温度。电机温升试验电机中绝缘材料的寿命与运行温度有密切的关系，为保证电机安全、合理的使用，需要监视与测量电机绕组、铁心等其他部分的温度。按国家标准规定，不同绝缘等级的电机绕组有不同的允许温升，如下表所示绝缘等级 绝缘结构需用温度环境温度 热点温度 温升限值A105E120B130F155H180405604057540108040101054015125若超过规定值,如对 B 级绝缘的电机，温升每增加 10 度，电机的寿命将降低一半。因此电机的温升试验，准确
3、的测取某个部件的温度，对改进电机的设计和制造工艺，提高电机的质量是非常重要的对电机绕组和其他各部分的温度测量，目前虽已采用不少先进技术，仍可归纳为电阻法、温度计法、埋置检温计法三种基本方法。一、电阻法在一定的温度范围内，电机绕组的电阻值将随着温度的上升而相应的增加，而且其阻值与温度之间存在着一定的函数关系。根据这一原理，可以通过测定电机绕组的电阻来确定其温度，故称电阻测量法。当绕组温度在-50150 度范围时，其温升有下式确定=(Rf-R0)(k+0)/R0+0-f式中 R0、0 分别为绕组的实际冷态电阻和环境温度；Rf、f 分别为绕组热态式电阻和环境温度；k 为常数，对铜绕组为 235，对铝
4、绕组 225如果不能采用带电测量装置，可采用较先进的快捷、准确、数字显示的各种毫欧表或微欧计等直流电阻测量仪。其基本工作原理是采用高准确度、高稳定度的恒流电源所产生的直流电流通到被测电阻上，则电阻两端的电压降将严格的按照电阻值变化二、温度计法对电机中不能采用电阻法测量的部位，如定子铁心，轴承及冷却介质等，可采用温度计法来测量。温度计法是用温度计贴附在可接触的表面来测量温度，所测得的温度是被测点的表面温度。为了减小误差，从被测点到温度计的热传导尽可能的良好，将温度计球面部分用绝热材料覆盖，以免周围冷却介质的影响。温度计除包括水银、酒精等膨胀式温度计外，也包括半导体温度计及非埋置的热电耦或电阻温度计。在电机中存在交变磁场的部分，不可采用水银温度计，因为交变磁场在水银中产生涡流会发热，以致影响测量的准确性。三、埋置检温计法埋置检温计法是讲电阻检温计、热电耦或半导体热敏元件埋植于电机内部不能触及的部位，如定子绕组的槽部和铁心内等，经连接导线引到电机外的二次仪表，从而测定温度值。在测量时应控制测量电流的大小和通电时间，以免因测量电流引起的发热而带来误差。每个检测元件应与被检测点表面紧密相贴，以有效的防止测温元件受到冷却介质的影响。此法所测温度为测点的局部温度。一般检温计应埋置于预计的最热处，对电机的绕组温度，其数目应不少于 6 个。也可用于监视局部温升状况。
