集成运放的主要参数以及测试方法

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1、集成运放的性能主要参数及国标测试方法集成运放的性能可用一些参数来表示。集成运放的主要参数：1. 开环特性参数(1)开环电压放大倍数Ao。在没有夕卜接反馈电路、输出端开路、在输入端加一个低频小信 号电压时，所测出输出电压复振幅与差动输入电压复振幅之比值，称为开环电 压放大 倍数。Ao越高越稳左，所构成运算放大电路的运算精度也越高。(2 )差分输入电阻Ri差分输入电阻Ri是运算放大器的主要技术指标之一。它是指：开环运 算放大器在室温下，加在它两个输入端之间的差模输入电压变化与 由它所引起的差模 输入电流变化人AZi之比。一般为10k3M,高的可达1000M以上。在大多数情况下，总 希望集成运放的开

2、环输入电阻大一些好。(3 )输出电阻Roo在没有外加反馈的情况下，集成运放在室温下英输出电压变化与输出电 流变化之比。它实际上就是开环状态下集成运放输出级的输出电阻，其大小反 映了放 大器带负载的能力，R。通常越小越好，典型值一般在几十到几百欧。(4 )共模输入电阻Ric0开环状态下，两差分输入端分别对地端呈现的等效电阻，称为共模 输入电阻。(5 )开环频率特性。开环频率特性是指：在开环状态下，输出电压下降3dB所对应的通频 带宽，也称为开环-3dB带宽。2. 输入失调特性 由于运算放大器输入回路的不对称性，将产生一左的输入误差信号，从而限制里运算放大器的信 号灵敏度。通常用以下参数表示。(1

3、)输入失调电压Vos。在室温及标称电源电压下，当输入电压为零时，集成运放的输出电 位VoO折合到输入端的数值，即：Vos=VoO/Ao 失调电压的大小反映了差动输入级元件的失配程度。当集成运放的输入端外接电阻比较小时。失 调电压及其漂移是引起运算误差的主要原因之一。Vos 般在mV级，显然它越小越好。(2 )输入失调电流Ios。在常温下，当输入信号为零时，放大器两个输入端的基极偏置电流之 差称为输入失调电流。即：Ios=Ib Ib+式中lb-、Ib+为放大器内两个输入端晶体管的基极电流Ios 般在零点几微安到零点零几微安 数量级，托值越小越好。失调电流的大小反映了差动输入级两个晶体管万值的失配

4、程度，当集成 运放的输入端外接电阻比较大时，失调电流及英漂移将是运算误差的主要原 因。(3 )输入失调电流温漂dloso温度波动对运算放大器的参数是有影响的。如温度变化时，不 仅能使集成运放两输入晶体管的基极偏宜电流lb-、Ib+发生变化，而且两者的变化率也 不相同。也就是输入失调电流Ios将随温度而变化，不能保持为常数。一般常用的集成 运放的dlos指标如下： 通用 I 型低增益运放。在 +25C+85C 范围约为 520nA/C, -4(TC+25C 范用约为 2050nA/C。 通用II型中增益运放。dlos约为520nA/C。 低漂移运放。dies约为100PA/aC(4 )输入失调电

5、压温漂dVoso在规左的工作温度范围內，Vos随温度的平均变化率，即：dVos二AVos/AT 般为r50uV/C,高质量的低于0. 5uV由于该指标不像Vos可以通过调零进 行补偿，因此更为重要。（5）输入偏置电流lb。常温下，输入信号为零时，两个输出端的基极偏巻电流的平均值。 即:lb 二 1/2 （ lb- + Ib+）通常，lb在lOnAIuA的范围内。在放大器差动输入级的集电 极静态电流一沱的情况下，输入偏置电流的大小直接反映了输入级晶体管的万值。输 入偏置电流愈小，输入失调电流也愈小，同时放大器的输入电阻也愈高。3. 输出特性（1）输出电压的最大不失真范ll ； l Vop-po输

6、出电压的最大不失真范朗是指：运算放大器在 额左电源电压和额赵负载下，不出现明显削波失頁是所得到的最大峰值输出电压（也称为最大输出电压、输出电压摆幅、输出电压动态范用）。一般常规运放的Vop-p 指标约比正、负电源电压各小23V。（2 ）输出电流的最大失真值范|期Iop-po输出电流的最大失真范弗I是指：运算放大器在额 定电压和额泄负载下，不出现明显的削波失真时所得到的最大H金值输出电流（也称 为最大输出电流、输出电流摆幅、输出电流动态范围）。4. 共模特性共模特性是指共模输入信号作用下的特性。常用的参数有：（1）共模抑制比CMRR。把放大器的输入信号分为差模信号与共模信号，这只是针对有两个 输

7、入端的差分放大器以及输入级均由个种形式的差分电路所组成的运算放大器而言。(a)oVo(b)图为差模与共模信号电路差模信号。如图（a）所示，当两个大小相等，极性相反的直流信号Vi+二10mV、Vi- = -10mV，或是一对幅值相等而相位相反的交流信号如Vi + = 10mVsin （wt）、Vi- = -10mVsin （ wt+pi ）被加到它的两个输入端时，对于这 种成对出现、但对差分电路两边晶体管作用相反（使一边晶体管注入电流lb增 大，而另一边lb减小）的信号称为差模输入信号或差动输入信号，这是需要加以 放大的有用信号。共模信号。如图（b）所示，对在运算放大器或差分电路两输入端上出现的

8、。不仅大小相等，而且极性或相位也完全相同的信号称为共模输入信号。在运放或差分 电路中共模信号是应该加以抑制的无用信号。共模抑制比是全面衡量集成运放差动输入级各参数对称程度的标志，十分重要。其左义 式为：CMRR 二 AvD/AvC 或 CMRR=201g AvD/AvC| 式中AvD差模电压增益。AvC共模电压增益。由此可见，运算放大器的差模增益AvD越髙，共模增益AvC越低，其共模抑制比CMRR就能具 有较高的数值。共模抑制比CMRR越大，它对温度影响的抑制能力就越强。因 此，不论运放是否工作在有、无共模信号的情况，CMRR指标总是越大越好。集成运放的共模抑制比通常是很髙的。国产运放的共模抑

9、制比指标如F : 通用I型运放CMRR7080dB 通用h型运放CMRR6580dB 通用 iii 型运放CMRR7090dB CMRR80110dB CMRR70dB CMRR86dB 低漂移运放 单电源运放 CMOS 运放 CMRR76dB(2 )共模电压范国Vcp-p。运放电路所能承受的最大输入共模电压，称为共模电压范国。超过 这个电压，运放电路的共模抑制比将显著下降。例如用集成运放接成电压 跟随器电路时，其共 模电压范恫是指:输出端产生 理跟随误差时，输入共模电压 的幅度值。5.电源特性(1)静态功耗Peo静态功耗是在不接负载，且输入信号为零时，运算放大器本身所消耗 电源的总功率典型值

10、为几十至几百亳瓦，&用的低功耗运放均为几亳瓦。(2 )电源电压抑制比PSRRo由电源电压变化产生的输入失调电压变化值对电源电压变化 值之比。集成运放的测试方法: 开环参数的测试方法 开环参数系指集成运放不加反馈时，在差模输入信号作用下的特性。(1)测试说明。开环参数的测试通常采用低频(100400Hz )交流信号进行测量。只要信号 频率低于开环放大器的截止频率。测试信号可以从同相端加入，同向输入常用的开环参 数测试 电路如图(c)所示：测试信号也可以从反相输入端加入，反相输入常用的开环测试电路如图 (d )所示。II图(C)同相输入开环参数测试电路图（d）反相输入的开环参数测试电路对于图（c）

11、来说，其反馈信号通过反馈电阻器Rf和电容Cf加在反相端。对于零点漂移一类的 直流量，电容Cf可看成开路，反馈至反相端的电压与输出电压接近相等，整个电路处于很深的 负反馈状态之下，电压增益约等于1。但是，对于待测交流信号，由于电容Cf的容疑相当大，电容器Cf可看作短路，反相端处于 交流接地状态，相当于无负反馈作用，放大器处于开环状态。（2）同相输入时开环增益Ao的测量。当输入信号频率在100400Hz之间时，图（c）电路中 的Cf可视为短路，电路处于交流开环状态，输出电压V与输入电压Vi之比值即为开环电压增 益A。图（c）中的电阻器R1和R2是为提髙输入交流电压的测量精度而设置的，分压比为：RJ

12、（&+ /?2） T0-3C1为隔直电容器，C2为交流旁路电容器，电阻R3与Rf相等，用来克服静态基极电流对输出电 压的影响。开环电压增益为：（3 ）反相输入时开环增益Ao的测量。相关电路如图（d ）所示。图中电阻（&+ /?2 ）和心组成直流负反馈电路，以稳定静态工作点，并减小电路失调对输出电压的影响。Rf和Rs所构成的交流负反馈，使整个电路工作稳左。测试电路元件的取值，应使：（& + r2 ） $r s, R& R为保证Vi为非常小的直流成分变化量，而对交流信号Vs中的交流成分反馈量，经过大电容C1 分掉，整个电路对交流相当于开环。尺作用是保证两个输入直流电阻平衡。测试时，将负载开路（如有

13、RL时），外加低额（如100Hz ）交流信号电压Vs, Vs经过凡分圧，使输入信号Vi足够小，以保证电路工作在线性区。测出输出电压VA,即：4=201g(冬值尽量小些，以减小Ios和集成运放输入电阻*的影响，-般用几十至几百欧。开环频率特性的测量开环频率特性也称为开环带宽，由于集成运放的下截止频率为零，故上 截止频率/ 就代表整个电路的带宽它是开环增益下降到-3迪时所对应的第一转折频率这一特 性参数的测量与测试A。的方法相同只要测出集成运放在几个不同频率信号时的开环增益就行 了.开环输入电阻7 ；的测呈:.测量基理图(e)说明开环输入电阻测试原理图。图中R是已知的标准电阻，它与信号源、被 测的

14、集成运放输入电阻*相串，信号源供出的电压Vs,在R和待测电阻*上分压。如果电压Vi刚 好为Vs的一半即：信号源vs被测集成运放图(e)开环输入电阻测试原理简图Vi=O. 5Vs则说明这种测输入电阻的方法称串联电阻法。对于输出电阻的测量，其原理是完全类似的。测量电路。测开环输入、输出的电阻如图所示。电路中的Rf和Cf使电路处于直流闭环、 交流开环状态。为了使测量结果貞确，既避免非线形失貞，又不包括电抗部分，测量所用的 信号应为低频小信号。ONDO B图(f)测开环输入、输出电阻电路计算公式。测疑是，SA2打开，使RL开路，然后根据以下公式汁算:/; =a- = a=人7?=如R 二aRA匕二匕匕

15、一岭AX-AM吆一2式中匕一一加到运放输入端的信号电压。I,加到运放输入端的信号电流。Ki 一一开关闭和时测得的输出电压。匕2SA2开关断开时测得的输出电压。测试步骤。可按以下方法进行测量。 将SA1闭合，则R被C短路，调整Vs大小以保证输出电压无波形失真，测得此时的输出 电压：匕产A Vs 保持Vs不变，打开SA1,使Vs在R和7;上分压，则这时的输出电压测得为：为了使输入端直流平衡，使R值尽可能接近Rf,而且要测量准确，R亦应接近但当R太大时容易引起干扰或自激震荡，故也可用基极偏置电流来估算：/( nA)较大时，二 52/厶(KG)Ib(uA)较小时，rt =80/IB(KG)(6) 开环输出电阻乙的测量。开环输出电阻：的大小，反映了集成运放的带负载能力。因此，可以通过测量集成运放接入心前后的电压变化，来求输出电阻。测量时仍用图(e)电路，将SA1闭合，保持适当大小匕不变。在这样的条件下： SA2开关打开时，测的开路输出电压J = E。 SA2开关闭合时，又测得一个开路输出电压匕2。EV匕严一二(ArlD