内存器件介绍

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1、内存泛指计算机系统中存放数据与指令的半导体存储单元。它包括RAM (Random Access Memory,随机存取存储器)、ROM (Read Only Memory,只读存 储器)。因为RAM是其中最主要的存储器,整个计算机系统的内存容量主要由 它的容量决定,所以人们习惯将RAM直接称为内存。RAM已经在之前介绍过 了,这里就不在赘述。下面就谈谈ROM器件,重点将是ROM器件中的FLASH。初期的ROM可以分为Mask ROM和PROM两大类。Mask ROM也叫掩膜 ROM,其内部的数据是在制造过程中用特殊的方法烧录进去的,其中的内容只 能读不能改,一旦烧录进去,用户只能验证写入的资料

2、是否正确,不能再作任何 修改。如果发现资料有任何错误,则只有舍弃不用,重新订做一份。ROM是在 生产线上生产的,由于成本高,一般只用在大批量应用的场合。为了克服Mask ROM使用起来不够灵活的缺点,人们又发明了 PROM(Programmable ROM,可编程ROM),刚出厂的PROM内部并没有资料, 其中存储的数据是用户用专用编程器写入的,但是这种机会只有一次,一旦写入 后也无法修改,若是出了错误,已写入的芯片只能报废。PROM的特性和Mask ROM相同,但是其成本比Mask ROM高,而且写入资料的速度比ROM的量产 速度要慢,一般只适用于少量需求的场合或是ROM量产前的验证。在PR

3、OM的基础上,人们又发明EPROM、EEPROM和FLASH ROM三种ROM 器件。1).EPROM 是 Erasable Programmable ROM 的缩写,即“可擦除可编程 ROM” EPROM芯片有一个很明显的特征,在其正面的陶瓷封装上,开有一个玻璃窗口, 透过该窗口,可以看到其内部的集成电路,紫外线透过该孔照射内部芯片就可以 擦除其内的数据,完成芯片擦除的操作要用到EPROM擦除器。EPROM内资料 的写入要用专用的编程器,并且往芯片中写内容时必须要加一定的编程电压 (VPP=1224V,随不同的芯片型号定)。EPROM的型号是以27开头的,如 27C020(8*256K)是一

4、片2M Bits容量的EPROM芯片。EPROM芯片在写入资料 后,还要以不透光的贴纸或胶布把窗口封住,以免受到周围的紫外线照射而使资 料受损。2). EEPROM 是 Electrically Erasable Programmable ROM 的缩写,电可擦除 可编程ROM。EEPROM的擦除不需要借助于其它设备,它是以电子信号来修改 其内容的,而且是以Byte为最小修改单位,不必将资料全部洗掉才能写入,彻 底摆脱了 EPROM Eraser和编程器的束缚。EEPROM在写入数据时,仍要利用一 定的编程电压,此时,只需用厂商提供的专用刷新程序就可以轻而易举地改写内 容,所以,它属于双电压芯

5、片。借助于EEPROM芯片的双电压特性,可以使BIOS 具有良好的防毒功能,在升级时,把跳线开关打至“ON”的位置,即给芯片加 上相应的编程电压,就可以方便地升级;平时使用时,则把跳线开关打至“OFF” 的位置,防止CIH类的病毒对BIOS芯片的非法修改。所以,至今仍有不少主板 采用EEPROM作为BIOS芯片。3).Flash ROM又叫闪存,它融合了 RAM和ROM两种存储器的优点,是当 今应用最为广泛的存储器之一。Flash存储器能像RAM那样在线读写数据,但 是掉电后其中存储的数据又不会丢失(RAM中的数据在掉电后丢失),一般的 Flash可重复擦写10万次,其中存储的数据能保存20年

6、。FLASH的存储结构:Flash是由一个带浮栅的晶体管构成,该晶体管的阀值电压可以通过在其栅 极上施加电场而被反复改变。如下图所示。控制概獺极)、_UL 潟极D “二!衬底.竺二兼具RAM和ROM优点的FLASH结合了 EPROM的编程机制和EEPROM擦 除特点。FLASH读操作如下图所示,读操作时,栅极和漏极接电源VPP(5V),源极接GND。如果多 晶硅浮栅中没有电子(带负电),则晶体管的控制栅极打开,漏极和源极之间形成 导电沟道,MOS管导通,从数据线上读出的数据为“0” ;如果多晶硅浮栅中有 电子(带负电的电子形成的电场抵消了正电VPP形成的电场),则晶体管的控制栅 极关闭,漏极和

7、源极之间不能形成导电沟道,MOS管截至,从数据线上读出的 数据为“ 1”。FLASH器件的典型读取速度为30ns-200ns,读取速度一般与操作电压及生 产工艺有直接关系,5.0Vcc器件的读取速度为30-120ns,3.0-3.6Vcc器件的读取 速度为45-200ns,2.7-3.6Vcc器件的读取速度为90-250ns。大位宽、大容量及低 电压等特点会导致FLASH器件的读取速降低。FLASH写操作FLASH写操作是利用雪崩注入的方法使浮栅充电的,如下图所示。在写状 态下,叠栅MOS管的漏极接一个较高的整电压VDD1(6V左右),同时在控制栅 极施加一个幅度为12V左右,宽度为10us的

8、正脉冲。这时D-S间将发生雪崩击 穿,一部分速度高的电子便穿过隧道氧化层被多晶硅浮栅捕获。获得电子的浮栅 的开启电压一般在7V以上,正常情况下不会导通。W2这里说明下,写FLASH操作只能将存储的数据由“0”变成“1”。FLASH 写操作的典型速度为5-35us/byte,显而易见,与SRAM、DRAM相比,FLASH 的写入速度要慢几个数量极,因此大多数情况下也只能作为只读存储器使用。FLASH擦除操作FLASH的擦除操作是利用隧道效应进行的,如下图所示。在擦除状态下, 叠栅MOS管的控制栅极接GND,漏极悬空,在源极上施加一个幅度为12V左 右、宽度约100ms的正脉冲。这时在浮栅与源极间

9、极小的重叠部分产生隧道效 应,将浮栅中的电子拖出。擦除操作是将存储单元由“1”变成“0”。VI)D.-/1 4 4 i FLASH的典型擦除速度为1s-10s,扇区擦除速度为1-100ms,擦除过程中 需要用程序进行监控,考虑到系统程序的开销,应预留宽松的时间裕量。为了保证擦除电流的一致性和擦除次数的一致性,FLASH基本上都是按快进 行擦除的,擦除时,先把所有的单元都先编为“1”,然后一次性翻转为“ 0”。 另外,FLASH的编程和擦除电路都被集成在FLASH内部,使用时只需要一个 3.3V或5V电压即可,FLASH器件内部集成了升压电路,用来产生FLASH编程 或擦除时所需的高电压。因FL

10、ASH器件的擦除和写入分别是置“ 1”和“0”的相反操作,对任何扇区 或字节的写入都需要先做擦除处理或先验证是否为FFH,否则会出错,因而对于 已存数据扇区中的某个字节进行改写时,需要先设置缓冲区以保存无需改写的数 据,然后擦除相应的整个扇区,再写入数据。因此,缓冲区的大小至少要保证一 个扇区数据的存放。在内存器件介绍之ROM篇(一)中主要介绍了 ROM的种类及发展过程,最 后还介绍了做为主流ROM器件的FLASH结构、读/写、擦除原理,下面我们介 绍一些关于FLASH实际设计中的一些知识。FLASH器件的外围引脚如下图所示:A24-A0 DQ15-DQ0A-lCE#0E#WE# FLASHS

11、29GL512MWP#/ACRY/BY#RESET#VCCBYTE#a).AO:字节选择地址引脚。字节操作时,A0接CPU低位地址输出引脚。 双字节操作时(BYTE#=1), A0悬空处理;b) .Al-A24:地址总线,FLASH的容量不同,所需的地址线数量也不用。FLASH厂商为了方便使用这对FLASH容量的升级,将同一系列不同容量的 FLASH都制成相同的封装。大容量FLASH的高地址位对小容量的FLASH来说 是 NC(Not Connect)管脚;c) .DQ7-DQ0:低字节数据I/O管脚。用于编程buffer、写buffer数据输入, CUI写命令的命令字输入。读模式时用作数据输

12、出;d) .DQ15-DQ8:高字节数据I/O管脚(读状态寄存器时,不使用高位数据线);e)CE#:片选输入信号,低电平有效,片选信号使能片内控制逻辑、输入缓 存、解码器及感应放大器。为了设计上的方便,有些FLASH器件上有3个片选 信号(CS0#-CS2#),实际中一般只使用CS0#,其它两个上拉处理;f) .OE#:读使能输入信号,低电平有效,读FLASH操作时用OE#信号对数 据进行采样;g) .WE#:写使能输入信号,低电平有效,写FLASH时,FLASH利用WE# 信号的上升沿对地址和数据进行采样;h).WP#:写保护信号,低电平有效,当该信号为低电平时,将禁止对FLASH 进行写操

13、作;i).RY/BY#: FLASH状态指示输出信号,OD输出,当其为低电平时,表示 当前正在对FLASH进行编程擦除操作,为高电平时表示FLASH准备就绪,可 以进行读写操作;j).RESET# :芯片复位管脚;k).BYTE#:字节选择输入引脚,低电平有效,BYTE#=0时,为字节操作, BYTE#=1时,为双字节(字)操作;另外,有效FLASH器件还有如下管脚l).RP#: Reset#/Power down,复位/深度低功耗控制输入引脚。当其为高电 平时,FLASH处于正常工作模式,当其为低电平时,FLASH处于复位状态,禁 止写或编程操作。要求在FLASH下电期间,RP#/Reset

14、#处于低电平状态,以保 护FLASH不被误写或擦除;m).STS: OD输出,FLASH内部状态指示引脚,默认模式下,相当于RY/BY# 信号的功能。n).Vpen:擦除、编程、bit锁定操作使能信号。当Vpen小于门限值时,FLASH 内的数据禁止被改写。o).Vccq:数据总线缓冲器的独立电源,一般于VCC相等,此管脚必须连接, 不能悬空。FLASH地址与CPU总线大小端模式的关系在讲Local Bus总线的时候,已经介绍过CPU总线的大小端模式了,X86(Intel 系列)架构CPU的总线基本上都是小端模式,Power PC(Motorola系列)架构的 CPU基本上都是大端模式,在单板

15、设计连接FLASH地址线的时候需要特别注意 CPU总线的大小端模式。1).对于不存在A-1/D15复用管脚的Intel J3系列FLASH,A0是FLASH的 最低地址位,当选择双字节操作方式时,A0管脚悬空,此时A1作为FLASH的 最低地址位接CPU的A1地址线(CPU的A0地址线不使用)。如果是Motorola 系列CPU,则是CPU的A30线接FLASH的A1(CPU的A31地址线不使用)。2).对于有 A-1/D15 复用管脚的 MBM29LV160TE/JS28F512 等 FLASH 器件 来说,若进行字节操作时,作为器件最低地址位的A-1接CPU总线的AO(Motorola 总线为A31),当进行双字节操作时,A-1悬空,A0接CPU的A1。3).有些CPU在使用双字节数据接口时,地址的最低位仍然是AO,因为在 CPU内部已经对地址做了便宜,使用需要仔细查看芯片资料。FLASH地址线与CPU地址映射关系如下:Intel gpy-;M t or 1 aCPU削bit,32b it15bitSbitAO回悬空悬空悬空连FLASH AO避悬空悬空连PLASH AO连FLASH Al&29悬空连FLASH AO连 FLASH Al连FLASH A2A3

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