毕业设计论文基于BRM下白光OLED恒定与步进应力加速寿命试验数据的统计分析有程序

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1、目录全套设计,程序 联系695132052摘要ABSTRACT第一章 绪论1第二章 OLED的介绍1研究背景12.2 研究目的32.3 工作原理32.4 OLED的特点32.5 OLED的应用42.6 OLED的国内外现状62.7 寿命研究的方法7第三章 加速寿命试验的理论模型83.1 可靠性83.1.1 可靠性的概念83.1.2 可靠性指标93.2 加速寿命试验概述123.3 加速寿命试验模型12加速寿命试验的类型13恒定应力加速寿命试验13步进应力加速寿命试验14序进应力加速寿命试验143.5 威布尔分布143.6 双线性回归法15第四章 加速寿命试验数据的统计分析及寿命估计164.1 理

2、论假设164.2 试验数据174.3 恒定应力试验数据处理184.4 加速寿命方程184.5 步进应力试验数据处理184.6 加速参数的修正194.7 分布拟合的校验204.8 寿命估计204.8.1 计算方法204.8.2 计算结果20第五章 结论21参考文献21致谢23基于BRM下白光OLED恒定与步进应力加速 寿命试验数据的统计分析摘要采用威布尔函数描述白光OLED的寿命分布,利用双线性回归法BRM估计出威布尔参数,确定了加速寿命方程,对白光OLED寿命是否符合威布尔分布进行了Kolmogorov-Smirnov检验,利用MATLAB软件编程计算出平均寿命和中位寿命。数值结果说明,白光O

3、LED的寿命服从威布尔分布,寿命应力关系满足线性Arrhenius方程,精确计算的加速参数可实现在短时间内OLED寿命的预测。关键词:OLED;加速寿命试验;威布尔;BRMSTATISTICAL ANALYSIS ON CONSTANT-STEP STRESS ACCELERATED LIFE TEST DATA OF WHITE OLED BY BRMABSTRACTWeibull Distribution function was applied to describe white OLED life distribution. Bilinear Regression Method (BR

4、M) was employed to estimate the Weibull parameters, and the accelerated life equation was determined. The Kolmogorov-Smirnov test was performed to verify whether the White OLED life meets the Weibull distribution or not, and the software programming by MATLAB was employed to calculate the average li

5、fe and the median life. The numerical results indicate that the OLED life follows Weibull distribution, and that the life-stress relationship satisfies linear Arrhenius equation perfectly. The precise accelerated parameter is shown to be particularly useful to estimate the OLED life within shorter t

6、ime.Keywords: OLED; Accelerated life test; Weibull; BRM第一章 绪论有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode, OLED)是由光刻电极基板与有机发光材料构成的显示器件,由于其轻、薄、宽视角、低功耗、响应速度快等优点,所以具有极大的竞争力和市场应用潜力。在经历了几十年的开展,聚合物EL器件寿命已超过1万小时,OLED产品已经占据了一定的市场,但要与LCD竞争,OLED的研究机构和生产厂商还要做各种努力,而寿命问题是其最大的技术难点,OLED的工作稳定性和可靠性寿命仍然是人们普遍关注的问题。对于OLED产品随着各

7、生产厂商的科技水平日益提高其寿命也不断的增加,然而在确定OLED产品寿命信息的过程中,一般OLED寿命试验需一年以上的时间,在时间和经费上来说已成为企业的沉重负担,有的试验结果出来后,很可能产品已经更新,失去了试验的意义。因此有必要改良通常的寿命试验方法,推出一种符合OLED失效机理的加速寿命试验方法。OLED产业已形成了一定的规模,今后将会是开展的关键时期。本课题的目的就是利用威布尔分布函数、双线性回归法BRM的理论建立白光OLED寿命估计的理论模型。通过已经实现的加大白光OLED的驱动电流开展的两组恒定应力加速寿命试验和一组步进应力加速寿命试验,利用威布尔函数来描述其寿命分布,并对已得到数

8、据利用双线性回归法BRM完成了白光OLED加速寿命试验数据的统计分析。由此锻炼学生独立对问题进行深入分析研究的能力。虽然OLED技术起源于欧美,但因为本钱和产业链的关系,最终实现大规模产业化的国家和地区却集中在东亚,主要是日本、韩国、中国大陆和台湾。对国内外而言,OLED技术都是一种新兴的行业,面临着巨大挑战的同时也具有广阔的开展天地。第二章 OLED的介绍有机发光二极管Organic Light Emitting Diode,OLED是光刻电极基板与有机发光材料构成的显示器件1,由于其轻、薄、宽视角、低功耗、响应速度快等优点,具有极大的竞争力和市场应用潜力2。在经历了几十年的开展,聚合物EL

9、 器件寿命已超过1万小时3,OLED 产品已经占据了一定的市场,但要与LCD 竞争,OLED 的研究机构和生产厂商还要做各种努力,而寿命问题是其最大的技术难点,OLED 的工作稳定性和可靠性寿命仍然是人们普遍关注的问题。2007 年精工爱普生公司发布了最新研发成果“终极之黑the ultimate blackOLED 显示系统,突破业界2到3万小时的技术瓶颈,极大扩展了OLED 显示系统的应用前景4。对于OLED 产品随着各生产厂商的科技水平日益提高,其寿命也不断增加,然而在确定OLED 产品寿命信息的过程中,一般OLED 寿命试验需一年以上的时间,在时间和经费上来说已成为企业的沉重负担,有的

10、试验结果出来后,很可能产品已经更新,失去了试验的意义。因此有必要改良通常的寿命试验方法,推出一种符合OLED 失效机理的加速寿命试验方法。 电子产品加速寿命试验方法研究已有近50年的历史5,加速寿命试验技术是将在高应力下较短时间内获得的产品寿命数据外推到产品正常应力下的寿命和可靠性的技术6。Friedrich Eisenbrand等7考虑了OLED 显示器件控制器设计中的一个最优化问题,提出了以降低器件电流的方法来到达提升OLED 寿命的目的,并为此设计了一种最优化算法来实现OLED 寿命的改善。Kapil等8对导致AMOLED 显示屏失效的主要因素进行了定性及定量分析,并制定了TFT 像素电

11、路加速应力测试的一般方法,在高电应力和温度的根底上取得加速因子,大大减少了测试所需的时间。Chang-Jung Juan等9介绍了一种有机发光二极管OLED寿命的测试系统,可同时对256路OLED 面板进行寿命测试。 本文通过加大白光OLED 驱动电流开展了两组恒定和一组步进应力加速寿命试验,应用三参数威布尔函数来描述其寿命分布,利用BRM完成对OLED 的加速寿命试验数据的统计分析,实现了白光OLED寿命预测。1962年,通用电气公司的尼克何伦亚克开发出第一种实际应用的可见光发光二极管。全球第一款商用化发光二极管(LED)是在1965年用锗材料做成的。随后不久Monsanto和惠普公司也推出

12、了用GaAsP材料制作的商用化 OLED。这些早期的红色 OLED每瓦大约能提供0.1流明(lumens)的输出光通量,比一般的60至100瓦白炽灯的15流明要低上100倍。1968年,OLED的研发取得了突破性进展,利用氮掺杂工艺使GaAsP器件的效率到达了1流明/瓦,并且能够发出红光、橙光和黄色光。到1971,业界又推出了具有相同效率的GaP绿色裸片OLED。1972年开始有少量LED显示屏用于钟表和计算器。全球首款采用OLED的手表最初还是在昂贵的珠宝商店出售的,其售价竟然高达2,100美元。几乎与此同时,惠普与德州仪器也推出了带7段红色LED显示屏的计算器。到20世纪70年代,由于OL

13、ED器件在家庭与办公设备中的大量应用,OLED的价格直线下跌。事实上,OLED是那个时代主打的数字与文字显示技术。然而在许多商用设备中,OLED显示屏也逐渐受到了来自其它显示技术的剧烈竞争,如液晶、等离子体和真空荧光管显示器。这种竞争性鼓励OLED制造商进一步拓展他们的产品类型,并积极寻求OLED具有明显竞争优势的应用领域。此后OLED开始应用于文字点阵显示器、背景图案用的灯栅和条线图阵列。数字显示屏的尺寸和复杂度在不断增长,从2位数字到3位甚至4位,从7段数字到能够显示复杂的文字与图案组合的14或16段阵列。到1980年制造商开始提供智能化的点阵OLED显示屏。80年代早期的重大技术突破是开

14、发出了AlGaAs LED,它能以每瓦10流明的发光效率发出红光。这一技术进步使OLED能够应用于室外运动信息发布以及汽车中央高位安装停止灯(CHMSL)设备。1990年,业界又开发出了能够提供相当于最好的红色器件性能的 AlInGaP技术,这比当时标准的GaAsP器件性能要高出10倍。今天,最亮的材料应是透明基底AlInGaP。在1991年至2001年期间,材料技术、裸片尺寸和外形方面的进一步开展使商用化OLED的光通量提高了将近20倍。 研究目的 对于OLED产品随着各生产厂商的科技水平日益提高其寿命也不断的增加,然而在确定OLED产品寿命信息的过程中,一般OLED寿命试验需一年以上的时间

15、,在时间和经费上来说已成为企业的沉重负担,有的试验结果出来后,很可能产品已经更新,失去了试验的意义。因此有必要改良通常的寿命试验方法,推出一种符合OLED失效机理的加速寿命试验方法。OLED产业已形成了一定的规模,今后将会是开展的关键时期。本课题的目的就是利用威布尔分布函数、双线性回归法BRM的理论建立白光OLED寿命估计的理论模型。通过已经实现的加大白光OLED的驱动电流开展的两组恒定应力加速寿命试验和一组步进应力加速寿命试验,利用威布尔函数来描述其寿命分布,并对已得到数据利用双线性回归法BRM完成了白光OLED加速寿命试验数据的统计分析。由此锻炼学生独立对问题进行深入分析研究的能力。 工作原理 OLEDOrganic Light Emitting Diode,发光二极管,简称OLED,是一种能够将电能转化为可见光的固态的半导体器件,它可以直接把电转化为光。OLED的心脏是一个半导体的晶片,晶片的一端附在一个支架上,一端是负极,另一端连接电源的正极使整个晶片被环氧树脂封装起来。半导体晶片由两局部组成,一局部是P型半导体,在它里面空穴占主导地位,另一端是N型半导体,在这

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