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1、实验序号实验题目TTL各种门电路功能测试实验室实验时间1. 实验元件(元件型号；引脚结构；逻辑功能；引脚名称)1. SAC-DS4数字逻辑实验箱1个2. 数字万用表1块3. 74LS20双四输入与非门1片4. 74LS02四二输入或非门1片5. 74LS51双2-3输入与或非门1片6. 74LS86四二输入异或门1片7. 74LS00四二输入与非门2片(1) 74LS20引脚结构及逻辑功能VccD2匚ENcB2A2YZiiiiIII141312111038374LS201234567(2) 74LS02引脚结构及逻辑功能Vcc T4 B4 A4 Ya B3 As14 13 12 11 10 2
2、 374LS021 Z 3 45 6 73B丄A3Y3Al B1 血 Cl Dl Y1 地二也输人与非门功能：迟ABCD(3) 74LS51引脚结构及逻辑功能Vcc 1C IB IF IE ID 1Y丨丨 丨I I丨丨14 13 12 11 10 3 8374LS5112 3 45 6 7Iiiiii1A 2A 2B 2C 2D 2Y 地3. 2输入与嘉非门功能！ 1Y= 1A-1B-1C + 1D-1E-1F2Y=2A-2B + 2C-2D(5) 74LS00引脚结构及逻辑功能Yi Al Bl Ys As Be 地四2输入或非门功能:归廊(4) 74LS86引脚结构及逻辑功能A414 13
3、12 11 10 3 &74LS861 2 3 4 5 6 71 IIIIIr1A IB IV 2A 2B 2Y 地四2输入异或门功能：丫二卫涉BVccA4B4 Y4 AS BLJa YaLJ141312 1110j874LS0012a 45671Ti A2i四渐入邑E门 功b:Y=AB2. 实验目的(1) 熟悉TTL各种门电路的逻辑功能及测试方法。(2) 熟悉万用表的使用方法。3.实验电路原理图及接线方法描述:74LS00实现与电路电路图(1)4. 实验中各种信号的选取及控制（电源为哪些电路供电；输入信号的分布位置; 输出信号的指示类型；总结完成实验条件）JLB 匚 口 STS5. 逻辑验证
4、与真值表填写（1）74LS00实现与电路电路图逻辑分析 逻辑运算过程分析：y=AB1 Y =Y =AB=AB2 1真值表:输入输出ABY2000010100111(2) 74LS00实现或电路电路图 逻辑运算过程分析：y=AA=A1 _y =BB=B2 _ _y =YY=AB=A+B=a+b3 12真值表：输入输出ABY3000011101111（3） 74LS00实现或非电路电路图 逻辑运算过程分析：y=Aa=a1 _Y =BB=B2 Y =yY=ab=a+b3 12 Y =yY=（a+b）（a+b）=A+B4 33真值表：输入输出ABY4001010100110（4） 74LS00实现异或
5、电路电路图 逻辑运算过程分析：y=aa=a1 _Y =BB=B2 Y =YB=AB3 1Y =YA=BA4 2 y =yY=（Ab）（ba）=Ab+ba=AB+ba5 34真值表：输入输出ABY50000111011106. 实验总结（安全事注意项，操作要点，实验结果分析）注意事项：1、连接线路时要关闭电源，检查电路连接无误后方可打开电源。2、使用电压表或电流表时，应参考测试参数的规值及测试电路,正确选择量程3、在安装各种芯片是应注意选择正确的插孔，同时注意芯片的 左右不能接反，否则将导致芯片烧毁。4、在使用是严格参照相关芯片的参数图，明确各引脚的作用及 接线方式，防止因接错引脚而无法得出真确
6、的运算结果或烧 坏芯片。操作要点：1、在接线前应对将使用到的导线进行检查，防止有开路的导 线混在其中，接好线后检查很麻烦，影响实验的效率和质 量。2、在连接芯片时有半圆缺口的一段朝向左边安装。3、接线时同种类型的接线端使用相同颜色的线连接以便进行 线路的检查。结果分析：本实验主要通过74LS00芯片来实现各种逻辑门的运算功能， 实验过程中首先应了解74LS00芯片的逻辑运算过程，其次根 据摩根定律及相关逻辑代数定力及公式进行推导，列出 74LS00芯片实现各种逻辑门的过程以便于进行电路的设计及 实现。本实验通过多次的与非运算实现了上述四种逻辑门的运 算，具体的运算过程及真值表见上表。教师评语及评分:签名：年 月 日
