systemview实验低通采样定理

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1、SysternVifeiA* by ELNIX理想采样时信源S y s tem Vi ewAmS ink 2自然采样S i nk 540030020050.00550.0150.01550.0250.025100J,1 1.L I |T0-10050.015T i m e i n S ec onds50.02恢复信号S y s tem Vi ewAmS ink 73 用于采样的换为矩形脉冲序列自然采样式样值序列S i nk 550.00550.0150.01550.0250.025Sys temViewCx FFT:20 Log |FFT | Sink 5 + j0Frequency in H

2、z (dF = 4.883 Hz)恢复信号SystemViewCx FFT:20 Log |FFT | Sink 7 + j0-7.5e+3-5e+3-2.5e+302.5e+35e+37.5e+3Frequency in Hz (dF = 4.883 Hz)5 .保持电路 Hold Value=Last Sample, 增益 Gain=1:Syfte mViw by E LANIX瞬时采样时样值序列S i nk 5400300200100-100恢复信号Cx FFT20 Log |FFT | S ink 7 + j0-8e+3-6e+3-4e+3-2e+302e+34e+36e+38e+30-20-40-60-80-100-120Frequency in Hz(dF = 4.883 Hz)

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