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1、IC测试设备产生、+!PIN电子性能标准64PIN硬盘4.0GB全系统128PIN或64PIN*2DUTS软盘3.5英寸1.44MB语言C（库：测试程序转换器ANDO-SUMMIT至V7100（主程序和波形程序）SENTRY至V7100（波形程序）CREDENCE-SC212至V7100（波形程序）ADVANTEST-MOSPL至V-7100（波形程序）静驱动器输出电压VIH0V至+11VVIL-2V至+8V电压摆幅100mVp-p至11Vp-p精度0.5%+5mV分辨率2.7mVL20mA阻抗505%ohm升/降时间驱动器模式5ns/5Vp-p(20%至80%)I/O模式=td=BnsTo-
2、td-10ns=tw沖空(bistwSTBO-3下一页日本VTT公司V777大规模集成电路逻辑测试系统（二）安捷伦83000数字电路测试系统*描述：申特性和用途：用于Credence的ElectraMSR100MHz机台上，根据客户器件封装尺寸设计制作专用的定制型测试接口板，有效解决高速信号干扰之问题。爭规格：长（L）*宽（W）*厚（H）DriveII3IHII刚*1时IIlktiitIMNIMI1Victorssw-C!ClCC1OL:SOtiXliar?Ciiiri：viCompareP3FaiJVDDVDDVlFMUCHIi.on*LevelsFileanvesemncscotnoare
3、settinaaevelSe(MBircdFMU(MBirrdInK)VKvvn1)1D町loadsettingsPerrinArchitecture安捷伦93000SOC测试系统嘩概述测试系统具有数字、模拟、存储器、射频（RF）模块（可选件）的功能测试和参数测试支持扫描测试支持IDDQ测试测试系统具有可升级性和可扩展性静参数:(1)系统控制平台HPC3750UNIX工作站内存2GB硬盘36GBHPp113021”高分辨率纯平彩色显示器配备DVD光盘驱动器配备磁带机配备10M/100MEthernet接口操作系统HP-UXB11.11(2)数字功能指标数字通道：256数据速率：660Mb/s向
4、量存储深度：14M扫描存储器深度：56M边沿定位精度w土150ps(3)模拟部分任意波形发生器(AWG)，精度1-bit,频率:500MHz采样/s；数字化仪，精度：12-bit,采样速率：320MHz采样/s；时间间隔分析仪(TIA)，输入频率：400MHz。(4)DC测试性能通用器件电源，参数：7V/8A低噪声电源，参数：3V/4A精密测量单元，最大电压量程：-5V+8V，电压分辨率:250uV，最大电流量程：00mA，电流分辨率：250pA参数测量单元PMU，量程：-2V+7V,40mAIDDQ电流测量，精度w100nA分辨率w10nA5)测试软件SmarTestRev.4.1.6/4.
5、2.5SmarTestProgramGeneratorRev.1.2.0VCDTO93KEdition2.0誓安捷伦93000SOC系列模块配置表模块描述数量位置主要指标详情数字通道P600660Mbit/s数字通道161010110116最高数据速率：660Mbit/s最大时钟频率：625MHz?扫描深度：56M囚PDFC400400Mbit/s数字通道2401020111616最高数据速率：400Mbit/s最大时钟频率：400MHz?扫描深度：14M13PDF模拟模块WGD500M任意波形发生器1230分辨率：12bit采样速率：8ksps到500MspsaPDFWDD1GHz数字化仪1227分辨率：12bit采样速率：1Msps到320MspsPDF最大带宽：1GHz（采样仪模式）TIA400MHz时隙分析仪1225最高输入频率：400MHz分辨率：0.8psPDF电源GPDPS通用器件电源4DPS1114驱动能力：V/+8A,-4A?V/4AVbump,IDDQ功能aPDFLNDPS超低噪声电源2DPS8182驱动能力：8V/4A，-8V/-2A输出噪声：-80dBmVbump,IDDQ,交流调制功能21PDF
