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1、复习的重点及思考题第一章X 射线的性质X 射线产生的基本原理。X 射线的本质 电磁波、 高能粒子、物质X 射线谱管电压、电流对谱的影响、短波限的意义 等高能电子与物质相互作用可产生哪两种X 射线？产生的机理？连续 X 射线：当高速运动的电子 ( 带电粒子 ) 与原子核内电场作用而减速时 会产生电磁辐射 , 这种辐射所产生的 X 射线波长是连续的 , 故称之为特征 ( 标识 )X 射线：由 原子内层电子跃迁 所产生的 X 射线叫做特征 X 射线。X 射线与物质的相互作用两类散射的性质二次特征辐射（ X 射线荧光）、饿歇效应产生的机理与条件二次特征辐射（ X 射线荧光）：由 X 射线所激发出的 二
2、次特征 X 射线叫 X 射线荧光。俄歇电子：俄歇电子的产生过程是当原子内层的一个电子被电离后，处于激发态的电子将产生跃迁， 多余的能量以 无辐射的形式传给另一层的电子 ，并将它激发出来。这种效应称为俄歇效应。第二章X 射线的方向晶体几何学基础晶体的定义、空间点阵的构建、七大晶系尤其是立方晶系的点阵几种类型在自然界中，其结构有一定的规律性的物质通常称之为晶体晶向指数、晶面指数（密勒指数）定义、表示方法，在空间点阵中的互对应晶带、晶带轴、晶带定律，立方晶系的晶面间距表达式倒易点阵定义、倒易矢量的性质厄瓦尔德作图法及其表述，它与布拉格方程的等同性证明(a)以 k1 为半径作一球；(b) 将球心置于衍
3、射晶面与入射线的交点。(c) 初基入射矢量由球心指向倒易阵点的原点。(d) 落在球面上的倒易点即是可能产生反射的晶面。(e) 由球心到该倒易点的矢量即为衍射矢量。布拉格方程布拉格方程的导出、各项参数的意义，作为产生衍射的必要条件的含义。布拉格方程只是确定了衍射的方向, 在复杂点阵晶脆中不同位置原子的相同方向衍射线 , 因彼此间有确定的位相关系而相互干涉, 使得某些晶面的布拉格反射消失即出现结构消光 , 因此产生衍射的充要条件是满足布拉格方程的同时结构因子不为零干涉指数引入的意义，与晶面指数（密勒指数）的关系干涉指数HKL 与 Miller 指数 hkl 之间的关系有：H= nh , K = n
4、k , L = nl不同点：（ 1）密勒指数是实际晶面的指数，而干涉晶面指数不一定；（2）干涉指数 HKL 与晶面指数 ( Miller 指数 ) hkl 之间的明显差别是：干涉指数中有公约数，而晶面指数只能是互质的整数。相同点：当干涉指数也互为质数时，它就代表一族真实的晶面。所以说，干涉指数是晶面指数的推广，是广义的晶面指数。第三章X 射线衍射强度结构因子原子散射因子、结构因子、系统消光的定义与意义系统消光：在X 射线衍射过程中，把 因原子在晶体中位置不同或原子种类不同而引起的某些方向上的衍射线消失的现象称为系统消光。结构因子：定量表征 原子排布以及原子种类 对衍射强度影响规律 的参数称为结
5、构因子，即晶体结构对衍射强度的影响因子。结构因子的计算产生结构消光的根本原因？会分析消光规律。例如试分析面心立方晶体的消光规律。n222nf j cos2 (HX j KY j LZ j ) +f j sin 2 (HX j KY j LZ j ) ，Fhklj1j 1第四章多晶体分析方法德拜粉末照相法德拜摄照法光源、样品、相机、底片的特点德拜衍射花样的指标化原理x 射线衍射仪衍射仪的基本构成、结构与原理。测角仪的“ 2”、“ ”模式连动的意义。X 射线仪连续扫描、步进（阶梯）扫描的工作方式特点？在实际实验时如何选择？(1) 连续扫描：探测器以一定的速度在选定的角度内进行连续扫描，探测器以测量
6、的平均强度，绘出谱线，特点是快，缺点是不准确，一般工作时，作为参考，以确定衍射仪工作的角度。（ 2）步进扫描：探测器以一定的角度间隔逐步移动，强度为积分强度，峰位较准确。从物质的 X 射线衍射图谱上可以得到什么信息？两种衍射方法（德拜、衍射仪）对样品的要求第五章X 射线物相分析原理根据 X 射线衍射图谱进行定性的相分析的依据每种结晶物质都有特定的结构参数，这些参数均影响这位置 ：晶胞的形状、大小，即面间距d。强度 ：晶胞内原子的种类、数目、位置。X 射线衍射线的位置、强度。尽管物质的种类多种多样，但却没有两种物质的衍射图是完全相同的。因此，一定物质的衍射线条的位置、数目、及其强度，就是该种物质
7、的特征。当试样中存在两种或两种以上的物质时，它们的衍射花样，即衍射峰，会同时出现，但不会干涉，仅仅衍射线条强度的简单叠加。 根据此原理就可以从混合物的衍射花样中将物相一个一个地寻找出来。PDF、ASTM、JCPDS卡片组成以及各项目的含义索引数字索引（哈那瓦特索引） 、字母索引的建立方法与原理，为什么要引入哈那瓦特索引。索引中各项的含义物相定性相分析利用哈那瓦特索引进行单相物相分析的一般步骤。(1)计算相对强度 (归化 )(2)按强度大小排列值(3)从前反射区中选取强度最大的三根衍射线(4)在索引中找出值对应的那一组(5)按次强线的面间距找到接近的那一相再看值是否一致(6)如三强线值一致 ,再
8、选取八强线进行对应比较,如符合得较好 ,则记下卡片号(7)由卡片上的数据 ,划出属于该相的线条(8)记下该相相应的物理参数物相定性分析结果的表示第七章1. 光学显微镜的局限性的根本原因是什么？2. 显微系统分辨本领的含义？影响分辨本领的因素？（阿贝公式）3. 磁透镜的像差类别与含义？像散、球差、色差4. 磁透镜的景深、焦长的含义与特点？透镜的景深：透镜物平面允许的轴向偏差定义为透镜的景深透镜的焦长：透镜像平面允许的轴向偏差定义为透镜的焦长。第八章1 什么是透射电镜的三级放大系统?试说明每一级的功用 ?2 物镜光栏、选区光栏的位置与作用？3 透射电子显微镜与光学显微镜有何区别？4 复型样品的基本
9、制备方法有几种？简述塑料碳二级的基本制备方法，并用图示之。5 薄膜样品的制备方法有几种？基本原理与方法。第十章1 空间点阵的描述。倒易点阵的概念、厄瓦尔德作图法的应用。2 晶带定律及其应用。3 二维零层倒易点阵的画法（立方晶系）。如：试画出面心立方点阵及其（001）晶带轴的二维零层倒易点分布。4 电子衍射花样形成的原理是什么？为何能进行相分析？布拉格定律告诉我们，当一束平行的相干电子波射向一晶体时，在满足布拉格定律的情况下，将会产生一定的衍射，这些衍射线在通过透镜后，在焦面上将会聚于一点。如果一个晶体同时有几族晶面产生衍射，在物镜后焦面上均会聚成一些衍射斑点，这些衍射斑点经后级透镜成像后就记录
10、下来，它们之间具有一定的规律 ,构成一定的花样，这就是我们所记录的衍射花样。5 薄晶体衍射花样的特点？它与零层倒易平面的关系？为何能用电子衍射花样进行相分析？电子衍射时，电子是透过样品的，因此要求样品很薄，这样参与衍射的原子层仅有几十 几百个原子层面。在布拉格角处强度分布很宽，所以即使略为偏离布拉格条件的电子束也不能忽略其强度，即亦可能产生衍射，因此可在一个方向上获得多个晶面衍射所形成的衍射花样。这些花样与原来实际晶体之间具有一定的相关性，事实上它们与该方向的零层倒易平面近似重合，由此即可分析原来晶体的结构。6 简要说明厄瓦尔德作图法，并证明它与布拉格方式的等同性。7 试用厄瓦尔德作图法导出电
11、子衍射的基本公式：L =Rd（相机长度、相机常数的意义？）8 选区衍射的意义？为何要正确操作？（1）选区衍射是通过在物镜象平面上插入选区光阑限制参加成象和衍射的区域来实现的。其目的是能够做到选区衍射和选区成象的一致性。(2)选区衍射是有误差的，这种误差就是像与衍射谱的不对应性。造成这种误差的原因是：磁旋转角：像和谱所使用的中间镜电流不同，磁旋转角不同。物镜球差： Csa3物镜聚焦： Da 后两种引起的总位移h= C sa3 Da9 多晶衍射花样的特点？衍射花样的标定。利用多晶衍射花样测定相机常数的方法。多晶衍射花样：相同晶面间距的晶面所产生的衍射斑点构成以透射斑点为中心的同心圆。10单晶衍射花
12、样的特点？衍射花样的基本标定方法。 （衍射花样中测量那些基本参数）单晶衍射花样：各个晶面产生的衍射斑点构成以透射斑为中心的平行四边型。指数直接标定法 : 已知相机常数和样品的晶体结构(a) 测量靠近中心斑点的几个衍射斑点至中心斑点距离及R1、R2、R3、R4，( 如图所示 ) 。；(b) 根据衍射基本公式，求出相应的晶面间距；(c) 因为晶体结构足已知的，每一 d 值即为该晶体某一晶面族的晶面间距。故可根据d 值定出相应的晶面族指数。(d) 测定各衍射斑点之间的夹角 。(e) 决定离开中心斑点最近衍射斑点的指数。 (f) 决定第二斑点的指数。第二个斑点的指数不能任选，因为它和第一个斑点间的夹角
13、必须符合夹角公式。(g) 一旦决定了两个斑点，那未其它斑点可以根据矢量运算求得。(h) 根据晶带定理求零层倒易截面法线的方向，即晶带轴的指数。11衍射花样指标化的表示方法。所有衍射花样仅限于立方晶系第十一章1什么是质厚衬度 ? 形成的基本原理是什么 ?（物镜光栏的作用）2提高复型图像衬度有那些途径?为什么 ?3什么是衍射衬度？其形成的基本原理是什么？4什么是明场、暗场像？什么是中心明场、暗场像？5什么是消光现象？消光距离的意义。由于透射束、衍射束相互作用，使得其强度 I T 和 I g 在在晶体深度方向上发生周期性的振荡深度周期叫做消光距离6衍衬运动学理论的适用范围？（运用了那两个近似？）双束近似、柱体近似7什么是等厚纹？等倾纹？（非理想晶体不作要求）在理想晶体中，如果晶体保持在确定的位向，则晶体的会由于消光现象而出现明暗相间的条纹，此时：因为同一条纹上晶体的厚度是相同的，所以这种条纹叫做等厚条纹。第十二章1. SEM 中电子束入射固体样品表面会激发哪些信号 ?它们有哪些特点和用途 （? 列举至少两种）2何为二次电子？何为背反射电子？两者的图像区别？(1) 在扫描电镜中通常采用两种信号观察样品的表面形貌，即： （ a）二次电子，（ b）背反射电子(2) 相同点：均能显示表面形貌不同点：表面形貌的分辨率： （ a）高 (
