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1、 我国XRF技术的产生和发展 讯： 1896 年法国物理学家乔治（Georges S）发现物质中受到 X 射线照射时，物质中的原子会被激发产生带有该原子特征的 X 射线，带有原子特征的 X 射线也被称为 X 射线荧光（XRF，X RayFluorescence）。1923 年匈牙利化学家冯赫维西（G.Von Hevesy）提出可以利用 X 射线荧光光谱进行定性及定量分析，即通过特制的传感器，得到样品发出的 X 射线荧光光谱，再对比标准物质的 X 射线荧光光谱，就能分析出样品中的元素含量。由于 XRF 的分析特点是一种相对测试方法，通过与待测样品基体一致或相似的标准物质做强度对比，才能准确得出待
2、测样品相关元素的含量，这种标准物质称之为“标样”。不同的样品测定目标和不同的行业应用均需要选择不同的标样，标样的选择也是决定测定准确性的关键因素。标样是利用 XRF 技术进行定量分析的必备工具，在 XRF 分析方法研究的模型建立，实验验证和模式识别数据库有着极为重要的作用。 2013-2017年中国X射线机市场运行分析与投资方向研究报告 XRF 特别适合于各种固体、液体、气体样品中主、次、痕量、多元素同时测定，检出限约为微克克量级。在自然界存在的 94 种元素中通过 XRF 技术可检测其中硼 B5铀 U92 共 88 种元素（地球自然界所有物质都是由元素构成，人类共发现了 118 种元素，其中 94 种自然界的元素构成了地球上的所有物质）。经过几十年的技术发展，XRF 技术已经从实验室走向了工业生产，X 射线荧光光谱仪已经成为物质组成分析的必备设备之一。-全文完-
