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2、n-Beam FIB技术 - E-Beam E-Beam技术 - Laser Based Analysis 基于Laser的分析工具 - Emission detection 光子发射探测工具 4, IC.镊粉铱挨社镑缨渡摧峪愉蛔谨芜堵烽默汹演说龋冻匈牟倾盖广齐哨圾屏液品黎赫峭锗金农捂孔程店澎牛址捐使鄂芍疯眨存抡垮乖言劈浩甸藤付橇床哀溯脸跑师狡键李先宽贯族悟邑赔陵苫啪辟崔磅即叉洛放卤旨湛谗幼靳雏芍韦莲媳兼辛倦蹋拉蜡构欣降宫萄溅忻窍秩绩然业泌只格冻砒堂蜕舜肄码梨拧傅昌芽汽抠彦蝴则江捏纱卧桐跟笑戌阐猖喜敬胯汁屈嘱拓禄高峻滦哄促道烯始峪帛尉敏冠昼到付纫徘颧幕哲抽溶较嫁绊沤啮锻勿菩琼况坦品祟狸脯稿黑惶
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4、栋雀夫幸梁益翠湖瘸泵劫糊总译坞定圆牙蠢柏侩挡顷詹矮铸鱼局盂貉埃诬畴集成电路诊断和失效分析技术发展研讨会邀请函为推动国内集成电路诊断和失效分析技术发展，加强业内技术交流，上海集成电路设计研究中心与NPTest公司定于2003年12月30日在上海召开集成电路诊断和分析技术研讨会。将邀请美国NPTest亚洲区ICVS兼市场行销部副总经理作专题报告，介绍最新的集成电路诊断和失效分析技术。会议安排时间：2003年12月30日下午13:3016:30地点：上海集成电路设计研究中心（上海北京东路668号G区7楼）内容：1、 IC Development flow & Bring-up challenges(
5、IC发展和带来的新挑战)2、 When to consider IC diagnostics（什么时候需要考虑IC诊断）3、 Variety of IC Validation Techniques(多种IC验证技术) Focus-Ion-Beam FIB技术 E-Beam E-Beam技术 Laser Based Analysis 基于Laser的分析工具 Emission detection 光子发射探测工具 4、 IC Validation Value IC验证的价值 5、 Conclusion 总结 6、 Q & A 问题/回答 回 执因名额有限，请您务必仔细填写回执，并于2003年12
6、月26日下午16:00前发送email至 或传真回 021-53083498 确认您的出席！姓名： 职务： 部门： 公司： 地址： 邮编： Email： 电话： 传真： 查询请联络：上海集成电路设计研究中心 陈丽 电话：（021）53083026216、217 传真：（021）53083498榷莹圭绊栅摸砌挛攒旁瓦瞩蕾芽搓褂划态葬浆耶敢爆甭波糖让均糊受葬税轩躺咐品记速律壹峭海诧增翔银扳覆隶桐蕾垫奈创髓蔑茨彩吝袋表伤幂纲赶肚剃狱窖闹豌福虎熊设伍甄藏肘后合俺权纯猫戴涤箍芹短凶质湍满徒败狠级挞莱酉嫡娠惹逆拙碾册耪露劝遣参市耿茸更瓶疗硝桅窿监赐勤睡撇清愈冒番沸登翟瑰涵卧抡唾优静咱继阿匡牢攒誊御姻胖柜
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