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1、 JR25 三维表面形貌仪产品简介：JR25 型三维表面形貌仪是一款便携式表面形貌测量仪，采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器的测量探头可以任意旋转，适合精密测量 不可移动样品表面形貌，同时适合进行野外测试。产品特性:1，采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率2，测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高3，测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿)；4，尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面5
2、，不受样品反射率的影响6，不受环境光的影响7，测量简单，样品无需特殊处理8，Z 方向,测量范围大：为 27mm主要技术参数：1，扫描范围： 2525（mm）2， 扫描步长：0.1m3，扫描速度： 20mm/s4， Z 方向测量范围：27mm4， Z 方向测量分辨率：3nm产品应用：MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发联系人：刘蕊 010-53203403 13933947304网站：www.mnt-PS50 型三维表面形貌仪产品简介：PS50 型三维表面形貌仪是一款科研版的三维表面形貌测量设备，采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面
3、从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器性价比高，可用于取代传统的探针式表面形貌仪与干涉式表面形貌仪。产品特性:1，采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率2，测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高3，测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿)；4，尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面5，不受样品反射率的影响6，不受环境光的影响7，测量简单，样品无需特殊处理8，Z 方向,测量范围大：为 27mm主要技术参数：1，扫描范围： 5050（mm）
4、2， 扫描步长：0.1m3，扫描速度： 20mm/s4， Z 方向测量范围：27mm4， Z 方向测量分辨率：2nm产品应用：MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发联系人：刘蕊 010-53203403 13933947304网站：www.mnt-ST400 型三维表面形貌仪产品简介：ST400 型三维表面形貌仪是一款多功能的三维形貌仪，采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器可用于测量大尺寸样品，并具有多种选项，包含 360旋转工作台，原子力显微镜模块，光学显
5、微镜，特征区域定位等多种功能模块。产品特性:1，采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率2，测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高3，测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿)；4，尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面5，不受样品反射率的影响6，不受环境光的影响7，测量简单，样品无需特殊处理8，Z 方向,测量范围大：为 27mm主要技术参数：1，扫描范围： 150mm150mm(最大可选 600mm*600mm)2， 扫描步长：0.1m3，扫描速度： 20mm/s4， Z 方
6、向测量范围：27mm4， Z 方向测量分辨率：2nm产品应用：MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发联系人：刘蕊 010-53203403 13933947304网站：www.mnt-HS1000 型三维表面形貌仪产品简介：HS1000 型三维表面形貌仪是一款高速的三维形貌仪，最高扫描速度可达 1m/s,采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器可用于测量大尺寸样品或质检现场使用。产品特性:1，采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率2，测量具有非破坏性，测量
7、速度快，精确度高3，测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿)；4，尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面5，不受样品反射率的影响6，不受环境光的影响7，测量简单，样品无需特殊处理8，Z 方向,测量范围大：为 27mm主要技术参数：1，扫描范围： 400mm600mm(最大可选 600mm*600mm)2， 扫描步长：5nm3，扫描速度： 1m/s4， Z 方向测量范围：27mm4， Z 方向测量分辨率：2nm产品应用：MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光
8、学元件、陶瓷和先进材料的研发联系人：刘蕊 010-53203403 13933947304网站：www.mnt-粗糙度测量仪 P3产品简介：P3 型全自动粗糙度测量仪是一款非接触式粗糙度测量仪，采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，符合国际标准 ISO25178，用于取代传统的接触式探针型粗糙度测量仪。测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿等任意样品，不收材料形状及颜色的限制。产品特性:1. 测量具有非破坏性：采用白光共聚焦技术，可获得纳米
9、级分辨率2. 测量范围大：15mm15mm，无需进行图像拼接3. 可测样品的最大坡度：87 oC4. 测量范围广：可测平面、曲面、球面、透明、半透明、高曲折度、抛光、粗糙样品5. 不受环境光的影响6. 不受样品反射率与形状的影响7. 操作简单：样品无需特殊处理优于传统的探针技术与干涉技术形貌仪主要技术参数：1，扫描范围：11，22，33，44，55，1010，1515（mm）2， 扫描步长：11，22，55（m）3， Z 方向测量范围：300m4， Z 方向测量分辨率：8nm5， Z 方向测量精度：60nm6，横向光学分辨率： 2.6m产品应用：MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发联系人：刘蕊 010-53203403 13933947304网站：www.mnt-
