布鲁克系列5spectraplus集成软件包

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1、SPECTRAplus 集成软件包,真32位软件程序，支持多任务 Windows NT环境下运行，易于网络化 完全集成了定性、定量及无标样分析 无标样分析包括扫描模式和峰值/背景模式 系统状态的全面监测系统service tools软件 远程诊断技术,XRF软件-一体化？好用？,1、定量分析-灵活性？ 2、定性分析-一体化？ 3、无标样分析-一体化？ 扫描模式？ 峰/背比模式？ 自动电流缩减功能？,1、定量分析软件 从强度到浓度,SPECTRAplus XRF专家的完美工具,您已经有多年的XRF经验，您希望继续应用您的先进方法或开发新的分析方法吗?,SPECTRAplus XRF专家的完美工具

2、,SPECTRAplus 允许您修改程序自动选择的参数或定义您的特殊参数 ! 1、改变、删除或增加背景位置 2、选择不同的谱线或测量条件 3、将一个、几个或所有元素转换为基于 强度或浓度模式的经验系数法校正基 体效应 4、增加或修改谱线重叠校正,即使您是一位新手，从第一天就可以进行定量分析工作！,XRF explorer功能 让您的工作更轻松 一步一步引导您从材料的定义到结果的输出,SPECTRAplus 定义新材料,通过选择元素、化合物及其浓度范围定义新材料 在元素周期表中选择元素和氧化物 用户输入特定的化合物，如碳酸钙、硫化铁等,SPECTRAplus 选择元素和氧化物,SPECTRApl

3、us 标准材料及浓度,标准材料就是已知浓度的材料 (标准参考材料) 输入标准材料的名称及浓度,SPECTRAplus 标准材料及浓度,SPECTRAplus 标准材料及浓度,SPECTRAplus 样品的制备,样品的制备过程可能会改变材料的组成 由于加入黏结剂或熔剂而稀释 由于烧失量，如 CO2 或 H2O 由于磨样过程中的污染,SPECTRAplus 样品的制备,传统方法 所有样品-标样和未知样品-制样方法必须相同, 例如加20%的粘结剂或熔片法1：5 直接打印出原始材料的浓度，制备试剂不用考虑,SPECTRAplus 可以应用任何制样方法 制备试剂必须定义 (分子式和比例) 首先计算制备样

4、品中各元素的浓度，然后再转化成原始材料的浓度,SPECTRAplus 熔融片样品,SPECTRAplus 样品厚度的校正,荧光辐射来自于样品的表面薄层 一般对XRF分析要求样品的厚度为无限厚，即样品的厚度大于分析薄层的厚度 对于轻基体中的重元素样品不为无限厚 液体、塑料、煤炭 输入样品的大小及重量进行数学校正,SPECTRAplus 样品厚度的校正,SPECTRAplus 标准样品,标准材料就是已知浓度的材料 (标准参考材料) 标准样品是已制备好用于XRF分析的标准材料，例如包括黏结剂或熔剂 一个标准材料用不同的方法可以制备出不同的标准样品（如压片法或熔片法),SPECTRAplus 从材料到

5、X射线测量,SPECTRAplus自动选择最佳谱线 选择的标准 材料中存在的元素 主量、微量还是痕量元素 用户选择和检查可能的谱线重叠,SPECTRAplus 参数的交互修正,改变自动选择的谱线 检查和修改 峰位 背景位置 甄别器窗宽,SPECTRAplus 在线优化测量参数,SPECTRAplus 测量参数的选择,选择特殊的测量条件 电流、电压 滤光片 准直器 晶体,SPECTRAplus 测量参数的选择,SPECTRAplus 引导绘制校准曲线功能,SPECTRAplus 校准曲线: 元素与工具箱,SPECTRAplus 扩展校准曲线工具箱 ,. 允许选择: 回归权重 截距 净强度或毛强度

6、 . 以下按钮可以点击: 谱线重叠 内标 基体校正,SPECTRAplus 校准曲线: 图形显示,SPECTRAplus 标准样品表,SPECTRAplus 设计您的标准样品表内容,SPECTRAplus 比较和选择您的校准曲线,总览一个元素的所有计算结果 比较各种模式 非常方便地选择最适宜 的标准曲线,SPECTRAplus 基体校正方程,ci = c0i + Si * Ii * (1 + ij * cj ) ci = c0i + mi * Ii * ( 1 + mij * Ij ) 系数 ij 可以通过回归方式求得 (“经验系数法“) 系数 ij 可以使用基本的物理参数如吸收系数、荧光产额

7、等求得(基本参数法/理论系数法),SPECTRAplus 校准曲线与“理论系数“,系数 ij 不完全独立于样品的浓度, 但是在特定的校准曲线中可以假定其为常数 (“固定 系数“) 对于大的浓度范围 (如无标样分析), ij系数必须定义为浓度的函数或对每一个样品单独地计算 (“ 变动ij系数“),SPECTRAplus 独特的变动系数法,Calculate Concentrations,显示/打印浓度,初始浓度,计算浓度,比较浓度,计算系数,SPECTRAplus XRF分析结果,SPECTRAplus 输出不仅仅只有浓度 ,2、定性分析软件,确定材料的组成,SPECTRAplus 定性分析 ?

8、 一体化 !,SPECTRAplus 用无标样分析代替典型的定性分析，对任何类型的样品至少可以得到半定量结果 对完全未知的和复杂的样品，用图形显示扫描结果对于检查谱线和背景仍然是最佳的方法 SPECTRAplus 可以自由地选择扫描模式，峰值/背景模式或者两者结合的测量模式,SPECTRAplus 定性分析 ? 一体化 !,SPECTRAplus 定性分析: 交互评估,SPECTRAplus 定性分析: 自动输出结果,SPECTRAplus 定性分析: 检查元素,SPECTRAplus 定性分析: 选择 X轴 和 Y轴,X轴 2角度对大多数使用者比较熟悉 能量、能量的平方根或波长用于显示不同的

9、晶体扫描结果 Y轴 线性标尺容易地比较谱线 平方根或对数标尺用于大范围比较,3、无标样分析软件,扫描模式与定峰/背模式完美结合,如何分析真正的“未知”样品: SPECTRAplus无标样定量分析,全范围元素 ( B to U ) 浓度从痕量到100%都使用通用的测量条件 准确地测量净强度 通用的谱线重叠校正 基体效应的强有力地计算过程 制样方法的校正 交互优化各种计算,SPECTRAplus 无标样分析,X-荧光分析真的不需要标样吗 ? 不，但是 标样在生产厂家应用实验室的“主”光谱仪上测量 借助于一些参考样品调整灵敏度安装无标样程序 对用户“无标样“,SPECTRAplus 完全一体化的 无

10、标样 分析,您想用XRF做完全未知样品的分析吗 ? SPECTRAplus 进行 XRF测量 应用通用的测量条件，包括自动电流缩减功能 SPECTRAplus根据以下条件计算浓度 通用的 “无标样” 曲线 完全一体化的全基本参数法单独地计算每一个样品的校正系数,SPECTRAplus 独特的自动电流缩减功能,自动电流缩减功能帮助您获得最佳的灵敏度而不会发生计数溢出 应用于所有的扫描和峰值测量 自动死时间校正,电流缩减,经过死时间校正修正到原始电流值时的强度,返回到原始的电流值, 独特的自动电流缩减功能 最佳灵敏度 - 没有计数溢出,无限的强度范围 最佳灵敏度 - 没有计数溢出的危险 计数器物理

11、限制：每秒接收1 到 2百万个光子 修正后强度：每秒接收1千万个光子,SPECTRAplus 峰值 / 背景模式 对 扫描模式,峰值 / 背景模式 对已知样品 要求最短的测量时间 要求最低的检出限 优化峰值背景位置 以“黑箱”操作方式测量,扫描模式 对于完全未知的材料 时间不是主要因素 检出限大于10 - 100 ppm 可图形显示、交互检验、优化谱线及背景校正,完全未知的样品 通常采用扫描测量模式,准确地计算净强度 自动检测峰位: 没有 “化学位移”的影响 (如 Al 和 Al2O3) 在谱线周围大角度范围内确定背景：没有固定背景干扰线的影响 图形显示谱线重叠干扰 交互优化背景强度,为使检出

12、限最低 峰值 / 背景 测量模式,检出限最低 对特殊基体必须设定背景位置 固定背景位置易受干扰线的影响 另外扫描确定背景,SPECTRAplus 扫描模式对峰值 / 背景模式,完美地结合在一起,铜合金中的微量元素无标样分析结果 扫描模式对峰值 / 背景模式,铜合金中的微量元素无标样分析结果 扫描模式对峰值 / 背景模式,SPECTRAplus 无标样分析：元素/氧化物,SPECTRAplus : 优化的无标样分析,在没有标样的情况下，您想用XRF做指定元素的分析吗 ? 选择要分析的元素和化合物 ，定义浓度范围 SPECTRAplus 自动运行 XRF测量程序 针对您的样品使用优化的测量条件 根

13、据精度要求，在线优化测量时间,SPECTRAplus : 优化的无标样分析,测量选定的元素 根据以下条件自动选择测量谱线 浓度范围 可能的谱线重叠 样品类型,SPECTRAplus 自动选择谱线,SPECTRAPLUS 谱线的选择与谱线库,主量: 5 - 100 %,次量: 0,1 - 5 %,痕量: 0,1 %,Lines with (too) high intensities: pile-up effects, line-shif wide PHA-window Reduction of Intensity: LIF 200 - LIF220 KA Line - K B Line auto

14、matic current reduction,DEFAULT SETTINGS: normal“ PHA- WINDOW KA-Lines, LA-Lines,Trace elements: narrow PHA-Fenster Background positions,HR,HS,High resolution LiF 110 fine soller,High sensitivity : LiF 100 coarse soller,Fe KA1-HR-Maj(C) Fe KA1-HR-Min(C) Fe KA1-HS-Min(C) Fe KA1-HS-TR(C) Fe KB1 Fe LA1

15、 Fe KA1-HS-Min/Text Fe KA1/Text,(C) calibrated ( and protected) /Text userdefined,SPECTRAplus 优化的无标样分析,自动在线优化测量时间 根据统计误差,SPECTRAplus : 优化的无标样分析,对特殊应用所有参数自动优化: 最佳准确度 最低检出限 最短测量时间,SPECTRAplus 非测量元素的影响,轻元素如H、C、O等对浓度计算的影响（基体效应）是很强烈的,XRF分析这些元素是困难的或者是不可能的 H 和 Li不能测量 液体、潮湿样品或松散样品中的 Be, B, C, N及 O的特征射线要被支撑膜或氦气吸收,SPECTRAplus 如何测定非测量元素,通过化合物定义: 象 SiO2 或 CaCO3 允许使用测量的 Si 或 Ca的数据转化为O和C的浓度 通过平衡到100 %: 例如油品或塑料中 CH2或水中 H2O: c (基体) = 100 % - c(测量元素) 通过迭代求取,SPECTRAplus 如何检查非测量元素,解决方案: 测量康普顿峰，即靶线Rh K1,2 和 Rh K1的非