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1、SPC培训教程,一、持续改进及统计过程控制概述 二、SPC基础 三、计数型数据控制图,产品质量波动及其统计描述,产品质量特性,定性,定量,连续,离散,计量值,计数值,计件值,计数值,变 异,误差 =X-X0 偶然性误差：误差大小和方向的变化是随机的。 系统性误差：误差大小和方向的变化保持不变或按一定规律变化。 过程控制中常用精度这个概念来反映质量的波动（变异）程度。,精 度,精度又可分为： 准确度(Accuracy)： 反映系统误差的影响程度； 精密度(Precision)： 反映偶然误差的影响程度； 精确度(Uncertainty)： 反映系统误差和偶然误差综合的影响程度,精度的概念,准确度
2、好 精密度好 系统误差小 偶然误差小,准确度差 精密度高 系统误差大 偶然误差小,准确度高 精密度差 系统误差小 偶然误差大,准确度差 精密度差 系统误差大 偶然误差大,持续改进及统计过程控制概述,预防与检测 过程控制系统 变差：普通原因及特殊原因 局部措施和对系统采取措施 过程控制和过程能力 过程改进循环及过程控制 控制图：过程控制工具 控制图的益处,持续改进及统计过程控制概述之一 检测与预防,过程控制的需要 检测容忍浪费 预防避免浪费,持续改进及统计过程控制概述之二 过程控制系统,我们工作 的方式资源的融合,产品 或 服务,顾客,识别不断变化 的需求和期望,顾客的声音,人 设备 材料 方法
3、 环境 , 输入, 过程/系统, 输出,过程的声音,统计方法,有反馈的过程控制系统模型,持续改进及统计过程控制概述之三 变差的普通原因及特殊原因,SPC基础,SPC (Statistical Process Control)统计过程控制：利用统计技术对过程中的各个阶段进行监控，从而得到保证产品质量的目的。 二十世纪二十年代美国休哈特(W.A.Shewhart)首创过程控制(Process Control)理论极其监控过程的工具控制图(Control Chart)形成SPC的基础，后扩展到任何可以应用的数理统计方法。 控制图(Control Chart)：对过程质量特性记录评估，以监察过程是否处
4、于受控状态的一种统计方法图。 1924年5月6日休哈特提出的不合格样品率P控制图为世界第一张控制图。,产品质量的统计观点一,产品质量具有变异性影响产品质量的因素有6MMan: 人Machine: 机Material: 料Method: 法Mother-nature: 环Measurement: 测 无论人类社会如何进步发展，产品质量不可能保持绝对恒定，一定具有变异性。,产品质量的统计观点二,产品质量的变异具有统计规律性确定性现象，确定性规律：在一定条件下，必然发生或不可能发生的事情。如一个大气压（760mm汞柱）下，H2O的变化规律。温度 0 固体状态温度 0 t 25) 计算每个子组的不合格
5、率（p） 记录每个子组的下列值 被检项目的数量n 发现的不合格项目np 计算不合格率p=np/p 选择控制图的坐标刻度（1.52倍） 将不合格品率描绘在控制图上,不合格率的p图,计算控制界限 计算过程平均不合格品率 P= 计算上、下控制界限（UCL、LCL） UCL=p+3 LCL=p- 画线并标注 过程平均水平实线 控制线路（UCL、LCL）水平虚线,、变化示意图,时间,特性值,不变 倾向性变化,、变化示意图,时间,特性值,不变 无规律变化,、变化示意图,时间,特性值,规律性变化 不变,、变化示意图,时间,特性值,无规律变化 不变,、变化示意图,时间,特性值,无规律变化 无规律变化,X-R控
6、制图,计量值最常用、重要的控制图 适用范围广： X图： X正态X正态 X非正态近似正态（中心极限定理） 中心极限定理使得X图广为应用。 R图 通过计算机上的模拟试验证实：只要X不是非常不对称，则R的分布无大的变化。,X-R控制图,灵敏度高 X图：X通过平均R图：无此优点,偶因至少可以部分抵消 （偶因反映在上）异因不变,灵敏度高,异因突出,X图的控制线,设过程正常，xN(，2) 则可证明 XN(，2/n)，n为样本大小 若、已知，则X图的控制线为 UCL= CL LCL,若、未知，则需对其进行估计，即,A.收集数据,A1 选择子组大小、频率和数据 A2 建立控制图及记录原始数据 A3 计算每个子
7、组的均值（X）和极差（R） A4 选择控制图的刻度 A5 将均值和极差画到控制图上,A1选择子组大小、频率和数据,子组大小使各样本之间出现变差的机会小在过程的初期研究中，子组一般由45件连续生产的产品的组合，仅代表一个单一的过程流。 子组频率在过程的初期研究中，通常是连续进行分组或很短的时间间隔进行分组过程稳定后，子组间的时间间隔可以增加。 子组数的大小一般100个单值读数，25个子组,A2建立控制图及记录原始数据,X-R 图通常是将X图画在R图之上方，下面再接一个数据栏。X和R的值为纵坐标，按时间先后的子组为横坐标。数据值以及极差和均值点应纵向对齐。 数据栏应包括每个读数的空间。同时还应包括
8、记录读数的和、均值（X）、极差（R）以及日期/时间或其他识别子组的代码的空间。,A3计算每个子组的极差和均值,画在控制图上的特性量是每个子组的样本均值（X）和样本极差（R），合在一起后它们分别反映整个过程的均值及其变差。 对每个子组，计算：式中：X1，X2为子组内的每个测量值。N为子组的样本容量。,A4选择控制图的刻度,两个控制图的纵坐标分别用于X和R的测量值。 X图：坐标上的刻度值的最大值与最小值之差应至少为子组均值勤（X）的最大值与最小值差的2倍。 R图：刻度值应从最低值为0开始到最大值之间的差值为初始阶段所遇到的最大极差（R）的2倍。,A5将均值和极差画到控制图上,将均值和极差分别画在其各自的图上。该工作在确定了刻度以后应尽快完成。将各点用直线联接起来从而得到可见的图形和趋势。 简要地浏览一下所有画上去的点，看它们是否合理，如果有的点比别的点高得很多或低得很多，需确认计算及画图是否正确，应确保所画的X和R点在纵向是对应的。,
