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1、东东 莞莞 市市 金金 众众 电电 子子 有有 限限 公公 司司1炉前VI -7K 参数设定标准参考主要内容Chip物料制作二极管制作大电感制作滤波器制作标准密脚插座制作异型元件制作总结简介BGA制作1、简介此标标准主要是提供炉前VI 7K编编程的设设定值值参考，在实际实际 程序调试优调试优 化时时 仍需针对针对 具体的元件作具体的分析和参数设设定。所有灰度值设值设 定是基于以下光源设设定lightLevel 1Level 2Level 3Level 4Level 5Axial green0002550Axial red7000125200Circular green05020000Circu
2、lar blue050200002、CHIP料制作2.1 Chips 类类型 元件包括电电阻，电电容，电电感 需要测试测试 的元件缺陷有：缺件，偏位，错错件，电电阻另外需要测试测试 反白 如下图为CHIPS 类型的主要选 择的测试项目 和公式设定本体定位，偏位，缺 件，角度等本体不良 测试 物料本体长度测 试，辅助测试缺 件Histo3 用于电阻错件 及反白测试，其它类可以测试错件.缺件、 偏位公式错料测试 公式参数设定 一般以机器软件以默认值为标准， 得分值：70 对比度：20 最小缩放比：85 最大缩放比：1150201 物料X,Y偏移0.12，角度7度 0402物料X,Y偏移0.2，角度
3、7-8度（1）选取合适的灯光，要求物料本体或者电极与周围有明显的黑白区分 通常CHIP类物料的定位灯光在1号光和5号光下（2）定位方式，推荐使用 image edit方法抽取本体或是电极，可以使元件本体定位更加稳定，测试过程中如有物料本体轮廓变化，可Clone模型再次进行定位2、CHIP料制作2.2 VI- Pro 本体定位窗 定位灯光选择自动指定区域，教 导模型教导后的定位模型检测窗口搜索范围2、CHIP料制作2.3 Edge本体长度测试窗口（1）选取合适的灯光，凸显出需要计算的区域长度部分，一般1号或5号灯光定位灯光选择计算边缘起始点 的灯光变化计算边缘终点的 灯光变化计算的本体长度计算的
4、本体长度 公差值检测窗口搜索范围2、CHIP料制作2.4 柱状图测试窗口（测试错料或电阻反白）（1）选取3号灯光，电阻参数（0-85），电容（100-255） （2）有一种黑白相间的电感，选取2号光，利用偏差值测试，参数范围（15-255） （3）检测窗口跟着本体走，运行号为1定位灯光选择参数范围运行号检测窗口搜索范围3、二极管制作3.1 二极管类类型元件包括二极管、钽电钽电 容，需要测试测试 的元件缺陷有 ：缺件，偏位，反向本体定位，偏位，缺 件，角度等本体不良 测试 物料本体长度测 试，辅助测试缺 件Histo3 与Histo4用于 测试反向，反白缺件、 偏位公式反向测试 公式，R3-R4
5、 意味R3的值比R4要大3、二极管制作3.2 VI- Pro 本体定位窗 （1）选取合适的灯光，要求物料本体与周围有明显的黑白区分 通常二极管类物料的定位灯光在4号光或5号光下（2）定位方式，推荐使用 画轮廓线方法定位本体定位灯光选择轮廓线外形参数设定 一般以机器软件以默 认值为标准， 得分值：70 对比度：20 最小缩放比：85 最大缩放比：115二极管X,Y偏移设置0.15，角度4度3、二极管制作3.3 Edge测试本体长度窗口定位灯光选择Edge窗口角度一般是 90度，更好测试长度（1）选取合适的灯光，凸显出需要计算的区域长度部分，一般4号或5号灯光测试长度公差值 一般设置为0.13、二
6、极管制作3.4 柱状图窗口测试反向（1）选取合适的灯光，一般在3号光或是4号光可以凸显出物料的方向特征， 利用柱状图窗口平均值或是偏差值的差异分别在物料本体上添加，利用公式的 写入表明差异：如公式R3-R4即R3的值比R4的大 （2）运行号为1跟着本体走，如果不想跟着角度走，在方程式中填写，X1,Y1运行号定位灯光选择柱状图平均值 算法4、大电感制作4.1 大电电感类类型元件需要测试测试 的元件缺陷有：缺件，偏位，反向本体定位，偏位，缺 件，角度等本体不良 测试 物料本体长度测试 ，辅助测试缺件柱状图窗口用于测 试错料缺件、 偏位公式错料测试公式4.2 VI- Pro 本体定位窗 4、大电感制
7、作（1）选取合适的灯光，要求物料本体与周围有明显的黑白区分 通常大电感类物料的定位灯光在4号光或5号光下（2）定位方式，推荐使用 画轮廓线方法定位本体（若误判缺件，可Clone模型分别在不同 灯光下定位）参数设定 一般以机器软件以默 认值为标准， 得分值：70 对比度：20 最小缩放比：85 最大缩放比：115定位灯光选择大电感X,Y偏移设置0.25，角度5度4、大电感制作4.3 Edge测试本体长度窗口（1）选取合适的灯光，凸显出需要计算的区域长度部分，一般4号或5号灯光测试长度公差值 一般设置为0.15定位灯光选择4、大电感制作4.4 柱状图窗口测试错料（1）选取3号灯光，利用平均值算法，
8、参数设置为100-255，若更换替代料时 ， 物料本体变黑后，可将参数下限值改小测试灯光选择参数范围设置5、滤波器制作5.1 滤滤波器类类型元件需要测试测试 的元件缺陷有：缺件，偏位，反向，错错料本体定位，偏位，缺 件，角度等本体不良 测试 反向，错料不良测试缺件、 偏位公式错料、反向测试公式5、滤波器制作5.2 VI- Pro 本体定位窗（除VI-PRO还可用BGA定位） （1）选取合适的灯光，要求物料本体与周围有明显的黑白区分（2）定位方式，推荐使用 画轮廓线方法定位本体参数设定 一般以机器软件以 默认值为标准， 得分值：70 对比度：20 最小缩放比：85 最大缩放比：115定位灯光选择
9、定位轮廓线滤波器 X,Y偏移设置0.15，角度3度5、滤波器制作5.3 VI- Pro 错料、反向测试窗口 （1）一般测试文字选取3号灯光，利用VI-PRO将所需测试文字教导进去 选取文字不要单独选择类似8,0,1单个文字，选取该文字容易导致反向漏测文字灯光选择测试文字教导模型参数设定 一般以机器软件以 默认值为标准， 得分值：70 对比度：20 最小缩放比：85 最大缩放比：1156、BGA制作6.1 BGA类类型元件需要测试测试 的元件缺陷有：缺件，偏位，反向，错错料本体定位，偏位，缺 件，角度等本体不良 测试 反向，错料不良测试缺件、 偏位公式错料、反向测试公式6、BGA制作6.2 BG
10、A 本体定位窗(BGA物料除BGA算法定位还可以用VI-PRO) （1）选取合适的灯光，要求物料本体与周围有明显的黑白区分定位灯光选择定位颜色选择定位长宽公差设 置为0.15BGA X,Y偏移设置0.12，角度2度6、BGA制作6.3 VI- Pro 错料、反向测试窗口 （1）一般测试文字选取3号灯光，利用VI-PRO将所需测试文字教导进去 测试的文字最好不要选择经常变换的，一般物料的最后一排文字都可能是代表 物料的周期，经常变换，容易引起误判，第一排代表供应商，个人经验一般选 取第二排文字灯光选择测试文字教导模型参数设定 一般以机器软件以 默认值为标准， 得分值：70 对比度：20 最小缩放
11、比：85 最大缩放比：1157、标准密脚排插制作7.1 密脚排插类类型元件需要测试测试 的元件缺陷有：缺件，偏位，打翻本体定位，偏位，缺 件，角度等本体不良 测试 打翻不良测试缺件、 偏位公式打翻公式 写入7、标准密脚排插制作7.2 VI- Pro 本体定位窗 （1）选取合适的灯光，要求凸显出物料本体上具有对称性的特征，便于后续轮廓线的中心与坐标中心重合，不用更改CAD坐标（2）定位方式，推荐使用 画轮廓线方法定位本体定位灯光选择 对称性轮廓线定位排插X,Y偏移设置0.2，角度5度参数设定 一般以机器软件以 默认值为标准， 得分值：70 对比度：20 最小缩放比：85 最大缩放比：1157、标
12、准密脚排插制作7.3 VI- Pro测试打翻（1）选取合适光源，凸显物料打翻与正常贴装时的差异点，通过抓取差异点影 像模型来测试打翻灯光选择运行号测试教导模型8、异型元件制作8.1 异型元件需要测试测试 的元件缺陷有：缺件，偏位，反向，相对对于异型元件来讲讲，第一项项VI-pro定位即可以测试测试 出缺件，偏位，反向测试测试 可通过过柱状图图窗口测试测试 ，当然如果VI-pro的外形具有测试测试 反向的特征，可不必增加柱状图图本体定位，偏位，缺 件，角度等本体不良 测试 8、异型元件制作7.2 VI- Pro 本体定位窗 （1）选取合适的灯光，要求凸显出物料本体上具有黑白分明的特征，若特征鲜明
13、并且对称最好，若特征不对称，定位好后需要手动更改CAD的坐标位置（2）定位方式，推荐使用 画轮廓线方法定位本体定位灯光选择不对称定位轮廓线参数设定 一般以机器软件以 默认值为标准， 得分值：70 对比度：20 最小缩放比：85 最大缩放比：115排插X,Y偏移设置0.2，角度5度总结1、定位一定要准，就要求灯光的选择使物料外型轮廓的黑白区分要 明显 2、针对有些物料在一种灯光下外形特征不明显，需Clone模型在其他 灯光下重新学习外形，排除误判 3、丝印不明显物料不要一味抓取丝印，积极寻找第二特征测试元件 方向，如二极管极性杠，射频头缺口 4、资料库制作过程中，如有不同物料由于前期整理坐标 时混在一起，要及时新建资料库分出元件 5、异型物料一般定位中心与CAD坐标中心不一样，可先改大元件搜 索范围，看下坐标差异，再修改元件CAD坐标以上仅个人编程经验，如有不足，还请见谅！关于元件资料库制作，主要要抓住以下几个核心要点：
