《SZT-D粉末电阻率测试台操作说明书》由会员分享，可在线阅读，更多相关《SZT-D粉末电阻率测试台操作说明书（7页珍藏版）》请在金锄头文库上搜索。
1、1SZT-D 型 半导体粉末电阻率测试台(配 ST-2258A 多功能数字式四探针测试仪)操操作作 使使用用说说明明书书苏 州 晶 格 电 子 有 限 公 司注注意意：敬敬请请用用户户在在操操作作使使用用S SZ ZT T- -D D 型型半半导导体体粉粉末末电电阻阻率率测测试试台台之之前前，必必须须详详细细阅阅读读技技术术 使使用用说说明明书书！并并妥妥善善保保存存。21手轮2上电极 3 高度尺4 下电极5 压力传感器6 压力显示表7四探针测试仪10 深度调节螺母11上连接板8下连接板9工作台面图 2-1 测试台结构部件名称3SZT-D 型半导体粉末电阻率测试台操作说明书一、概述本测试台参照
2、有关国际标准进行设计，可以对半导体粉末、高分子纳米粉末和固态金 属粉末进行电阻、电阻率多用途的测量。组成及特点：测试台为探头、加压机构、粉末标准容器、压力检测、厚度检测等单元 组成。压力机构采用手动操作，压力平稳可调，电子数码显示压力值。本仪器可一边加压 同步测试，可方便测试不同压力下粉末的导电性能曲线，也可以单独作为粉末压制成片的 工具使用，成片后可脱模取出，用普通四探针法测试相关参数！本仪器具有测量精度高， 操作简便、稳定性好，重复性好，一机多用使用方便等特点。本仪器采用国际通用的电流、电压四端子测量法（两个电流和电压电极同时和样品接 触） ，可以消除电极与导线导通电阻产生的误差，克服了传
3、统的二端测量粉末电阻率仪器的 弊病，可以真实地、准确地测量出粉末样品的电阻率，因此重复性好。测试参数时同步检 测压力和高度，也是区别于以往旧款同类测试台新特点！便于研究材料的特性曲线！本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门、是检验和 分析固态和粉态样品质量的一种重要优良工具。二、主要技术指标：1、 试样粒度：40 目以下（标准筛网） 2、 试样容器：内经：11.28mm（S=1.0cm2） 高度：020mm 可调,带高度尺监测，测量误差：0.02mm。 3、测试压强 标准压强：P0=4Mpa0.05Mpa，合压力 40kg0.5 kg(S=1.0cm2)。压强量程：
4、10Mpa, P=010 Mpa 可调，合压力 0100Kg,(S=1.0cm2) 4、压力机构采用手动操作、压力平稳可调。 电子数码显示压力值！四位有效显示数 0200Kg，分别率0.1 kg！ 5、测试台外形：250mm（前宽）220 mm（后长）540mm（总高）重 量：10Kg 6、测试台结构部件名称如图 2-1.三、操作说明：1 1 联机准备联机准备 如右图连接 SZT-D 型半导体粉末电阻率测试台和 ST2258A 型四探针测试仪，如图 3- 1A 联机操作图。顺时针旋转手轮抬起上电极，测试台压力降到零，露出装料容腔,如图 3-1B。 图 3-1A 联机操作图 图 3-1B42 2
5、 加料操作加料操作 A 注备：先摇动手轮使上电极调到较高位置，远离加料腔的工作台面，便于加料。如 图 3-1B。图 3-2 控制加料腔中加料深度 图 3-3 加料 B 调整加料腔深度，控制加料量： 如图 3-2，调节深度（料高）调节螺母，同时观察深度尺读数，以控制加料腔中加料 深度。注意，深度尺的零位为 10.00cm 刻度处，如读数为 11.00cm,则加料腔深度为 1.00cm。深度控制在 0.502.00cm 为宜。 C 加料：如图 3-3,用所配的小勺子取粉末样品加入加料腔，每次小心适量，直至加满 稍溢满，然后用小勺子稍压实、压平，如图 3-4,然后用刷子扫净容腔边缘台面上多余样品 料
6、，清洁台面。如图 3-5。图 3-4 压实料 图 3-5 清洁台面 3 3 加压操作加压操作逆时针转动手轮，压下上电极。上电极压至台面时样品开始受压，数码压力表显 示压力值开始明显上升，如图 3-6A, 图 3-6B,图 3-6A 加压 图 3-6B 压力显示53 3 读取样品当前高度，求修正系数读取样品当前高度，求修正系数如当前压强 P=20MPa,即压力值 F=20.0Kg,(S=1cm2)。如图 3-6B。如图 3-7，读取样 品高度为:H=10.50cm-10.00cm=0.50cm=5.0mm查附表 粉末电阻率测试修正系数表 查 5.0mm 行和 0.0mm 列，得修正系数 K=2.
7、000图 3-7，读取样品高度 4 4 设定仪器修正系数，测试样品电阻率值设定仪器修正系数，测试样品电阻率值如图 3-8A 仪器在设定档，设定修正系数 F=K=2.000,转测试挡，读取电阻率值，如 图 3-8B.电阻率 =10.24-cm.图 3-8A 设定修正系数 3-8B 读取电阻率值*一般行业标准压强取 P=40.0MPa,即 F=40.0Kg ,测试方法同上*5 5 出料（退片）出料（退片）测试参数完毕，顺时针转动手轮，上升上电极，如图 3-9 出料准备，可见已经被压 实的料片。把样料退出容腔的出料方法有两种， 一是如图 3-10，把退料器喇叭口朝上扣在上电极下端，逆时针转动手轮，用
8、上电极 下压退料器及台面，用下电极顶出料片，注意观察高度计，直到显示容腔深度为-0.1cm=- 1mm,再回升上电极，向上拿掉退料器，可见退出容腔的成形料片，如图 3-11 出料完毕。图 3-9 出料准备 如图 3-10 退料器法退料二是直接顺时针扭动深度调节螺母，下压台面，用下电极顶出料片，注意观察高度计， 直到显示容腔深度为-0.1cm=-1mm, 可见退出容腔的成形料片，如图 3-11 出料完毕。6图 3-11A 出料完毕 图 3-11B 料片移位5 5 收料和清洁台面收料和清洁台面测试和出料完毕，应收起保存料片和粉料样品，并用配备的刷子等工具清扫台面和仪 器表面，以免污染环境。长期不用
9、存放时，请盖好防尘罩。附表附表 3 3： 半导体粉末电阻率测试修正系数表半导体粉末电阻率测试修正系数表K=s/h, s=1.00cm2 , h=*mm,样品高度，即压片容腔深度， 注意：h 查表按 mm 检索，(计算按 cm 代入),K 单位 cm,按表中系数输入人主机h(mm).0.1.2.3.4.5.6.7.8.90110.009.0908.3337.6927.1436.6676.2505.8825.5565.263025.0004.7624.5454.3484.1674.0003.8463.7033.5713.448033.3333.2263.1253.0302.9412.8572.77
10、83.7032.6322.564042.5002.4392.3812.3262.2732.2222.1732.1282.0832.040052.0001.9611.9231.8871.8521.8181.7861.7541.7241.695061.6671.6391.6131.5871.5631.5381.5151.4931.4711.449071.4291.4081.3891.3701.3511.3331.3161.2991.2821.266081.2501.2351.2201.2051.1901.1761.1631.1491.1361.123091.1111.0991.0871.0751.
11、0641.0531.0421.0311.0201.010101.0000.9910.9800.9710.9620.9520.9430.9350.9260.917110.9090.9000.8930.8850.8770.8700.8620.8550.8470.840120.8330.8260.8200.8130.8060.8000.7930.7870.7810.775130.7690.7630.7580.7520.7460.7410.7350.7300.7250.719140.7140.7100.7040.6990.6940.6900.6850.6800.6760.671150.6670.662
12、0.6580.6540.6490.6450.6410.6360.6330.629160.6250.6210.6170.6130.6100.6060.6020.5990.5950.592170.5880.5850.5810.5780.5750.5710.5680.5620.5620.559180.5560.5520.5490.5460.5430.5410.5380.5350.5320.529190.5260.5240.5210.5180.5150.5130.5100.5100.5050.503200.5000.4980.4950.4930.4900.4880.4850.4830.4810.478*查表举例: h=11.5mm 时，求 F= K=s/h,在表第一列查到 11，对应该“11 行” ，如表所示，再在表第一行查到.5，对应该“.5 列” ， 如表所示,则“11 行”与“.5 列”交汇处的得 k=0.870。 *对于 h5mm 以下，表中无数据的，最好按 k=s/h,计算值带入较精确！
