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1、.电工电子产品基本环境试验规程电工电子产品基本环境试验规程电工电子产品基本环境试验规程试验 A：低温试验方法本标准等效采用国际标准 IEC6821基本环境试验规程 试验A 寒冷(1974年版及其第一次补充文件 IEC6821(1978)。1主题内容与适用范围主题内容与适用范围本标准规定了电工电子产品基本环境试验规程试验 A：低温试验方法。本标准适用于非散热的电工电子产品(包括元件、设备及其他产品)的低温试验。2 概述概述2.1 本标准仅限于用来考核或确定电工、电子产品在低温环境条件下贮存和(或)使用的适应性，而不能用来评价试验样品在温度变化期间的耐抗性和工作能力这时应当采用 GB2423.22
2、电工电子产品基本环境试验规程 试验 N：温度变化试验方法 。2.2 本试验方法通常有在条件试验期间能达到温度稳定的试验样品。2.3 试验时，是将具有室温的试样样品投入试验。当试验样品实际上是和某种特定的安装架一起使用时，则试验时就应使用这些安装架。2.4 试验持续时间是从试验样品达温度稳定时开始计算；如果条件试验期间试验样品达不到温度稳定，则试验持续时间从试验箱(室).达到规定试验温度时开始计算。3低温试验方法分类及方框图低温试验方法分类及方框图3.1 低温试验方法分为：a. 非散热试验样品低温试验：试验 Aa 温度突变；试验 Ab 温度渐变；b. 散热试验样品低温试验： 试验 Ad 温度渐变
3、。3.2 低温试验方法分类的方框图如下：低温试验方法分类的方框图如下：4 各种试验方法的应用对比4.1 非散热试验样品少和散热试验样品4.1.1 条件试验期间试验样品温度达到稳定后，在自由空气条件(即没有强迫空气循环)下测量时，试验样品表面上最热点温度高于周围大气温度5以上原，认为是散热的；否则为非散热试验样品。4.1.2 所有贮存试验及试验期间不通电或不加负载的，试验样品均为非散热试验样品，试验采用低温试验方法 Ab。4.2 非散热试验样品：温度突变试验和温度渐变试验4.2.1 温度突变试验 Aa：先将试验箱(室)温度调节到规定试验温度，然后放入具有室温的试验样品。本试验方法适用于已知温度突
4、变对试验样品不产生损伤时。4.2.2 温度渐变试验 Ab：先交椅地具有室温的试验样品放入亦为室温的试验箱(室)内，然后开动冷源将箱(室)温度逐渐冷却到规定试验温度。这种试验方法不会因温度变化对试验样品产生损伤作用。若由于试验样品太大或过重，或是由于复杂的功能试验接线，在突.变试验时不能做到将其放入低温箱而不产生结霜情况时，也应采用试验 Ab。4.3 散热试验样品有和无强迫空气循环的试验4.3.1 无强迫空气循环的试验：是模拟自由空气条件影响的一种试验。该试验方法是试验散热试验样品的较好的方法。4.3.2 有强迫空气反循环的试验：该试验方法是当不采用强迫空气循环就难于保证规定的试验条件时，可用试
5、验方法 Ad 中有强迫空气循环的两种方法：A 和方法 B。方法 A 用于试验箱大到可不用强迫空气循环也能满足试验要求，但在箱内不用强迫空气循环就不能保持规定的低温试验时，即试验箱的冷却(或加热)要求采用强迫空气循环时。方法 B 用于这种情况，即试验箱太小或基于别的原因，不用强迫空气循环就不能符合试验要求时。5 试验设备5.1试验箱室(室)工作时间内，应能提供6.1条件规定的温度条件，可以用强迫空气循环来保持均匀。5.2 为了限制辐射影响，箱(室)内壁各部分温度与规定试验温度之差不应超过8%(按开尔文温度计算)，且试验样品不应受到不符合上述要求的任何加热与冷却元件的直接辐射。6 严酷程度严酷程度
6、试验的严酷程度主要取决于试验用的温度等级和持续时间的长短，有关标准应优先从下列数值中选取：.6.1 温度试验温度应优先从下列数值中选取：65，55，40，25，10，5，5试验温度的允许偏差范围为36.2 持续时间在试验样品温度达到稳定后，若尚需进行一定时间的低温条件试验时，其持续时间应从下列时间中选取：2，16。 ，72，96h若试验的目的仅仅是检查试验样品在低温时能否正常工作，则试验的时间只限于使试验样品温度达到稳定；但在任何情况下，持续时间不应少于30min。当用本标准作为与低温耐久性或可靠性相联系的有关试验时，则其试验所需的持续时间由有关标准规定。7 有关标准应用于标准时应作出的具体规
7、定7.1 有关标准制订者可根据 GB2424.187电工电子产品基本环境试验规程：调温低温试验导则的指导选定下列参数：东莞市勤卓环境测试设备有限公司专业产销 高低温试验箱，恒温恒湿试验箱，冷热冲击试验箱，恒温箱等环境试验设备，咨询热线：0769-82205656，官方网站：http:/a. 试验箱内温度变化的速率；b. 试验样品放入试验箱的时间；c. 试验样品在试验条件下暴露试验开始的时间；.d. 试验样品通电或加负载的时间。7.2 有关标准应对低温试验方法给出下列适用的细节：a. 预处理；b. 初始检测c. 安装或支承的细节；d. 条件试验期间样品(包括冷却系统)的状况；e. 严酷程度(温度
8、和试验持续时间)；f. 条件试验期间的测量和(或)负载；g. 恢复(如不是在标准条件下恢复)；h. 最后检测；i. 供需双方同意的对试验程序的任何更改；8 试验试验 Aa：非散热试验样品温度突变的低温试验：非散热试验样品温度突变的低温试验8.1 目的提供一种标准的试验程序，以用来确定经受温度不致产生的操作作用的非散热电工、电子产品(包括元、设备及其他产品)低温下贮存和使用的适应性。8.2 一般说明8.2.1 本标准是将具有室温的试验样品放入温度为有关标准规定值的试验箱内。8.2.2 试验样品达到温度稳定后，在该条件下暴露规定的持续时间。8.2.3 试验样品通常处于不工作状态下。.8.2.4 本
9、试验通常采用强迫空气循环。8.3 试验设备试验设备应满足于标准第5章的要求。试验 Aa 通常是使用强迫空气循环的设备。8.4 严酷程度试验的严酷程度主要取决于试验用的温度等级及试验持续时间的长短，其数值应从第6章中选取。8.5 预处理按有关标准规定的要求进行。8.6 初始检测按有关标准规定对试验样品进行外观检查及电气和机械性能的检测。8.7 条件试验8.7.1 将试验箱(室)温度先调控到规定的试验温度，然后把处于试验温度下的试验样品不包装、不通电、 “准备这些“状态，按正常位置或其他规定放入试验箱(室)内。当实际上试验样品是和某种特定的安装架一起使用时，试验时就应使用这些装置一起进行试验。8.
10、7.2 使试验箱(室)的温度恢复到规定试验温度，并使试验样品达到温度稳定。8.7.3 对于工作性试验，必须按有关规定对试验样品给予通电或电气负载，并检查确定能否达到规定的功能。若有有关标准有所要求，试验样品应按其规定的工作循环和负载条.件(若可行时)处于动作状态，或者不予通电。注：此时试验样品即使处于运行或在负载条件下，只要表面温度不超过试验温度5均认为是非散热的。8.7.4 试验样品在此温度下保持第三世界6.2条规定的时间，持续时间应从温度达到稳定时算起。注：对一些小试验样品，没有必要注：对一些小试验样品，没有必要通过测量来检查是否已达到温度稳定。通过测量来检查是否已达到温度稳定。8.7.5
11、 若有关标准要求进行中间检测，则按第8.8条进行。8.7.6 条件试验结束后，应使试验样品恢复原状。对通电运行或加电气负载的试验样品，应在恢复程序前停止通电或卸去负载。8.8 中间检测有关标准可规定在条件下试验期间或结束时(试验样品仍在试验箱内)加负载和(或)测量，需要时应规定测量的项目和时间。测量时，试验时，试验样品不应从试验箱(室)中取出。注：不得在条件试验期间把试验样品从试验箱(室)内取出，并在进行恢复前的测量后重新放入试验箱内。如在持续时间结束前需要了解试验样品在特定时间的性能，则对每个特定的时间应另外增加一批试验样品。进行恢复和最后的测量，应对每一批试验样品分别进行。8.9 恢复恢复
12、8.9.1 试验样品应在标准大气条件下进行恢复直至解冻。注：当标准大气条件对试验样品不适宜时，有关标准可规定其他恢复条件。.8.9.2 为了除去水滴，可用手抖动试验样品，或用室温的空气进行短时吹风。8.9.3 试验样品在标准大所条件下恢复时，恢复时间要足以使其达到温度稳定，最少为1h。当几个试验样品同时进行试验，而1h 的恢复时间又足够时，则最长恢复时间为2h，所有测量必须在这一时间终了前进行完毕。8.9.4 若有关标准要求，要在恢复期间对试验样品通电或加负载，并连续地测量其性能。8.10 最后检测按有关标准原规定对试验样品进行外观检查及电气和机械性能的检测。8.11 当有关标准采用本试验方法
13、时，应对第6.2 条中适用的项目给出具体的规定。9试验试验 Ab：非散热试验样品温度渐变的低温试验：非散热试验样品温度渐变的低温试验9.1 目的提供一种标准的试验程序，用以确定非散热的电工电子产品(包括元件、设备或其他产品)低温贮存和(或)使用的适应性。9.2 一般说明9.2.1 本试验是把具有室温的试验样品放入温度为室温的试验箱内，然后调节箱温到有关标准规定的温度值。9.2.2 本试验方法也应满足本标准8.2.28.2.4条的规定。9.3 试验设备.试验设备应满足本标准第5章的要求。试验 Ab 通常使用有强迫空气循环的设备。9.4 严酷程度试验的严酷程度主要决定于试验温度等级与试验时间长短，
14、该数值应从第6章中选定。9.5预处理按有关标准的规定进行。9.6 初始检测按有关标准规定对试验样品进行外观检查及电气和机械性能的检测。9.7条件试验9.7.1 将处于室温的试验样品，在不包装、不通电、 “准备使用“状态，按正常位置或其他规定放入试验箱(室)内。此时，试验箱(室)的温度也为室温。当打算把试验样品和特定的安装架一起使用，试验时就应使用这些安装架一起进行试验。9.7.2 开动冷源，使试验箱(室)温度降低规定试验温度，并给以时间使试验样品达到温度稳定。箱(室)内温度变化速率为不大于1/min(不超过5 min 时间的平均值)。试验的环境温度应按 GB 242281电工电子产品基本环境试
15、验规程 名词术语的2.7条中规定进行测量。9.7.3 对工作性试验，按本标准8.7.3条的规定进行检查和试验。.9.7.4 试验样品曝露在规定的低温条件下试验，持续时间应 符合8.7.4条规定。9.7.5若有关标准有所要求，应按9.8条中的规定进行中间检测。9.7.6条件试验结束时，试验样品仍保留在试验箱(室)内，将试验箱(室)温度渐渐升高到正常的试验大气条件范围内，箱(室)内温度变化的速率为不大于1/min(不超过5 min 时间的平均值)。9.7.7本阶段结束后试验样品应经受恢复程序；恢复可在箱(室)内或者在箱(室)外进行，以及合适者为宜。若条件试验期间试验样品是处于运行或加负载状态，则在升温以前先停止通电可卸去负载。9.8 中间检测按有关标准可要求在条件试验期间或结束时，按8.8条的规定进行中间检测。9.9恢复按本标准第8.9条的规定程序进行恢复。9.10 最后检测按本标准第8.10条的规定程序进行恢复。9.11 当有关标准采用本试验方法时，应对7.2条中适用的项目给出具体的规定。10 试验试验 Ad：散热试验样品温度渐变的低温试验：散热试验样品温度渐变的低温试验10.1目的提供一个标准的试验程序，用以确定散热的电工电子产品(包括元件、设备或其他产品)
