关于品质dppm的计算知识

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1、内容内容 DPPM 是什么意思相相关关 PPM 就不用我说了吧！看一下中文意思就明白，至于 DPPM 的计算方法我在网上找到了（下面的那个个网址上有详细的计算方法）。 劣质成本(COPQ) 直通率(FPY,RTY,TPY) 每百万次缺陷数(PPM) 单件产品缺陷率(DPU) 单件机会缺陷率(DPO) 每百万次机会缺陷率(DPMO) 能力指数(Cp, Cpk, Ppk, 水平)DPPM 的计算方法请看下面的文章，这是我剪贴下来的，也可看下面这个网页： http:/www.a- 1、前言 1998 年 5 月 1 日品质学会召开出版委员会，主任委员卢瑞?壬车钠焚|奖个人奖得奖人，忆华电机总经理）提

2、到一个令人疑惑的问题。多年前他曾经访问美国矽谷旭电公司（Solectron）（1991 年曾获美国国家品质奖），当问到该公司目前的品质水准时，该公司?董事长答道说：经多年的整体改善活动，目前已达到 500 个 ppm 的品质水准。但是卢总经理自己经营的忆华电机，目前制程品质水准也可以达到 200个 ppm，是否以忆华的品质水准也应可以申请美国国家品质奖？可是目前忆华还不曾申请台湾的品质奖，这是否意味著台湾的品质奖较美国国家品质奖的门槛还高。本人曾经替忆华电机设计即时制程管制系统，系统中要求以 dppm 为单位计算制程的品质水准，所以熟知忆华电机品质水准的计算方式，当时就以下例?碚 f 明两者

3、ppm 的计算方法不同，而造成品质指标不一致的结果。假设某制程；例如 SMT，AI 或 HI，某天的生产日报如下： 产品别 检点数/台 生产台数 不良台数 合计缺点数 A 200 点/台 1000 台 5 台 10 点 B 100 点/台 1000 台 10 台 20 点 C 50 点/台 2000 台 15 台 30 点 假如以台为计算基础 P (5+10+15)/(1,000+1,000+2,000) 30/4,000 7,500ppm 即表示每 100 万台平均有 7,500 台是不良。 c (10+20+30)/(1,000+1,000+2,000) 60/4,000 0.015 dp

4、u 即表示每台平均有 0.015 个缺点。 l 假如以检点为计算基础 (10+20+30)/( 2001,000+1001,000+502,000) 60/400,000 150 dppm 即表示每 100 万个检点平均有 150 个缺点。 以上的解释以 100 万台为单位及 100 万个检点为单位，当然要两个 ppm 的品质指标互相比较就有所出入。近年?韲鴥荣 Y?电子业在国际分工的设计及制造?子信 e 足轻重的地位，客户对制造商的品质合约常包括规格承认书、品质管制计?及制程统计资料，其中引起最多争议就是品质水准的计算方式，其间的影响造成订单签不下?砘虺鲐浐灢怀鋈斎黄饭苋藛 T 首当其冲被老

5、板骂得莫名其妙。早在 1993 年笔者曾撰文?释 6的意义(注 1)，而今品质学会出版委员会决定出版一份资?电子业通用品质指标的标准一小册，提供国内业界参考的依据。本文就此项需求先行提出一些通用的品质指标及符号术语，供资?电子业先进讨论空间，再逐步订出符合大家可以使用的品质指标标准。2、主要品质指标的沿革 产品品质特性的记录一般分成计数值或计量值，计数值又以计件或计点为记录，计量值以?际测量之特性值为记录。自?馁 Y?电子业导入 MIL-STD-105D 表为抽样检验的标准后，品质指标一直延用 MIL-STD-105D 表之 AQL；目前使用版本为 MIL-STD-105E，多年?硪恢蓖徐顿

6、Y?电子业界。AQL 在 10 以下时，可表计件的不良率或计点的缺点数，AQL 在 10 以上时，则表计点的缺点数或每百件缺点。计量值则以制程能力指数 Cp、k（Ca）、Cpk 为代表。这些品质指标的大小，理论上是可以解释其品质意义，譬如 AQL0.3（以计件不良率表示）其意义为当检验批的品质水准不良率p 达到 0.3时，该批以 MIL-STD-105E 表验收时，被允收的机率很高约 90以上，但检验批的?际不良率 p 太大时；如 1、2，则检验批被允收的机率很小。因此，AQL 常被用?懋敌裳 u 程的品质指标，以保证交货（交易）时的允收率。制程能力指数也被拿?砗饬慨 a 品试作及量产时品质稽

7、核的指标。有些客户要求供应商在试作阶段及量产阶段提报产品或制程的管制特性，其 Cp 或 Cpk 值在多少以上，才能保证不良率 p 在多少以下。 3、各种品质指标的定义及计算例 近年?恚Y?电子业受到所谓“6 个 Sigma”的品质国际标竿（Benchmarking）的影响，大家纷纷采用“ppm ”或“几个 Sigma”为品质水准的计量单位，但是对这一些新的名词及术语的定义及计算方法不同行业有不同的说法，造成业界随客户的要求而无所适?摹R 韵陆榻 B 目前流行於业界的一些品质指标名词及术语。 l 计数值计件的品质指标 制程良率（Yield）：一般以一制程之投入产品件数与该制程输出良品的件数之比率

8、。如（图 1）说明。 输入 1000 件 输出 900 件 INPUT 1000 件 950 件 920 件 不良品 50 件 30 件 20 件 (图 1) A 制程良率输出良品件数输入产品件数 950 1000 95.0 B 制程良率输出良品件数输入产品件数 920 950 96.8 C 制程良率输出良品件数输入产品件数 900 920 97.8 全制程良率输出良品件数输入产品件数 900 1000 90.0 以上适用於电子零件、半导体等制程，其不良品无法修理而报?U 者。装配?S 的制程，其不良品大致上都可以修理，修理好的产品，再回线测试，继续装配，如此要定义其良率应以各制程的初检通过率

9、（First Time Yield；FTY）较为合理。 初检通过率（First Time Yield；FTY）:一制程投入产品件数与第一次检验就通过之件数之比率。如（图 2）说明。 输入 1000 件 输出 900 件 INPUT 1000 件 950 件 920 件 不良品 50 件 30 件 20 件 （图 2） A 制程 FTY输出良品数输入件数 9501000 95 B 制程 FTY输出良品数输入件数 9701000 97 C 制程 FTY输出良品数输入件数 9801000 98 全制程 FTYA 制程 FTYB 制程 FTYC 制程 FTY 0.950.970.98 0.903 90

10、.3 如此可知，全制程 FTY 较（图 1）略高，因此以直通率（Rolled Yield ）定义较准确；其定义为输入件数比上全制程中没有被修理过的件数。 直通率全制程中没有被修理的件数输入件数 9001000 90 全制程之直通率（Rolled Throughout Yield）:定义为全制程的投入产品件数与通过全制程无缺点产品件数之比率，不过在制程上要准确计算比较困难，一般以各制程的良率相乘。 l 计数值计点的品质 一般资?电子产品只要有一个缺点就应视为不良品，但是一个不良品可能有一个以上的缺点，因此以平均每件几个缺点较能完全表示品质；以 dpu （Defects Per Unit）为单位。

11、如（图 3）的流程图。 输入 1000 件 输出 1000 件 INPUT 1000 件 1000 件 1000 件 不良品 50 件 30 件 20 件 缺点数 80 点 45 点 25 点 （图 3） A 制程的 dpu缺点数检查件数 80 点 1000 件 0.08dpu B 制程的 dpu缺点数检查件数 45 点 1000 件 0.045dpu C 制程的 dpu缺点数检查件数 25 点 1000 件 0.025dpu 全制程的 dpu缺点总数检查件数 (80+45+25)点4000 件 0.0375dpu 一般不同产品的每件检点数不同，检点数愈多，dpu 就可能愈大，以 dpu 的大

12、小?肀容产品品质的好坏似乎不太合理，因此用总检点数与总缺点数之比?肀容品质会客观一点；以 dppm（Defect Parts Per Million）为单位，如（图 4）的流程图。 输入 1000 件 输出 1000 件 检点数 50 点 50 点 400 点 INPUT 1000 件 1000 件 1000 件 不良品 50 件 30 件 20 件 缺点数 80 点 45 点 25 点 （图 4） A 制程每百万检点平均缺点数 （总缺点数总检点数） 106 (80 (100050）)106 1600 dppm B 制程每百万检点平均缺点数 （总缺点数总检点数） 106 (45 (100050

13、）) 106 900 dppm C 制程每百万检点平均缺点数 （总缺点数总检点数） 106 (25 (1000400）) 106 62.5 dppm 全制程每百万检点平均缺点数 （总缺点数/总检点数） 106 (（80+45+25）(100050+100050+1000400）)106 300 dppm dpu 是代表每件产品平均有几个缺点，而 dppm 是每检查一百万的检点平均有几个缺点。一个检点代表一产品或制程可能会出现缺点的机会，它可能是一个零件、特性、作业等等，有些地方以 ppm/part(注 2)，dpmo(Defects Per Million Opportunities)(注 3

14、)为品质指标，其?与 dppm 是同样的意义。时下许多资?电子装配?S，其制程上记录是以dppm 为单位，不同检点数的产品或制程就可依下式换算为 dpu。 dpu产品或制程检点数dppm106 良率是最容易了解的品质指标；投入制程的产品，经制造过程后，就可以?际交给下工程或可以直接出货的比率，良率愈高代表效率愈高，报?U 愈少，修理愈少，对品质、成本、交期都有直接的关系，这是人人皆知的道理，因此，良率应为最终的品质指标。假若可以事先估算出产品或制程的 dpu，就可以预估产品在该制程的良率，以卜氏分配的性质可计算其良率。假设 X 为某件产品经某制程后之观测缺点数，当 X0 时，即表示该件产品没有

15、缺点，因此，PX=0即表示该产品无缺点的机率；就是良率。以下式表示 PX=0 e-dpu dpu 与制程良率的关系如(表 1)。 dpu 5.0 4.0 3.0 2.0 1.0 0.5 0.05 0.01 Yield% 0.67% 1.83% 4.98% 13.5% 36.8% 60.7% 95.1% 99.0% (表 1) 以上之品质指标皆以计数值之计件或计点?斫忉尸渑 c 良率之关系，而计量值之品质指标 Cp 或 Cpk 也可以定义一产品或制程特性的良率；此处可以计数值之一检点为同样的意义，一检点可以为一产品或制程特性。 l 计量值的品质指标 制程能力指标 Cp 或 Cpk 之值在一产品或

16、制程特性分配为常态且在管制状态下时，经由常态分配之机率计算，可以换算为该产品或制程特性的良率或不良率，同时亦可以几个 Sigma?韺 铡 F?以产品或制程特性中心没偏移目标值，中心偏移目标值 1.5 及中心偏移目标值 T/8 分别说明之，品管先进?文化先生认为对於 Sigma 水准较小时，偏移的幅度应相对的小，才较合理，因此提出偏移目标值 T/8 的考量。 先定义以下几个符号 l X：个别产品或制程特性值 l USL：规格上限 l LSL：规格下限 l m：目标值或规格中心，一般为(USLLSL)/2 l T=USL-LSL：规格界限宽度 l ：产品或制程特性中心或平均数 l ：产品或制程特性标准差 (1) 产品或制程特性中