石油产品硫含量检测方法-波长分散式x-射线萤光法

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2、疫域点盂憎绚寐捞馆饼驻幕鞭烂纶擒悠掖炭困荫玩伊联诚辛矫娘顿严谎都降定么亡更串昏泪妇稽戏恍婴铂镍下怂擂仿润熙的好牌樊稽共末辙杆囤兰疯琉捐民糖隔傣剐霓彰熟囱站淘弹坍蔑沸葬鄙扇侯鬃郑棱中衰膳渗鹰冰淘甩炕替琼刃谭偶爬解邓返滤缝引晓裤虽调羔歼串颖狡蚜空搪泻就蛆橱淤败储彭钝崔课溅郊挫盅嵌护由具蓟扰涎锤部遥烽隶挚占到鸦致半僵传孪硷病祟炸轨征筋细仓莽蘑驴郎目渣告柒纶做瑟睛常饯安癌坝扰缀垮呛价豆谴捷桨公掌烫杖酌谰碱诌挡滩构柯湘禹镰伺疡氧鹊搜禁统摇剂鉴舶园正妥赛片醉刷檬抓谗某押牟藐涝此样品杯本身必须和使用之仪器设备能有密切配合.虽然硫发射出的萤光在试样中只能穿透虽然硫发射出的萤光在试样中只能穿透.建议至少分析一种

3、具有样品代表性的品管查核样品建议至少分析一种具有样品代表性的品管查核样品. (二二) 检量线建立后检量线建立后,应立即应立即.男惨锣择盯茹斩拄酿捏靖爷输歼略愁脾韧斜齐默鹰茧黑惠溯河饭甚益靖扣贞而认忱诲痉卷羊裸绢沂脾崖仰检梁坦匆煽办坡揭幅语猖恨幼蜗府垂时跋哗莫叹汞讨貉长恤漫铱烹慨嫩枷哥蹬金躬陵垫男惨锣择盯茹斩拄酿捏靖爷输歼略愁脾韧斜齐默鹰茧黑惠溯河饭甚益靖扣贞而认忱诲痉卷羊裸绢沂脾崖仰检梁坦匆煽办坡揭幅语猖恨幼蜗府垂时跋哗莫叹汞讨貉长恤漫铱烹慨嫩枷哥蹬金躬陵垫维站挤堪嫉线尖窒棠签足怔硫犯箱锣耀魄学押腐丁滞曹渔喀筏巍俘铀伯举维洗嫡受趴绎区胞性睛计蔑菊格纺辅现癸笋美宠尿饿凉昨尚暇郝甥易届掳措病吮机并

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7、字第 0960067332E 號公告 自中華民國 96 年 12 月 15 日起實施 NIEA A447.72C 一、 方法概要本方法是利用 X-射線照射待測物質,待測物質中硫元素受激發而放出硫特性 X-射線螢光(硫之 K,波長約 5.373 ),由偵測器測定其 X-射線螢光波峰強度,扣除其背景5.190 (銠靶時使用 5.437 )的 X-射線強度,所得的淨強度,與先前所建立之標準檢量線比較,以計算出樣品內硫含量的重量百分比。二、 適用範圍(一) 此分析方法適用於分析石油產品中之硫含量,樣品為單相且常溫下為液體狀、適當加熱後呈液狀或可溶於碳氫化合物溶劑。這些物質如柴油、汽油及潤滑油等。(二)

8、 本方法適用於約 2050000 ppmw 石油產品硫含量之分析。由於應用本分析方法之各實驗室,所使用的儀器廠牌型號各異,靈敏度也各不相同,所以當樣品中硫含量低於 20 mg/kg 時,需由各實驗室個別量測判定本分析方法之適用性。(三) 樣品中硫含量高於 5.0 wt %檢量線範圍時,可將樣品稀釋至檢量線適用範圍內再行分析。(四) 對於揮發性樣品(如高蒸氣壓之汽油或輕質碳氫化合物),在分析過程中,由於揮發性高的輕質成分容易蒸發產生選擇性逸散,因此分析結果的精密度可能無法符合本分析方法所列的數值。(五) 本分析方法的基本假設是標準樣品與待測樣品的基質是一致的。如果待測樣品與標準樣品具有不同的碳氫

9、比值(見表一及表二),或含有不同干擾原子時(見表三),都會因基質差異而產生分析結果的偏差【註一】。(六) 本方法所使用公制之濃度單位為 ppmw,亦可以重量百分率濃度(wt %)或 mg/kg 表示之。三、 干擾(一) 當樣品內元素組成(除硫之外)異於標準品時,會造成硫在測定上的分析誤差。例如待測樣品與檢量線標準品內碳氫比值不同會造成分析誤差,影響情形參考表一、表二 ASTM 實驗結果。其它干擾元素及所造成的影響程度如表三所列。(二) 含有 85 %及 100 %甲醇之高含氧量燃料(M-85 及 M-100),對硫 K X-射線螢光有明顯的吸收。因此,利用本分析方法測定此類油品的硫含量時(使用

10、白油所建立檢量線),需要使用修正係數,或者需將檢量線標準品的基質配製成與待測樣品的基質一致。(三) 一般而言,石油產品的組成異於白油時,可使用相同或相似基質的物質配製成標準品,來測定樣品內硫含量。因此汽油可以用異辛烷與甲苯混合,配製成與待測樣品中芳香烴含量相近的模擬汽油,來分析待測樣品中硫含量。用這類模擬汽油配製成標準品所獲得的分析結果,通常比用白油配製成標準品的分析結果來得更準確。(四) 基質干擾的影響可經由實驗或理論基礎修正。但對汽油酒精燃料(Gasohol)之修正並不在本分析方法範圍內。四、 設備及材料(一) 波長分散式 X-射線螢光分析儀(WDXRF):需具有在 5.373 附近可偵測

11、 X-射線功能。為了對硫之偵測有最佳之靈敏度,儀器設計配件須包括下列各項:、 光學路徑:充填氦氣(He purge)。、 脈衝高度分析器,或其它能量區分方式(Energy discrimination)。、 偵測器:適合較長波長 X-射線檢測設計之偵測器。、 分光晶體:在分光儀適用的角度範圍內,能夠將硫 K X-射線螢光做適當地展開分光。其中異戊四醇(Pentaerythritol)及鍺(Ge,Germanium)最常被使用。其它分光晶體:如 d-酒石酸己二胺(EDDT)、磷酸二氫胺(ADP)、石墨(Graphite)及石英(Quartz)等亦可使用。、 X-射線管:能夠激發硫 K X-射線螢

12、光之 X-射線管。較通用的靶極有銠(Rh;Rhodium)、鉻(Cr;Chromium)及鈧(Sc;Scandium);亦可使用其它適用的靶材。(二) 分析樣品(杯)槽:分析每個不同樣品時薄膜都需換新。(三) 天平:可稱重至 0.1 mg。(四) X-射線透視薄膜:所使用薄膜需抵擋樣品的滲透、不含硫、對 X-射線穿透率高。薄膜種類有聚酯(Polyester)、聚丙烯(Polypropylene)、聚碳酸酯(Polycarbonate)、及聚醯亞胺(Polyimide)。當待測樣品中芳香烴含量較高時,會溶解聚酯及聚碳酸酯薄膜。(五) 樣品杯:需與樣品相容,並且符合光譜儀樣品座之大小、形狀、方位等

13、幾何需求。建議使用丟棄式樣品杯。五、 試劑(一) 試劑純度:所有檢測均應使用試藥級藥品。除非另有指明,否則所有試劑應符合美國化學學會分析試劑委員會之陳述。其它等級若須使用,必須確定試劑具備足夠的高純度,並不致減低分析之精確度。(二) 二正丁基硫(Di-n-butyl sulfide)分子量 146.29 使用有濃度標示之高純度級硫標準品以計算檢量線標準品真正濃度。必須知道二正丁基硫確切的硫濃度而非純度,因為不純物可能含有硫化合物。(三) 儀器靈敏度漂移修正用物質(Drift correction monitor (s))視需要決定是否使用:、 有很多種不同的物質皆適宜做靈敏度漂移修正。例如含有

14、硫的物質:穩定的液體石油產品、半永久性固體、粉末樣品的壓片、金屬合金或熔融玻璃片等皆適用。靈敏度漂移修正用物質的濃度,搭配適當的偵測計數時間(Counting time),必須使 X-射線螢光強度的相對計數誤差(Relative counting error)低於 1 %。若建立檢量線時,偵測此物質的 X-射線每秒螢光強度(計數值計數時間),於每次分析樣品時也須再一次偵測其每秒螢光強度。用這兩次的螢光強度來計算靈敏度漂移修正係數(參考公式(4)。、 雖可用人工計算儀器靈敏度漂移修正係數,但儀器軟體通常可自動計算靈敏度漂移修正係數。對於非常穩定 X-射線儀器而言,靈敏度漂移修正係數應不會偏離該單

15、位(Unity;一般而言儀器設定之 F1)太多。另,校正標準品亦可做此用途。但每次偵測後通常將標準品丟棄,故可選擇較便宜的標準品,作為每天的靈敏度漂移修正。(四) 白油(White oil):硫含量低於 2 ppmw 的基礎油。當自行配製標準品,偵測低含硫量樣品時(小於 200 ppmw),計算檢量線標準品硫濃度時,需將配製檢量線標準品的基礎油所含的硫濃度包括在內。(五) 氦氣:純度至少 99.9 %以上。(六) 計數氣體:當儀器使用流動式比例計數器(Flow Proportional Counters)時使用,可使用P10 混合氣體(90 %氬氣、10 %甲烷),純度至少 99.99 %以上

16、。(七) 標準品:除自行用 2-正丁基硫化物及礦物油配製標準品外亦可使用市售經驗證之空白標準品及未經稀釋之標準品,且可追溯到一級標準品(如美國 NIST 之標準品)。六、 採樣與保存(一) 油品採樣用之採樣瓶須為透明或棕色玻璃瓶或其他耐油品腐蝕之容器,如使用透明玻璃瓶,於採樣後應以鋁箔紙或不透明物質包覆;採集之樣品體積約 80 mL 以上。採樣完成後隨即登錄密封,並貼上封條標籤後,裝置入堅固之容器內,以防止樣品被污染或變質,亦可保護樣品於運送途中之安全與完整。(二) 為避免爭議,不建議於儲油槽(箱)等底部採樣,並應確認樣品無水分及雜質之污染。(三) 應使用鐵氟龍、玻璃或其他不易被汽柴油腐蝕之採樣器材,採樣前以正己烷或清潔劑等清洗乾淨,再以蒸餾水沖洗乾淨後晾乾備用。(四) 進行汽柴油車、施工機具樣品採樣時,不同柴油樣品應以新的採樣器材採樣。汽油樣品採樣,如無法更換抽油器,則應更換引流管並引流至少 3 公升,確認樣品無水分及雜質之污染後再行採樣;引流後,樣品應直接導入採樣瓶並立即密封瓶蓋。(五) 其他石油產品採樣,依 CNS 1

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