自控4-2010

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1、第四章 线性系统的根轨迹法(root locus method),根轨迹的概念,根轨迹方程绘制根轨迹的基本法则广义根轨迹(参数根轨迹、零度根轨迹)的概念利用根轨迹分析、估算系统性能控制系统复域设计,根轨迹法简介,1948,W.R.Evans在系统(尤其是多回路复杂系统)初步设计阶段常采用的一种相对于解析法简便、实用、近似的图解方法。,举例:用解析的方法画闭环极点的轨迹,形成根轨迹,K=0,j,0,-2,-1,1,2,K=0,K=0.5,-2,-1,K=1,K=2.5,K=1,K=2.5,3,-3,分析根轨迹与系统性能的关系,稳定性?,稳态性能?,系统属型,动态性能?,根轨迹概念,当开环系统某一

2、参数(例如开环增益K或时间常数T等)变化时,闭环特征根在s平面上移动的轨迹,是系统所有闭环极点的集合。,根轨迹方程推导,由开环传递函数G(s)H(s)出发,利用开环与闭环的关系,根据系统闭环特征方程 1+ G(s)H(s) =0,推导根轨迹方程。,闭环零、极点与开环零、极点的关系,于是,系统开环传递函数可表示为:,将G(s)H(s)的表达式代入(s),得:,比较(s)与G(s)H(s),得出以下结论:,闭环系统根轨迹增益=KG*;对于单位反馈系统,开环根轨迹增益K*= KG* ;闭环系统零点由G(s)的零点和H(s)的极点组成;对于H(s)=1,闭环零点就是开环零点;闭环极点与开环零点、开环极

3、点及开环根轨迹增益K*有关。,反馈通路,前向通路,特征方程根轨迹方程,闭环系统向量形式的特征方程为:,G(s)H(s)=180(2k+1)(k=0,1,2,3)-相角条件,模值、相角形式的特征方程为:,包含开环零、极点的根轨迹向量方程,当系统有m个开环零点和n个开环极点时闭环系统特征方程等价为:,K*:0+ 常规根轨迹K*: - 0 补根轨迹K*: - + 全根轨迹,可以从开环零、极点出发绘出闭环系统根轨迹,根轨迹的相角条件方程和模值条件方程:,G(s)H(s)=180(2k+1) (k=0,1,2,3)-相角条件,(由各开环零点指向根轨迹点s的方向角) (由各开环极点指向根轨迹点s的方向角)

4、 指向正左方, 相角条件的几何意义:,si,p2,z1,z2,z3,j,p3,p4, 模值条件的几何意义:,各开环极点pi引向根轨迹上点s的向量模的乘积,除以各开环零点zj引向根轨迹点s的向量模的乘积,所得商为点s所对应系统的开环根轨迹增益K*。,si,p2,z1,z2,z3,j,p3,p4,根轨迹绘制的基本法则,法则1 根轨迹的起点和终点,法则2 根轨迹的分支数和对称性,法则3 根轨迹的渐近线,法则4 实轴上的根轨迹,法则6 根轨迹的起始角与终止角,法则7 根轨迹与虚轴的交点,法则8 根之和与根之积,法则5 根轨迹分离点与分离角,由根轨迹的相角、模值条件,可以得到:,根轨迹绘制基本法则推导,

5、法则1 根轨迹的起点(对应于K*=0)和终点(对应于K* ):起于开环极点,终于开环零点,证明:,引入“无限零点”:n m时,将有(n-m)条根轨迹的终点在无穷远处;,同理引入“无限极点”:m n时,将有(m-n)条根轨迹的起点在无穷远处。,法则2 根轨迹的分支数和对称性:根轨迹的分支数与开环有限零点数m和有限极点数n中的大者相等;每一根轨迹分支连续且对称于实轴。,说明: (1) 根轨迹的分支数必与闭环特征方程式根的 数目相一致,即等于m和n中的大者; (2) K*由0连续变化时,特征方程的某些系数是K* 的函数,也随K*连续变化,因而根的变化也必然连续; (3) (s)为有理分式函数,根只有

6、实数和复数,复根必共轭。,法则3 根轨迹的渐近线:当开环有限极点数n大于 有限零点数m时,有n-m条根轨迹分支沿与 实轴交角为a、交点为a的一组渐近线趋向 无穷远处,且有:,证明:渐近线是s值很大时的根轨迹;渐近 线重合于实轴或虚轴,或对称于实轴。,法则4 实轴上的根轨迹:实轴上的某一区域,若 其右边开环实数零、极点个数之和为奇数, 则该区域必是根轨迹。,证明:依据根轨迹的相角条件,法则5 根轨迹分离点与分离角,分离点:两条或两条以上根轨迹分支在s平面上相遇又立即分开的点。分离角:根轨迹进入分离点的切线方向与离开分离点的切线方向之间的夹角。,分离角:当 l 条根轨迹分支进入并立即离开分离点时,

7、分离角为:( 2k+1)/l (k=0,1,2,l-1) (当l=2时,分离角为直角/2 )。,分离点的坐标d是下列方程的解:,证明:根轨迹在s平面上相遇,说明闭环特征 方程有重根出现,重根即为分离点d。 可以根据代数中重根条件证明d的方程。,实轴上的分离角恒为90,例如:,例4-1:已知系统开环传递函数为: (1) 绘制根轨迹并证明复平面上根轨迹部分为圆;(2) 系统呈现欠阻尼状态时的开环增益范围;(3) 系统最小阻尼比时的闭环极点。,解 (1)绘制根轨迹,开环零、极点:,pzmap(sys) %绘制零、极点分布图,实轴上根轨迹:,分离点:,d2,d1,闭环根轨迹为圆,开环系统包含两个实数或

8、复数极点和一个或以上的有限零点,若有限零点不位于两个极点之间,当K*从0到变化时,闭环根轨迹的复数部分,是以有限零点为圆心,以有限零点到分离点的距离为半径的一个圆,或圆的一部分。,rlocus(sys) %绘制根轨迹,(1) 证明复平面上根轨迹部分为圆:,(2) 系统呈现欠阻尼状态时的开环增益范围,max,(3) 系统最小阻尼比时的闭环极点,法则6 根轨迹的起始角与终止角,起始角或出射角pi:根轨迹离开开环复数极点处的切线与正实轴的夹角;终止角或入射角zj:根轨迹进入开环复数零点处的切线与正实轴的夹角。,起始角pi与终止角 zj依据相角条件求出:,p4,z1,z2,z3,j,开环零、极点分布图

9、:,z1,z2,z3,j,计算起始角:,计算终止角:,意义:分析K*变化对系统稳定性的影响。,法则7 根轨迹与虚轴的交点,根轨迹与虚轴相交表示闭环系统将有一对虚轴上的极点。令s=j ,即D( j )=0 ,并分别令实部、虚部为零 ,得到方程组:,求解方法一:直接解系统特征方程,求根轨迹与虚轴的交点,解:列Routh表 s3 1 2 s2 3 K1 s1 (6- K1)/3 s0 K1,令 s1 行元素为零,则系统临界稳定,特征方程存在虚根,这时K1 =6;,例4-3:确定下述闭环特征方程根轨迹与虚轴的交点。 s3+3s2+2s+K1=0,再由Routh表s2行元素写出辅助方程:3 s2 + K

10、1 =0,求解方法二:应用Routh判据,另解:直接求解特征方程,将s=j 代入特征方程 s3+3s2+2s+K1=0 有: (32+ K1 )+j(3+2 )=0,分别令实部、虚部为零 ,得到方程组:,法则8 根之和可用于判断根轨迹走向,nm时,系统闭环特征方程可以有不同表示形式:,闭环特征根,当 n-m2,特征方程第二项系数(a1)与K*无关,开环n个极点之和等于闭环特征方程n个根之和,是一个常数:,所以当K*增大,若一些特征根的实部增大,必然有另一些特征根的实部在减小。,可由此判断根轨迹的走向, (n-m)2时,根轨迹绘制基本法则补充:,用光滑曲线连接上述各法则得到的特征点画出根轨迹。

11、当特征点太稀疏而无法判定根轨迹位置时,可在存疑区域用相角条件试算几个根轨迹上的点。,根轨迹的绘制举例,例4-4:已知单位反馈控制系统开环传递函数,绘制闭环系统的根轨迹。,-,R(s),C(s),解:,1. 确定分支数,n=4,m=0,2. 确定起点、终点 开环极点: p1=0, p2=-3 p3,4=-1j,s平面,-1,-3,-2,0,j,p3,p4,p1,p2,3. 根轨迹的渐近线,渐近线与实轴交角:,渐近线方程为: =tga - a,渐近线与实轴交点:,例4-4 根轨迹渐近线,s平面,-1,-3,-2,0,j,a,4. 实轴上的根轨迹: 实轴上的根轨迹位于-3,0区域。,s平面,-1,-

12、3,-2,0,j,a,5. 根轨迹的分离点(实轴上),用试探法在 -3,0 范围进行试探,可得: d -2.3,只有一个分离点d,-1,-3,-2,0,j,a,d,也可以由重根条件:,roots( ); %求多项式的根,6. 计算起始角(出射角) p3 = 180+ i - j 180 -(135 +90 +26.6 ) - 71.4 ,-1,-3,-2,0,j,a,d,p3,p4,p3,7. 确定根轨迹与虚轴的交点 特征方程为: s4+5s3+8s2+6s+K*=0 应用Routh判据:s4 1 8 K* s3 5 6 s2 34/5 K* s1 (20425 K* )/34 s0 K*,令

13、s1行元素为零,得: K* = 204/25 = 8.16,再由s2行 元素写出辅助方程: (34/5)s2 + K* = 0 代入 K* = 8.16 ,可解得: s j1.1, 即根轨迹与虚轴交点坐标为: 1.1,-1,-3,-2,0,j,a,d,p3,p4,p3,-j1.1,K*=8.16,j1.1,K*=8.16,根轨迹与虚轴的交点:,-1,-3,-2,0,j,a,d,p3,p4,p3,得到系统的闭环根轨迹图:,j1.1,K*=8.16,-j1.1,K*=8.16,绘制根轨迹须注意的一些问题,起点与终点,注意是开环零、极点;并考虑无限零点、无限极点;分支数、对称性、连续性;渐近线,注意与实轴交角的计算时k的取值:在实轴上的分布,注意是其右方开环实数零、极点之和为奇数。,

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