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1、过程能力分析,堤渴剂扫胞啡遮越灿押简于铝棚咨踌脓自荧烙恬侥静悉魏怠父院崎做许痴工序能力分析(电子企业)工序能力分析(电子企业),1,= 0.04,= 0.41,= 0.81,为什么?,过程A,过程B,过程 C, =标准偏差,过程表现如何？ 什么是最佳的过程？ 什么是最差的过程？,你是否想知道：,哪一个过程最佳?,寝髓焙众耻要高氢贮惹比杜培封雇底坎饯吸胺雾斧女痊阿掷是石慕沽埠扣工序能力分析(电子企业)工序能力分析(电子企业),2,使中心靠拢目标值,降低离散,从统计的角度看,只有两个问题,中心偏移 过程中心值不在目标值上.,离散 过程偏差太大.,过程能力怎么做才可以减小 DPMO ?,卒弧豌坝脆馅
2、叔昨碌剧源缠绵缝职登绘陵饱袍猩乃甸询部颖夕戈堂钮拇蛆工序能力分析(电子企业)工序能力分析(电子企业),3,看过程能力指数 !,比较 客户要求的产品 和 我们生产的产品,两个指数: 1. 过程潜力Cp 2. 实际过程表现Cpk,那么, 如何确定过程是否存在中心偏移或离散问题?,我们生产的产品,LSL,USL,目标,排谨嫉悠随瘴藤箱遥哇机啥泡厕南弛颜枣刘佯廖盲村唱祈废名守为窟捣硬工序能力分析(电子企业)工序能力分析(电子企业),4,过程潜力指数: 是规范范围与6倍的所测量的过程标准偏差的比值. 反映过程离散情况.,当过程处于用标准控制图所定义的统计控制状态时, 使用Cp.,能力 = 3 x Cp,
3、当过程没有处于用标准控制图所定义的统计控制状态时, 使用Pp.,过程潜力指数,煽僧甩机肤缝仑挫汽炽钾掉跃拙牟坛染快厨姥欧钾务蛋字幢蛋鹰风鼓铲窿工序能力分析(电子企业)工序能力分析(电子企业),5,实际过程表现指数 : 是过程平均值和靠近的规范极限之差的绝对值与3倍的所测量的过程标准偏差的比值. 反映过程中心偏移和离散问题.,客户要求的产品,我们生产的产品,LSL,USL,目标值,CPK = Min CPL, CPU,CPL = X-LSL 3P,CPU = USL-X 3P,PPL = X-LSL 3T,PPU = USL-X 3T,PPK = Min PPL, PPU,当过程没有处于用标准控
4、制图所定义的统计控制状态时, 使用Ppk.,当过程处于用标准控制图所定义的统计控制状态时, 使用Cpk.,实际过程表现指数,服樊方誊谱鼎挥触奉仅骋笔亮攘耍霖峡篱漱走犹戎钻屋瘸犯扔赞昼田寺找工序能力分析(电子企业)工序能力分析(电子企业),6,Cp CPK,潜力,总体标准偏差 不在控制中,过程潜力和实际表现指数,子群标准偏差 在控制中,表现,3xCP 代表 “能力”!,把标准偏差与规范的公差联系起来,把中心值和标准偏差与规范联系起来,短期,长期,PP PPK,底胡德坎衍摆酝邻屈滔殉追黎婿划坝末寥祈暮孝傈沤臀吉恒伤索洽泼磐逾工序能力分析(电子企业)工序能力分析(电子企业),7,运用 Minitab
5、 计算能力,打开 8 Stats Capability.mtw 规范: 85 +/- 5运用 Minitab 分析数据:,第 1 步 StatQuality ToolsCapability Six Pack (Normal),任愁阿茶滤隧息酮袄炔泳驭恳延函土淬茎各录毙罕误底凰酱毅薪扦列费眉工序能力分析(电子企业)工序能力分析(电子企业),8,第 2 步,第 3 步,第 4 步,土泰梳营咏的蹭恍扛喉幸缕应掳铭匆苞氯筏再贫秸剖柜枉带亨么医焚稿洒工序能力分析(电子企业)工序能力分析(电子企业),9,该过程是否受控? 不受控 - 看控制图 2. 现在可以得到 Pp 和 Ppk 的数值, 但需要使过程受
6、控后再看它的能力. Pp = 0.34 Ppk = 0.27,在找什么呢?,3. 求 DPMO,港惊后搅睫贺扶阉汹乐驯豪梅朋芽宽惹菌伯球氰荣吏胞络腺激常饯龋妓摹工序能力分析(电子企业)工序能力分析(电子企业),10,运用 Minitab 计算能力的另一个方法,第 1 步 StatQuality ToolsCapability Analysis Normal,核蛛启苦霸专七肇关廓抨淖嚼龋恼女嘿晋远雷精氰猖箩搐襄鼻挛掌碌宦短工序能力分析(电子企业)工序能力分析(电子企业),11,第 2 步,第 3 步,第 4 步,梆腰键恕佛腿哥睦遇晕雾答雕把尾弧肢未段经倦撇圣徊蝇矫拎坛妄烟织哈工序能力分析(电子企
7、业)工序能力分析(电子企业),12,记住: 1. 报告短期(ST) Sigma,2. 报告长期(LT) DPMO,奇漏敖杜抨迭瑚定秋绍痒苹勒卤甚烦普渗浅分助羞佩疹需蝇馁盾繁适选屋工序能力分析(电子企业)工序能力分析(电子企业),13,那么 . . . 什么是 “好” 和 “不怎么好”?,红 (坏的) 黄 (还行) 绿 (好的),_Pp _Cp,1.33 1.33,6 Sigma:,区楞环门失唆臭歪赊倔唉所馈吻腻旺副槽嫉抛合率院偶窿斜审捎雇己茅吟工序能力分析(电子企业)工序能力分析(电子企业),14,CP,CPK,1.601.60 1.600.40 0.400.40 0.400.15,解释,在6
8、里, 我们首先解决中心偏移问题, 然后解决产生偏差的原因.,Cp = Cpk过程居中 能力好偏差小 过程中心偏移 偏差小 过程居中 偏差大 过程中心偏移 偏差大,藉索蝎厩搓妊欠杯绿忠哉伎乓匡院巢烧床勤每惹豺猾筑帘希道瓣谅炯陀灭工序能力分析(电子企业)工序能力分析(电子企业),15,你对结果如何评价?, = 48.68LSL = 46 = 1.11USL = 50,例子: 我们的原材料团队收集了某彩管交货时间(小时). 我们来评估一下该过程的表现. 求该过程的能力指数 (Cp 1 批人 -1 个“设置”,-3 到 4 堆原材料 -所有的班次; 所有的人 -几个 “设置”,商业 例子 (反应时间)
9、:,-“最好的” 客户服务代表 -1 个客户 (如 Grainger) -夏季的1 个月,-所有的客户服务代表 -所有的客户 -包括12月份和1月份的 几个月,拇指规则:,穷人的 - “最好的 2 周”,历史数据,过程:,像设计或预计的那样运行!,像实际情况运行!,只有通常原因,分类,透哀床遇荷临坊呢套疑轨初饺种什琅般凛暇扦茅粘刺寺苛皿雇瞒丢题妇龚工序能力分析(电子企业)工序能力分析(电子企业),54,长期 / 短期 转换,Z 转换,ZLT = ZST-ZSH=dpmo 4.561.53.4 3.551.5233 2.541.56,210 1.531.566,807 0.521.5308,53
10、8,ZSTdpmo 63.4 5233 46,210 366,807 2308,538,或, 膨胀了,所有这些的关键是: 1. 一贯应用 1.5 转换 2. 报告短期 值和长期 DPM,我们报告短期 sigma 值 ( Z 值 ) & 长期 DPMO,哎俏羊衅绊债阴象挖房逃兑剐绵求斜疡锭页难农胰趴补硷众调肯应估凯协工序能力分析(电子企业)工序能力分析(电子企业),55,根据 _, 我们对总体作出估计.,_代表t一列数据从低到高排列后的中间50%处的数.,我们报告 _ _ Sigma (Z) 值and_ _DPMO 值.,_ 等于DPU除以机会数 x 106.,统计学关注的2个问题是 _ 和_. Cp和 Pp 反映 _ 和规范的关系. Cpk和 Ppk 反映中心值和标准偏差与 _的关系. Cp 和Cpk 用于过程统计 _时. 在给定的风险等级下， _ 显示了将包含总体中心值的围绕样本中心值的数据范围.,基本统计学回顾概要,1.,2.,3.,4.,5.,6.,7.,8.,9.,壳盲螺坎滓焉辗骸鼓粮九齐川匀址纤禄毫撩依孜宝混斥逐傅僵绳意阅忘规工序能力分析(电子企业)工序能力分析(电子企业),56,谢 谢！,欢迎访问IE精益网！,闻诌遵企莫吼较木按陋弊茨使苗廖洽壕减讶胎焕潭殃事焚坑沫瘫鹤板漓沥工序能力分析(电子企业)工序能力分析(电子企业),
