剩余电流动作保护装置CBR、CBAR、RCBO、继电器型保护装置出厂试验

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1、附录A(规范性附录)带电子过电流保护的CBR和CBAR的附加试验C.1 范围a)本附录适用于安装在交流电路中带有电子装置的过电流保护的CBR和CBAR,该电子装置与线路电压或任何辅助电源无关。b)保护装置性能试验验证在本附录规定的环境条件下进行。c)用于完成过电流保护以外功能的电子装置的特殊试验不包括在本附录中,然而应进行本附录的试验以保证这些电子装置不会损害过电流保护功能的特性。C.2 试验项目C.2.1 电磁兼容性(EMC)试验C.2.1.1 概述a)带电子过电流保护的CBR和CBAR,应按GB/T 14048.2-2008中表J.1和J.3的规定进行试验。b) 试后,CBAR还需按本标准

2、7.16.1中b)的规定验证自动重合闸功能。C.2.1.2 性能标准抗扰度试验的结果应按GB/T 14048.2-2008中J.2.1性能标准进行评价,并作如下规定:a) 性能标准A:1) 第一步:保护装置在0.9倍电流整定值时不应脱扣,同时监控功能(如有)应正确指示保护装置的状态。2) 第二步:当负载在2倍电流整定值时,保护装置应在试验委托方提供的时间-电流特性的0.9倍最小值到1.1倍最大值之内脱扣,同时监控功能(如有)应正确指示保护装置的状态。b) 性能标准B:在试验期间,保护装置在0.9倍电流整定值时不应脱扣。试后保护装置在2倍电流整定值时应与试验委托方提供的时间-电流特性一致,同时监

3、控功能(如果有时)应正确指示保护装置状态。C.2.2 干热试验a)试验按本标准C.7进行。b)试后,CBAR还需按本标准7.16.1中b)的规定验证自动重合闸功能。C.2.3 湿热试验a)试验按本标准C.8进行。b)试后,CBAR还需按本标准7.16.1中b)的规定验证自动重合闸功能。C.2.4 在规定变化率下的温度变化循环a)试验按本标准C.9进行。b)试后,CBAR还需按本标准7.16.1中b)的规定验证自动重合闸功能。C.3 一般试验条件C.3.1概述在EMC试验按GB/T 14048.2-2008中附录J执行,并增加本标准C.4和C.5规定的附加要求。1C.3.2 电磁兼容性试验a)对

4、于抗扰度试验(C.4),应对每个壳架等级、每种电流传感器结构形式的一台保护装置进行试验;绕组匝数的改变在本文中不视为不同的结构。b)电流整定值IR应调整到最小值。c)短延时和瞬时脱扣器的整定值(如适用)应调整到最小值,但不小于2.5倍IR。d)EMC试验应采用合适的试验电路进行,如下文规定,要考虑到缺相敏感特征。e)对于带电子过流保护的保护装置,无论按下列那种方法试验,可认为脱扣特性相同:1)多极保护装置的一个相极;2)二极或三极串联;3)按三极连接。注: 这可以将不同试验顺序所要求的不同相极组成所得到的试验结果作比较。f)对于保护装置。1)在本标准C.4.4、C.4.5和C.4.6情况下,试

5、验在多极保护装置的每两极上进行,以避免由剩余电流引起的误脱扣。2)在本标准C.4.1和C.4.7情况下,试验可在任何相极组合下进行,只要能避免剩余电流引起的误脱扣。C.4 抗扰度试验C.4.1 谐波电流C.4.1.1 概述a)本试验适合于电流传感器按有效值(r.m.s)采样的保护装置。b)在保护装置上用“有效值(或r.m.s)”标志指示,或者保护装置的技术文件中给出,或两者兼有。c)试品应在自由空气中试验,除非它指定仅用于一个专用的外壳中,在这种情况下,试品应在这样的外壳中试验。注: 试验电流可由基于使用晶闸管(见图C.1)、饱和铁心的电源、可编程供电的电源或其他适当的电源产生。C.4.1.2

6、 试验电流a)试验电流波形应采用下列两种方案之一。1)方案A:依次采用两种波形:由基波和三次谐波构成的波形,72基波分量三次谐波88基波分量,峰值系数2.00.2;由基波和五次谐波构成的波形,45基波分量五次谐波55基波分量,峰值系数1.90.2。2)方案B:由基波及三次、五次和七次谐波分量组成的波形,例如由二个反向并联连接的晶闸管产生(见图C.1)。对每个周期,试验电流由两个相等而极性相反的半波构成,规定如下:电流导通时间,对每半波为21周期;峰值系数:2.1。试验电流的谐波成分至少为基波分量的如下比例:三次谐波60;五次谐波14;七次谐波7;还可能出现高次谐波。注1:峰值系数是电流峰值除以

7、电流波有效值。有关公式见本标准图C.1。注2:试验电流0.9IR和2.0IR(见性能标准A)为合成波形的有效值。C.4.1.3 试验方法a)试验应按本标准7.13.1.3在任选的两个相极进行,按本标准图C.2接线,在任何方便的电压下承载试验电流。对具有缺相敏感性能的脱扣器,应按本标准图C.3或图C.4(如适用)接线。b)试验时所有的辅助装置应断开。c)验证误脱扣抗扰度(在0.9倍电流整定值)的持续时间应为相应于2倍电流整定值的脱扣时间的10倍。C.4.1.4 试验结果按本标准C.2.1.2的性能标准A执行。C.4.2 静电放电按GB/T 14048.2-2008中附录J.2.2执行,并补充以下

8、:a)试验装置应符合本标准图C.16和J.3。b)试验电路应按本标准图C.2,对具有缺相敏感性能的脱扣器,试验电路应按本标准图C.3或C.4(如适用)。只要至金属外壳的距离保持0.1m,误差0+10%,本标准图C.2、C.3和C.4中的母排布置可不同。c) 按本标准C.2.1.2的性能标准B执行。C.4.3 射频电磁场辐射按GB/T 14048.2-2008中附录J.2.3执行,并补充以下:a)试验装置应符合本标准图C.16和C.17,试验电路应符合本标准图C.2。对具有缺相敏感性能的脱扣器,试验电路应按本标准图C.3或C.4(如适用)。b)本标准C.2.1.2的性能标准A适用。C.4.4 电

9、快速瞬变/脉冲群(EFT/B)按GB/T 14048.2-2008中附录J.2.4执行,并补充以下:a)试验装置对试验电源线应符合本标准图C.16和图C.18,对试验信号线应符合本标准图C.16和图C.19。b)对交流主电路端口,干扰应施加于任选的一相极,试品按本标准图C.6从其他两相极供电。对具有缺相敏感性能的脱扣器,按本标准图C.7所示三相极串联后进行试验或按本标准图C.8所示三相接法任选一相进行试验。c)按本标准C.2.1.2的性能标准A执行。在试验期间监控功能可暂时改变(如不希望的LED点亮),在该情况下,试后应验证监控功能。对第二步,干扰应一直施加到保护装置脱扣。C.4.5 浪涌按G

10、B/T 14048.2-2008中附录J.2.5执行,并补充以下:a)对交流主电路端口,干扰应施加于任选的一相极,试品从其他两相极供电,试验电路按本标准图C.9(线地)和图C.12(线线)。对具有缺相敏感性能的脱扣器,试验按本标准图C.10(线地)和图C.13(线线)三相极串联或按本标准图C.11(线地)和图C.14(线线)三相接法的任选一相极进行。b) 本标准C.2.1.2性能标准B适用。C.4.6 射频场感应的传导骚扰(共模)按GB/T 14048.2-2008中附录J.2.6执行,并补充以下:a)试验装置应符合本标准图C.16、图C.20的要求。对电源线试验应符合本标准图21、图C.22

11、或图C.23的要求,对信号线试验应符合本标准图C.16的要求。b)对交流主电路端口,干扰应施加于任一相极,保护装置从其他两相极供电,试验电路按本标准图C.2的要求。对具有缺相敏感性能的脱扣器,试验电路应按本标准图C.3或C.4(如适用)执行。3c)本标准C.2.1.2的性能标准A适用。C.4.7 电流暂降C.4.7.1 试验方法a)试品应在自由空气中试验,若有专用的单独外壳的保护装置,在该外壳中试验。b)试验电路应符合本标准图C.2的要求,任选两个相极进行,对具有缺相敏感性能的脱扣器,试验电路应符合本标准图C.3或C.4(如适用)的要求。c)应在任何方便的电压下用正弦电流进行试验,电流的施加应

12、符合本标准图C.5和表C.1的要求,其中IR是整定电流,ID是暂降试验电流,T为正弦电流的周期。d)每次试验时间应在相应于2倍电流整定值的最大脱扣时间的3倍和4倍之间或10min,取较小者。表 C.1 电流暂降和中断试验参数试验编号IDt1234500.5 T1 T5 T25 T50 T6780.4IR10 T25 T50 T910110.7IR10T25 T50 TC.4.7.2试验结果按本标准C.2.1.2的性能标准B执行,试后不需验证。C.5 发射试验C.5.1 谐波电子控制器电路在极低功率下工作,产生的干扰可忽略,因此不需要试验。C.5.2 电压波动电子控制器电路在极低功率下工作,产生

13、的干扰可忽略,因此不需要试验。C.5.3 传导射频骚扰(150 kHz30 MHz)本附录所涉及的保护装置与电源电压或任何辅助电源无关,电子电路与电源无直接连接,并在极低功率下工作,产生的干扰可忽略,因此不需要试验。C.5.4 辐射射频骚扰(30 MHz1 GHz)按GB/T 14048.2-2008中附录J.3.3执行,并补充以下:a)试验电路按本标准图C.2的要求,对具有缺相敏感性能的脱扣器,试验电路应按本标准图C.3或图C.4(如适用)的要求。b)所有其他辅助装置在试验时应断开。c)按GB/T 14048.2-2008中表J.3的极限值执行。C.6 干热试验C.6.1 试验方法本试验可根

14、据实际情况采用以下任意一种方法进行:a)方法一:应在40的周围温度下,按本标准7.26.2.1在给定壳架等级最大额定电流的保护装置的所有相极上进行试验,试验持续时间应为达到温度稳定后的168h。b)方法二:1)在GB/T 14048.2-2008中试验程序的温升验证时,测量和记录电子元件周围空气的最高温升;2)将电子控制器安装于试验小室中;3)施加电子控制器的输入激励电压;4)调整试验小室的温度至记录的电子元件周围空气温升再增加40K,并维持此温度至168h。c) 施加于端子的拧紧力矩应符合试验委托方提供的说明书。如无此说明,按GB/T 14048.1-2012中表4执行。C.6.2 试验结果

15、保护装置和电子控制器应符合以下要求:a)保护装置不应发生脱扣;b)不应发生可能引起保护装置脱扣的电子控制器动作。C.6.3 验证过载脱扣器继本标准C.6.1试验后,保护装置的过载脱扣器的动作应按本标准7.13.1.3的规定验证。C.7 湿热试验C.7.1 试验方法a) 试验按GB/T 2423.4-2008进行。b) 温度上限为552(方法1),循环数为6。c) 本试验也可以仅将电子控制器单独放在试验小室中进行试验。C.7.2 验证过载脱扣器继本标准C.7.1试验后,按本标准7.13.1.3的规定验证保护装置过载脱扣器的动作。C.8 在规定变化率下的温度变化循环C.8.1 试验条件a) 每种结构的电子控制器应承受符合本标准图C.15的温度变化循环。b) 在温度变化时温度上升和下降速率应为1

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