(新)提升极耳偏心距Cpk教学文稿

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1、,6-Sigma BB Project,提升极耳偏心距Cpk,实施单位:工程部 实施时间:2005年 04月2005年8月,2,6项目立项注册表,2. 基线与目标,1. 基本信息,3.效果预算,4.日程计划,5.现状描述:现工艺条件下生产电芯极耳偏心距cpk0.66, 不能满足高端客户要求, 公司产品长期处于中低端市场。 6.项目范围:常规叠片式电芯(PL-3450、PL-3455)-叠片、极耳定位、点焊极耳、包装热封。 7.效果及影响:极耳偏心距Cpk提高到1.2,达到高端客户要求规格。,3,项目背景,提升极耳偏心距Cpk,提高客户满意度, 增强TCL电池品牌魅力,为攻克高端客户 打下有力基

2、础,2、无形效果:,1、 以下是04年11月至05年4月极耳偏心距Cpk(数据来源于品质部SPC系统PL-3455、PL-3450型号)。,现阶段极耳偏心距过程能力远远不足,维持在较低水平波动,根本满足不了高端客户的要求;极耳偏心距过程能力提高已成为开发高端客户瓶颈! 检测方法注:各型号极耳偏心距按2h/次频度抽检(每个抽检样正、负极取偏心距最大者输入SPC系统控)。,4,y的定义,CTQ:极耳偏心距,可操作的y: y=f(x),x为极耳偏心距: 极耳中心线相对电芯中心线的距离与其理论值的差值,e,极耳中心线,电芯中心线,W1,W2,偏心距1=W1-W或偏心距2=W2-W,w为工艺标准理论值,

3、缺陷定义:,极耳中心线相对电芯中心线的距离与其理论值的差值超出规格线(-1,1),A,M,I,D,C,6,VOC/CTQ分析,A,M,I,C,D,极耳偏心距 过程能力很低,正、负极耳 偏心距,正、负极耳 偏心距 过程能力,偏心距 规格线(-1,1),达到质量水平 3.6sigma,Cpk达到1.2,提升竞争力,VOC,VOB,正、负极耳 偏心距,CTQ,7,变量分析(鱼骨图),极耳偏心距不合格,Personnel,Measurements,Materical,Methods,Machines,工作经验,操作手法,疲劳度,电芯厚度不一,金属带宽度不一致,工作经验,铝金属带刚度不够,心情,作业顺序

4、不合适,贴胶纸手法不统一,热封时无扶正极耳规定,叠片夹具尺寸不合适,点焊机焊头、焊座平整度,点焊机焊头与焊座间平行度,点焊压力,热封机硅胶板硬度,热封模具平整度,热封模具间平行度,热封压力,Environment,8,FMEA分析,筛选出6个主要因子:极耳 定位方法/自检、点焊方法/自检、 压焊趾方法、一次热封前自检,9,数据收集计划,10,Gage R&R,测量分析方法: 1、PQC实验室一,使用精密影像测量仪(仅一台),编号:TS-QT-0035 2、三名操作员,从生产线抽取10只电芯,每人测量2次(盲测),11,Study Var %Study Var %Tolerance Source

5、 StdDev (SD) (6 * SD) (%SV) (SV/Toler) Total Gage R&R 0.050883 0.30530 12.96 15.26 Repeatability 0.050883 0.30530 12.96 15.26 Reproducibility 0.000000 0.00000 0.00 0.00 opertaor 0.000000 0.00000 0.00 0.00 Part-To-Part 0.389364 2.33618 99.16 116.81 Total Variation 0.392674 2.35605 100.00 117.80 Numbe

6、r of Distinct Categories = 10,SV/Proc即%R/T为15.2620%,%SV即%R&R为 12.964,Gage R&R(正极耳),12,Study Var %Study Var %Tolerance Source StdDev (SD) (6 * SD) (%SV) (SV/Toler) Total Gage R&R 0.050092 0.30055 15.63 15.03 Repeatability 0.040478 0.24287 12.63 12.14 Reproducibility 0.029508 0.17705 9.21 8.85 opertao

7、r 0.021496 0.12898 6.71 6.45 opertaor*part 0.020216 0.12129 6.31 6.06 Part-To-Part 0.316604 1.89962 98.77 94.98 Total Variation 0.320542 1.92325 100.00 96.16 Number of Distinct Categories = 8,Gage R&R(负极耳),%SV即%R&R为 15.6320%,SV/Proc即%R/T为15.034,该测量系统具有很好的重复性与再现性,完全可以信赖!,13,数据展示-流程能力分析,1、正极耳偏心距过程能力,因

8、PQC数据录入更改(正负极耳分开输入SPC测量及抽检方法不变)只统计5月16日后的现状:,14,数据展示-流程能力分析,2、负极耳偏心距过程能力,结论:长短期过程能力相差不大,维持在很低水平波动,现工艺水平已无法再提高!,15,焦点问题陈述,测量阶段总结,极耳偏心距主要从极耳定位方法、点焊方法等6个因素入手,利用科学分析工具重点深入研究。,统计分析 找出根源 持续改进,16,A,M,I,C,D,数据门 /流程门分析,概要性描述!,17,A,M,I,C,D,潜在X or原因(列表or鱼骨图),概要性描述!,18,A,M,I,C,D,根本原因分析,概要性描述!,散点图or 假设检验or 回归分析o

9、r DOE or 其他,19,A,M,I,C,D,分析阶段总结,概要性描述!,根本原因列表,20,A,M,I,C,D,针对根本原因的潜在解决方案及优选,概要性描述!,21,A,M,I,C,D,解决方案的风险分析,概要性描述!,22,A,M,I,C,D,改进方案的实施计划,概要性描述!,23,A,M,I,C,D,试运行及效果验证,概要性描述!,24,A,M,I,C,D,控制计划,概要性描述!,-文件列表 -响应计划(见下2页表) -等等,25,A,M,I,C,D,响应计划(用于产品改进),26,A,M,I,C,D,响应计划(用于流程改进),27,A,M,I,C,D,对 CTQs or 关键 Xs 的控制图,概要性描述!,28,A,M,I,C,D,流程能力改进前后的对比,概要性描述!,29,A,M,I,C,D,总结,概要性描述!,-项目收益或效果 -交流与推广,

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