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1、 SAT与旭东AOI设备对比说明 Agenda 模组驱动电路实装检查机 旭东设备整体概况 AOI检查机构示意图 AOI检查实物图 AOI设备检查项目及机构说明 AOI检测主要分为两部分 光学部分 影像处理部分 工作原理 光线从物镜射入 经过各组棱镜处理后到达CCD 被其感光传感器检知后 CCD将光信号转换为电信号传输至影像处理系统 CCD机构图 旭东设备检查原理 导电粒子 正常受压Cellpad上的导电粒子 导电粒子灰阶判断原理 镜头将影像传递到CCD后 分部在不同位置的感光元器件感应到不同的光强度 将最暗与最亮的光感强度分为256灰阶 不同的光感应强度对应不同的灰阶 则导电粒子受压正常则显示
2、明显 此区域与周围的背景灰阶差异较大 如果导电粒子受压不足或者被压碎 则对应区域导电粒子不明显 与背景灰阶相差不大灰阶差异越大 说明导电粒子越明显 所以可以定义灰阶差异大的 代表此区域有导电粒子 旭东设备检查原理 偏移检查 同时将CCD的视野 X与Y方向分为256等份 不同区域分配不同的位置坐标 通过换算可以得到导电粒子在CellPad的相应位置 根据导电粒子的集中分布 换算出X Y的偏移量 Y X 2020 4 21 亮度Level差异小 3次元解析结果使亮度Level差异 发生大的变化 通过原映像Imageprocessing来使亮度Level发生变化 原映像 ImageProcessin
3、g映像 映像处理后在上面图片中白色区域的大小转化为高低差异 就检出压痕 SAT设备检查原理 导电粒子 2020 4 21 原映像 检查结果 黄色区域 压痕检查对象区域 指定的检查区域 蓝色区域 以检查对象原理作为参考 检出Bump位置 压痕检查是在蓝色区域内进行 SAT设备检查原理 导电粒子 2020 4 21 在3次元检析结果的基础上 以导电粒子分部状况和标准mark 找出bump和Cellpad的中心值 然后计算偏移量ShiftX dx ShiftY dy SAT设备检查原理 偏移检查 2020 4 21 旭东与SAT设备的差异 2020 4 21 旭东与SAT设备的差异 S1 S2 S3 S4 G1 G2 S1 S2 S3 S4 G1 G2 Thanks
