集成电路 电磁抗扰度测量 IC带状线的描述

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1、GB T XXXXX 8 XXXX IEC 62132 8 2012 9 BB 附录B 规范性附录 IC 带状线的描述 B 1IC带状线 IC带状线提供了一种宽带测量方法 用于测量DUT对IC带状线内产生的场的抗扰度或DUT放置在IC 带状线内产生的辐射发射 它消除了使用传统天线时固有的带宽 非线性相位 方向性和极化的测量限 制 IC带状线是一种传输TEM波的特殊传输线 TEM波的特点是电场 E 和磁场 H 场横向正交 其垂 直于沿着IC带状线或传输线长度的传播方向 这种场模拟自由空间中产生的平面场 其波阻抗为377 TEM模没有低的截止频率 这使IC带状线可以在尽可能低的频率下使用 TEM模

2、也具有作为频率函数的线 性相位和恒定幅值响应 这使得可以使用IC带状线以规定的方式产生或检测场强 IC带状线的上限可用 频率受到IC带状线内产生的谐振和多模引起的试验信号失真的限制 这些效应是IC带状线物理尺寸和形 状的函数 IC带状线具有一定的尺寸和形状 在IC带状线的输入和输出馈电点处使用匹配阻抗 在其额定频率 以下 这可将VSWR限制在1 25以下 原则上有两种形式的IC带状线 开放式和封闭式 开放式IC带状线 使用常见的带状线配置 图B 1 封闭式IC带状线则增加了一个屏蔽壳体 图B 2 对于封闭式IC 带状线 为了获得与具有相同高度有效导体的开放式IC带状线相同的特性阻抗 封闭式IC

3、带状线需要减 小宽度以保持50 特性阻抗 修正的宽度值取决于外壳的形状 对于这两种形式的IC带状线 只要能保 持50 的特性阻抗 电场强度条件可通过公式A 2计算 需要时可按附录C所述进行修正 IC带状线的有效导体在每一端都是锥形 以适应传统的50 同轴连接器 所要求的EMC试验板基于 IEC 62132 1 2006规定的TEM小室所用的试验板 第一个谐振表现为窄带频率范围内大的VSWR 验证IC 带状线能产生场强的最高频率 该频率也为IC带状线辐射发射测量的上限频率 图B 1 开放式IC带状线横截面视图的示例 RF 连接器 DUT IC 带状线的有效导体EMC 试验板 RF 连接器 IC

4、带状线的外壳 IC 带状线的有效导体EMC 试验板 GB T XXXXX 8 XXXX IEC 62132 8 2012 10 图B 2 封闭式IC带状线横截面视图的示例 IC带状线尺寸限制了DUT的最大可用尺寸 根据GB T 17626 20 2014 推荐DUT的封装高度与IC带状 线高度的比值为三分之一 但不得超过二分之一 在x y坐标尺寸中 封装不得超过有效导体宽度的10 注 在有效导体高度的一半处 DUT的封装尺寸超过有效导体宽度的10 时 具有DUT的IC带状线布置的三位场仿真 表明在有效导体边缘外的DUT处仍存在均匀场 不超过 0dB并且不低于 3dB 4 作为示例 表B 1和B

5、 2给出了6 7mmIC带状线的限制值 表B 1 6 7mm IC带状线的最大DUT尺寸 开放式 有效导体6 7mm 开放式IC带状线 DUT z尺寸 高度 6 7mm 3 35mm x y尺寸 宽度 33mm 36 3mm 表B 2 6 7mm IC带状线的最大DUT尺寸 封闭式 有效导体6 7mm 封闭式IC带状线 DUT z尺寸 高度 6 7mm 3 35mm x y尺寸 宽度 24mm 26 4mm B 2IC带状线的结构示例 图B 3给出了具有外壳的IC带状线的示例 外壳的x y尺寸由所用的EMC试验板 IEC 62132 1 2006 100 mm 100 mm 确定 外壳在z方向上需尽可能地远离有效导体 但在所关注的频率范围内需避免谐 振和多模 图B 3 具有外壳的IC带状线示例 EMC 试验板 IC 带状线 50 端口 RF 连接器 可选的外壳

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