偏光显微镜与单偏光系统及实验讲解

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1、第二章 偏光显微镜 一. 偏光显微镜的构成 机械系统. 光学系统. 附件 (一). 机械系统主要部件 (1). 镜座与镜臂: 支撑显微镜及连接光源,物台,镜筒 . (2). 镜筒: 连接目镜和物镜的部件. (3). 物镜转换器: 用于安装,选择不同倍数的物镜. (4). 载物台: 放置薄片用的可3600转动的圆形平台 (5). 焦准设备(升降系统): 分粗调和微调.调节焦距. (6). 聚光镜架:连接聚光镜,下偏光镜,上锁光圈等的部件 (7). 上,下锁光圈: 控制光的通过量. 一. 偏光显微镜的构成 (二). 光学系统主要部件 (1). 光源: 分为自然光源和人工光源. (2). 下偏光镜:

2、 在聚光镜架底部,作用是把自然光转变为偏光. (3). 聚光镜:在聚光镜架上部. 作用是把偏光转变为锥光. (4). 物镜: 由多组透镜组成,连接在物镜转换器上,是决定放大 倍 数及成像质量的重要部件.按放大倍数分为三类: 高倍镜 40 100 中倍镜 10 20 低倍镜 2.5 4 有关术语:前透镜,后透镜,孔径角,数值孔径 一. 偏光显微镜的构成 (二). 光学系统主要部件 (5). 目镜:由眼透镜和场透镜组成.目镜中附有十字丝.倍数 有10 和8 两种. (6). 上偏光镜: 位于目镜和物镜之间.振动方向与下偏光镜 振动方向垂直.可自由的推入或拉出. (7). 勃氏镜:位于目镜和上偏光镜

3、之间,可自由的推入或出, 与聚光镜和高被镜配合使用. (三). 附件 必备附件:石膏试板(), 云母试板(/4),石英楔(1-3级) 二.偏光显微镜的调节与校正 (1). 选择并装配物镜和目镜. (2). 焦准. (3). 物镜中心的校正. (4).下偏光镜的检查. (5).上偏光镜的检查 三.偏光显微镜的养护(P40) 第二章 偏光显微镜 第三章 单偏光系统下 晶体的光学性质 单偏光系统 在只使用下偏光镜(起偏镜) 的情况下,观察和测定矿物 的光学性质的系统. 单偏光系统光波通过晶体的光路图 第三章 单偏光系统下 晶体的光学性质 主要内容 1.矿物的外表特征: 形态,解理等. 2.与矿物吸收

4、性有关的光学性质: (颜色,多色性,吸收性等) 3.与矿物折射率有关的光学性质: 突起, 闪突起, 糙面, 边缘, 贝克线, 色散线等 一. 矿物的形态 (1).控制因素: 矿物成分,内部结构,物化条件,晶出顺序. (2).观察内容: a.矿物自形程度:自形晶,半自形晶,它形晶. b.矿物单体形态:粒状,针状,板(条)状, 柱状,片状 . c.矿物集合体形态:纤维状,放射状,球粒状, 网状,交生状,雏晶状. 第三章 单偏光系统下晶体的光学 性质 (3).观察方法 综合不同切面特征,正确判断矿物的单体形态. 同一单体不同切面形态示意图 一.矿物的形态 第三章 单偏光系统下晶体的光学性质 二. 解

5、理及解理夹角 不同矿物的解理特征(包括解理组数,完善程度,解理夹 角等)通常不同,因此解理是鉴定矿物的重要依据之一. (一) .解理在薄片中的表现形式 沿一定的方向平行排列的细缝(解理缝).缝中为树胶所 充填,因矿物的折射率与树胶不同而使解理缝得以显现 . (二) .解理等级的划分 (1).极完全解理:解理缝细而密集,贯穿整个晶体. (2).完全解理:解理缝清楚,缝较稀,不完全贯穿晶体. (3).不完全解理:解理缝宽而稀疏,不清楚,断续通过晶体. 注意解理与矿物裂纹的区别 二. 解理及解理夹角 (三). 影响解理缝清晰程度的因素 (1).矿物解理的完善程度. (2).切片的方向. (3).矿物

6、折射率和加拿大 树胶折射率差值. 该差值决定了解理缝 的可见临界角 判断解理等级和组数时,注意综合观察多种切片. a b a 解理缝宽度与切片方向变化示意图 二. 解理及解理夹角 (四).解理夹角的测定 1. 切片方向的选择 选择同时垂直两组解理面的 切片. 特征是两组解理缝最细最清 楚, 当解理缝平行目镜十字 丝时, 微微升降镜筒, 两组解 理缝不左右移动. A C BD E H F G K =60 60 60 不同方向解理夹角变化示意图 2. 解理夹角的测定步骤 (1)选择颗粒,置于视域心. (2)转动物台使一组解理缝平行目镜十字丝纵丝 (图A),读取此时载物台刻度盘上的度数a. (3)再

7、转动物台,使另一组解理缝平行目镜十字 丝纵丝,读取此时载物台刻度盘上的度数b (图B), a与b之差即为所测解理夹角. (四).解理夹角的测定 图A图B (一). 颜色: 指在单偏光镜下,白光透过晶体后所呈现出 来的颜色.矿物的颜色是晶体矿物对不同色 光选择性吸收的结果,是未被晶体吸收的部 分色光的混合色(服从互补色原则). 第三章 单偏光系统下晶体的光学性质 三. 薄片中矿物的颜色,多 色性和吸收性 注意:薄片中的颜色与手标本颜色的区别 v 与矿物吸收性有关的光学性质 三.颜色,多色性和吸收性 (二) 多色性和吸收性 现象:在单偏光镜下,某些非均质体矿物的颜色随物台 转动而发生变化,这种现象

8、称为多色性.颜色深浅的变 化成为吸收性,它门同样是鉴定矿物的重要特征. 成因:非均质体矿物非垂直光轴切片,各方向的光学性 质不同,对光波的选择性吸收及吸收总强度也随方向 而变化.只是多数非均质体矿物这种变化不明显而已. 表达方式:(多色性公式 A 和吸收性公式 B ) A: Ne= 浅紫色 No=深蓝色; Ng= Nm= Np= B: Ne No(正吸收)或 Ng Nm Np(反吸收)等. 影响因素:矿物本身性质,切片方向,薄片厚度。 No Ne PP No Ne PP No Ne PP PP Ne No No PP No Ne Ne PP Ne No NoNe 多色性公式:, Ne = 浅紫

9、色, No = 深蓝色; 吸收性公式: No Ne 电气石平行Z轴切面的多色性和吸收性示意图 A: Ne平行PPB: No平行PP C: Ne,No斜交PP 四. 与矿物折射率有关的光学性质 边缘,贝克线,糙面,突起,闪突起 表现形式: 在薄片中观察矿物时,不同矿物的表面有高 低不平 的感觉,这种现象称为突起. 第三章 单偏光系统下晶体的光学性质 (一)突起 产生原因: 不同矿物的折射率与树胶的折射率的差 值不同, 像点的位置就会高低不一样(P63). 突起等级分类:矿物的折射率大于树胶的折射率时,称 为正突起; 矿物的折射率小于树胶的折射率时,称为 正突起. 具体划分为六个等级(见表3-1)

10、 突起等级折射率糙面及边缘特征实例 负高突起 1.48 糙面及边缘显著,提升 镜筒,贝克线移向树胶. 萤石 负低突起1.48-1.54 表面光滑, 边缘不清楚, 提升镜筒, 贝克线移向 树胶. 正长石 正低突起1.541.60 表面光滑, 边缘不清楚, 提升镜筒, 贝克线移向 矿物. 石英 正中突起1.601.66 表面略显粗糙, 边缘清楚显著. 透闪石 正高突起1.661.78 糙面显著,边缘宽而明 显. 辉石 极高突起 1.78 糙面极其显著,边缘很 宽 石榴石 突起等级分类及简要特征表3-1 (二).闪突起 在单偏光镜下, 旋转物台, 双折射率很大的矿片, 突起高低会 发生明显的变化.这

11、种现象称闪突起. 四. 与矿物折射率有关的光学性质 (三).贝克线和边缘 折射率不同的矿物接触时,由于光的折射和反射作用,使其接触 处的光线聚散不一.光线集中的一侧产生一条亮线,称贝克线( 光带);光线缺少的一侧产生一条黑暗的轮廓,称边缘. 应用:判断相邻两个矿物的折射率大小 (突起高低)(图示说明) (四).糙面 矿物表面的光滑程度不同,有些矿物的表面显得较为粗糙,这种 现象称糙面. Nn F1 F2 F1 F2 F3 F3 F1 F2 F1 F2 F3 F3 N n F1 F2 F1 F2 F3 F3 N nNn F1 F2 F1 F2 F3 F3 1234 1 324 贝壳线的成因及贝壳线的移动规律

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