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1、ConfidentialReport no.: Dec.21, 2000 Page:1LLCRLLCR 測試原理測試原理Upright GaoConfidentialReport no.: Dec.21, 2000 Page:2LLCRContent 1.LLCR 定義定義2.測試原理測試原理3.失效模式失效模式 ConfidentialReport no.: Dec.21, 2000 Page:3LLCRLLCR定義定義 CR : Contact Resister 測試條件一般使用測試條件一般使用 DC5V 1A or 0.1ALLCR : Low Level Contact Resiste
2、r 測試條件測試條件 DC20mV 0.1A以下以下ConfidentialReport no.: Dec.21, 2000 Page:4LLCR使用使用LLCR測試之測試之原因原因 1.任何金屬表面可能有任何金屬表面可能有 a.灰塵灰塵 b.氧化物氧化物 c.油污油污 等等 雜質雜質 , 當兩金屬表面接觸後該介質會影響電流之流當兩金屬表面接觸後該介質會影響電流之流 通通 , 一般稱之為接觸電阻一般稱之為接觸電阻 .2. 為確保為確保 Connector 在在任何環境及使用條件皆可任何環境及使用條件皆可導通故以低電壓導通故以低電壓 ( 20mV 以下以下 ) 低電流低電流 (0.1A以下以下
3、)測試測試接觸電阻接觸電阻 , 稱之稱之 LLCR ( 因以太大之電壓、電因以太大之電壓、電流測試時流測試時 , 火花會將該層介質打穿火花會將該層介質打穿 )ConfidentialReport no.: Dec.21, 2000 Page:5LLCR測試原理測試原理 利用利用 V = I x R R = V / IIV定電流定電流+-RI以以 4 線式量測線式量測ConfidentialReport no.: Dec.21, 2000 Page:6LLCR探針探針端子端子接觸點接觸點測試原理測試原理 以以 4 線式量測線式量測接線接線ConfidentialReport no.: Dec.2
4、1, 2000 Page:7LLCR探針電阻探針電阻LLCR探針電阻探針電阻端子材料電阻端子材料電阻Rp1Rp2Rp3Rp4RCR測試原理測試原理 ConfidentialReport no.: Dec.21, 2000 Page:8LLCRRp1Rp2Rp3Rp4RCRI1IVmVCR = I1 x RCR VCR =VRP2 + VRM + VRP4I2內阻Rm=106歐姆Rm測試原理測試原理 ConfidentialReport no.: Dec.21, 2000 Page:9LLCRVCR =VRP2 + VRM + VRP4VRM =VCR - VRP2 - VRP4因為因為 RM
5、= 10 6 10 7 歐姆歐姆 RP2 , PR4 RP2 & PR4 I1 I I2 0所以所以 VRM VCR 量測值量測值 R = VRM / I測試原理測試原理 ConfidentialReport no.: Dec.21, 2000 Page:10LLCR失效模式失效模式 A VCR =VRP2 + VRM + VRP4VRM =VCR - VRP2 - VRP4如果如果 RP2 , PR4 100k 歐姆歐姆VRM VCR探針或接頭老舊探針或接頭老舊ConfidentialReport no.: Dec.21, 2000 Page:11LLCR失效模式失效模式 B 探針探針端子端
6、子接觸點接觸點一根探針接兩條測試線一根探針接兩條測試線接線接線ConfidentialReport no.: Dec.21, 2000 Page:12LLCR失效模式失效模式 B 探針電阻探針電阻LLCR探針電阻探針電阻端子材料電阻端子材料電阻Rp1Rp3RCRConfidentialReport no.: Dec.21, 2000 Page:13LLCR失效模式失效模式 B Rp1Rp3RCRVI內阻Rm=106歐姆RmI1I2I3ConfidentialReport no.: Dec.21, 2000 Page:14LLCR失效模式失效模式 B 因為 RM (RP1 + RCR + RP3 ) 所以所以 I3 0 I2 = I1V = I x ( RP1 + RCR + RP3 )R = V / I = RP1 + RCR + RP3量測值量測值 R RCR
