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1、表面粗糙度的测量表面粗糙度的测量第一节表面粗糙度的评定参数第一节表面粗糙度的评定参数 主要内容：主要内容： 1 1、主要术语及定义、主要术语及定义 取样长度取样长度L L 评定长度评定长度L L 轮廓中线轮廓中线m m 2 2、6 6个评定参数个评定参数 3 3个基本、个基本、3 3个附加个附加 3 3、一般规定、一般规定重点：重点： 3 3个基本评定参数个基本评定参数一主要术语及定义一主要术语及定义1 1实际轮廓：实际轮廓：平面与实际表面相交所得的轮廓线。平面与实际表面相交所得的轮廓线。按照相截方向的不同，它又可分为按照相截方向的不同，它又可分为横向横向实际轮廓和实际轮廓和纵向纵向实实际轮廓
2、。在评定或测量表面粗糙度时，除非特别指明，际轮廓。在评定或测量表面粗糙度时，除非特别指明，通通常均指横向实际轮廓常均指横向实际轮廓，即与加工纹理方向垂直的截面上的，即与加工纹理方向垂直的截面上的轮廓。轮廓。横向实际轮廓图横向实际轮廓图实际轮廓图实际轮廓图2 2取样长度取样长度l：用于判别和测量表面粗糙度时所规定的一段基用于判别和测量表面粗糙度时所规定的一段基准线长度。准线长度。v量取方向：量取方向：它在轮廓总的走向上。它在轮廓总的走向上。v目的：目的：限制和削弱表面波度对表面粗糙度测量结果的影响。限制和削弱表面波度对表面粗糙度测量结果的影响。 ( (几何滤波几何滤波) )v选择原则：选择原则：
3、 5 5 l p /3p /3v常用的取样长度见表常用的取样长度见表4-14-1。3 3评定长度评定长度L L ：评定轮廓所必须的一段长度，它包括一个或数个取样长评定轮廓所必须的一段长度，它包括一个或数个取样长度。度。v目的：目的： 为充分合理地反映某一表面的粗糙度特征。为充分合理地反映某一表面的粗糙度特征。（加工表面有着不同程度的不均匀性）。（加工表面有着不同程度的不均匀性）。v选择原则：选择原则：一般按五个取样长度来确定。一般按五个取样长度来确定。4 4轮廓中线轮廓中线m m：是评定表面粗糙度数值的是评定表面粗糙度数值的基准线基准线。具有几。具有几何轮廓形状与被测表面几何形状一致，并将被测
4、轮廓加何轮廓形状与被测表面几何形状一致，并将被测轮廓加以划分的线。类型有：以划分的线。类型有：v（1 1）最小二乘中线：）最小二乘中线：使轮廓上各点的使轮廓上各点的轮廓偏转距轮廓偏转距y y（在测量方向上轮廓上（在测量方向上轮廓上的点至基准线的距离）的平方和为最小的基准线。的点至基准线的距离）的平方和为最小的基准线。v（）算术平均中线：（）算术平均中线：在取样长度范围内，划分实际轮廓为上、下两部分，在取样长度范围内，划分实际轮廓为上、下两部分，且使上下两部分面积相等的线。且使上下两部分面积相等的线。轮廓的算术平均中线轮廓的算术平均中线 二、评定参数及数值：二、评定参数及数值：v对评定参数的基本
5、要求：对评定参数的基本要求：（1 1）正确、充分反映表面微观几何形状特征；）正确、充分反映表面微观几何形状特征；（2 2）具有定量的结果；）具有定量的结果；（3 3）测量方便。）测量方便。v国标从水平和高度两方向各规定了三个评定参数：三个基本国标从水平和高度两方向各规定了三个评定参数：三个基本参数（水平），三个附加的评定参数（高度）参数（水平），三个附加的评定参数（高度）图图4-3 表面粗糙度的高度参数表面粗糙度的高度参数1 1、轮廓算术平均偏差、轮廓算术平均偏差RaRa 在取样长度在取样长度L L内，轮廓偏距绝对值的算术平均值。内，轮廓偏距绝对值的算术平均值。用公式表示为：用公式表示为： =
6、2 2微观不平度十点高度微观不平度十点高度 v在取样长度内五个最大的轮廓峰高的平均值与五个最大的轮在取样长度内五个最大的轮廓峰高的平均值与五个最大的轮廓谷深的平均值之和，如图廓谷深的平均值之和，如图4-34-3所示。用公式表示为：所示。用公式表示为：v在取样长度内，也可从平行于轮廓中线在取样长度内，也可从平行于轮廓中线m m的任意一根线算起，的任意一根线算起，计算被测轮廓的五个最高点（峰）到五个最低点（谷）之间计算被测轮廓的五个最高点（峰）到五个最低点（谷）之间的平均距离的平均距离 3 3轮廓最大高度轮廓最大高度v 在取样长度内，轮廓峰顶线和轮廓谷底线之间的距离在取样长度内，轮廓峰顶线和轮廓谷
7、底线之间的距离（图（图4-34-3）。）。图图4-4表面粗糙度的水平参数表面粗糙度的水平参数表面粗糙度的三个水平参数：表面粗糙度的三个水平参数： 轮廓微观不平度的平均间距轮廓微观不平度的平均间距Sm 轮廓单峰平均间距轮廓单峰平均间距S 轮廓支承长度率轮廓支承长度率tp4 4轮廓微观不平度的平均间距轮廓微观不平度的平均间距SmSmv含有一个轮廓峰和相邻轮廓谷的一段中线长度含有一个轮廓峰和相邻轮廓谷的一段中线长度SmSm( (图图4-44-4），称为轮廓微观不平度间距。），称为轮廓微观不平度间距。5 5轮廓单峰平均间距轮廓单峰平均间距S Sv两相邻轮廓单峰的最高点在中线上的投影长度两相邻轮廓单峰的
8、最高点在中线上的投影长度S S（图（图4-44-4），称为轮廓单峰的间距。），称为轮廓单峰的间距。 S = 6 6轮廓支承长度率轮廓支承长度率tptpv一根平行于中线且与轮廓峰顶线相距为一根平行于中线且与轮廓峰顶线相距为C C的线与轮廓峰相截的线与轮廓峰相截所得到的各段截线所得到的各段截线b bi i之和，称为之和，称为轮廓支承长度轮廓支承长度 p p p p 轮廓支承长度率轮廓支承长度率v 轮廓支承长度轮廓支承长度 与取样长度之比，就是轮廓支承长度率。与取样长度之比，就是轮廓支承长度率。 t tp p = ( = ( p /L) p /L) 100%100%15 表而粗糙度测量方法综述及测量
9、的基本原则表而粗糙度测量方法综述及测量的基本原则v15151 1 测量方法综述测量方法综述v 对加工表面质量的评定，除了用视觉和触觉进行定性地比较检验的对加工表面质量的评定，除了用视觉和触觉进行定性地比较检验的方法以外，并逐步实现了用数值确定表面粗糙度参数值的定量测量。从方法以外，并逐步实现了用数值确定表面粗糙度参数值的定量测量。从本世纪本世纪3030年代陆续提出了测量粗糙度的方法原理和仪器以来，已发展了年代陆续提出了测量粗糙度的方法原理和仪器以来，已发展了一系列利用光学、机械、电气原理的表面粗糙度专用测量仪器，其基本一系列利用光学、机械、电气原理的表面粗糙度专用测量仪器，其基本结构模式如图结
10、构模式如图9797所示。所示。v 粗糙度测量方法主要是以不同类型的传感器所反映的测量原理来分类的。粗糙度测量方法主要是以不同类型的传感器所反映的测量原理来分类的。表表9l 49l 4列出了各类转换形式的传感器。运算装置包括信号放大器、滤列出了各类转换形式的传感器。运算装置包括信号放大器、滤波器和各种型式的计算处理波器和各种型式的计算处理( (如信号变换、模数转换、时控、数字计算等如信号变换、模数转换、时控、数字计算等) )装置。输出设备包括指针式电量表、记录器、光电输出器、电传打字机、装置。输出设备包括指针式电量表、记录器、光电输出器、电传打字机、磁带输出器、磁带输出器、TvTv显示屏、绘图仪
11、等。其中，传感器是基本组成部分，在显示屏、绘图仪等。其中，传感器是基本组成部分，在取得表面测量信号以后，亦可用人工进行计算处理给出结果。取得表面测量信号以后，亦可用人工进行计算处理给出结果。v15.2 15.2 表面粗糙度测量的基本原则表面粗糙度测量的基本原则 v (1) (1)测量方向测量方向v 按现行标准所定义的各种粗糙度评定参数，是基于轮廓法确定数值，按现行标准所定义的各种粗糙度评定参数，是基于轮廓法确定数值，是在被测表面的法向截面上的实际轮廓上进行测量的结果。由于垂直于是在被测表面的法向截面上的实际轮廓上进行测量的结果。由于垂直于被测表面的法向截面存在各种不同的测量方向试验表明，大多数
12、的切被测表面的法向截面存在各种不同的测量方向试验表明，大多数的切削加工表面，在横向轮廓上测得的粗糙度数值比较大，只是有的该铣加削加工表面，在横向轮廓上测得的粗糙度数值比较大，只是有的该铣加工和个别端铣加工表面，在纵向轮廓上会有较大的数值。工和个别端铣加工表面，在纵向轮廓上会有较大的数值。 如果在被测表如果在被测表面上难以确定加工纹理方向，以及某些加工纹理紊乱或不存在固定方向面上难以确定加工纹理方向，以及某些加工纹理紊乱或不存在固定方向的表面，应分别在多个方向上测量，以获取最大参故值为结果或取其的表面，应分别在多个方向上测量，以获取最大参故值为结果或取其峰谷高度的最大值，计算一个区域的测量结果。
13、峰谷高度的最大值，计算一个区域的测量结果。v (2)(2)表面缺陷表面缺陷 在表面上偶然出现的微观不平度，如划痕、碰伤，以及并非由在表面上偶然出现的微观不平度，如划痕、碰伤，以及并非由于加工造成的材料缺陷，如气孔裂纹、砂眼均属于表面缺陷。在于加工造成的材料缺陷，如气孔裂纹、砂眼均属于表面缺陷。在表面祖糙度的评定中不应把表面缺陷包含进去，因此在测量时原表面祖糙度的评定中不应把表面缺陷包含进去，因此在测量时原则上应将其影响排除在外，尤其是对于比则上应将其影响排除在外，尤其是对于比股加工痕迹股加工痕迹( (微观不平度微观不平度) )的深度或宽度大得多的缺陷要特别注意。如果零件表面不允许有某的深度或宽
14、度大得多的缺陷要特别注意。如果零件表面不允许有某种缺陷或对它要加以控制，应另作规定。种缺陷或对它要加以控制，应另作规定。 3) 3)测量部位测量部位 为了完整地反映零件表面的实际状况，需要在其若干具有代表为了完整地反映零件表面的实际状况，需要在其若干具有代表性的位置上进行测量，一般可采取在均匀分布的三个以上的位置上性的位置上进行测量，一般可采取在均匀分布的三个以上的位置上取其平均值作为最终结果。如果几个位置上的粗糙度数值相差甚大，取其平均值作为最终结果。如果几个位置上的粗糙度数值相差甚大，例如大于一个系列值例如大于一个系列值( (公比为公比为2)2)则应再多测几个部位，判断其均匀则应再多测几个
15、部位，判断其均匀性情况，此时最好将各部位的测量结果分别注出，或给出平均值结性情况，此时最好将各部位的测量结果分别注出，或给出平均值结果并附加说明果并附加说明第二节表面粗糙度的测第二节表面粗糙度的测量方法量方法 主要内容：主要内容： 1 1、光切法量表面粗糙度、光切法量表面粗糙度 2 2、干涉显微镜测量表面粗糙度、干涉显微镜测量表面粗糙度 3 3、触针法测量表面粗糙度、触针法测量表面粗糙度 电感轮廓仪电感轮廓仪 激光干涉式轮廓仪激光干涉式轮廓仪 压电式轮廓仪压电式轮廓仪重点：光切显微镜的原理和定度重点：光切显微镜的原理和定度任务：任务：表面粗糙度的表面粗糙度的测量测量测量对象和被测量测量对象和被
16、测量v问题问题1 1：工件特点？：工件特点？ （大小、轻重、材料）（大小、轻重、材料）v问题问题2 2：测哪里的粗糙度？：测哪里的粗糙度？ （内、外表面；平面、柱面、球面、齿面、牙型面）（内、外表面；平面、柱面、球面、齿面、牙型面）v问题问题3 3：测量有什么特点？：测量有什么特点？v问题问题4 4：与长度、角度测量有何不同？：与长度、角度测量有何不同？测量单位和标准量测量单位和标准量v长度单位长度单位-um-umv表面粗糙度样板表面粗糙度样板v光波波长光波波长v电压、电流标准电压、电流标准测量方法测量方法v测量方案设计测量方案设计测量方法测量方法测量仪器测量仪器接触形式、定位接触形式、定位测
17、量精度测量精度v方法精度方法精度v仪器精度仪器精度v影响因素影响因素v改善精度的措施改善精度的措施、表面粗糙度的测量方法概述、表面粗糙度的测量方法概述 表面粗糙度反映的是机械零件表面的微表面粗糙度反映的是机械零件表面的微观几何形状误差，对表面粗糙度的测量方法观几何形状误差，对表面粗糙度的测量方法很多，主要方法见下表。很多，主要方法见下表。 对表面粗糙度的评价主要分为对表面粗糙度的评价主要分为定性和定性和定量定量两种评定方法。两种评定方法。 定性评定定性评定是将待测表面和已知表面粗是将待测表面和已知表面粗糙度级别的标准样板相比较，通过目估或借糙度级别的标准样板相比较，通过目估或借助于显微镜以判别
18、其级别。助于显微镜以判别其级别。 定量评定定量评定则是通过一定的测量方法和则是通过一定的测量方法和相应的仪器，测出待测表面的不平度数值。相应的仪器，测出待测表面的不平度数值。实际工作中，对加工表面粗糙度的评实际工作中，对加工表面粗糙度的评定可归纳为如下四种方式。定可归纳为如下四种方式。 与表面粗糙度标准样板比较的方法与表面粗糙度标准样板比较的方法v表面粗糙度样板：表面粗糙度样板：按各种加工方法做成的不同几何形状的 一套标准表面样块，用来与被测的表面 相比较。 表面粗糙度样板表面粗糙度样板v测量方法：测量方法：目测法：目测法：RaRa值值2.5-802.5-80 m m的表面的表面；用用5 51
19、010倍放大镜比较：倍放大镜比较：RaRa值值0.32-2.50.32-2.5 m m的表面的表面；用比较显微镜：用比较显微镜：RaRa值值0.08-100.08-10 m m的表面的表面。触觉比较法：被加工表面触觉比较法：被加工表面RaRa值值0.63-100.63-10 m m。v注意点：注意点：样板与被测件的加工方法、材料、形状都相同。样板与被测件的加工方法、材料、形状都相同。v适用范围：适用范围：工厂比较常用，尤其是车间检验中常用。一般只工厂比较常用，尤其是车间检验中常用。一般只用于粗糙度评定参数值较大的情况下，其判断的准确性很大用于粗糙度评定参数值较大的情况下，其判断的准确性很大程度
20、上取决于检验人员的经验，当有争议时可用仪器进行测程度上取决于检验人员的经验，当有争议时可用仪器进行测量。量。在选定截面上直接测量表面微观不平度数值的方法在选定截面上直接测量表面微观不平度数值的方法v普遍采用、定量测量、严格按照定义测、本节重点。普遍采用、定量测量、严格按照定义测、本节重点。v常用的有光切法、干涉法、触针法等各种测量原理的光学或常用的有光切法、干涉法、触针法等各种测量原理的光学或电学仪器。电学仪器。3 3印模法测量表面粗糙度印模法测量表面粗糙度v对于大型零件或零件内表面等不易直接测量的情况下可用此对于大型零件或零件内表面等不易直接测量的情况下可用此法。法。v印模表面的峰谷值总要比
21、被测表面的峰谷值要小些，因而对印模表面的峰谷值总要比被测表面的峰谷值要小些，因而对此结果需加以修正。其修正系数值与所用材料等有关，应由此结果需加以修正。其修正系数值与所用材料等有关，应由实验来确定。实验来确定。4 4间接测量方法间接测量方法 这类方法是利用被测表面的某种特性来间接评定表这类方法是利用被测表面的某种特性来间接评定表面粗糙度的数值。例如：面粗糙度的数值。例如：v气动法：气动法：是利用流经测量头与被测表面间气体流量的大小是利用流经测量头与被测表面间气体流量的大小或其所引起的压力变化来评定表面粗糙度。或其所引起的压力变化来评定表面粗糙度。v电容法：电容法：是利用测量头与被测表面间形成的
22、电容量大小来是利用测量头与被测表面间形成的电容量大小来评定表面粗糙度。不能直接测出表面参数评定表面粗糙度。不能直接测出表面参数RaRa或或RzRz，而需进，而需进行比对定标，且要配备一些和被测表面几何形状相适应的行比对定标，且要配备一些和被测表面几何形状相适应的测量头。测量头。v其他方法：其他方法：激光散射法、激光散班法、激光全息法等。激光散射法、激光散班法、激光全息法等。二、光切法测量表面粗糙度二、光切法测量表面粗糙度 所谓光切法就是用一狭窄的扁平光所谓光切法就是用一狭窄的扁平光束以一定的倾斜角照射到被测表面上，光束以一定的倾斜角照射到被测表面上，光束在被测表面上发生反射，将表面微观不束在被
23、测表面上发生反射，将表面微观不平度用显微镜放大成象进行观测的方法。平度用显微镜放大成象进行观测的方法。图图4-54-5是光切法的测量原理图。是光切法的测量原理图。v若倾斜角取若倾斜角取4545，则得：，则得： h=h/cos45h=h/cos45v若观测显微物镜的倍数若观测显微物镜的倍数V V，则：，则： N Nhhv用显微镜测出象的大小用显微镜测出象的大小N N，即，即可求出可求出h h值：值：h=N/(Vcos45)h=N/(Vcos45) v测量表面粗糙度峰谷距离的原测量表面粗糙度峰谷距离的原理与上述相同。理与上述相同。图图4-5光切原理光切原理 1 1光切法原理：光切法原理：图图4-6
24、 光切显微镜光路光切显微镜光路 2 2测量仪器原理及定度测量仪器原理及定度v（1 1）原理）原理光切显微镜的光路原理如图光切显微镜的光路原理如图4-64-6所示。用测微目镜量出所示。用测微目镜量出a a、aa的距离，即可求出峰谷间的高度。的距离，即可求出峰谷间的高度。由于物镜分辨率及景深的限制，光切法测量范围一般为：由于物镜分辨率及景深的限制，光切法测量范围一般为：Rz= (80Rz= (800.8)0.8) m m（旧国标（旧国标 3 3 9 9）。）。式式h=N/(Vcos45)h=N/(Vcos45)中有无理数，计算、使用不便，在仪中有无理数，计算、使用不便，在仪器设计时采用机械方法加以
25、有理化器设计时采用机械方法加以有理化 ，其方法如图，其方法如图4-74-7所所示。此时：示。此时： h= a/2Vh= a/2V 式中式中: : a a用仪器测微目镜瞄准峰谷象高度用仪器测微目镜瞄准峰谷象高度N N（图（图4-74-7 中十字线位置中十字线位置I I与与IIII）时两次读数差值；）时两次读数差值； h h表面粗糙度的某一峰谷高度；表面粗糙度的某一峰谷高度； V V 所选用物镜的放大倍数。所选用物镜的放大倍数。 双管显微镜双管显微镜双管显微镜视场图双管显微镜视场图双管显微镜双管显微镜光切显微镜读数光切显微镜读数v（2 2）定度：）定度：在光切显微镜上，把确定测微目镜的鼓轮上每小格
26、所对在光切显微镜上，把确定测微目镜的鼓轮上每小格所对应的被测峰谷高度值的过程叫作应的被测峰谷高度值的过程叫作“定度定度”。(h= a/2V)(h= a/2V)定度首先是求物镜的放大倍率。求物镜放大倍率的方法定度首先是求物镜的放大倍率。求物镜放大倍率的方法是用一个标准刻线尺（通常为专用附件，刻度间隔为是用一个标准刻线尺（通常为专用附件，刻度间隔为0.01mm0.01mm，共，共101101条刻线）来测定各个物镜的实际放大率。条刻线）来测定各个物镜的实际放大率。如图如图4-84-8所示，物镜放大率为：所示，物镜放大率为：V=V= 令令C=5/VC=5/V，则：，则：h=cn (um)h=cn (u
27、m)式中，式中，n n为测量峰谷高度时两次读数的差值（格数）。为测量峰谷高度时两次读数的差值（格数）。显然，上式使用简便。显然，上式使用简便。C C值的物理意义就是测微鼓轮一小格所对应的峰谷方向值的物理意义就是测微鼓轮一小格所对应的峰谷方向的高度值。的高度值。 3 3测量方法测量方法 测量前，选择相应的物镜（表测量前，选择相应的物镜（表4-24-2）并已知定度值）并已知定度值C C。然后。然后调节显微镜使视场呈现清晰的狭缝象及表面象，且至狭缝调节显微镜使视场呈现清晰的狭缝象及表面象，且至狭缝象的一个边缘最清晰为止。象的一个边缘最清晰为止。v（1 1）测量）测量RzRz值值 其测量方法应符合定义
28、。其测量方法应符合定义。 Rz Rz值可按下式计算：值可按下式计算： Rz=1/2C v （2 2）测量测量RyRy值：值： Ry=1/2C三、干涉显微镜测量表面粗糙度三、干涉显微镜测量表面粗糙度v干涉显微镜测量原理：干涉显微镜测量原理：联合运用干涉原理和显微放大原理。对测量联合运用干涉原理和显微放大原理。对测量面垂直高度方向的微观不平度通过光波干涉法进面垂直高度方向的微观不平度通过光波干涉法进行放大测量，对表面粗糙度的水平参数通过显微行放大测量，对表面粗糙度的水平参数通过显微放大系统测量。放大系统测量。v干涉显微镜干涉显微镜测量范围：测量范围：RzRz =0.8 =0.8 m m0.0250
29、.025 m m。v6JA6JA干涉显微镜测量光路见图干涉显微镜测量光路见图4-124-12。干涉显微镜干涉显微镜 1986年WYKO公司研制成功的TOPO非接触微表面测量系统。测量精度达自动完成测量。Mirau干涉仪的改进：R被固定在PZT上。带有旋转检偏器测相的改进的微分干涉显微镜（清华）带有旋转检偏器测相的改进的微分干涉显微镜（清华）垂直分辨率优于垂直分辨率优于1nm，水平分辨力，水平分辨力0.4mNomarski干涉显微镜及改进图图4-12 干涉显微镜光路干涉显微镜光路 6JA干涉显微镜干涉显微镜测量光路见图测量光路见图4-12。四、触针法测量表面粗糙度四、触针法测量表面粗糙度1 1触
30、针法的测量原理触针法的测量原理v触针法又称针描法，它是一种接触式测量方法，是利用仪器触针法又称针描法，它是一种接触式测量方法，是利用仪器的测针与被测表面相接触，并使测针沿其表面轻轻划过以测的测针与被测表面相接触，并使测针沿其表面轻轻划过以测量表面粗糙度的一种测量法。量表面粗糙度的一种测量法。v将一个很尖的触针（半径可以做到微米量级的金钢石针尖）将一个很尖的触针（半径可以做到微米量级的金钢石针尖）垂直安置在被测表面上作横向移动，由于工作表面粗糙不平，垂直安置在被测表面上作横向移动，由于工作表面粗糙不平，因而触针将随着被测表面轮廓形状作垂直起伏运动。将这种因而触针将随着被测表面轮廓形状作垂直起伏运
31、动。将这种微小位移通过电路转换成电信号并加以放大和运算处理，即微小位移通过电路转换成电信号并加以放大和运算处理，即可得到工件表面粗糙度参数值；也可通过记录器描绘出表面可得到工件表面粗糙度参数值；也可通过记录器描绘出表面轮廓图形，再进行数据处理，进而得出表面粗糙度参数值。轮廓图形，再进行数据处理，进而得出表面粗糙度参数值。这类仪器垂直方向的分辨率最高可达到几纳米。这类仪器垂直方向的分辨率最高可达到几纳米。v适宜测量值为适宜测量值为50.0250.02 m m范围内的表面粗糙度。范围内的表面粗糙度。图图4-15 轮廓仪的原理框图轮廓仪的原理框图2 2电感轮廓仪电感轮廓仪v电感轮廓仪的传感器原理传感
32、器原理如图4-14所示。v图4-15为仪器的原理框图仪器的原理框图。3 3激光干涉式轮廓仪激光干涉式轮廓仪v激光干涉式轮廓仪中，干涉系统的测量镜与触针分别位于激光干涉式轮廓仪中，干涉系统的测量镜与触针分别位于杠杆的两端，其位移量之间为确定的比例关系，因此由测杠杆的两端，其位移量之间为确定的比例关系，因此由测得的测量镜的位移量可算得触针的位移量。得的测量镜的位移量可算得触针的位移量。v与电感式轮廓仪相比，激光式轮廓仪具有宽量程和高分辨与电感式轮廓仪相比，激光式轮廓仪具有宽量程和高分辨力的特点。力的特点。4 4压电式轮廓仪压电式轮廓仪v压电式轮廓仪用具有压电特性的晶体作为传感器的换能元压电式轮廓仪
33、用具有压电特性的晶体作为传感器的换能元件。硅脂是一种粘滞性很强的液体，当触针随工件表面快件。硅脂是一种粘滞性很强的液体，当触针随工件表面快速上下运动时，液体摩擦很大，可认为触针杆被夹紧在槽速上下运动时，液体摩擦很大，可认为触针杆被夹紧在槽片中，压电晶片因触针的位移而产生变形，并在晶片表面片中，压电晶片因触针的位移而产生变形，并在晶片表面产生与变形成比例的电荷。当触针以很慢的速度移动时，产生与变形成比例的电荷。当触针以很慢的速度移动时，硅脂的液体的摩擦很小，允许触针杆相对槽硅脂的液体的摩擦很小，允许触针杆相对槽 片打滑，位片打滑，位移不传给压电晶片，有滤除低频信号的功能。移不传给压电晶片，有滤除低频信号的功能。v压电式轮廓仪结构紧凑，便于携带。压电式轮廓仪结构紧凑，便于携带。MarSurf XR 20 便携式表面粗糙度仪便携式表面粗糙度仪哈量形状测量仪哈量形状测量仪MarSurf LD 120 Kontur und Rautiefe in einem Zug. 10 mm Hub, 4 nm Auflsung
