《SMT元器件焊接强度推力测试标准.doc》由会员分享，可在线阅读，更多相关《SMT元器件焊接强度推力测试标准.doc（4页珍藏版）》请在金锄头文库上搜索。
1、NONO物料名称物料名称元器件焊接强度推拉力无铅工艺判定标准检测方式检测方式、图片图片试验试验: 仪器仪器测试方法测试方法推力标准推力标准（KgfKgf）1CHIP0402#推力推1、消除阻碍 0402 元器件边缘的其它元器件；力2、选用推力计，将仪器归零，30 度角进行推力试验；3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；计,4、 判合格。)!2CHIP0603：推力*；$推1、消除阻碍 0603 元器件边缘的其它元器件；力2、选用推力计，将仪器归零，30 度角进行推力试验；3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；计4、判合格。3CHIP0805|%推力推1、消除阻碍 0805 元器
2、件边缘的其它元器件；力2、选用推力计，将仪器归零，30 度角进行推力试验；|3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；计；/4、判合格。-&4CHIP1206|推力;、拉 PIN 脚5SIM 卡连接（六个器脚）推力（六，|推1、消除阻碍 1206 元器件边缘的其它元器件；力2、选用推力计，将仪器归零，30 度角进行推力试验；3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；计4、判合格。1、用剪钳消除 pin 角边缘的塑胶材质部分；|拉2、选用推力计，将仪器归零，使用专用拉力测试夹具，垂（力直成 90 度向上拉起，计3、检查元器件是否拉掉是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、 判合格。|SIM
3、卡连接个脚）6器（左右方#1、消除阻碍 SIM 卡元器件边缘的其它元器件；2、选用推力计，将仪器归零，30 度角（如图所示）进推行*力推力试验；计3、检查元器件是否破裂，记录元器件破裂的数值；向）：4、 Kgf 判合格。7SOT23推力，推1、消除阻碍 SOT23 元器件边缘的其它元器件；力2、选用推力计，将仪器归零，30 度角进行推力试验；计3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、判合格。|8SOP5 IC，推力推1、消除阻碍 SOP5 IC 元器件边缘的其它元器件；（9SOP6 IC推力力2、选用推力计，将仪器归零，30 度角进行推力试验；3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的
4、数值；计4、判合格。?推1、消除阻碍 SOP6 IC 元器件边缘的其它元器件；力|2、选用推力计，将仪器归零，30 度角进行推力试验；计3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、判合格。！10 晶体;推力（两（、个脚）$1、消除阻碍晶振元器件边缘的其它元器件；推2、选用推力计，将仪器归零，30 度角进行推力试验；力计3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、判合格。11 RF 连接器,推力（六个脚）1、消除阻碍 RF 连接器边缘的其它元器件；推2、选用推力计，将仪器归零，30 度角进行推力试验；力计3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、判合格。第 1 页，共 2 页
5、12微动开关推力（两个脚）1、检查元器件是否为良品，将元器件平放于平台上；2、选用推力计，将仪器归零，30 度角（如图所示）进推行力推力试验；计3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、 Kgf 判合格。推1、消除阻碍弹片式电池连接器元器件边缘的其它元器件；2、选用推力计，将仪器归零，30 度角（如图所示）进力行推力试验；计3、检查元器件脱焊的力， Kgf 判合格。推力(两个触片13电池连接器 /两个脚)推力(两个触片14电池连接器 /三个脚）推1、消除阻碍电池连接器边缘的其它元器件；2、选用推力计，将仪器归零，30 度角（如图所示）进力行推力试验；计3、检查元器件脱焊的力， Kgf
6、判合格。推力(三个触片15电池连接器 /五个脚)推1、消除阻碍电池连接器边缘的其它元器件；2、选用推力计，将仪器归零，30 度角（如图所示）进力行推力试验；计3、检查元器件破裂的力， Kgf 判合格。推力16电池连接器 （3PIN 刀片式)推1、消除阻碍电池连接器边缘的其它元器件；2、选用推力计，将仪器归零，30 度角（如图所示）进力行推力试验；计3、检查元器件破裂的力， Kgf 判合格。推力(小)从插孔处17耳机插座向后推备注：没推1、消除阻碍耳机插座元器件边缘的其它元器件；2、选用推力计，将仪器归零，30 度角（如图所示）进力行推力试验；计3、检查元器件脱焊的力， Kgf 判合格。推力(小
7、)从后向插18耳机插座孔处推备注：没推1、消除阻碍耳机插座元器件边缘的其它元器件；2、选用推力计，将仪器归零，30 度角（如图所示）进力行推力试验；计3、检查元器件脱焊的力， Kgf 判合格。USB 插座19推力按照充电插拔方向USB 插座20推（有定位柱）推力1、将测试主板固定好，避免出现测试时有晃动现象。2、选用推力计，将仪器归零，30 度角（如图所示）进推行力推力试验；计3、检查元器件脱焊的力， Kgf 判合格按照充电插拔方向推（无定位柱）推力1、将测试主板固定好，避免出现测试时有晃动现象。2、选用推力计，将仪器归零，30 度角（如图所示）进推行力推力试验；计3、检查元器件脱焊的力， Kgf 判合格T-Flash 卡按 T-Flash21座卡插拔方向推推1、将测试主板固定好，避免出现测试时有晃动现象。2、选用推力计，将仪器归零，30 度角（如图所示）进力行推力试验；计3、检查元器件脱焊的力， 屏蔽罩无变形判合格实验的时候，必须力量施加为渐进（无冲击），并持续 10S。第 2 页，共 2页
