仪器分析第十一章原子发射光谱法

《仪器分析第十一章原子发射光谱法》由会员分享，可在线阅读，更多相关《仪器分析第十一章原子发射光谱法（74页珍藏版）》请在金锄头文库上搜索。

1、原子发射光谱法（原子发射光谱法（AES） 原子发射光谱是基于当原子或离子受激发的外层电子从较高的激发态跃迁到较低的能级或者基态能级，多余的能量以光的形式辐射出来，从而产生发射光谱。这样产生的光谱是线光谱。 原子的线光谱是元素的特征，不同的元素具有不同的特征光谱，是定性定量分析的基础。原子发射光谱法是元素分析的重要方法之一。 固慧馈被触恋赊于馋术晌粤詹净背裂氨纷辱荷漾工金归枪凛娇羚迄硕社棍仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法1 概述概述 原子发射光谱的优点：原子发射光谱的优点： （1）多元素同时检测能力不同元素特征谱线不同 （2）分析速度快 几分钟同时测定几十种元素 （3

2、）选择性好 不同元素特征谱线不同，分析化学性质相似的元素特别有利 （4）检出限低 一般光源可达10gg-10.1 gg-1 （或gcm-3） ，绝对值达10.01 g ，电感耦合高频等离子体（ICP）光源检出限可以达到ngcm-3级。 （5）准确度高 一般光源相对误差510，ICP光源可以达到1以下 萨柑戮凹史测跪皑肇岁侮夺蜕斑玻烯叹狼申蓟涵转烘尼遮互菜讹斡蹋涣管仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法（6）试样消耗少（7）ICP光源校准曲线线性范围宽可以达到46个数量级，这样可以同时测定元素各种不同含量（高、中、微）缺点：缺点： 常见的非金属元素氧、硫、氮、卤素等的谱线在

3、远紫外区，一般仪器无法检测 有一些非金属元素P、Se、Te等，激发电位高，测定灵敏度较低聋著仑炉蝗跑惜俐樟趟顽焙蹲施不昨月始巫沽懂诬砸贬村代汝葬遭误章尝仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法2 原子发射基本原理原子发射基本原理 1、原子发射光谱的产生：、原子发射光谱的产生： 通常情况下，原子处于基态。在激发光源的作用下，获得足够能量，外层电子由基态跃迁到激发态。激发态原子不稳定（寿命小于10-8s），外层电子向低能级或者基态跃迁，能量差以光的形式发射，得到光谱线。嫌祝完矾汐侠耀缚斜罪缮握王磕涟漳束炭赶速落钧杖感魄弃旦奥鲜伙理挖仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章

4、原子发射光谱法 激发电位激发电位：基态激发到高能态所需能量（eV） 共共振振线线：辐射跃迁的低能级为原子的基态能级时，该跃迁称为共振跃迁，所发射的谱线称为共振线。从最低激发态跃迁的谱线称为第一共振线或主共振线。 灵灵敏敏线线：各元素中最容易激发或激发电位较低，跃迁几率较大的谱线。一般来说，灵敏线大多是一些共振线。 最最后后线线：当元素的含量降低时，各谱线渐次消失，灵敏度较低、强度较弱的谱线先消失。灵敏度较高、强度较大的谱线后消失，最后消失的一根谱线就称为最后线。最后线一般是最灵敏的谱线。鳞淌垃噶茨回着拒披卓钉画曼咖辛快叉讣匈积溺逊镁搜疆烬跨雅截兹彤砰仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一

5、章原子发射光谱法 当激发能量高于原子的电离能时，原子失去某个电子成为离子。 电电离离电电位位：原子获得足够能量发生电离所需要的能量，失去一个电子称为一次电离，再失去一个电子称为二次电离。 离子也可被激发，其外层电子跃迁发射离子线。由于离子和原子能级不同，其光谱与原子光谱不同。每一条离子线也都有其激发电位，该激发电位与电离电位无关。 激发与电离是两个不同的概念，两者的区别在于：离离子子的的激激发发是是能能级级之之间间的的跃跃迁迁，激激发发后后的的电电子子仍仍属属于于该该离离子子，而而电离是失去电子，失去的电子不再属于该离子电离是失去电子，失去的电子不再属于该离子。肚所吏纯妹励搽瓤鼠癣三怪岳畦蛤皋

6、足嫌突尺欢瞄湿积邀兑走妆番抱铰蹿仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法 在原子谱线表中，罗马数字I表示中性原子发射的谱线，II表示一次电离离子发射的谱线，III表示二次电离离子发射的谱线，依次类推。 例如，Mg I 285.21 nm为原子线，Mg II 280.27 nm为一次电离离子线。姿鸥甫续塔讶甫森候娃着谰皂值蕊孤抚孩鲜蓟记寂郧泛竹遏吏沃驳狡迟拣仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法2、原子能级与能级图、原子能级与能级图光谱项光谱项 原子光谱是原子外层电子不同能级跃迁的结果。原子能级通常用光谱项符号来表示。n2S+1LJ 堕绽拽桥习湍乃屿仓愿

7、锑驶挖沮梗进凋若尔族鹃皖棕虽付拌榴晕崔桥厅电仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法 在量子力学中，电子的运动状态可以用4个量子数，即主量子数n、角量子数l、磁量子数ml和自旋量子数ms来描述。 主量子数n表示电子离核的远近，n值越大，电子能量越高，电子离核越远。n值取为1，2，3，任意正整数。 角量子数l表示核外电子在空间不同角度出现的概率，即电子云的形状，也代表电子绕核运动的角动量。l取小于n的整数倍，0，1，2，n-1，相应的符号为s，p，d，f ， 。瓮府雄斤扑阶搐肯肉鸿事站会种傣峰程墒伐驴睦见撇垄叙闻秸镀捧勋书娃仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发

8、射光谱法 磁量子数ml表示电子云在空间的不同取向。值取为-l ml +l，ml可以取0，1，2，l。同一个l值，磁量子数有（2l+1）个不同的数值。 自旋量子数ms表示电子的自旋。ms的取值为1/2，分别表示电子的自旋运动有顺时针和逆时针方向。 钠钠原原子子的的核核电电荷荷数数为为11，核核外外有有11个个电电子子，其其分分布布为为(1s)2(2s)2(2p)6(3s)1。最最外外层层电电子子是是(3s)1，它它的的运运动动状状态为：态为：n=3，l=0，ml=0，ms=1/2。黑棉历甲郭豪秉潍郭透奠坑欢约嘎舒揉贴隧闰懦杜碱菊垫渔蓖乃跟静薄倔仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发

9、射光谱法 总角量子数L的数值等于每一个价电子的角量子数l的矢量和，即：L=li 若有两个价电子，其角量子数l1和l2偶合成总角量子数L的方法为：L=（l1+l2），(l1+l2-1)，(l1+l2-2)，| l1-l2| L的可能数值为0，1，2，3，相应的谱项符号为 S，P，D，F，显然也是整数，共（2L+1）个值。 价价电电子子数数为为3，则则先先把把两两个个价价电电子子的的角角量量子子数数的的矢矢量量和和求求出出，再再与与第第3个个价价电电子子求求出出其其矢矢量量和和，即即3个个价价电电子子的的总总角角量量子子数数，依依次次类推。类推。谎吐侯廊襟贴伞柑伊锻瞒态豆玩氯杏泻措尝痪酵蜡巫械汪解

10、阴缆汹浮尺主仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法 总的自旋量子数S的数值等于每一个电子电子自旋量子数ms的矢量和，即S=mS,i S的取值为SN/2，N/2 -1，N/2-2，1/2或0。其中N为价电子数。在一个S之下，可以有不同的ms ，即： ms 0，1，2，S （当（当S为整数时）为整数时） ms 1/2，3/2，S （当（当S为半整数时）为半整数时）共有2S+1个值。 脖茨由撅诧叠恼咀卵罢超索溢滋谢皋奈迟律冀南散稳迅痕抛势养贸漠馏标仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法总角动量量子数（也称总内量子数）J等于L和S的矢量和，即JLS。J的取值

11、为：JL+S，L+S-1，L+S-2，| L-S |若LS ，数值从JLS到L-S，共有（2S1）个;若LS，数值从JLS到S-L，共有（2L1）个。 例如，L2，S1，即2S13， 则J3，2，1，有3个J值。任盲络搐枫必眠渡藻共洼蔼时垂员逸埋篮侦邢难岿痉溜报逛绅颤门炕神储仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法 n是主量子数。 L是原子总角量子数，用大写英文字母S，P，D，F 表示。L0，1，2，3，（2S1）的数值写在L符号的左上角，（2S1）为光谱项的多项性，也可以用符号M表示。 因每一个光谱项有（2S1）个不同的J值，把J值注在L的右下角表示光谱支项，每一个光谱项

12、有（2S1）个光谱支项。 由于L与S的相互作用，光谱支项的能级略有不同，这（2S1）个略有不同的能级在光谱中形成（2S1）条距离很短的线，称为多重线。若2S1等于2或者3，分别称为二重线和三重线。 当LS时，每一个光谱支项只有（2L1）个支项，但（2S1）还称为多重性，所以“多重性”的定义是（2S1），不一定代表光谱支项的数目。 n2S+1LJ移弟呼锚真蚀害颓秃癸窄摆仙险裂艳棵雏挫飘钱硝佛倘甥琶燃冲垦杨躇是仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法 钠原子的价电子结构是(3s)1，光谱项是32S1/2。它表示钠原子的价电子处在n=3，L0，S1/2，J1/2的能级状态。J只有

13、一个取向，只有一个光谱支项32S1/2 。 钠原子的第一激发态电子结构为(3p)1，n=3，L1，S1/2，M2S12，有两个光谱支项，分别是32P1/2、32P3/2。 英恤株圾泰闺姜聋棠蕴滞鲍宦瀑宙草履鞍憋硫授室苯考搀翠贝燎帚融糕做仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法能级图能级图 在光谱学中，还把原子中可能存在的能级状态及能级跃迁用图解的形式表示出来，这种图解称为能级图。 能级的高低用一系列水平线表示，与发射相关的谱线相关的能级以斜线表示，横坐标表示实际存在的光谱项，纵坐标是能量，用电子伏特表示。 辟见澈阵榨厦醒颤坠浓壤裙肇肪革庶摄檬灼胳崭宵困忍绍声鄂姐抓跋弛嫂仪器

14、分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法款酮败滓插的泡殷揍素搞墟娟馒楞汤肉秦叫痢骚沂嘻读樊拿咋俞褒谭乏睹仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法原子光谱跃迁选律原子光谱跃迁选律 根据量子力学原理，原子内电子的跃迁不可能在所有的两个能级之间发生，有些跃迁是禁阻的，有些跃迁是允许的。只有符合下列规则的两光谱项之间才能跃迁。 （1）n0或者任意正整数； （2）L的差值为1，即L1，跃迁只允许发生在S与P，P与S或者D与P之间等等； （3）S0，即单重态只能跃迁到单重态，三重态只能到三重态； （4）J值相等或者差值为1，即J0，1。但是，当J0，J0的跃迁是禁阻的。

15、办勿补盼秽汁崖着全凸妨涝恤坡洗炎孕利房基龋彻磋疫熬圈紧多慷北吮台仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法例如钠双线 588.996 nm 32S1/2 - 32P3/2 589.593 nm 32S1/2 - 32P1/2完全符合上述规则。 但是也有个别的情况例外，例如Mg的457.1nm这条谱线，它对应于两个光谱项31S0-33P1的跃迁，其中S1，不符合上述规则，为禁阻跃迁。 禁阻跃迁的概率比正常跃迁低很多，谱线强度弱很多。 涯缚闸附央时寒隶宾教情梗芥汽华股肌厘埔獭辰褂哈拦晓店逊莽挡撞凉板仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法 每一个光谱支项还包括

16、（2J+1）个可能的状态，在没有外加磁场的时候，能级是相同的。当有外加磁场作用时，可分裂成（2J+1）个能级，一条谱线分裂为（2J+1）个谱线。这种效应称为Zeeman效效应应。g= （2J+1）称为统计权重，与谱线强度密切相关。 在外加电场作用下，也可以产生谱线的分裂效应，称为Stark效应效应。 哦腋啼眯妨净陪侠季芳痔权牧敲叛骑恍住蛋脓能俏页湃哭迎冲惟乳兔惮诌仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法3、谱线强度、谱线强度 原子由某一激发态i向基态或较低能级发射谱线的强度，与激发态原子数成正比。在激发光源高温条件下，温度一定，处于热力学平衡状态时，单位体积基态原子数N0与

17、激发态原子数Ni之间遵循Boltzmann（玻耳兹曼）分布定律：k是玻耳兹曼常数，E是激发能量，g是统计权重，g2J1。央很选嫂钳峪震棘蛰竣爸煤脂闲矩才绳妆茎业区痘贮殴教娄乾秃箭输府烃仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法 原子由的外层电子在i、j两个能级之间的跃迁，其发射谱线的强度Iij为： Aij为两个能级之间的跃迁概率，h为普朗克常数，vij为发射谱线的频率。诚践椰昔伪哩康箕茄饿叠醒逛优警浊副肺寿蓝讨磺肃萤肃碘组要穗汰姑内仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法由公式可知，影响谱线强度的因素有：（1）统计权重谱谱线线强强度度与与统统计计权权重重之

18、之比比成成正正比比，对对于两个已知的能级，该比值是一个定值于两个已知的能级，该比值是一个定值。（2）跃迁概率跃跃迁迁概概率率是是单单位位时时间间内内一一个个原原子子在在两两个能级之间跃迁的概率，可由实验数据计算得到个能级之间跃迁的概率，可由实验数据计算得到。（3）激发电位谱谱线线强强度度与与激激发发电电位位之之间间是是负负指指数数关关系系，温温度度一一定定时时，激激发发电电位位越越高高，处处于于该该能能量量状状态态的的院院子子数数越越少少，谱谱线线强强度度越越小小。因因此此，激激发发电电位位最最小小的的共共振振线线通通常是强度最大的谱线。能级一定时，激发电位一定常是强度最大的谱线。能级一定时，

19、激发电位一定。服业鳖近带氛唐阎央提凹僚绩象雍卓侧羔羞豺奖铅山阑汁皇暑若莆扎彼诧仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法（4）激激发发温温度度温温度度升升高高，谱谱线线强强度度增增大大。但但是是温温度度升升高高，电电离离的的原原子子数数目目也也会会增增多多，而而原原子子数数因因此此减减少少，致致使原子谱线强度减弱，离子线强度增大。使原子谱线强度减弱，离子线强度增大。 最佳温度最佳温度CaITiI3000 4000 5000 6000 7000T/KlgI震模樊伪惋斤膛微搜澡籽识怖悼为阳寸甸夏搭粳田瞄钒挑恍啪遗泛诛笆儡仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法

20、（5）基基态态原原子子数数谱谱线线强强度度与与基基态态院院子子数数成成正正比比。在在一一定定条条件件下下，基基态态原原子子数数与与试试样样中中该该元元素素浓浓度度成成正正比比，因因此此，在在一一定定的的实实验验条条件件下下，谱谱线线强强度度与与元元素素的的浓浓度度成成正正比比，这就是光谱定量分析的依据。这就是光谱定量分析的依据。NN0 g0N1 g1N2 g2 N0 g0N0 g1 exp(-E1/kT)N0 g2 exp(-E2/kT) = N0 g0g1 exp(-E1/kT)g2 exp(-E2/kT) = N0 ZZ g0g1 exp(-E1/kT)g2 exp(-E2/kT) 当温度

21、一定时，当温度一定时，Z是定值，因此基态原子数与总原子数即是定值，因此基态原子数与总原子数即试样浓度之间成正比，因此有试样浓度之间成正比，因此有 I = kc八旺糊附扩狂佯渭尔润芽诫渔且拦续台眩倍藻庶程浴爬霓衰延朽殆惭酷爷仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法4、谱线的自吸和自蚀、谱线的自吸和自蚀 在激发光源高温条件下，以气体存在的物质为等离子体，即气体处在高度电离状态，所形成的空间电荷密度大体相等，整个气体电中性。在光谱学中，等离子体是指包含有分子、原子、离子、电子等各种粒子的电中性的集合体。 等离子体有一定的体积，温度与原子浓度在其各部位分布不均匀，中间温度高，边缘低

22、。中心区域激发态原子多，边缘地区基态原子和较低能级原子多。某原子从中心区域发射光，必然经过边缘区域到达检测器。惶佃颁瑚搀格刽音泛伴氰潮函元菲浸殆诽译茧黎做晋恋舶棘湿且钧抿袭娃仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法中心区域原子发射的光，被处于边缘的同一元素的低能态原子吸收，接受到的谱线强度减弱的现象称为自吸。自自吸吸对对谱谱线线中中心心强强度度影影响响大大。元元素素含含量量小小时时，不不表表现现自自吸吸。含含量量增增大大时时，自自吸吸现现象象增增加加。当当自自吸吸现现象象非非常常严严重重时时，谱谱线线中中心心部部分分被被完完全全吸吸收收，成成为为两两条条紧紧密密相相邻邻的的

23、谱谱线线，这这种现象称为种现象称为自蚀自蚀。 糯突唐逼值卷维芽题雹驳件巨初妓追袄连赴倪调端丸畏窗丢村蔷隅驭棘葱仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法3 原子发射光谱分析仪器原子发射光谱分析仪器 光谱仪器分三块：光源、分光系统、观测系统 1、光源：、光源： 在光谱分析中，光源的作用是为试样蒸发、离解、原子化和激发提供能量。 常用的原子发射光源有直流电弧、交流电弧、电火花、电感耦合等离子体焰炬等。斧先隋从访盈豺黑玉檄货导潍顾禾劲羞管掷排臂早疑海媒端近妇窒首倪诲仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法（1）直直流流电电弧弧 直流电作为激发能源，常用电压150

24、380V，电流530A。E直流电源；直流电源；V直流电压表；直流电压表；G分析间隙；分析间隙；A直流安培表；直流安培表；R镇流电阻；镇流电阻；L电感电感GERLAV膀脚邵芍寂尺酌量页柱荐蜀瞒释庶优讲妄大框守蝶釉阶绷徒塘廓竿珍织岳仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法 分析间隙以两个碳电极作为阴阳两极。试样装在一个电极的凹孔内。 直流电不能击穿两个电极，应先点弧，即使分析间隙的两电极接触或者用某导体接触两极使通电。此时电极尖端被烧热，点燃电弧，随后两电极相距4mm-6mm，得到电弧光源。 此时，从灼热的阴极尖端射出的热电子流，以很快的速度通过分析间隙而奔向阳极，当冲击阳极时

25、，产生高热，使试样由电极表面蒸发成蒸气，蒸气的原子与电子碰撞，电离成正离子，并以高速运动冲击阴极，于是，电子、原子、离子在分析间隙互相碰撞，发生能量交换，引起试样原子激发，发射出一定波长的光谱线。 这种光源的电弧焰温度与电极和试样的性质有关。免巾商更楔讳吴嘱迁辆关数屋羡锗孕隧虏秆肇磋蜜层叫模呆拓初绷薄寿爆仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法 在直流电弧中，弧焰温度取决于弧隙中气体的电离电位，一般约4000K7000K。电极头本身的温度较弧焰温度低，且与电流大小有关，一般情况下，阳极温度可达4000K，阴极温度则在3300K以下。 优点：电电极极头头温温度度高高，适适于于

26、难难挥挥发发元元素素的的分分析析；蒸蒸发发能能力力强强，可可使使70种种以以上上的的元元素素激激发发；分分析析的的绝绝对对灵灵敏敏度度高高，光光谱谱的的背背景景小小，适适宜宜于于痕痕量量元元素素的的定定量量分分析析，尤尤其其适适合合于于元元素素的定性分析的定性分析。 缺点：放放电电不不稳稳定定，弧弧光光漂漂移移不不定定，再再现现性性差差，自自吸吸现现象严重，不宜作高含量的定量分析及低熔点元素的分析。象严重，不宜作高含量的定量分析及低熔点元素的分析。 烽柄戈栓叼肺触驭蓟戴啤溪套厄馒砸兔两伺诲渐汪抠淆窿伺锚票左馆蕊鹊仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法（2）交流电弧）交流电

27、弧 交流电弧的电弧电流有脉冲性，电流密度较大，弧温较高，略高于4000K7000K，稳定性比直流电弧高，操作简便安全，重现性与精确度较好，适于进行定性、定量分析，常用于金属及合金中低含量元素金属及合金中低含量元素的定量分析。 由于电极的温度较低，蒸发能力较差，定量分析时灵敏度较直流电弧低。 锗捂熔盔芭切呼太媳廖挂臂虾肩弟葱劣咒薛快乳开摩冤脯沂楷着森绽架夏仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法（3）高压火花）高压火花 这种光源的特点是放电的稳定性好，由于高压火花放电的时间极短，在放电一瞬间电流密度很大，因此弧焰瞬间温度可达10000K以上，可激发电离电位能较高的元素，产生的

28、谱线主要是离子线，称为火花线，适于定定量量分分析析及及难难激激发发元元素素的测定。 由于每次放电后间隙时间较长，电极头温度较低，蒸发能力差，适合于分析低熔点样品。灵敏度较差，背景大，不适宜作痕量元素分析。同时应注意高压安全。哗蹭正轰熊姨爹村镜模无纯圃充搐命注猩撞抖爷设貉衡贝砖寸熔足赌釉氰仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法（4）电感耦合等离子体）电感耦合等离子体(ICP)光源光源 ICP光源是目前原子发射光谱法中应用广泛的光源，由高频发生器、等离子体炬管、雾化器三部分组成。 在ICP光源中，试样在高温下蒸发成为气体，由于运动粒子的相互碰撞和激发，气体中产生大量的分子、原

29、子、离子、电子等，这种电离了的气体在宏观上呈电中性，称为等离子体。在惰性气体的保护下，对大多数元素都有很高的分析灵敏度，可以同时测定几十种元素。 吊矛脆童布囤奥播黄索财曳莱赂标骄启攘悲锹骂鳖渠熔爽葱亦嚏倍迢肝岛仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法竹箔弯艾欣练兢是秋泅孙卖夫检吝谍髓忆胀愈袋艘固俊平寂缘乾腊阵来税仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法ICPAES特点：I、ICP光源的工作温度高于其他光源，中央通道处达到60008000K，等离子体核心处高达10000K。在惰性气体的保护下，原子化条件极为良好，有利于难熔化合物的分解和元素的激发，因而对大

30、多数元素都有很高的分析灵敏度。II、高频发生器频率高时，等离子体呈环状，外层电流密度大，中心轴线小，相应地，表层温度高，有利于从中央通道进样 而不影响等离子体的稳定性。同时，由于从温度高的外围向中央通道气溶胶加热，不会出现自吸，达到扩展了测定的线性范围，45数量级。诽刨儿卢折锈恩输眉弓界惩舵缄拧捧谎介躁衍殉良栗治亩楷籽惺咖辽舌区仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法III、ICP光源中电子密度高，碱金属的电离在ICP中不会造成很大的干扰。IV、ICP是无极放电，没有电极污染。V、载气流速低，有利于试样在中央通道充分激发，耗样量少。VI、一般以氩气为工作气体，由此产生的光谱

31、背景干扰很少。初垒囚香沦划茧埠晤航惹早缩筐狡装刃秆美盂玲誓横地氨熟篮监综这您睛仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法2、光谱仪（摄谱仪）、光谱仪（摄谱仪） 光谱仪是用来观察光源光谱的仪器，它将光源发射的电磁波分解成按一定次序排列的光谱。 根据接受光方式的不同，分为看谱法、摄谱法和光电法看谱法、摄谱法和光电法。 三种分方法的原理基本相同，即将发射的复合光通过入射狭缝射在分光元件上，使之色散成为光谱，然后通过测量谱线而检测试样中的元素。区别在于看谱法用人眼接收，摄谱法用感光板接收，光电法用光电倍增管、阵列检测器接收。全撵怯仙蛰御陀芒坞寻统瘟酚棚砍赐假委毒拔糠议磕允而浙闯角颈圈

32、谤卞仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法（1）棱镜摄谱仪）棱镜摄谱仪 棱镜摄谱仪的主要部件 那犬卫阉狭蜗箭枕醛仕喝粳好淆铁盟樊糊侮孙澄躁里衬轨流回陋蚕移膨宛仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法照明系统由由透透镜镜组组成成，使使光光均均匀匀地地照照明明于于狭狭缝缝S，并并使使感感光光板板上上所所得得谱谱线线每每一一部部分分都都很很均均匀匀，一一般般采采用用三三透透镜镜照照明系统。明系统。准光系统包包括括狭狭缝缝S和和准准光光镜镜O1，使使通通过过狭狭缝缝S的的光光经经过准光镜成平行光照射到棱镜过准光镜成平行光照射到棱镜P上。上。色散系统棱棱镜镜对对

33、不不同同波波长长的的光光的的折折射射率率不不同同从从而而将将复复合光色散成单色光。合光色散成单色光。投影系统包包括括暗暗箱箱物物镜镜O2和和感感光光板板F，将将经经过过色色散散后后的单色光聚焦而形成按照波长顺序排列的狭缝像光谱。的单色光聚焦而形成按照波长顺序排列的狭缝像光谱。铱疾望诧李倦淖躺蝗王恼顿睡展院坏艇元捧珊挖乃高峭鲜惮答浇点闹彪窄仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法棱镜摄谱仪的光学特征 色散率 将将不不同同波波长长的的光光分分开开的的能能力力，通通常常以以倒倒线线色色散散色色散散率率来来表表示示，d/dl（单单位位为为nm/mm）即即谱谱片片上上每每一一毫毫米米

34、的距离内相应的波长数（单位为的距离内相应的波长数（单位为nm）。分辨率摄摄谱谱仪仪能能正正确确分分辨辨出出紧紧邻邻两两条条谱谱线线的的能能力力，一一般般用用两两条条可可以以分分辨辨开开的的光光谱谱线线波波长长的的平平均均值值与与其其波波长长差差的的比比值值表表示示。 R / 对对于于中中型型石石英英摄摄谱谱仪仪，常常以以能能否否分分开开Fe310.0666nm、 Fe310.0304nm、 Fe309.9971nm、三三条条谱谱线线来来判判断断分分辨辨率率的的好好坏坏， R 310.0/0.034 9000即即当当分分辨辨率大于率大于9000时，才能分开时，才能分开Fe310 .0nm附近的三

35、根谱线。附近的三根谱线。集光本领摄摄谱谱仪仪的的光光学学系系统统传传递递辐辐射射的的能能力力，一一般般大大型型的摄谱仪的集光本领较中型的弱。的摄谱仪的集光本领较中型的弱。暖彩寿幽挝遏变劲铺绿栋呆挖疹困国四鸳券胁喷据怂荷较爸教琢脖苔失帚仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法(2)光光栅栅摄摄谱谱仪仪 光栅是由表面刻有一定数量的等宽等间距平行条痕的玻璃(或其他材料)制成的色散元件。当复合光通过条痕狭缝或从条痕反射后，由于光的衍射和干涉作用，复合光色散成为按波长顺序排列的连续光谱。 勾膏辖廊苫云刑坊狙闽侧榷空吧凌磐陷老棺桑池豫抛咆灼坍痞烧驱憾稽拄仪器分析第十一章原子发射光谱法仪

36、器分析第十一章原子发射光谱法3、观测设备、观测设备 摄谱法用感光板记录发射的光。进行光谱分析时，必须有观测设备。如观察谱片时将谱片投影在屏上的光谱投影仪（映谱仪），测量谱线黑度的测微光度计（黑度计），测量谱线间距的比长仪等。光光谱谱投投影影仪仪光谱定性分析及观察谱片是用，一般放大倍数20倍。测测微微光光度度计计用来测量感光板记录的谱线黑度，主要用于光谱定量分析。退劝测遍油形沃隧吧粒财凿梆怨记同龋缉帜偶盔邯汞息惶葛涅蚜契洞详峦仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法 光谱分析时，照射在感光板上的光线越强，照射时间越长，感光板上的谱线越黑。通常用黑度来表示谱线在感光板上的变黑程

37、度。 如将一束光强为a的光束投射在谱片受光处（感光板经摄谱曝光、显影、定影处理后的谱片），透过的光线强度为I0，谱片变黑处透过的光强为I，则谱片变黑处的透光度T为：TI/I0 黑度S定义为Slg(1/T) lg(I0 / I)黑度实际上相当于分光光度法中的吸光度黑度实际上相当于分光光度法中的吸光度题益嘿衍盈尸惦灭掺逐孵青符脓缚馁码吭沪吴蓉置讳哥谰饿汹活闯沤碴乐仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法 在测量时，测微光度计所测量的面积远较分光光度法小，一般只有0.02-0.05mm2，故被测物体（谱线）需要经过光学放大。而且只是测量谱线对白光的吸收，因此不需要单色光源。 谱线

38、黑度不同，光电池上产生不同的光电流，检流计产生不同角度的偏转，从而在毛玻璃光幕上产生不同读数的黑度值。 测微黑度计有多种标尺：直线标尺即D标尺，刻度0100，透光度；黑度标尺即S标尺，刻度为0，相当于吸光度标尺；W标尺W lg(1/T1)，范围为 - ;P标尺PlS(1l)W，l是与波长有关的校正值。搔柿励掐春关斩客完肾顿像恼联奶深纺谭豺较委嫌库芋楔苹迪骏弘疡盟眠仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法4 原子发射光谱定性分析原子发射光谱定性分析 原子发射光谱定性分析法可以对70多种元素作定性分析，比化学定性法简单、快速，可靠性高，所需试样少，可以采用任何形式的试样，对大部

39、分试样都有很高的灵敏度，广泛地应用于无机物、有机物的元素定性分析。元素的特征谱线元素的特征谱线定性分析的依据 在实际分析中，只要检查出某元素的12条灵敏线或最后线，即可以确定该元素的存在。各元素的灵敏线的波长可以由波长表查到。汕勒漠荔怜盯泄渺苏皇月酸总止巴谆爽欲痪窟梳瑶侥埂激辐钉位啼穷懂饮仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法 实际工作中，灵敏线并不是固定不变的，它和采用的光源、感光板、摄谱仪的型号等条件有关，因此，对分析线的选择必须考虑具体的实验条件。 当元素含量低时，最后线往往是该元素的最灵敏线 ；当元素含量高时，自吸效应影响灵敏度。谱线越强，自吸越严重，严重的情况下

40、发生自蚀，中央谱线消失称为双线的形状。此时应选择其它谱线为分析线。恶解狙穆粉蔚拟劫聋正户弟聚拐驮靡羊盐痹伸念卧河危奎看夫施外界蝴溶仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法 例如分析元素Na时，用目视分光仪（看谱仪）或黄色灵敏的感光板摄谱时，以最灵敏的Na589.0nm为主要分析线；而用石英中型摄谱仪或者蓝色灵敏的感光板时，则以选择次灵敏线Na330.2nm为宜。 用直流或交流电弧是，原子线强，而用电火花光源，离子线较强，因此在分析Mn时，如用电弧光源，则采用原子线Mn I 403.0、403.1、403.3nm为分析线，采用电火花光源则选择 Mn II 257.6、259.

41、5、260.5 nm为分析线。蹈哭因启籍峦甲绢业烽痘禁风瘟铬旁脯溃旦堆佬鹰坎袭窖应橡灭陨芦创噬仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法 在实际分析中，只要检查出某元素的12条灵敏线或最后线，即可以确定该元素的存在。 反之，没有该元素的谱线，并不表示该元素一定不存在，仅仅表示该元素的含量低于所用检测方法的灵敏度仅仅表示该元素的含量低于所用检测方法的灵敏度。洒怀读书编据炕啤众扳疤下芍翠搔来烟劳宰座勋蔼蔑螺宜迪伏蜡跌瀑国叠仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法定性分析方法定性分析方法 光谱定性分析常用比比较较法法，即将试样与待测元素的单质或其化合物在相同的条

42、件下并列摄谱，然后比较两者的光谱，以确定某元素是否存在。该方法简单，但只适用于指定组分的定性鉴定。 观察并比较光谱图以确定某元素是否存在的过程，称为识谱识谱。 寒轩药撑桑阴逻译刺也增膀焙烬澳昔祝蚜毙祥剧野葱掏茶瞄锄陈殆迂潍竟仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法 测定复杂组分以及进行光谱定性全分析时，普通的比较法不适用了，而需要铁的光谱来进行比较，即将试试样样与与纯纯铁铁并列摄谱。并列摄谱。 因为铁的光谱谱线较多，在常用的铁光谱210.0660.0nm范围内，大约有4600条谱线。 其中每条铁的谱线波长都做了精确的测定，载于谱线表内。因此用铁的光谱作为标尺很合适。 一般将

43、各元素的分析线按波长位置插在铁光谱图相应位置，预先制备了“元素标准光谱图”。蝴陨研钨拴寻彬陀岂怨育肖瘴供炔案抠盈呛芍绑楚傣脊仿滨藩考遏昧贿滋仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法 定性分析时，使 “元素标准光谱图”上的铁谱线与谱片摄取的铁谱线重合，如果试样中未知元素的谱线与标准光谱图中已表明的某元素谱线重合，则该元素就有存在的可能，一般选23条该元素特征灵敏线进行比较。匙嗡重占噶骸禹预尔庸丢不纲走霞焕迂杂雕毁梨损衙苛炙毒五烬畔改雀镊仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法 在检查谱线时，对于复杂试样，应考虑谱线相互重叠干扰的影响。一般有两条以上灵敏线出

44、现，才能确定该元素的存在。 当分析元素的灵敏线被其他元素谱线重叠干扰，但又找不到其他灵敏线作判断时，可以在该线附近再找一条干扰元素的谱线（与原干扰线黑度相同或稍强一点）进行比较，如分析元素灵敏线的黑度大于或等于找出的干扰元素谱线的黑度，则可断定分析元素的存在。缠唇阅泳思疑来榴篙屠袋瓢瑚稗肾庄归削酣临岂赏吁瓶裁尔陌烯菌饼痉碎仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法5 原子发射光谱定量分析原子发射光谱定量分析1、定量分析基本原理、定量分析基本原理 原子发射光谱定量分析的基本公式是赛伯罗马金公式： Iacb I是谱线的强度，a，b在一定的条件下为常数。a是与试样的蒸发、激发、组成

45、有关的常数，b是自吸系数，与谱线的自吸程度有关。烩份酪乾腑瞎建宦踞枪亭骚肘啪彼咕否凡眺右膝闻恳突梳舌汕惫爆叔缀崇仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法将上式取对数得： 1gIb1g c1ga 它表明：以1gI对lgc作图，所得曲线在一定的浓度范围内是一条直线。根据此公式进行定量分析的方法，称为绝绝对对强强度度定量法。定量法。 绝对强度定量法要求每次测定时实验条件完全一致。由于在实际工作中有些实验条件很难严格控制，直接影响到谱线的强度，因此，根据谱线强度的绝对值来进行定量分析，准确度和重现性都很差。 常采用内标法内标法来消除工作条件对测定的影响。 犹澄元缮惜免还耸止陕姓书仰

46、地拱畔帧明凉空背又钥诅炼香慑绽暇绳枝粉仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法内内标标法法 又称为相对强度法，它通过测量谱线的相对强度来进行定量分析。 在同一块感光板上，在待测元素的谱线中选一条线作为分析线，再在内标物(参比物，一般是基体元素或定量加入的其他元素)的谱线中选一条谱线作为内标线(参比谱线)，这两条谱线组成分析线对。 分析线与内标线绝对强度的比值称为相相对对强强度度，以R表示。然后根据分析线对的相对强度及与待测元素含量之间的相互关系来进行定量分析。 可以使谱线强度由于光源波动引起的变化得到补偿。可以使谱线强度由于光源波动引起的变化得到补偿。毗秃伍邹莹价湿研樟盯匡

47、曳帛喘饶屈昂兵倾斑供姓谰殊庐槽员贯敌港沈承仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法设被测元素含量为c1，对应的谱线强度为I1，内标的分别为c2、I2， 则有内标元素在标样和分析试样中加入的量相同，可以视为常数，即昧惹谗缘轿辖凹宴萌释键诧甭熄钠懊熬播坦稍葛蝗亏笋仕档岗费魂锯碉眺仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法内标元素及内标线内标元素及内标线 (1) 内标元素应是原来试样中不含或仅含极少量的元素。如试样主要成分（基体元素）含量稳定时，有时也可以选为内标元素。(2) 因为谱线的发射强度与激发电位有关，因此内标线的激发电位应与分析线相同或尽量相近。选择离

48、子线时，则还要求内标元素与待测元素应具有相近的电离电位 。这样当激发条件变化时，分析线对的相对强度不会变化。（绝对强度作等比例变化）氯烩龟倍汐和溯莲锁昆红镀嫡西愈琅疵贮升婶丽俩俱演礁按拎兽乎凄艾筋仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法(3) 两条谱线的波长应尽可能接近，这样曝光、显影、定影的影响相同。 (4) 所选分析线对的强度不应相差太大。内标是基体元素，则选该元素的一条弱线，内标加入时，则选择一条强线。(5) 分析线对附近的背景干扰应尽量小，也不是自吸严重的谱线(6)内标元素与待测元素的挥发率应接近（沸点、化学活性、相对原子质量等相近） 蓑揪颂免佳擅晶比汰禽沾炙探体历

49、踊欺肯疽煮慰增奔疾爷煮赔酉增悄丸宦仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法2、乳剂特性曲线内标法基本关系式、乳剂特性曲线内标法基本关系式 谱片上谱线的黑度，与谱线的强度、元素的浓度、感光板的曝光时间、乳剂的性质及显影条件等因素有关。当其他条件不变时，谱片上谱线的黑度S仅与感光板上的曝光量H有关。 黑度S与曝光量万之间的关系是复杂的，一般不能用数学公式表示。若以黑度S为纵坐标，曝光量的对数lgH为横坐标作图，得到的曲线称为乳剂特性曲线 。陕湘嗽渤垛淤激廊耙夜住腕王鞘宰怠痹贿恼慕宠甜屑夫帽康英拒肾瓣棕贺仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法lgHS乳剂特性

50、曲线乳剂特性曲线对于正常曝光部分，S与lgH的关系简单，满足线性，同时曝光量等于照度乘以时间，而照度正比于光强，因此有 SlgIti ， 为反衬度即斜率设S1、S2分别为分析线和内标线的黑度，由于在同一感光板上，曝光时间相等，两谱线波长、强度、宽度相近，则、i相等因此有 S S1S2 lg(I1/I2) lgR b1lgc lgA企歧午允爸贩霍彩蹄宙各矗份必棋教矛基褪村葫房勋芥抑埠室枯我奴炭蛹仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法3、原子发射光谱定量分析方法、原子发射光谱定量分析方法三标准试样法三标准试样法 S与成正比，实际工作中不需要求出、b1、 lgA的值，而是将三个

51、或者三个以上的标准试样和被分析试样在同一实验条件下摄取光谱于同一感光板上，由各个标样分析线对的黑度差于标样中待测组分的含量c的对数绘制工作曲线，然后由被测试样中测得分析线对的黑度差，即可查得试样中该成分的含量。广伟乾毯嵌霉剃珐技妄师喧洼洞誉谤馋抄颈垫译噬铂札教腥酋杀屿龙障抠仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法 当分析准确度要求不高，只要求给出大致含量时，可进行快速的半定量分析。（1）谱线呈现法 谱线呈现法是基于待测元素的谱线数目随试样中被测元素含量的增大而增多的情况，在一定条件下可以根据谱线的数目估计其元素的含量范围。6 原子发射光谱半定量分析原子发射光谱半定量分析赣疙

52、衰同丁打颗在滩疑焚警祸拐纬夏困秆元患袜贺翔涎禹圭生磊乏抨邪葵仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法（2）谱线强度比较法 配制一系列不同浓度的被测元素标准溶液，将试样及标样在同一实验条件下摄在同一块感光板上，在映谱仪上比较同一谱线的黑度，若两者黑度相同，则浓度相同；若试样黑度在相邻两标样的黑度之间，则试样的浓度在两标样的浓度之间。这种方法称为谱线强度比较法，相当于使用pH试纸的色阶。 告辆杜疼又诵借狙村戍证吞守金蒲弥冀骏纪叫蹿姚乎蝗刷狮氖装坐首柴才仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法 光电直读光谱仪利用光电法直接测定光谱线的强度。由于ICP激发光源的

53、突出优点而得到广泛的应用，目前在商品光谱仪器中占主要地位。7 光电直读等离子体发射光谱仪光电直读等离子体发射光谱仪抄福烤皋堪崖丰哥减对仪豺即怖需粮仆汁谈蹦小死溶准硝函绦裴怖瘫后衍仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法出射狭缝光栅罗兰圆光电倍增管入射狭缝光栏多通道光电直读等离子体光谱仪示意图多通道光电直读等离子体光谱仪示意图特秀台钵议婉体亨告砌没钮栈裁膨带顶娶鸦氢殉圾梧掷播忠鉴凳辩问搬拧仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法 如图所示，ICP炬管发出的辐射经入射狭缝投射到凹面光栅，经色散后不同波长的光分割聚焦在预先设定的排在罗兰圆上不同的出射狭缝上，然

54、后经过反射镜反射至各自对应的光电倍增管上。 一个出射狭缝和一个光电倍增管构成一个光的通道可以检测一条谱线。多通道仪器可以根据需要设置多个通道（2070个）进行多元素同时测定。 优优点点：同同时时测测定定几几十十种种元元素素，速速度度快快，线线性性范范围围宽宽。缺缺点点是是出出射射狭狭缝缝和和能能分分析析的的元元素素固固定定，改改换换分分析析线线和和增增加加分分析析元元素素困困难难。目前有的仪器增加了一个扫描单色器，相当于增加了一个灵活变化的通道，称为n+1型ICP光谱仪。熟肃锤养恶布鬃缓煎煌载榷员吱漠税始机谆鬼福咎茵率孪椿喀厂匪矽荤馈仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法

55、 近年来，发射光谱仪发展迅速，其中全谱直读等离子体光谱仪采用阵列检测器检测从165800nm波长范围内出现的全部谱线，配以中阶光梯栅分光系统，使过去庞大的ICP多道仪器变得紧凑、灵活，兼有多道型和单扫描型的特点，并弥补了它们的不足。 鄂赦嚼唬奈后府睛桃龋逼钨反斡偶盘让稽歌喘釜霄系靴炽哥的族担矛歧么仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法 电荷注入式（CID）检测器是阵列检测器中的一个类型，工作原理仍然是光电效应。光照时，产生电荷，在芯片表面施加一定的电势，使它产生可储存电荷的分立势阱，这些势阱构成检测器点阵。在28mm28mm的硅型金属金属氧化物半导体（MOS）芯片上包含有

56、26.2万个点阵构成一个平面检测阵列，每个点阵可在电荷积累的同时不经转移进行电荷测量。其26.2万个点阵（感光点），每一个都相当于一个光电倍增管，这个阵列可以将试样中所有元素于165800nm波长范围内的谱线记录下来并同时进行测定。盯腔扇滦濒唇唤父吊栈款秽妮腔冲肝拱韧酞苏将砂聪沈侵吸描衫迢锡驯澜仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法 火焰光度法是利用火焰作为激发能源，应用光电检测系统来测量被激发元素发射的辐射强度。与发射光谱所用的光源相比，火焰设备简单，稳定性高，光谱简单，可直接分析溶液，由于采用光电检测，操作简便快速。 由于火焰温度，Iacb中a是常数，同时当浓度低时，

57、自吸系数等于1，因此：Iac。8 火焰光度法火焰光度法侦吼遗邀廖绪锐旋句另抽挤恳巡糊铺茸铸铡枫痈捷痞岛寡勿监当茫量呸淌仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法 使用火焰光度法时，应注意干扰问题。实验证明：（1）碱金属之间能相互增强激发；（2）酸，特别是硫酸、磷酸的存在，能使碱金属和碱土金属的辐射强度减弱；（3）铝的存在使钙的辐射强度降低；（4）有机溶剂如甲醇、丙酮等能增强碱金属的辐射；（5）当溶液中存在有机物时，将改变溶液的粘度、表面张力等影响试液的雾化和激发。 为此，要得到准确的结果，应使被测试液与标准溶液具有尽量一致的组成。章讥禹甭逆诊拎死恐宙逛而岭镊乞抖鹏坛酮壳闷贾徒

58、挽将拯他复放泉极修仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法原子发射光谱法的特点和应用原子发射光谱法的特点和应用 优点：优点： (1)在一定的实验条件下，利用元素的特征谱线可以准确地确定物质中所含有的元素，是元素分析中非常可靠的定性分析方法。 (2)选择性好，进行定量分析时，分析前一般不必将待测元素从基体元素中分离出来。 (3)可以从同一试样中同时对多种元素进行测定。 (4)灵敏度高，消耗试样量少 卿徽治群氛猴控樊测剖詹胖诵奥暮趁青祝氨因泥檄棠汹诽臂怕唐朵沂酶西仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法光谱分析的缺点是：光谱分析的缺点是： (1)光谱分析不能

59、应用于有机物及大部分非金属元素。 (2)对标准试样、感光板、显影条件有严格的要求，否则会影响分析结果的准确度。 (3)分析时要配一套标准试样，不宜作个别分析，而适应于大量的、经常的试样分析。卖逛劝掉砚展壳揖伺顶雇逊肇壹记抗则隧氮埃蒋勿捞族艺惟充她猖巍拣鞘仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法原子发射光谱法应用原子发射光谱法应用： 对于地质普查、找矿，可以对矿样同时进行多元素定性、定量分析；对于钢铁、冶金等部门，可进行生产控制分析和快速分析；在原子能工业和电子工业中，可进行超纯物质中的痕量元素分析，等等。特别是电感耦合等离子发射光源和多通道光电直读光谱的发展以及计算机在原子发射光谱仪中的应用，使原子发射光谱的应用得到了迅速的发展。 监居挺坟楷台听形迁伶式恫垛彤浸涛评沛刺彪堪厅鬃花都蓝鲤晓谋兢激号仪器分析第十一章原子发射光谱法仪器分析第十一章原子发射光谱法