霍尔效应实验报告(共8篇)

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1、篇一：霍尔效应实验报告大学本（专）科实验报告课程名称：系：姓名：学院：系：专 业：年级：学号：指导教师： 实验报告目录）实验名称成绩：年月日一、实验目的和要求二、实验原理三、主要实验仪器 四、实验内容及实验数据记录五、实验数据处理与分析六、质疑、建议 霍尔效应实验一实验目的和要求：1、了解霍尔效应原理及测量霍尔元件有关参数.2、测绘霍尔元件的vh?is, vh?im曲线了解霍尔电势差vh与霍尔元件控制（工作）电流 is、励磁电流im之间的关系。3、学习利用霍尔效应测量磁感应强度b及磁场分布。4、判断霍尔元件载流子的类型， 并计算其浓度和迁移率。5、学习用“对称交换测量法”消除负效应产生的系统误

2、差。二实验原理：1、霍尔效应霍尔效应是导电材料中的电流与磁场相互作用而产生电动势的效应，从本质上讲，霍尔 效应是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力的作用而引起的偏转。当带电粒子（电子或空穴） 被约束在固体材料中，这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷在不同侧的 聚积，从而形成附加的横向电场。如右图（1）所示，磁场b位于z的正向，与之垂直的半导体薄片上沿x正向通以电流 is （称为控制电流或工作电流），假设载流子为电子（n型半导体材料），它沿着与电流is相反的x负向运动。由于洛伦兹力fl的作用，电子即向图中虚线箭头所指的位于y轴负方向的b侧偏转，并 使b侧形成电子积累，而相对的a侧形成

3、正电荷积累。与此同时运动的电子还受到由于两种 积累的异种电荷形成的反向电场力fe的作用。随着电荷积累量的增加，fe增大，当两力大 小相等（方向相反）时，fl=-fe，则电子积累便达到动态平衡。这时在a、b两端面之间建立 的电场称为霍尔电场eh,相应的电势差称为霍尔电压vh。设电子按均一速度向图示的x负方向运动，在磁场b作用下，所受洛伦兹力为fl=-eb式中e为电子电量，为电子漂移平均速度，b为磁感应强度。同时，电场作用于电子的力为 fe?eeh?evh/l 式中eh为霍尔电场强度，vh为 霍尔电压，l为霍尔元件宽度当达到动态平衡时，fl?fe ?vh/l （1）设霍尔元件宽度为l,厚度为d，载

4、流子浓度为n,则霍尔元件的控制（工作）电流为is?ne （2）由（1），（2）两式可得 vh?ehl?ib1isbrhs （3）nedd即霍尔电压vh(a、b间电压)与is、b的乘积成正比，与霍尔元件的厚度成反比，比例 系数rh?1称为霍尔系数，它是反映材料霍尔效应强弱的重要参数，根据材料的电导ne 率。二neu的关系，还可以得到：rh?/(4)式中?为材料的电阻率、卩为载流子的迁移率，即单位电场下载流子的运动速度，一般 电子迁移率大于空穴迁移率，因此制作霍尔元件时大多采用n型半导体材料。当霍尔元件的材料和厚度确定时，设kh?rh/d?l/ned (5)将式(5)代入式(3)中得 vh?khi

5、sb (6)式中kh称为元件的灵敏度，它表示霍尔元件在单位磁感应强度和单位控制电流下的霍尔 电势大小，其单位是mv/ma?t, 一般要求kh愈大愈好。若需测量霍尔元件中载流子迁移率卩，则有?l(7) ?eivi将(2)式、(5)式、(7)式联立求得?kh?lis(8) lvi其中vi为垂直于is方向的霍尔元件两侧面之间的电势差,ei为由vi产生的电场强度，1、l分别为霍尔元件长度和宽度。由于金属的电子浓度n很高，所以它的rh或kh都不大，因此不适宜作霍尔元件。此外 元件厚度d愈薄，kh愈高，所以制作时，往往采用减少d的办法来增加灵敏度，但不能认为 d愈薄愈好，因为此时元件的输入和输出电阻将会增

6、加，这对锗元件是不希望的。应当注意，当磁感应强度b和元件平面法线成一角度时(如图2)，作用在元件上的有效 磁场是其法线方向上的分量bcos?，此时vh?khisbcos? (9)所以一般在使用时应调整元件两平面方位，使vh达到最大，即9 =0， 图(2)vh=khisbcos?khisb由式(9)可知，当控制(工作)电流is或磁感应强度b，两者之一改变方向时，霍尔电压vh的方向随之改变；若两者方向同时改变，则霍尔电压vh极性不变。 霍尔元件测量磁场的基本电路如图3，将霍尔元件置于待测磁场的相应位置，并使元件 平面与磁感应强度b垂直，在其控制端输入恒定的工作电流is,霍尔元件的霍尔电压输出端 接

7、毫伏表，测量霍尔电势vh的值。三主要实验仪器：1、zky-hs霍尔效应实验仪图(3)包括电磁铁、二维移动标尺、三个换向闸刀开关、霍尔元件及引线。2、ky-hc霍尔效 应测试仪四实验内容：1、研究霍尔效应及霍尔元件特性测量霍尔元件灵敏度kh，计算载流子浓度n (选做)。测定霍尔元件的载流子迁 移率卩。判定霍尔元件半导体类型（p型或n型）或者反推磁感应强度b的方向。研究vh与励磁电流im、工作（控制）电流is之间的关系。2、测量电磁铁气隙中磁感应强度 b的大小以及分布 测量一定im条件下电磁铁气隙中心的磁感应强度b的大小。 测量电磁铁气隙中磁感应强度b的分布。 五实验步骤与实验数据记录：1、仪器的

8、连接与预热 将测试仪按实验指导说明书提供方法连接好，接通电源。 2、研究霍尔效应与霍尔元件 特性 测量霍尔元件灵敏度kh，计算载流子浓度n。（可选做）。a.调节励磁电流im为0.8a,使用特斯拉计测量此时气隙中心磁感应强度b的大小。b. 移动二维标尺，使霍尔元件处于气隙中心位置。c.调节is=2.00?、10.00ma （数据采集间隔1.00ma）,记录对应的霍尔电压vh填入 表（1），描绘isvh关系曲线，求得斜率kl（kl二vh/is）。d.据式（6）可求得kh，据式（5） 可计算载流子浓度n。测定霍尔元件的载流子迁移率卩。a.调节is=2.00?、10.00ma （间隔为1.00ma）,

9、记录对应的输入电压降vi填入表4, 描绘isvi关系曲线，求得斜率k2 （k2=is/vi）o b.若已知kh、1、l,据（8）式可 以求得载流子迁移率卩。c. 判定霍尔元件半导体类型（p型或n型）或者反推磁感应强度b的方向根据电磁铁线包绕向及励磁电流im的流向，可以判定气隙中磁感应强度b的 方向。根据换向闸刀开关接线以及霍尔测试仪is输出端引线，可以判定is在霍尔元 件中的流向。根据换向闸刀开关接线以及霍尔测试仪vh输入端引线，可以得出vh的正负与 霍尔片上正负电荷积累的对应关系d. 由b的方向、is流向以及vh的正负并结合霍尔片的引脚位置可以判定霍尔元件半 导体的类型（p型或n型）。反之，

10、若已知is流向、vh的正负以及霍尔元件半导体的类型，可以判定磁感应强度b的方向。 测量霍尔电压vh与励磁电流im的关系霍尔元件仍位于气隙中心，调节is=10.00ma,调节im=100、200?1000ma（间隔为100ma）， 分别测量霍尔电压vh值填入表（2）,并绘出im-vh曲线，验证线性关系的范围，分析当im 达到一定值以后，im-vh直线斜率变化的原因。3、测量电磁铁气隙中磁感应强度b的大小及分布情况 测量电磁铁气隙中磁感应强度 b的大小a.调节励磁电流im为01000ma范围内的某一数值。b.移动二维标尺，使霍尔元件 处于气隙中心位置。c. 调节is=2.00?、10.00ma （

11、数据采集间隔1.00ma）,记录对应的霍尔电压vh填入表（1），描绘isvh关系曲线，求得斜率kl（kl=vh/is）。d. 将给定的霍尔灵敏度kh及斜率k1代入式（6）可求得磁感应强度b的大小。（若实 验室配备有特斯拉计，可以实测气隙中心b的大小，与计算的b值比较。） 考察气隙中磁感应强度b的分布情况a.将霍尔元件置于电磁铁气隙中心，调节im=1000ma, is=10.00ma,测量相应的vh。b. 将霍尔元件从中心向边缘移动每隔5mm选一个点测出相应的vh，填入表3。c.由以上所测vh值，由式（6）计算出各点的磁感应强度，并绘出b-x图，显示出气 隙内b的分布状态。为了消除附加电势差引起

12、霍尔电势测量的系统误差，一般按土im, 土is的四种组合测量 求其绝对值的平均值。五实验数据处理与分析：1、测量霍尔元件灵敏度kh,计算载流子浓度n。根据上表，描绘出isvh关系曲线如右图。求得斜率k1，k1=9.9据式（6）可求出k1，本例中取铭牌上标注的kh=47,取实验指导说明书第3页上的d=2 um 据式（5）可计算载流子浓度n。2、测量电磁铁气隙中磁感应强度b的大小取im=800ma，则可由b=k1/kh求出磁感应强度b的大小3、考察气隙中磁感应强度b的分布情况根据上表，描绘出b-x关系曲线如右图，可看出气隙内b的分布状态。4、测定霍尔元件的载流子迁移率u图。根据上表，描绘出isvi

13、关系曲线如右求得斜率k2已知kh、1、l （从实验指导说明书上可查出），据（8）式可以求得载流子迁移率u。5、测量霍尔电压vh与励磁电流im的关系 表2=10.00ma根据上表，描绘出im-vh关系曲线如右图，由此图可验证线性关系的范围。分析当im达到一定值以后，im-vh 直线斜率变化的原因。6、实验系统误差分析测量霍尔电势vh时，不可避免地会产生一些副效应，由此而产生的附加电势叠加在霍尔 电势上，形成测量系统误差，这些副效应有：（1）不等位电势vO由于制作时，两个霍尔电势极不可能绝对对称地焊在霍尔片两侧（图5a）、霍尔片电阻 率不均匀、控制电流极的端面接触不良（图5b）都可能造成a、b两极

14、不处在同一等位面上， 此时虽未加磁场，但a、b间存在电势差v0,此称不等位电势，vO?isv, v是两等位面间的电 阻，由此可见，在v确定的情况下，v0与is的大小成正比，且其正负随is的方向而改变。（2）爱廷豪森效应 当元件的x方向通以工作电流is, z方向加磁场b时，由于霍尔片内的载流子速度服从统计分布，有快有慢。在达到动态平衡时，在磁场的作用下慢速与快速的载流子将在洛伦兹力和霍尔电场的共同作用下，沿y轴分别 向相反的两侧偏转，这些载流子的动能将转化为热能，使两侧的温升不同，因而造成y方向 上的两侧的温差（ta-tb）。图6正电子运动平均速度 图中v? v因为霍尔电极和元件两者材料不同，电

15、极和元件之间形成温差电偶，这一温差在 a、b 间产生温差电动势ve, ve*ib这一效应称爱廷豪森效应，ve的大小与正负符号与i、b的大小和方向有关，跟vh与i、 b的关系相同，所以不能在测量中消除。（3）伦斯脱效应由于控制电流的两个电极与霍尔元件的接触电阻不同，控制电流在两电极处将产生不同的焦耳热，引起两电极间的温差电动势，此电动势又产生温差电流（称为热电流）q,热 电流在磁场作用下将发生偏转，结果在y方向上产生附加的电势差vh且vn*qb这一效应称为伦斯脱效应，由上式可知vh的符号只与b的方向有关。 （4） 里纪勒杜克效应如（3）所述霍尔元件在x方向有温度梯度dt，引起载流子沿梯度方向扩散而有热电 dx流q通过元件，在此过程中载流子受z方向的磁场b作用下，在y方向引起类似爱廷豪 森效应的温差ta-tb,由此产生的电势差vh*qb,其符号与b的的方向有关，与is的方向无 关。 为了减少和消除以上效应引起的附加电势差，利用这些附加电势差与霍尔元件控制 （工作）电流is，磁场b （既相应的励磁电流im）的关系，采