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1、实验二 集成逻辑门电路的参数测试一、实验目的1. 掌握TTL和CMOS与非门主要参数的意义及测试方法。2进一步熟悉数字逻辑实验箱的基本功能和使用方法。二、实验器材1数字逻辑实验箱 DSB-3 1 台2万用表 2 只3.元器件：74LS20 (T063) CC4012 各一块2CK11 4只电阻及导线 若干三、实验说明1注意正确使用万用表，必须先调好档位再测量，否则易损坏万用表 2注意正确识别二极管极性。四、实验内容及步骤1TTL 与非门 74LS20 静态参数测试(1) 导通电源电流ICCL和截止电源电流ICCH。测试电路如图2-1。注意： 74LS 2 0为双四输入与非门，两个门的输入端应作
2、相同处理。图2-1图2-2(2) 低电平输入电流I iL和高电平输入电流Ii H。每一门和每一输入端都 应测试一次。测试电路如图 2-2。(3) 电压传输特性。调节电位器RW,使Vi从0V向5V变化，逐点测试 V和V。值，将结果记录入表2-1中。根据实测数据作电压传输特性曲线，从曲线上得出VOH、VOL、Von、Voff Vth等值，并计算Vnl、Vnh （提示：在VO 变化较快的区域应多测几点，有利于绘制特性曲线）。测试电路如图 2-3。o +5vo +5v1.2k图2-3360Vo 2CK11表2-1Vi (V)0.30.511.21.31.351.41.451.51.61.72.43.6
3、V0(V)2、 CMOS 双四输入与非门 CC4012 静态参数测试将 CC4012 正确插入面包板，测电压传输特性。测试电路如图 2-4 ，方法同 上。将结果记录入表2-2 中。根据实测数据作电压传输特性曲线，从曲线上得出 VOH、VOL、Von、Voff Vth等值，并计算VNL、VNH。若将三个多余输入端悬 空测试一次，结果正确吗？五、实验报告要求 1列表整理出各参数的测试值，并与规范值相比较，判断所测电路性能的 好坏。2. 画出两条电压传输特性曲线，从曲线中读出各有关参数值。比较TTL与 CMOS门电路电压传输特性曲线的异同。3回答思考题1）测量TTL与非门输出低电平时为何要加负载？图
4、2-3中R选用360Q是什么道理？若 R 很小会产生什么现象？2) TTL与非门输入端悬空为什么可以当作输入为“1? CMOS与非门多余输 入端可以悬空吗？3) 讨论TTL或非门闲置输入端的处置方法。4) 实验中所得ICCL和ICcH为整个器件值，试计算单个门电路的ICCL和ICCH。5) CC4012的电源范围为3-18V,若VDD=15V，则其VOH、VOL、VTH应为多少？表2-4 CMOS双四输入与非门CC4012的主要参数指标TWC 动态参数测试时输入脉沖tf.tfOnSCL=50pF RL=200KQ参数名称符号测试条件(V)参数单位VoViVdd最小值最大静态电流Idd0/550.25uA0/15151.00输出底电平电IoL0.40/550.51mA1.50/15153.4输出咼电平电I OH4.60/55-0.51mA13.50/1515-3.4输入电流II0/18180.1uA输出低电平电 压Vol0/550.05V0/15150.05输出咼电平电 压Vqh0/554.95V0/151514.95输入底电平电 压Vil0.5/4.551.5V1.5/13.5154输入高电平电 压Vm0.5/4.553.5V1.5/13.51511传输延迟时间5250nS1590
