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1、版本1.0方块电阻测量方法发行日期2016-07-18编 号SDXC-STD 03 005N数1 of 2一、检验项目:纳米银线导电膜方块电阻二、定 义:利用四探针法在一定的压力之下测得的面电阻值。三、适用范围:本标准检验方法适用于纳米银线导电材料方阻的测量。四、目 的:测量纳米银线导电材料的方阻以判定其品质。五、检验方法：I、原理及方法方法一1. 样品准备:SNW Film2. 使用装置：四探针测试头、导线、万用表、稳压电源 3. 测量原理a 给四探针测试头两探针施加 DC 1V 电压 , 另外两探针接万用表直流电流挡 , 如 图 2 b 依公式算出方块电阻 计算公式:R S =2n*V/(
2、ln2*I R S :方块电阻0/口 V :施加的电压I :测得的电流注意:探头的表面弧度为 SR0.9mm探头压力 0.450.15N 或 5015gf 探头间距 3mm ,如图 1图 1版本1.0方块电阻测量方法踐行日期2016-07-18编 号SDXC-STD 03 005页数2 of 2图 24. 操作步骤:a Film 按 TD*355mm 切割材料b 将稳压电源调至 ON , 电压调至 1Vc 将稳压电源正极接至探针一端、负极接至探针另一端 ,如图d 将万用表置直流电流档 , 一表笔接至探针一端 , 一表笔接至探针另一端 , 如 图e 将试片有效区域等距分成 N 点 , 开始测试并记录数值。f 将所测得数值输入表（ 一 ,计算其方阻。方法二1. 样品准备:SNW Film2. 使用装置:方阻仪3. 操作步骤:a Film 按 TD*300mm 切割b 将稳压电源调至 ON , 电压调至 1Vc 将方阻仪置 ON 挡d 将试片有效区域等距分成 N 点 , 开始测试并记录数值e 将所测得数值输入表 （一 ,计算其方阻。
