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1、各种吸波材料的比较Christopher L Holloway沙斐翻译一 前言最早暗室（全电波）建于50年代，用于天线测量。吸波材料由动物毛发编制而成，外涂一层碳，厚2英寸（5.08cm）。在2.410GHz正入射时，反射系数为-20dB。60年代，以上的吸波材料被新一代、由一定形状的吸波材料所取代，正入射时反射系数为 -40dB。目前普遍使用的聚氨酯锥体40年代就开始研究，60年代才有产品。正入射时的反射系数为 -60dB。然而可使用的频率范围较高，要求锥体的厚度（尖顶到基座）至少是几个波长。电-厚锥体的良好性能主要来源于锥体直接的良好多重反射。由于锥体的厚度大于波长，锥体的周边反射入射波。
2、波在相邻的锥体间不断的反射，再反射很多次。每次反射时总有一部分波被锥体吸收。因此，仅有小部分抵达锥体基座。基座吸收后到达金属板，金属板反射后又进入锥体，再通过多重反射和吸收。最后从锥体的尖返回的波已是非常小了。电-厚锥体的最佳性能的获得，依靠锥体内渗碳加载的调节，要求碳负载足够小，以便每次波反射时进入锥体的波尽可能多，但渗碳加载又要足够大，以便充分吸收进入锥体的波的能量。半电波暗室最早用于70年代，作为开阔场地的替代场地，测量辐射发射。频率范围为301000MHz。但最早暗室中粘贴的典型的吸波材料厚度为36英尺（0.911.83m）。显然在30MHz的频率上，厚度不可能是几个波长。因此暗室的频
3、率范围被限制在901000MHz。3090MHz频段的吸波材料开发缓慢，因为无法预测和测量电-薄吸波材料（即厚度250MHz抗扰度-18dB，正入射，80-1000MHz符合场均匀性要求发射 3m 暗室-18dB，正入射，30-1000MHz符合归一化场地衰减NSA的要求-12dB， 入射，30-1000MHz发射10m 暗室-20dB，正入射，30-1000MHz-15dB，入射，30-1000MHz由表可知： 吸波材料在斜入射时的反射率劣于正入射，所以暗室越窄长，对吸波材料的反射率要求越高（例，3m法和110m法比较）。对吸波材料的反射率要求，发射抗扰度军标。因为，NSA是与开阔场地的理论
4、值相比较，要求较严。NSA规定的允许值中只有是给暗室场地的。抗扰度对均匀场要求是室内场互相比较要求低一些，军标原本就没有硬性规定，测试距离又是1m，所以要求更低些。对于斜入射反射率的测试，原先的大测试装置【7】【10】只能用作正入射测试（301000MHz），如果用拱形架测试【26】【27】斜入射也只能测600MHz以上频段。美国NIST（in Boulder CO）已开发了一种装置，利用时域测量方法，可以测量30-1000MHz的斜入射反射率【28】【30】。三聚氨酯锥型吸波材料锥的反射率已经可以很精确地用数值模型来计算，已采用有限元法、矩量法和有限差分技术【16】【17】【31】【39】。
5、这些技术计算精度高，但太精深，耗时长。【4】【6】和【40】中研究了低频段（即锥或楔型吸波材料的顶点之间的距离小于波长的频段）电磁波的相互作用，提出利用“均质化方法”把横截面为周期性变化的结构，看成是横截面是均匀的介质，从而可以用大家熟知的Riccati方程式的数字解法来求出平面波入射到该介质上的反射率。【4】【6】【14】【37】和【39】计算了锥型顶点间距小于1/2波长时的反射率。计算结果和实测很符合。Riccati方程解法等效于计算一个分层区域的综合反射率，但是它需要一个微分方程的数值解法。然而，分层区域的反射率本可以用经典传输线方法得到【41】。本文将使用分层方法计算。根据“均质化方法
6、”，电波在锥型吸波材料区域中的传播可以看成波在平面分层区域中传播。平面分层垂直于锥的轴向，设为Z。每层由周期性分布的吸波方块组成，如果吸波方块阵的周期小于波长和趋肤效应，于是各层可以被模拟为单轴向异性的材料，材料特性由【5】【40】给出。 （3）式中， 真空中的参数 吸波材料的实际参数 各层 z 方向的参数（轴向） 各层X、Y 方向的参数（横向）（注：当时，）（3）式中，、是精确的、是近似的，称为 Hashin-Shtrikman公式【42】以上方程精度为5【43】。平面波入射到一个轴向异性的分层区域时，各层的有效和由【5】【40】给出。 对于垂直极化 ( TE ) （4）式中，为入射角 对于
7、平行极化 ( TM ) （5）所谓垂直极化（TE）是指电场与入射面垂直；平行极化（TM）是指电场与入射面平行。图1 标准聚氨酯锥（氨基甲酸酯urethane）示意图【41】（利用经典传输线理论）Kong给出了分层区域的综合反射率 （6）式中是指从区0和区1到区和区的总距离。是区和区间的反射系数，由下式给出： （7） 对于TE 波对于TM 波式中 是Z 方向区的传播常数，由下式给出 （8）本文计算反射率时所用的材料参数来自于“附录”，请查阅。图2，正入射时的反射率，锥为：图3，正入射时的反射率直径为：渗碳加载10、26、34，频率301000MHz8ft 锥比4ft锥的反射率至少低10dB。图2
8、 1.22m (4ft) 聚氨酯锥阵、三种不同渗碳加载的正入射反射率图2和图3显示4ft锥最佳渗碳加载为34，8ft锥为26。锥的作用象阻抗匹配网络。渗碳负载量决定锥的有效特性阻抗。碳负载过高则阻抗变化（从自由空间到吸波材料基座）太陡峭，引起入射波从锥尖附近区域反射。反之，渗碳负载过低，则入射波透入锥体后不被吸收，从而被金属墙反射。图4和图5是正入射和入射时的反射率，长度分别为4ft和8ft，渗碳加载为26（典型值）。图3 2.44m (8ft) 聚氨酯锥阵、三种不同渗碳加载的正入射反射率图4的反射率（4ft锥）符合军标和抗扰度要求，在701000MHz符合辐射测试要求。这符合【3】Germa
9、n报告的结果，该报告叙述了35个半电波暗室，暗室使用锥体厚度测得NSA在90MHz以上与开阔场地基本相符。图4 1.22m (4ft) 聚氨酯锥阵、26渗碳加载和斜入射时的反射率图5的反射率（8ft锥）符合军标、抗扰度和3m法辐射测试要求（401000MHz）可见，锥体厚度以加一倍后，使4070MHz频段也符合了辐射测试要求。Holloway和Kuester【6】和Gibbons【44】曾经证明在3m半暗室安装8ft（2.44m）甚至6ft（1.83m）的锥体就可以在301000MHz内使NSA达到的要求，只要适当地调整锥长L，而仍保证，这时渗碳负载为典型值26。图6显示了调整的结果，L的调整
10、在30-40MHz内对反射率的影响很大。图5 2.44m (8ft) 聚氨酯锥阵、26渗碳加载和斜入射时的反射率图6 2.44m (8ft) 聚氨酯锥阵、各种倾斜长度（）、26渗碳加载的正入射反射率图7 2.44m (8ft) 聚氨酯锥阵、L=2.08m (6.82ft)、26渗碳加载的和斜入射反射率图7显示了8ft锥当时，26渗碳负载时无论是正入射和斜入射都符合军标、抗扰度、3m法（301000MHz）辐射测试的要求。图8 聚氨酯绞锥图示四 绞锥（TWISTED URETHANE RYRMIDS）绞锥即把锥体转组成锥体群，如图8所示，可以节省材料。其有效材料特性如下【43】： （9）式中对 ：、 、对 ：、图9和图10分别为4ft（1.22m）和8ft（2.44m）绞锥，26渗碳负载的正入射和入射时的反射率，计算方法仍可采用第三节的分层法。由图9可以看出4ft绞锥符合军标，但抗扰度和3m法辐射值在1351000MHz中符合要求；8ft绞锥符合军标，但抗扰度和3m法辐射值在701000MHz中符合要求；虽然绞锥不如正规锥体好（图4，图5），但Gibbons【44】显示采用不同几何形状和渗碳负载，绞锥可以优化而获得与标准锥同样的反射率。Gibbons还叙述了用2.74m (9ft) 绞锥可以达到军标、抗扰度、3m法、10m法的要求。
