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1、汇能在小批量电子元器件来料检测中的应用收藏此信息 打印该信息 添加：用户发布 来源：未知概要生产一种电子产品，会涉及到多种类型的电子元器件，然而在国内元器件市场中，充斥着各种各样的翻新件、以次充好的水货，由于中小批量生产的采购量不大，购置多种专门检测设备不现实，导致产品质量难以保证。汇能测试仪能以很好的性价比，解决其中的很多问题。本文主要介绍这方面的内容。注意，元器件来料测试都是在离线的情况下进行的。一、对元器件测试的一些讨论元器件的测试可分三个层次。端口特征测试、功能测试、和性能测试。不同测试层次的测试成本、故障覆盖率不同，或者说，经过不同层次的测试，能可靠使用的把握不同。端口特征测试：端口
2、测试通过检查器件管脚的电特征，发现器件输入、输出电路上的故障。例如，用万用表测试器件的管脚电阻属于端口测试。功能测试：功能测试通过检测器件的输入输出关系，判断器件能否完成规定的电路过程。例如，7400、74LS00、74ACT00的输入输出关系相同，对于功能测试而言，它们是一样的，但它们完成同样功能的“水平”不同，功能测试不能发现其中差别。功能测试属于定性测试。性能测试：性能测试检测器件的电参数是否达标。对于参数测试而言，7400和74LS00是不同的除了输入输出关系相同外，驱动负载的能力、对前级电路的要求、功耗等等参数都不相同。性能测试能够发现其中差别。性能测试属于定量测试。从测试的角度来看
3、，所谓的“翻新件”、“水货”、“劣质件”，主要表现在器件的电路功能正常，但性能参数不达标。描述一个器件性能的参数有很多，严格的讲，只有所有参数都达标，才保证器件是好的，但对于器件应用厂家，测试全部参数是不可能的。测试哪些参数，通常需要在电路设计要求、测试成本、测试条件之间平衡。当器件在结构上由输入、输出和中间级电路组成的时候，上述分划是清楚的。当器件简单到不再能区分出输入、输出和中间级电路时，这种分划也变得不那么清楚。例如二极管、电阻的端口曲线就是它的功能曲线，如果测试仪的精度够高，主要直流参数也能从曲线上得到。从故障检出能力来看，性能测试的故障检测能力最强。不能通过端口和功能测试的器件，一定
4、不能通过参数测试；一般认为功能测试的检测能力强于端口测试，但是存在通过功能测试不能通过端口测试的情况。从测试仪器功能来看，能做性能测试的，都能够进行功能测试，反过来，由于性能测试需要额外的硬、软件，所以只能做功能测试的仪器，通常都不能进行性能测试。把上面的讨论结合到具体的元器件来料检测工作中，可以归纳出以下几点：a. 对一种元器件，不但要知道能不能测，还要了解具体的测试内容做了哪个层次的测试？测试了哪些参数？对测试过的器件心中有“数”；b. 有条件做性能参数的，尽量做性能参数测，并且测试尽量多的参数；如果没有条件，退一步做功能和端口测试；如果条件仍然不具备，仅作端口测试。c. 注意统计因器件问
5、题导致的产品故障器件通过了测试，然而上机不能正常工作为逐步提高元器件的检测能力提供依据。二、汇能测试仪和元器件测试1.汇能测试仪能做哪些测试1）性能和功能测试a逻辑和存储器件的主要直流参数测试b光耦器件的主要直流参数测试c运算放大器件的功能测试d小功率晶体管的输出特征曲线测试（直流参数测试）e三端器件功能测试（小功率可控硅、IGBT、三端稳压器等）f电解电容的容量、漏电参数测试g二极管特征曲线测试2）端口测试ASA特征曲线测试3）UDT用户自定义测试支持用户自己开发对数字、数模混合器件的功能测试。2使用汇能测试仪的策略如果用户除了汇能测试以外，还有其它的测试仪器，在搞清楚这些仪器所做的测试层次
6、后，可按照下面的原则，和汇能测试仪一起考虑。下面主要针对集成器件。对分离元件一般直接测试即可。1）优先选用性能测试；a. 如果待测器件属于可做性能测试的类别，并且库中有，使用性能测试即可；b. 如果属于可测类别但是库中没有，只要有它的详细资料，尽量扩入库中测试。2）同时使用功能和端口测试如果能够对待测器件器件进行功能测试，在做了功能测试之后，对通过测试的器件再做ASA测试。这一点对测试拆机件、翻新件很重要。3）端口测试ASA特征曲线测试几乎不受任何限制。当器件不属于可做性能和功能测试的类别、或者没有详细的技术资料、或者受制于测试手段等的时候，都可以做ASA特征曲线测试。4）自定义测试如果有详细
7、资料，但不属于性能和功能测试类别，又对仅仅做端口测试的效果不满意，可以考虑用UDT用户自定义测试功能，开发对它的功能测试。下面说明各种测试的用法。三、汇能测试仪能做哪些性能和功能测试1数字逻辑器件性能测试主要包括74/54系列、4000/4500系列、26、82系列、俄罗斯、西门子的数字逻辑器件等共计一万多种。对同类但库中没有的型号，可扩入库中测试。1）测试哪些的直流参数Voh：输出高电平：将输出驱动到高后，从该输出拉出指定大小的电流时，输出电压应不低于此电压值。举例： 说明：当拉出2.6毫安电流时（流出器件的电流定义为负），输出高电平不小于2.4伏为合格，实测为3.4伏。测试通过。Vol：输
8、出低电平：将输出驱动到低后，向该输出灌入指定大小的电流时，输出电压应不高于此电压值。举例： 说明：当灌入24毫安电流时，输出低电平不大于0.5伏。实测为0.5伏。测试通过。Iih：输入高漏流：在指定输入加指定电压（其它输入加逻辑低），漏入该输入的电流应不大于此电流值。举例： 说明：当在输入加2.7伏的电压时，漏入电流应不大于20微安。实测小于1微安。以下不再举例说明。Iil：输入低漏流：在指定输入加指定电压（其它输入加高），漏出该输入的电流应不大于此电流值；Iozh：三态器件输出高阻态高漏流：将三态器件输出驱动到高阻态，在该输出加指定电压，漏入该输出的电流应不大于此电流值；Iozl：三态器件输
9、出高阻态低漏流：对三态器件，将该输出驱动到高阻态，在该输出加指定逻辑低电压，漏出该输出的电流应不大于此电流值；Ioh：集电极开路输出高漏流：将集电极输出器件驱动输出高，在该输出加指定电压，漏入该输出的电流应不大于此电流值。2）如何设置被测试参数器件手册中具体给出各型号器件的参数取值。电路设计中选择器件型号的时候，也是按照这个标准考虑的。但在实际使用中，我们经常发现使用大厂器件产品更可靠。其原因可能是，手册标准是必须达到的最低标准。大厂器件的设计余量留得更大。例如，手册规定，在灌入10毫安电流时输出低电平Vol不大于0.4伏，大厂器件可能达到2030毫安，小厂器件或水货，或许仅略大于10毫安。汇
10、能测试仪没有在库中输入手册规定的参数值，要求用户在第一次测试前指定。系统会保存下来直至用户再次修改。这意味着用户可以在自己设定的参数余量范围内挑选器件。下面以74LS373的输出管脚为例说明如何设置：这里的设置表示，器件输出高电平Voh时，拉出3毫安电流（流出器件的电流定义为负），电平值应不低于2.4伏；输出低电平Vol时，灌入3毫安电流，电平值不应高于0.8伏。这里的“拉出、灌入电流”、“最低高、最高低电平”均可由用户设置。设置好的参数存放在计算机中，下次再测试74LS373时，自动使用用户的设置值，直至再次修改。3）测试过程将被测器件放入测试座中，在测试界面上输入器件型号，用鼠标或回车键启
11、动测试。测试仪首先进行功能测试，在功能测试成功的基础上，再进行参数测试，分别报告测试结果。下面是对一个器件参数测试的部分结果显示：如果参数测试超标，出错管脚显示为红色。4）如何测试库中没有的器件a如果属于组合或同步时序逻辑器件，逻辑电平在可测试范围内（见下节），通过扩库功能，添加到器件库里后，便可进行同样测试。可以自行扩库或委托我公司；b没有技术资料或不属于汇能的可测试类别，不能进行功能、参数测试。可采用ASA测试。见第4节。5）测试仪的测试通道电平和可测试范围对数字器件按照工作电平分类，有3.3V系列、5V系列、12V系列等等。还有的用于电平转换的器件，输入、输出分属不同的系列。测试5V系列
12、的器件，要求测试仪能够输出、读入5V的脉冲信号；测试3.3V系列的器件，要求测试仪能够输出、读入3.3V的脉冲信号等等，否则不能测试。比如，汇能HN1600DX/B型测试仪，只能处理5V脉冲，就只能测试5V系列器件；汇能HN2600系列测试仪，能够处理12V以内的各种脉冲信号，所以又叫做“全电平”测试仪。对于电平不能支持的器件，可采用ASA测试。请参见第4节。2存储器目前支持对读写存储器SRAM、DRAM；只读存储器PROM、EPROM、EEPROM的测试。存储器库中包括约3000种型号。对于未包括在器件库中的，需要先添加到器件库中，然后进行测试。在参数测试中，测试的参数类型、设置方法、测试结
13、果的显示均与逻辑器件的参数测试相同。请参见.1。但有一个例外：当只读存储器中的内容不能保证每个输出脚都有“高”和“低”输出状态时，与缺少状态相关的参数不能测试。由此可知，当只读存储器为空的时候不能进行参数测试；对存储器的测试方式有：1）只读存储器：PROM、EPROM：a. 空检测;b. 读出内容并存放在计算机中;c. 读出内容并且和事先存放在计算机中的内容相比较；d. 将存放在计算机中的内容转换成可供编程器使用的二进制文件。2）读写存储器：SRAM、DRAMa. 写入-读出检测；b. 读出内容并存放在计算机中;（此功能针对电池支持的存储器）c. 将存放在计算机中的内容写入存储器；（此功能针对
14、电池支持的存储器）3光耦目前器件库中主要包括有4N、CNY、IL、PC、PS、FSH、TLP系列约500种光耦器件。对于未包括在测试器件库中的，根据具体情况不同，有不同的测试办法。1）能够测试的直流参数UF：二极管最大正向电压给二极管注入指定大小的电流时，二极管上的最大电压；UCES：三极管最大饱和电压向二极管注入、三极管流入指定大小的电流时，三极管c-e之间的最大电压；Iceo： 三极管最大漏电流输入电流为0，在指定电压下，漏入三极管的电流。CTR：电流传输比向二极管注入、三极管流入指定大小的电流时，输出、输入电流之比：CTR=输出电流/输入电流X 100%2）设置测试参数汇能的光藕器件库中
15、，输入了手册规定的参数值。与2.1.2中所述同样的原因，为了用户可以在自己设定的设计余量范围挑选器件，也允许用户设置自选的测试参数。参见下图所示的设置参数窗口：说明如下：UF：给二极管注入20毫安电流，二极管上的最大电压不大于1.4伏；UCES：在二极管20毫安，三极管1毫安电流时，三极管的最大饱和电压不大于0.2伏；Iceo：二极管不加信号，三极管集电极加20伏电压，漏入三极管的电流不大于0.0001毫安；CTR：给二极管注入5毫安电流，在三极管集-射电压为5伏时，CTR不小于50。3）测试过程将被测器件放入测试座中，在测试界面上输入器件型号，用鼠标或回车键启动测试。测试仪按顺序检查各个参数。当一个参数超限时，不再进行下面的测试。与逻辑器件的参数测试不同，测试光耦时只判断被测参数是否超限，而不报告具体测出的参数值。下图所示是对PC817的测试结果：左下窗口给出测试结论。窗口中会把超限的参数显示出来，不超限的参数不显示。目前的汇能测试仪能够识别的最小电流为3微安，特别提示出来。右边窗口的上面是PC817的转换曲线，下面列出参数测试条件和取值范围，请仔细观察，不再详述。4）如何测试库中没有的器件a. 有详细技术资料并且符合可测试类别a1.
