表面钝化工艺

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1、表面钝化工艺surface passivation technology在半导体器件表面覆盖保护介质膜,以防止表面污染的工艺。1959年,美国人M.M.阿塔拉研究了硅器件表面暴露在大气中的不稳定性问题,提出热生长二氧化硅(SiO2)膜具有良好的表面钝化效果。此后,二氧化硅膜得到广泛应用。60年代中期,人们发现二氧化硅膜不能完全阻挡有害杂 质(如钠离子)向硅(Si)表面的扩散,严重影响 MOS器件的稳定性。以后研究出多种表面钝化膜生 长工艺,其中以磷硅玻璃(PSG)、低温淀积二氧化硅、化学汽相淀积氮化硅(Si3N4)、三氧化二铝 (Al2O3)和聚酰亚胺等最为适用。直接同半导体接触的介质膜通常称

2、为第一钝化层。常用介质是热生长的二氧化硅膜。在形成金 属化层以前,在第一钝化层上再生长第二钝化层,主要由磷硅玻璃、低温淀积二氧化硅等构成,能 吸收和阻挡钠离子向硅衬底扩散。为使表面钝化保护作用更好并使金属化层不受机械擦伤,在金属化层上面再生长第三层钝化层。这第三层介质膜可以是磷硅玻璃、低温淀积二氧化硅、化学气相淀 积氮化硅、三氧化二铝或聚酰亚胺。这种多层结构钝化,是现代微电子技术中广泛采用的方式。对于钝化层的基本要求是:能长期阻止有害杂质对器件表面的沾污;热膨胀系数与硅衬底匹配; 膜的生长温度低;钝化膜的组份和厚度均匀性好;针孔密度较低以及光刻后易于得到缓变的台阶。磷硅玻璃及其生长工艺1964

3、年,发现硅在热氧化过程中通入少量三氯氧磷蒸汽后生成的二氧 化硅膜具有磷硅玻璃特性,能捕获钠离子和稳定钠离子的污染作用,大大改善了器件的稳定性。适 当增加磷的浓度还能降低膜的针孔密度,防止微裂,减少快态密度和平缓光刻台阶。磷硅玻璃已成 为重要的第二层钝化膜。其不足之处是磷浓度较高时有极化和吸潮特性,浓度太低则不易达到流动 和平缓台阶的作用。另一种常用的生长磷硅玻璃的方法是化学汽相淀积法,即把磷烷PH3加到硅烷SiH4和氧的反应过程中,反应温度为 400500 C。低温淀积二氧化硅工艺 在硅烷SiH4和氧的反应过程中,反应温度取 250500 C之间,能淀 积生长二氧化硅膜。此法简单,较早得到实用

4、,是一种金属化层上的钝化膜。化学汽相淀积氮化硅生长工艺氮化硅膜是惰性介质,介质特性优于二氧化硅膜,抗钠能力强, 热稳定性好,能明显提高器件的可靠性和稳定性。最常用的氮化硅生长法,是低压化学汽相淀积法 和等离子增强的化学汽相淀积法,可用于制作第二和第三钝化层。80年代又出现利用光化学反应的化学汽相淀积新工艺。例如,利用紫外光激发反应器中的微量汞原子,把辐射能转移到硅烷 (SiH4)、一氧化二氮(N2O)和氨的反应中去,生长出氮化硅膜。这种反应的温度只需50300 C,因是一种有效的新工艺(见化学汽相淀积工艺)。三氧化二铝及其生长工艺 这种膜抗辐射能力强,对钠离子有良好的阻挡作用。最常用的是铝 的

5、阳极氧化工艺。在淀积铝金属化层后,用光刻胶作掩模,在磷酸等酸溶液中直流阳极氧化,使硅 上铝互连图形之外的铝层彻底转化为透明有孔的三氧化二铝。再用光刻胶保护所有压焊区域,在硼酸等阳极氧化液中通电进行阳极氧化, 使压焊区之外的全部铝上覆盖一层三氧化二铝薄膜。这样的三氧化二铝钝化层能防止金属化层被擦伤,在工业生产中已经实际应用。在实际的器件表面钝化工艺中,为充分利用各种介质膜的特性,通常选用多层结构的钝化膜, 如二氧化硅-磷硅玻璃-二氧化硅或二氧化硅-氮化硅-三氧化二铝结构等。半导体基础知识与晶体管工艺原理(生产线基础培训教程)半导体技术编著2002. 8目 录第一章半导体的基础知识1-1半导体的一

6、些基本概念1-1-1什么是半导体? 41-1-2半导体的基本特性.41-1-3半导体的分类.41-1-4N型半导体和P型半导体.51-1-5半导体的导电机构.61-2 P-N结91-2-1P-N结的构成.91-2-2P-N结内的载流子运动和平衡101-2-3P-N结的基本特性101-3 二极管121-3-1二极管的基本构成.121-3-2二极管的特性曲线(伏安特性) .121-3-3二极管的分类131- 4 晶体管(仅讲双极型)131-4-1晶体管的构成.131-4-2晶体管的放大原理.151-4-3晶体管的特性曲线.181-4-4晶体管的分类.211- 4-5晶体管的主要电参数.21第二章晶

7、体管制造工艺与原理2- 1典型产品工艺流程.242- 1-1晶体管的基本工艺流程.242-1-2典型产品的工艺流程 242-2晶体管制造主要工艺的作用与原理 .252-2-1氧化工艺.252-2-2扩散工艺.262-2-3离子注入工艺.302-2-4光刻工艺.312-2-5蒸发(真空镀膜)工艺.322-2-6 CVDX艺.332-2-7台面工艺.342-2-8三扩、磨抛工艺.352-2-9清洗工艺.362-2-10中测、划片工艺362-3常见的工艺质量问题以及对产品质量的影响.372-3-1工艺质量问题分类372-3-2常见的工艺质量问题举例372-4 工艺纪律和工艺卫生的重要性.412-4-

8、1半导体生产对空气洁净度的要求412-4-2工艺卫生的内涵.422-4-3工艺卫生好坏对半导体生产的影响.422-4-4工艺纪律的内涵.432-4-5工艺纪律的重要性.43第一章半导体基础知识1-1半导体的一些基本概念1-1-1什么是半导体?导电能力介于导体和绝缘体之间的物质,叫做半导体。物质的导电能力一般用电阻率P来表示。电阻率是指长1cm,截面积为1平方厘米的物质的电阻值,单位是欧姆厘米(符号是Q-cm)。电阻率越小,说明物质的导电性能越好;反之,电阻率越大,说明物质的导电性能越 差。物质种类导体半导体绝缘体电阻率(Q -cm)10-410-3108N1091-1-2半导体的基本特性1热敏

9、特性一一随着温度的升高,半导体的电阻率减小,导电能力明显的增强。2光敏特性一一受到光线照射后,半导体的电阻率减小,导电能力大大增强。3杂质导电特性一一在纯净的半导体中,加入微量的某些其它元素(通常,称 之为“掺杂”),可以使它的导电能力成百万倍的提高。这是半导体的一 个最突出的也是最重要的特性。人们正是利用半导体的这些特性,制成了 二极管、晶体管、热敏器件、光敏器件等。也正是由于半导体的这种特性, 在制造半导体器件的过程中,对工作环境的要求特别严格,以防有害杂质 进入半导体而破坏器件的参数。必须指出,以上特性只有纯净的半导体才具备。所谓纯净的半导体是 指纯度在9个“9”以上,即99.99999

10、99%以上。1-1-3半导体的分类1按化学成分一一元素半导体和化合物半导体2按是否含有杂质本征半导体和杂质半导体3按导电类型一一N型半导体和P型半导体4按原子排列的情况一一单晶和多晶1-1-4 N型半导体和P型半导体1 “载流子”一一半导体中的导电粒子(运载电流的粒子):电子和空穴。2“杂质”的概念一一三、五族元素杂质(元素周期表中,三族:硼、铝、镓;五 族:磷、砷、锑)一一受主杂质和施主杂质。3施主杂质和受主杂质有一类杂质(比如五族元素磷),它在掺入半导体中后,会产生许多带负电的电子,这种杂质叫“施主杂质”。(施放电子)又有一类杂质(比如三族元素硼),它在掺入半导体中后,会产生许多带正电的空

11、穴,这种杂质叫“受主杂质”。(接受电子)4 N型半导体和P型半导体掺有施主杂质的半导体,其导电作用主要依靠由施主杂质产生的导电电 子,我们称这种半导体为“N型半导体”(也叫“电子型半导体”)。掺有受主杂质的半导体,其导电作用主要依靠由受主杂质产生的导电空 穴,我们称这种半导体为“P型半导体”(也叫“空穴型半导体”)。5多子与少子1)在本征半导体中,载流子靠本征激发产生,而且电子数=空穴数二本征载流子 浓度。即,n=p=no o i2)在杂质半导体中,载流子主要靠杂质电离而产生,此时,杂质电离产生的载 流子浓度远大于本征激发产生的载流子浓度。因此,在杂质半导体中,电子 数尹空穴数。其中,在N型半

12、导体中:电子是多子,空穴是少子。而在P型半导体中:空穴 是多子,电子是少子。3)N型半导体和P型半导体的示意图(图1)因为在P型半导体中的绝大多数载流子是空穴,电子数很少,因此在画P1-1-5半导体的导电机构一一载流子的产生、运动和复合回答半导体是怎么导电的?1 “载流子”是怎么产生的?A本征激发一一产生电子、空穴对一一本征载流子浓度(七)1)半导体材料硅的晶格结构一一“共价键”结构因为,从原子结构理论知道,每个硅原子的最外层有4个价电子和4个 空位,因此,在构成硅晶体时,每个原子周围都有4个最靠近的原子做它的 邻居,每个原子拿出一个价电子和它的一个邻居共用。同样,每个邻居也拿 出一个价电子和

13、它共用。这一对共用的价电子使两个硅原子之间产生了一种 束缚力,就叫做“共价键”。这样,每个原子就要和周围4个原子构成4个 “共价键”。为了简化起见,我们把本来是立体的“共价键”结构画成平面 示意图。(图2)图2 硅“共价键”晶格结构平面示意图2)在价电子获得一定的能量(硅Eg=1.1ev)时,就能冲破束缚(称为“激发”), 成为导电的自由电子(带负电)。与此同时,在“共价键”中留下一个空位,我 们叫它“空穴”(带正电,也能导电)。这种同时产生的电子和空穴,称为“电 子、空穴对”。我们称这种引起的价电子激发一一产生导电的电子、空穴对的过 程,为“本征激发”。3)本征激发产生的载流子浓度,称为本征

14、载流子浓度(ni)。在常温下,七是个 较小的常数;随着温度的升高,七就很快增大。(它以指数形式上升)一一这就 是为什么本征半导体,在常温下导电能力很弱,但随着温度升高,导电能力又明 显增强的原因。4)“共价键”结构中产生本征激发的示意图(图3)图3本征激发产生电子空穴对的示意图B杂质电离产生电子或空穴电子浓度n和空穴浓度p1)施主杂质电离一一产生电子在纯净的半导体硅中,掺入少量的五族元素(如磷),它以替位形式占据 一个硅原子的位置,由于它比硅原子多一个价电子,因此,在与周围4个硅原子组成 共价键时,就有一个多余的价电子。它不受共价键的束缚,只受磷原子核正电荷的吸 引,这种吸引力是很微弱的,因此

15、,只要很小的能量就能使它克服引力而成为导电“电 子”。而失去一个电子后的磷原子成为带正电的离子,但它处于共价键的稳定结构中, 不能自由运动,因此,不是载流子。我们称施主杂质释放导电电子的过程,为施主电 离。(请注意,这里只产生导电电子,不产生空穴)。2)受主杂质电离产生空穴在纯净的半导体硅中,掺入少量的三族元素(如硼),它以替位形式占据一 个硅原子的位置,由于它比硅原子少一个价电子,因此,在与周围4个硅原子组成共 价键时,就要从周围硅原子的共价键中夺取一个价电子过来填充。这样,就在被夺取 了一个电子的地方就产生了一个空穴。这个空穴不受共价键的束缚,只受硼离子负电 荷的吸引,这种吸引力是很微弱的,因此,只要很小的能量就能使它克服引力而成为 能导电的“空穴”。而硼原子由于多了一个电子而成为带负电的硼离子,但它同样也 不能自由运动,因此,不是载流子。我们称受主杂质产生空穴的过程,为受主电离。(请注意,这里只产生空穴,不产生电子)。3

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