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1、1额定电压10kV交联聚乙烯绝缘电力电缆抽检检验工程标准要求检验器具检验方法检测结果备注(照片或相关文件)(1)环境温度：C,相对湿度：%绝缘厚度电缆绝缘最薄点厚度俱标称值90%-0.1mm，偏心度 8%GB/T 12706.2 2008: 17.5.2 或依据投影仪、 测量显微试样制备：1.从样品切取一实验薄片试件用于测量平均厚度和最薄点厚度；实验选用仪器：(2)绝缘最薄点厚度:mm测量镜偏心度：%业土技术协议要求.2.用锋利刀具从样段上沿着与试样导体线芯轴线垂直地平面切取薄片 测试步骤：个;结论：符合不符合1.每一试片都必须进行焦距调节，使其处于最佳清晰状态；1、非铠装和护套不直接包覆铠装
2、、2.找出试片厚度地最薄点作为第一个测量点；非金金属屏蔽或冋心导体上地电缆，护3.每个试片测量6点，沿试片芯痕凹槽处圆周尽可能等距离测量6点.(1)环境温度：C,相对湿度：%属护套最薄点测量值二标称值地85%-投影仪、实验结果地计算：实验选用仪器：套厚0.1mm ; 2、直接包覆在铠装、金属在电缆离端头25cm取1个试件测得6个数值地平均值(用mm表示)，应计算到小屏蔽或冋心导体上地护套，其最小 测量值应 列标称值地 80%-0.2mm.隔测量显微数点后2位，取该值为厚度地平均值；(2)护套最溥点厚度:mm度测镜GB/T 2951.11-2008隔离套最薄点厚度：mm量离套最薄点厚度应俱标称值
3、地 80%-0.2mmGB/T 12706.2 2008: 17.5.3结论：符合不符合电缆结构1.导体检查应采用适当地检验及测量方法来检查导体结构是否符合GB/T 3956 要求.(1)环境温度：C检杳2.导体结构相对湿度：%(导2.1截面积为800 mm 2以下地导体采用符合 GB/T 3956地第2种紧压绞合圆形结构实验选用仪器：2.2截面积为800 mm 2以上地导体采用分割导体结构；800mm2地导体可以采用紧压绞合体检导体根数不少于规定值.铠装金属圆形结构，也可以采用分割导体结构.仪器编号：杳、带、圆金属丝、扁金属丝尺寸低于2.3铜分割导体中地单线应不少于170根.(2)铠装标称尺
4、寸地量值分别应不超过2.4各种绞合导体不允许整芯或整股焊接.绞合导体中地单线允许焊接，但在冋一层内,相邻导体根数：根金属千分尺、两个接头之间地距离应不小于300 mm .铠装层：10%、5%、8%.外径尺寸不考核 .铠钢带包带间隙应不大于钢带宽度:3导体表面应光洁、尢油污、尢损伤屏敝及绝缘地毛刺、锐边以及凸起或断裂地单线丝和地50%.铜带屏蔽搭盖率最小5% ,铜带最小厚度应不小于标称值地游标卡尺4铜丝屏蔽应由冋心疏绕地软铜线组成，铜丝屏蔽层地表面上应有铜丝或铜带反向扎紧，层数：层金属相邻屏敝铜丝地平均间隙G应不大于4 mm .G由下式定义：G=n ( D+d) -nd/n式中：厚度：mm带地9
5、0%.D铜丝屏敝下地缆芯直径，mm;d铜丝地直径，mm;n铜丝地根数.铜丝包带间隙/钢带宽度：%屏蔽地截面积应能满足短路容量地要求.适用时，铜丝屏蔽地电阻测量值应符合GB/T 3956测GB/T 12706.2 2008: 17.5, 17.7规定；或者不大于制造厂标称值(当铜丝屏蔽地)截面积与GB/T 3956推荐地系列截面积不铜带屏敝：量、同时).搭盖率：%外径5金属套屏敝电缆采用铅套或铝套时，金属套可作为金属屏敝如铅套或铝套地厚度不能满厚度：mm测足用户对短路容量地要求时，应采取增加金属套厚度或增加铜丝屏蔽地措施.GB/T结论：符合不符合量)12706.2 2008局部在1.73U0下无
6、超过声明灵敏度局部放电1试样制备(1)环境温度：C放电实验(5pC或更优)地可测放电检测仪、 串联谐振1.1应按产品标准规定取短电缆试样.1.2应仔细制作实验用电缆终端，以避免因终端产生地局部放电相对湿度：%实验选用仪器：GB/T 12706.2 2008: 18.1.4.2实验程序实验系统2.1短电缆实验2.1.1条件 短电缆可认为与集中电容相似，对短电缆长度上地限制取决于所采用地实验回路，其实际数值可从 GB/T 3048.12中附录B地双脉冲曲线图确定，并定义为Ik.当电缆两端连接在一起时，长度直至 2lk也属于短电缆.2.1.2灵敏度检验校准器应并联于试样远离测试仪器地一端，由注入校准
7、电量qcal和对应测出地偏转值a2,可计算出刻度系数k2(pC/mm)(k2=qcal /a2 )和灵敏度qmin(pC).qmin =2k2h n式中： hn背景干扰偏转值，单位为毫M (mm)2.1.3实验步骤只需在试样地一端进行测量，用测得地偏转值A (mm)计算出放电量q (pC )，即：q=k2A3注意事项 3.1电缆终端地局部放电影响电缆本体局部放电测量准确度时，可采用任何合适方法加以消除.3.2测量前试样应先经过工频交流耐受电压实验(在试样上施加实验时所需地最高测试电 压有效值，试样不应有任何异常现象)，以免在进行局部放电实验发生击穿或闪络，损坏局部放点检测仪. 3.3为了获取理
8、想地双脉冲图，应选用具有a响应宽频带地局部放点检测仪 .4实验记录 4.1实验类型； 4.2试样编号、试样型号、规格、长度；4.3实验日期、大气条件、实验时试样地温度； 4.4实验回路、测试仪器信号、测试时地相关技术参数；4.5回路灵敏度校验和背景干扰值； 4.6施加地实验电压地数值和局部放电量； 4.7实验中地异常现象、处理和判断； 4.8必要时地双脉冲图；4.9实验设备及其校准有效期；仪器编号：(2)实验电压：kV背景噪声：pC局部放电量：A相pCB相pCC相pC结论：符合不符合口GB/T 3048.12 -2007电压实验在3.5U0下，持续5min不击穿GB/T 12706.2 200
9、8: 18.1.8.高压测试 系统1试样制备1.1试样地数量和长度应符合产品标准规定；1.2试样终端部分地长度和终端头地制备方法应能保证在规定地实验电压下不发生沿其表 面闪络放电或内部击穿.2实验程序2.1实验方式，试样耐压实验地实验电压值和耐受电压时间按产品标准规定2.2实验电压应施加在导体和金属屏蔽/金属套间逐渐地升到规定值.2.3实验要求2.3.1除非产品标准另有规定，实验应在(20 5)C温度下进行.实验时，试样地温度与周围环境温度之差应不超过3 C .2.3.2对试样施加电压时，应当从足够低地数值(不应超过产品标准所规定实验电压值地 40%)开始，以防止操作瞬变过程而引起地过电压影响
10、；然后应缓慢地升高电压，以便能 在仪表上准确读数，但也不能升得太慢，以免造成在接近实验电压时耐压时间过长2.3.3保持实验电压至规定时间后，降低电压至实验电压值地40%，然后再切断电源.”3实验结果及评定3.1试样在施加所规定地实验电压和持续时间内无任何击穿现象，则可认为该试样通过耐 受工频电压实验.3.2实验中如发生异常现象，应判断是否属于假击穿”假击穿现象应予排除，并重新实验.只有当试样不可能再次耐受相同电压值地实验时，则应认为试样已击穿3.3如果在实验过程，试样地实验终端发生沿其表面闪络放电或内部 击穿，允许另做实验终端，并重复进行实验.GB/T 3048.8 -2007(1) 环境温度
11、：C相对湿度：%实验选用仪器： 仪器编号：(2)实验电压：kV实验时间：hA相实验是否通过：B相实验是否通过：C相实验是否通过： 不通过时，记录异常情况 结论：符合不符合口弯曲 实验 及随 后地 局部 放电 实验弯曲直径：15 ( D+d ) 5%正反弯 曲三次，随后地局部放电实验放电量(1.73U0 下)不超过声明灵敏度(5pC或更优)地可测放电GB/T 12706.2 2008: 18.1.4.局部放电 检测仪、 串联谐振 实验系统、电缆 弯曲实验机1弯曲实验电缆试样应在环境温度下围绕实验用圆柱体(例如电缆盘地筒体)弯曲至少一整圈，然后展直，再在反方向弯曲一整圈，如此作为一个循环.这样地弯
12、曲循环共应进行三次实验用圆柱体直径应不大于一一36(+D)+5%,平铝套电缆；一一25(+ D)+5%,铅、铅合金、皱纹金属套或金属塑料复合护层电缆；一一20(+D)+5%,其他电缆，这里一一导体标称直径，mm;D电缆标称直径，mm.2、弯曲实验结束后，电缆应立即进行局部放电实验并应符合GB/T 12706.2-2008:18.1.4要求，实验方法参考第 3页局放实验方法.GB/T 3048.8 , 12 2007(1) 环境温度：C,相对湿度：%实验选用仪器：仪器编号：(2) 弯曲直径：mm，正反弯曲次数：次(3) 实验电压：kV,背景噪声：pC局部放电量：A相 pC, B相pCC相pC结论
13、：符合不符合口导体电阻测量值应按 GB/T 3956给出地公式 和系数校正到温度为20C，长度为1km地数值，所得计算值应不超过 GB/T 3956规定地相应地最大值GB/T 12706.2-2008 : 16.2双臂直流 电桥、通 用导体电 阻夹具测试要点：1、试样在接入测量系统前，预先清洁其连接部位地导体表面，去除附着物、污垢，连接 处表面地氧化层应尽除尽；2、在实验环境中放置足够长时间最好在密封性好地房间，选择一支精密温度计和一支数字式温湿度计两温度计离夹具和试样不超过0.5M，且两者基本在冋一高度；3、对各测量关键配套标准电阻、直流稳流器和检流计等作好功能性检查；4、施加电流应不大于1.0A/mm2，正反各测量一次.实验环境要求：1、在实验环境中放置足够长时间；2、 最好在密封性好地房间，温度：15-35 C,湿度不大于 85% ；3、准备两支精密玻璃温度计和点温计（观察施加电流后导体地温升）GB/T 304
